특허청구의 범위 청구항 1 수동 코히어런트 위치 확인 시스템(passive coherent location system)내의 코히어런트 처리 기간(coherent processing interval)동안 타겟 정보를 검출 및 추출하는 방법에 있어서: 상기 코히어런트 처

Transcription

1 (51) Int. Cl. (19) 대한민국특허청(KR) (12) 등록특허공보(B1) G01S 3/16 ( ) (21) 출원번호 (22) 출원일자 2003년11월04일 심사청구일자 2006년08월11일 번역문제출일자 2003년11월04일 (65) 공개번호 (43) 공개일자 2004년01월24일 (86) 국제출원번호 PCT/US2002/ 국제출원일자 2002년05월06일 (87) 국제공개번호 WO 2002/91009 국제공개일자 (30) 우선권주장 2002년11월14일 60/288, 년05월04일 미국(US) (56) 선행기술조사문헌 JP A KR A (45) 공고일자 2008년04월24일 (11) 등록번호 (24) 등록일자 2008년04월17일 (73) 특허권자 록히드 마틴 코포레이션 미국, 매릴랜드 20879, 가이터스버그, 엔.프레드 릭 애비뉴 700 (72) 발명자 바흐케빈더블류 미국메릴랜드20879게이더스버그노스프레데릭애비 뉴700록히드마틴코포레이션 배너로버트에이치 미국메릴랜드20879게이더스버그노스프레데릭애비 뉴700록히드마틴코포레이션 (74) 대리인 이병호, 장훈 전체 청구항 수 : 총 57 항 심사관 : 이귀남 (54) 수동 코히어런트 위치 확인 애플리케이션에서 특징을 검출 및 추출하는 시스템 및 방법 (57) 요 약 수동 코히어런트 위치 확인 시스템에서의 검출 및 특징 추출에 대한 시스템 및 방법이 개시된다. 코히어런트 처 리 기간 동안, 타켓들에 대한 타켓 파라미터들을 검출한다. 시스템은 코히어런트 처리 기간 동안 모호성 표면 데이터를 갖는 모호성 표면을 형성한다. 이전의 모호성 표면으로부터의 빈들은 모호성 데이터와 관련된다. 새 로운 빈들이 모호성 표면내의 새로운 타겟 에코들에 대해 식별된다. 피크 검출들은 빈들로부터 형성된다. 피크 검출들은 코히어런트 처리 기간의 타겟 에코들과 상관된다. 타겟들에 대한 타겟 파라미터들은 피크 검출들로부 터 추정된다. 대표도 - 1 -

2 특허청구의 범위 청구항 1 수동 코히어런트 위치 확인 시스템(passive coherent location system)내의 코히어런트 처리 기간(coherent processing interval)동안 타겟 정보를 검출 및 추출하는 방법에 있어서: 상기 코히어런트 처리 기간 동안 모호성 표면 데이터(ambiguity surface data)를 갖는 모호성 표면을 형성하는 단계와; 이전의 모호성 표면으로부터 빈(bin)들을 식별하는 단계와; 상기 이전의 모호성 표면으로부터의 상기 빈들을 상기 모호성 표면 데이터와 연관시키는 단계와; 상기 모호성 표면내의 새로운 타겟 에코들(target echoes)에 대한 새로운 빈들을 식별하는 단계를 포함하는, 타 겟 정보의 검출 및 추출 방법. 청구항 2 제1항에 있어서, 상기 모호성 표면을 평활화(smoothing)하는 단계를 더 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 방 법. 청구항 3 제1항에 있어서, 상기 모호성 표면을 상기 이전의 모호성 표면과 비교하는 단계를 더 포함하는, 타겟 정보의 검 출 및 추출 방법. 청구항 4 제3항에 있어서, 상기 빈들에 대한 모호성 표면을 스캐닝하는 단계를 더 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 방법. 청구항 5 제1항에 있어서, 피크 검출들을 형성하도록 상기 이전의 모호성 표면으로부터의 상기 빈들을 타겟팅 빔들을 횡 단하는 상기 새로운 빈들과 연관시키는 단계를 더 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 방법. 청구항 6 제5항에 있어서, 상기 피크 검출들로부터 타겟 파라미터들을 추정하는 단계를 더 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 방법. 청구항 7 제6항에 있어서, 상기 피크 검출들을 편집하는 단계를 더 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 방법. 청구항 8 제1항에 있어서, 잡음 플로어(noise floor)를 추정하는 단계를 더 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 방법. 청구항 9 제8항에 있어서, 상기 추정하는 단계는 상기 새로운 빈들의 평균 전력을 상기 잡음 플로어로서 결정하는 단계를 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 방법. 청구항 10 수동 코히어런트 위치 확인 시스템에서의 코히어런트 처리 기간내에 타겟들에 대한 타겟 데이터를 검출 및 추출 하는 방법에 있어서: 모호성 표면을 생성하는 단계와; - 2 -

3 빈들을 상기 모호성 표면과 연관시키는 단계와; 상기 빈들 및 이전의 모호성 표면으로부터의 복수의 오래된 빈들로부터 피크 검출들을 형성하는 단계로서, 상기 피크 검출들은 상기 코히어런트 처리 기간내의 타겟 에코들과 상관되는, 상기 피크 검출들을 형성하는 단계와; 상기 피크 검출로부터 타겟 파라미터들을 추정하는 단계를 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법. 청구항 11 제10항에 있어서, 상기 피크 검출들을 편집하는 단계를 더 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법. 청구항 12 제11항에 있어서, 상기 편집하는 단계는 상기 피크 검출들의 피크 측정 데이터를 수신하는 단계를 포함하는, 타 겟 데이터의 검출 및 추출 방법. 청구항 13 제11항에 있어서, 상기 편집하는 단계는 상기 피크 검출들로부터 사이드로브 피크들(sidelobe peaks)을 필터링 하는 단계를 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법. 청구항 14 제11항에 있어서, 상기 편집하는 단계는 상기 피크 검출들에서 인접한 타겟들로부터의 사이드로브들을 제거하는 단계를 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법. 청구항 15 제11항에 있어서, 상기 편집하는 단계는 상기 피크 검출들로부터 검출된 블레이드 변조 피크 검출들을 제거하는 단계를 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법. 청구항 16 제11항에 있어서, 상기 편집하는 단계는 상기 피크 검출들에서 제로 도플러 소거 효과(zero-Doppler cancellation effects)로부터의 피크 검출들을 제거하는 단계를 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법. 청구항 17 제10항에 있어서, 상기 모호성 표면을 평활화하는 단계를 더 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법. 청구항 18 제10항에 있어서, 상기 타겟 파라미터들의 변화를 추정하는 단계를 더 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법. 청구항 19 제10항에 있어서, 상기 코히어런트 처리 기간 동안 상기 피크 검출들을 포함하는 검출 데이터를 출력하는 단계 를 더 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 방법. 청구항 20 제19항에 있어서, 상기 출력하는 단계는 라인 트랙커(line tracker)에 출력하는 단계를 포함하는, 타겟 데이터 의 검출 및 추출 방법. 청구항 21 제19항에 있어서, 상기 검출 데이터는 상기 피크 검출들에 대한 상기 타겟 파라미터들을 더 포함하는, 타겟 데 이터의 검출 및 추출 방법. 청구항

4 수동 코히어런트 위치 확인 시스템에서 모호성 표면의 모호성 표면 데이터로부터 잠재적 타겟들의 타겟 파라미 터들을 추출하는 방법으로서, 상기 모호성 표면 데이터는 코히어런트 처리 기간과 상관되고 상기 잠재적 타겟들 의 에코들과 상관되는, 상기 타겟 파라미터 추출 방법에 있어서: 이전의 모호성 표면을 검색하는 단계와; 알려진 타겟들과 연관된 빈들을 식별하기 위해 상기 모호성 표면 데이터를 상기 이전의 모호성 표면과 비교하는 단계와; 상기 모호성 표면 데이터로 상기 빈들을 갱신하는 단계와; 상기 잠재적 타겟 에코들의 새로운 타겟 에코들에 대한 새로운 빈들을 식별하는 단계와; 상기 빈들과 상기 새로운 빈들을 피크 검출들로 그룹화하는 단계와; 상기 피크 검출들로부터 상기 잠재적 타겟들에 대한 상기 타겟 파라미터들을 추정하는 단계를 포함하는, 타겟 파라미터 추출 방법. 청구항 23 제22항에 있어서, 상기 피크 검출들과 상기 타겟 파라미터들을 출력하는 단계를 더 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 방법. 청구항 24 수동 코히어런트 위치 확인 시스템에서 코히어런트 처리 기간 동안 모호성 표면으로부터 잠재적 타겟들의 특징 들을 검출 및 추출하는 시스템에 있어서: 상기 모호성 표면을 형성하고 모호성 표면 데이터를 생성하는 모호성 표면 형성 기능과; 이전의 모호성 표면에서 식별된 알려진 타겟들과 새로운 타겟들에 대한 빈들을 상기 모호성 표면 데이터로 식별 하는 피크/잡음 판별 기능과; 상기 알려진 및 새로운 타겟들과 연관된 피크 검출들을 결정하도록 상기 빈들을 그룹화하는 피크 연관 기능과; 상기 피크 검출들로부터 상기 알려진 및 새로운 타겟들에 대한 타겟 파라미터들을 추정하는 파라미터 추정 기능 과; 상기 피크 검출들을 편집하는 피크 편집 기능을 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템. 청구항 25 제24항에 있어서, 상기 피크/잡음 판별 기능은 상기 새로운 빈들의 평균 전력으로부터 잡음 플로어를 추정하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템. 청구항 26 제24항에 있어서, 상기 타겟 파라미터들에 대한 변화를 규정하는 변화 계산 기능을 더 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템. 청구항 27 제24항에 있어서, 상기 피크 검출들 및 상기 타겟 파라미터들을 포함하는 출력을 더 포함하는, 잠재적 타겟 특 징의 검출 및 추출 시스템. 청구항 28 제24항에 있어서, 상기 모호성 표면을 평활화하는 모호성 표면 평활화 기능을 더 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템. 청구항 29 제28항에 있어서, 상기 모호성 표면 평활화 기능은 상기 모호성 표면 평활화 기능과 상기 모호성 표면 형성 기 - 4 -

5 능간의 평활화 스위치에 의해 인에이블되는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템. 청구항 30 제24항에 있어서, 상기 피크 편집 기능은 사이드로브 피크 검출 필터를 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템. 청구항 31 제24항에 있어서, 상기 피크 편집 기능은 실효 대역폭(root-mean squared bandwidth defined peak detection exclusion function) 규정 피크 검출 배제 기능을 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템. 청구항 32 제31항에 있어서, 상기 실효 대역폭 규정 피크 검출 배제 기능은 임계치를 규정하여 상기 임계치 이하의 피크 검출이 배제되도록 하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템. 청구항 33 제24항에 있어서, 상기 피크 편집 기능은 인접한 타겟 임계화 기능(close-in target thresholding function)을 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템. 청구항 34 제24항에 있어서, 상기 피크 편집 기능은 블레이드 변조 유도 피크 편집기를 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검 출 및 추출 시스템. 청구항 35 제24항에 있어서, 상기 피크 편집 기능은 피크 검출 제로-도플러 배제 기능을 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검 출 및 추출 시스템. 청구항 36 제24항에 있어서, 상기 피크 편집 기능은 상기 피크 검출들을 편집하는 적어도 하나의 기능과 상기 적어도 하나 의 기능을 인에이블하는 적어도 하나의 스위치를 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템. 청구항 37 제24항에 있어서, 상기 피크 편집 기능은 상기 피크 검출들을 편집하는 적어도 하나의 필터와 상기 적어도 하나 의 필터를 인에이블하는 적어도 하나의 스위치를 포함하는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템. 청구항 38 제24항에 있어서, 강력한 타겟 피크 검출들을 소거하는 강력한 타겟 소거 기능을 더 포함하는, 잠재적 타겟 특 징의 검출 및 추출 시스템. 청구항 39 제38항에 있어서, 상기 강력한 타겟 소거 기능은 강력한 타겟 소거 스위치에 의해 인에이블되는, 잠재적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템. 청구항 40 제24항에 있어서, 상기 모호성 표면 형성은 상기 모호성 표면과 상관되는 모호성 기능 데이터를 수신하는, 잠재 적 타겟 특징의 검출 및 추출 시스템. 청구항 41 수동 코히어런트 위치 확인 시스템에 의해 식별된 타겟들에 대한 특징을 검출 및 추출하는 방법에 있어서: 빈들을 모호성 표면 데이터 및 이전의 모호성 표면으로부터의 하나 이상의 오래된 빈들과 연관시키는 단계와; - 5 -

6 상기 연관된 빈들로부터 피크 검출들을 형성하는 단계를 포함하는, 타겟 특징의 검출 및 추출 방법. 청구항 42 제41항에 있어서, 상기 피크 검출들로부터 타겟 파라미터들을 추정하는 단계를 더 포함하는, 타겟 특징의 검출 및 추출 방법. 청구항 43 제42항에 있어서, 상기 피크 검출들로부터 상기 타겟 파라미터들에 대한 변화를 계산하는 단계를 더 포함하는, 타겟 특징의 검출 및 추출 방법. 청구항 44 제41항에 있어서, 적어도 하나의 필터로 상기 피크 검출들을 편집하는 단계를 더 포함하는, 타겟 특징의 검출 및 추출 방법. 청구항 45 제41항에 있어서, 적어도 하나의 편집 기능으로 상기 피크 검출들을 편집하는 단계를 더 포함하는, 타겟 특징의 검출 및 추출 방법. 청구항 46 제41항에 있어서, 상기 모호성 표면 데이터를 포함하는 모호성 표면을 형성하는 단계를 더 포함하는, 타겟 특징 의 검출 및 추출 방법. 청구항 47 제46항에 있어서, 상기 모호성 표면으로부터 불규칙성(irregularities)을 제거하도록 상기 모호성 표면을 평활 화하는 단계를 더 포함하는, 타겟 특징의 검출 및 추출 방법. 청구항 48 타겟들을 검출하고 모호성 표면의 모호성 표면 데이터로부터 타겟 파라미터들을 결정하는 검출 및 특징 추출 처 리 서브시스템을 갖는 수동 코히어런트 위치 확인 레이더 시스템에 있어서: 이전의 모호성 표면 데이터를 상기 모호성 표면 데이터와 비교하고, 상기 이전의 모호성 표면 데이터와 상관되 는 빈들을 갱신하는 피크/잡음 판별기와; 상기 모호성 표면내의 새로운 타겟 에코들에 대해 상기 피크/잡음 판별기에 의해 식별된 새로운 빈들과; 상기 타겟들과 상관되는 피크 검출들을 형성하도록 상기 빈들과 상기 피크/잡음 판별기에 의해 식별된 새로운 빈들을 그룹화하는 피크 연관기와; 상기 피크 검출들로부터 상기 타겟 파라미터들을 추정하는 파라미터 추정기를 포함하는, 수동 코히어런트 위치 확인 레이더 시스템. 청구항 49 제48항에 있어서, 상기 피크 검출들을 편집하는 피크 편집기를 더 포함하는, 수동 코히어런트 위치 확인 레이더 시스템. 청구항 50 제48항에 있어서, 상기 모호성 표면을 형성하는 모호성 표면 형성기(ambiguity surface former)를 더 포함하는, 수동 코히어런트 위치 확인 레이더 시스템. 청구항 51 제50항에 있어서, 상기 모호성 표면으로부터 불규칙성을 제거하는 불규칙 표면 평활화기를 더 포함하는, 수동 - 6 -

7 코히어런트 위치 확인 레이더 시스템. 청구항 52 수동 코히어런트 위치 확인 시스템내의 코히어런트 처리 기간 동안 타겟 정보를 검출 및 추출하는 시스템에 있 어서: 상기 코히어런트 처리 기간 동안 모호성 표면 데이터를 갖는 모호성 표면을 형성하는 수단과; 이전의 모호성 표면으로부터 빈들을 식별하는 수단과; 상기 이전의 모호성 표면으로부터의 상기 빈들을 상기 모호성 표면 데이터와 연관시키는 수단과; 상기 모호성 표면내의 새로운 타겟 에코들에 대한 새로운 빈들을 식별하는 수단을 포함하는, 타겟 정보의 검출 및 추출 시스템. 청구항 53 수동 코히어런트 위치 확인 시스템내의 코히어런트 처리 기간 동안 타겟 정보를 검출 및 추출하도록 구현된 컴 퓨터 판독가능 코드가 기록된 컴퓨터 판독가능 기록 매체에 있어서, 상기 컴퓨터 판독가능 코드는 컴퓨터상에서 실행될 때, 상기 코히어런트 처리 기간 동안 모호성 표면 데이터를 갖는 모호성 표면을 형성하는 단계와; 이전의 모호성 표면으로부터 빈들을 식별하는 단계와; 상기 이전의 모호성 표면으로부터의 상기 빈들을 상기 모호성 표면 데이터와 연관시키는 단계와; 상기 모호성 표면내의 새로운 타겟 에코들에 대한 새로운 빈들을 식별하는 단계들을 수행하도록 적응되는, 컴퓨 터 판독가능 기록 매체. 청구항 54 수동 코히어런트 위치 확인 시스템에서의 코히어런트 처리 기간내에 타겟들에 대한 타겟 데이터를 검출 및 추출 하는 시스템에 있어서: 모호성 표면을 생성하는 수단과; 빈들을 상기 모호성 표면과 연관시키는 수단과; 상기 빈들로부터 피크 검출들을 형성하고, 이전의 모호성 표면으로부터 복수의 오래된 빈들을 형성하는 수단으 로서, 상기 피크 검출들은 상기 코히어런트 처리 기간내에 타겟 에코들과 상관되는, 상기 피크 검출들을 형성하 는 수단과; 상기 피크 검출로부터 타겟 파라미터들을 추정하는 수단을 포함하는, 타겟 데이터의 검출 및 추출 시스템. 청구항 55 수동 코히어런트 위치 확인 시스템에서 코히어런트 처리 기간내에 타겟 데이터를 검출 및 추출하도록 구현된 컴 퓨터 판독가능 코드가 기록된 컴퓨터 판독가능 기록 매체에 있어서, 상기 컴퓨터 판독가능 코드는 컴퓨터상에서 실행될 때, 모호성 표면을 생성하는 단계와; 빈들을 상기 모호성 표면과 연관시키는 단계와; 상기 빈들로부터 피크 검출들을 형성하고, 이전의 모호성 표면으로부터 복수의 오래된 빈들을 형성하는 단계로 서, 상기 피크 검출들은 상기 코히어런트 처리 기간내에 타겟 에코들과 상관되는, 상기 피크 검출을 형성하는 단계와; 상기 피크 검출로부터 타겟 파라미터들을 추정하는 단계들을 수행하도록 적응되는, 컴퓨터 판독가능 기록 매체. 청구항

8 수동 코히어런트 위치 확인 시스템에 의해 식별된 타겟들에 대한 특징을 검출 및 추출하는 시스템에 있어서: 빈들을 모호성 표면 데이터 및 이전의 모호성 표면으로부터의 하나 이상의 오래된 빈들과 연관시키는 수단과; 상기 연관된 빈들로부터 피크 검출들을 형성하는 수단을 포함하는, 타겟 특징 검출 및 추출 시스템. 청구항 57 수동 코히어런트 위치 확인 시스템에 의해 식별된 타겟들에 대한 특징들을 검출 및 추출하도록 구현된 컴퓨터 판독가능 코드를 갖는 컴퓨터 판독가능 프로그램 기록 매체에 있어서, 상기 컴퓨터 판독가능 코드는 컴퓨터상에 서 실행될 때, 빈들을 모호성 표면 데이터 및 이전의 모호성 표면으로부터의 하나 이상의 오래된 데이터와 연관시키는 단계와; 상기 연관된 빈들로부터 피크 검출들을 형성하는 단계들을 수행하도록 적응되는, 컴퓨터 판독가능 기록 매체. 명 세 서 <1> <2> <3> <4> 기 술 분 야 관련 출원의 상호 참조 본 출원은 2001년 5월 4일 출원된 "System and Method for Detection and Feature Extraction for PCL Application"이란 제목의 미국특허 가출원번호 60/288,293호를 우선권 주장의 기초로 한다. 발명의 분야 본 발명은 수동 코히어런트 위치 확인(PCL:passive coherent location) 레이더 시스템 및 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는, PCL 레이더 애플리케이션을 위한 검출 및 특징 추출용 시스템과 방법에 관한 것이다. <5> <6> <7> <8> <9> 배 경 기 술 PCL 레이더 시스템은 멀티스터틱 레이더 시스템(multistatic radar system)으로 나타낼 수도 있다. 멀티스터틱 레이더 시스템은 하나 이상의 송신기로부터 분리된 많은 수신기들을 가진다. 송신기로부터 발산된 신호는 2개 의 별도의 경로를 통해 수신기에 도달한다. 한 경로는 송신기로부터 수신기로의 직접 경로일 수 있고, 다른 경 로는 송신기로부터 수신기로의 타겟에 대한 간접 경로를 포함하는 타겟 경로일 수 있다. 측정 대상으로는, 타 겟 경로 신호의 전체 경로 길이 또는 통과 시간, 타겟 경로 신호의 도달 각도, 및 직접 경로 신호 및 타겟 경로 신호의 주파수가 포함될 수 있다. 주파수에서의 차이는, 타겟이 이동중인 경우에는 도플러 효과에 따라 검출될 수 있다. 타겟 경로 신호로부터 정보를 추출하고자 한다면, 수신기에서는 송신된 신호에 대한 지식이 필요하다. 도플러 주파수 이동을 결정하기 위해서는 송신된 주파수가 희망된다. 전체 산란된 경로 길이를 결정하고자 한다면, 시 간 또는 위상 기준이 또한 희망된다. 주파수 기준은 직접 신호로부터 얻어질 수 있다. 송신기와 수신기간의 거리가 알려진다면, 직접 신호로부터 시간 기준이 또한 얻어질 수 있다. 멀티스터틱 레이더 시스템들은, 레이더 적용 범위(coverage) 내에서 타겟의 존재, 타겟 위치의 위치 확인, 및 레이더에 대한 속도 성분이나 도플러를 결정할 수 있다. 타겟 위치의 위치 확인의 과정에는 거리 측정과 도달 각도가 포함될 수 있다. 수신측에 대한 거리의 측정 결정은 송신기와 수신기간의 거리, 및 수신측에서의 도달 각도 양자 모두를 요구할 수 있다. 직접 신호가 이용가능하다면, 도플러 주파수 이동을 추출하기 위한 기준 신 호로서 이용될 수도 있다. PCL 레이더 시스템들에서, 송신기들은 조사기들(illuminators)로 알려질 수 있다. 조사기들은, 상업용 주파수 변조("FM") 방송 송신기들 및/또는 리피터들(repeaters), 상업용 고품질 텔레비젼("HDTV") 방송 송신기들 및/또 는 리피터들 등을 포함하는 광대역 상황 제공원(source of opportunity)일 수 있다. 광대역 신호에 대한 공지 된 기술로서 사전-검출 처리와 동채널(co-channel) 간섭 완화가 존재한다. 알려진 접근법들로는, 주 조사기와 같은, 이용하고자하는 상황 제공원과 그 환경내에서 존재하는 임의의 다른 동채널 신호들을 수신하는데 이용되 는 안테나들의 어레이가 포함된다. 수신된 신호들이 처리된 이후에, 타겟 파라미터들이 추출되어야 하고 새로운 타겟들이 검출된다. 기존 타겟들 은 현재의 처리 간격에 대한 데이터와 더불어 갱신될 수 있다. 타겟 정보의 검출 및 특징 추출은 정확하고 시 - 8 -

9 기적절하게 수행되어야 한다. 부정확하거나 무효한 검출들은 처리 리소스들을 낭비하고 추가적인 계산을 요구 한다. 나아가, 시스템은 잡음이나 지면 클러터(ground clutter)로부터의 잘못된 경고없이 새로운 타겟들을 검 출해야 한다. 따라서, PCL 레이더 시스템은 효율적이고도 정확한 방법으로 타겟들을 검출하고 이들 타겟들의 특징을 추출할 수 있어야 한다. <10> <11> <12> <13> <14> <15> <16> <17> 발명의 상세한 설명 따라서, 본 발명은 PCL 애플리케이션 및 PCL 애플리케이션 내에서의 신호 처리에 관한 것이다. 실시예에 따르면, PCL 시스템 내에서 코히어런트 처리 간격 동안에 타겟 정보를 검출하고 추출하기 위한 방법이 개시된다. 이 방법은 코히어런트 처리 간격 동안에 모호성 표면 데이터(ambiguity surface data)를 갖는 모호 성 표면을 형성하는 단계를 포함한다. 이 방법은 또한 이전의 모호성 표면으로부터의 빈(bin)들을 식별하는 단 계를 포함한다. 이 방법은 또한 이전의 모호성 표면으로부터의 빈들과 모호성 표면 데이터를 연관시키는 단계 를 포함한다. 이 방법은 또한 모호성 표면 내에서 새로운 타겟 에코들에 대한 새로운 빈들을 식별하는 단계를 포함한다. 또 다른 실시예에 따르면, PCL 시스템에서 코히어런트 처리 간격 내에서 타겟들에 대한 타겟 데이터를 검출하고 추출하기 위한 방법이 개시된다. 이 방법은 모호성 표면을 발생시키는 단계를 포함한다. 이 방법은 또한, 빈 들과 모호성 표면을 연관시키는 단계를 포함한다. 이 방법은 또한 빈들로부터 피크 검출들을 형성하는 단계를 포함한다. 피크 검출들은 코히어런트 처리 간격 내에서 타겟 에코들과 상관된다. 이 방법은 또한 피크 검출로 부터의 타겟 파라미터들을 추정하는 단계를 포함한다. 또 다른 실시예에 따르면, PCL 시스템에서 모호성 표면의 모호성 표면 데이터로부터 잠재적 타겟들의 타겟 파라 미터들을 추출하는 방법이 개시된다. 모호성 표면 데이터는 코히어런트 처리 간격 및 잠재적 타겟들의 에코들 과 상관된다. 이 방법은 이전의 모호성 표면을 검색하는 단계를 포함한다. 이 방법은 또한, 알려진 타겟들과 연관된 빈들을 식별하기 위해 모호성 표면 데이터와 이전의 모호성 표면을 비교하는 단계를 포함한다. 이 방법 은 또한 모호성 표면 데이터와 더불어 빈들을 갱신하는 단계를 포함한다. 이 방법은 또한 잠재적 타겟 에코들 의 새로운 타겟 에코들에 대한 새로운 빈들을 식별하는 단계를 포함한다. 이 방법은 또한 피크 검출로부터 잠 재적 타겟들에 대한 타겟 파라미터들을 추정하는 단계를 포함한다. 또 다른 실시예에 따르면, PCL 시스템에서 코히어런트 처리 간격 동안에 모호성 표면으로부터 잠재적 타겟들을 검출하고 이들의 특징을 추출하기 위한 시스템이 개시된다. 이 시스템은 모호성 표면을 형성하고 모호성 표면 데이터를 발생하는 모호성 표면 형성 기능을 포함한다. 이 시스템은 또한 모호성 표면 데이터와 더불어 알려진 타겟 및 새로운 타겟들에 대한 빈들을 식별하기 위한 피크/잡음 판별 기능을 포함한다. 이 시스템은 또한, 알 려진 타겟 및 새로운 타겟들과 연관된 피크 검출을 결정하기 위해 빈들을 그룹화(grouping)하는 피크 연관 기능 을 포함한다. 시스템은 또한, 피크 검출로부터 알려진 타겟 및 새로운 타겟들에 대한 타겟 파라미터들을 추정 하기 위한 파라미터 추정 기능을 포함한다. 시스템은 또한, 피크 검출을 편집하기 위한 피크 편집 기능을 포함 한다. 또 다른 실시예에 따르면, PCL 시스템에 의해 식별된 타겟들을 검출하고 타겟에 대한 특징들을 추출하기 위한 방법이 개시된다. 이 방법은 빈들을 모호성 표면 데이터와 연관시키는 단계를 포함한다. 이 방법은 또한 빈들 로부터 피크 검출을 형성하는 단계를 포함한다. 또 다른 실시예에 따르면, 모호성 표면의 모호성 표면 데이터로부터 타겟을 검출하고 타겟 파라미터들을 결정하 기 위해 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템을 갖는 PCL 레이더 시스템이 개시된다. 이 PCL 레이더 시스템은 이전의 모호성 표면 데이터와 모호성 표면 데이터를 비교하고 이전 모호성 표면 데이터와 상관된 빈들을 갱신하 긴 위한 피크/잡음 판별기를 포함한다. 이 PCL 레이더 시스템은 또한, 모호성 표면 내의 새로운 타겟 에코들에 대해 피크/잡음 판별기에 의해 식별된 새로운 빈들을 포함한다. 이 PCL 레이더 시스템은 또한, 빈들 및 피크/ 잡음 판별기에 의해 식별된 빈들을 그룹화하여 타겟들과 상관되는 피크 검출을 형성하기 위한 피크 연관기를 포 함한다. 이 PCL 레이더 시스템은 또한, 피크 검출들로부터 타겟 파라미터들을 추정하기 위한 파라미터 추정기 를 포함한다. 본 발명의 추가적 특징 및 이점들이 이하에서 기술될 것이다. 본 발명의 목적 및 다른 이점들은 첨부된 도면을 참조한 상세한 설명 및 해당 청구항들에서 특히 지적되는 구조에 의해 실현되며 얻어질 수 있다

10 <18> 본 발명의 더 나은 이해를 제공하기 위해 포함된 도면들은 명세서의 일부를 구성하며, 상세한 설명과 함께 본 발명의 원리를 설명하는 역할을 한다. <26> <27> <28> <29> <30> <31> <32> 실 시 예 본 발명의 양호한 실시예에 대한 참조가 이루어질 것이다. 그 예들은 도면에 도시되어 있다. 도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 레이더 시스템, 타겟 및 송신기들의 블록도이다. 레이더 시스템(100)은 복 수의 송신기들(110, 112, 및 114)을 이용하여 하나 이상의 관심 타겟(150)을 검출하기 위한 PCL 시스템(100)을 포함한다. PCL 시스템(100)은 멀티스터틱 광역 타겟 감시 센서군을 나타낸다. PCL(100) 시스템은, 종종 다른 목적들로 동작할 수 있는 상황 제공원(source of opportunity)들로부터의 연속파(CW) 전자기 에너지를 이용한다. 상기 상황 제공원들에는 TV 방송국 및 FM 라디오 방송국들이 포함될 수 있다. 양호하게는, PCL 시 스템(100)은, 상황 제공원이라 알려진 복수의 제어되지 않는 송신기들(110, 112, 및 114)로부터의 송신을 수신 할 수 있다. 보다 양호하게는, 송신기들(110, 112, 및 114)은 상업용 FM 방송 송신기들 및/또는 리피터들과 상 업용 HDTV TV 방송 송신기들 및/또는 리피터들을 포함하는 광대역 상황 제공원일 수 있다. 그러나, 송신기들 (110, 112, 및 114)은 이들 상황 제공원에만 한정되는 것은 아니며, 제어되지 않는 신호들을 송신하는 임의의 장치, 시스템, 또는 수단을 포함할 수도 있다. 송신기들(110, 112, 및 114)은 광대역 전자기 에너지를 모든 방향으로 송신할 수 있다. 이들 송신들 중 일부는 하나 이상의 관심 타겟(150)에 의해 반사되어 PCL 시스템(100)에 의해 수신된다. 예를 들어, 반사된 송신(13 0)은 타겟(150)에 의해 반사되어 PCL 시스템(100)에 의해 수신될 수 있다. 나아가, 송신기(114)와 관련하여, 기준 송신(140)은 PCL 시스템(100)에 의해 직접 수신된다. PCL 시스템(100)은 기준 송신(140)과 반사된 송신 (130)을 비교하여 하나 이상의 관심 타겟(150)에 대한 위치 정보를 결정한다. 기준 송신(140)은 직접 경로 신 호라고도 알려져 있다. 반사된 송신(130)은 타겟 경로 신호라고 알려져 있다. 위치 정보로는, 도착 시간차 ("TDOA"), 도착 주파수차("FDOA") 및 도달 각도("AOA")를 판별함으로써 위치 확인, 속도, 및 가속도를 포함한 타겟(150)의 위치에 관련된 임의의 정보가 포함될 수 있다. 도 2는 본 발명의 한 실시예에 따른 PCL 시스템의 블록도를 도시한다. PCL 시스템(100)은 안테나 서브시스템 (200), 아날로그-디지털 변환기("ADC") 서브시스템(220), 처리 서브시스템(240), 및 출력 장치(260)를 포함할 수 있다. 안테나 서브시스템(200)은 적어도 하나의 안테나를 이용하여 도 1의 반사된 송신(130) 및 기준 송신 (140)을 포함한, 전자기 에너지 송신들을 수신한다. ADC 서브시스템(220)은 안테나 서브시스템(200)의 신호 출 력들을 수신하고 소정 샘플링 레이트로 신호들을 샘플링함으로써 그 입력에서 디지털 신호 샘플들을 출력하고 각각의 샘플링 간격에서 아날로그 신호에 대한 크기를 이용하여 디지털 파형을 형성한다. 처리 서브시스템 (240)은 어셈블리 서브시스템(220)의 출력을 수신하고, 측정 데이터, 트래킹, 및 타겟 갱신들 등을 위해 신호를 처리한다. 출력 장치(260)는 처리 결과를 수신하여 처리 서브시스템(230)의 출력을 디스플레이한다. 도 3은 본 발명의 한 실시예에 따른 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템(300)의 블록도를 도시한다. 검출 특징 추출 처리 서브시스템(300)은 도 2의 처리 서브시스템(240)에 병합될 수 있다. 대안으로서, 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템(300)은 ADC 서브시스템(220)에 병합될 수 있다. 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템(300)은 측정 연관 동작들에 사용되는 검출 데이터를 제공할 책임이 있다. 검출 밑 특징 추출 처리 서브시스템(300)은 각각의 모호성 표면으로부터 모호성 표면 데이터를 수신한다. 모호 성 표면 데이터는 간단한 평활 기능에 의해 평활화될 수 있다. 타겟들이나 잔여 지면 클러터를 나타내는 빈들 을 위해 각각의 교차-모호성 표면이 스캐닝될 수 있다. 빈들은, 현재의 갱신에 대한 피크 검출들을 형성하기 위해 타겟팅 빔들(targeting beams)이나 표면들을 횡단하여 연관될 수 있다. 각각의 피크 검출에 대한, 지연, 도플러, 도달 각도, 신호 전력, 및 신호대 잡음비("SNR")의 타겟 측정 파라미터들은 피크의 위치 확인 및 연관 된 에너지로부터 추정된다. 나아가, 지연의 편차, 도플러, 도달 각도, 및 신호 전력이 계산될 수 있다. 각각의 처리 싸이클이 모호성 기능 데이터 블록과 함께 시작될 수 있다. 이 데이터 블록은, 사전-검출 동작들 로부터 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템(300)에 입력된다. 모호성 기능 데이터 블록(302)은 모호성 표면 데 이터를 포함할 수 있다. 모호성 표면 데이터는, 부정합된 신호들뿐만 아니라 신호에 대한 정합된 필터의 응답 을 나타내는 모호성 다이어그램일 수 있다. 정합된 필터의 출력, 즉, 모호성 다이어그램은 수신된 신호와 송신 된 신호간의 교차-상관성에 근접한다. 따라서, 모호성 다이어그램은 타겟 검출과 상관되는 피크를 가질 수 있

11 다. <33> <34> <35> <36> <37> <38> 모호성 기능 데이터(302)는 모호성 표면 형성 기능(306)에 대한 입력이다. 모호성 표면 형성 기능(306)은 후속 된 검출 처리 동작들에 대해 각각의 모호성 기능을 준비한다. 따라서, 모호성 기능 데이터(302)는 각각의 싸이 클에 대해 수신되며 모호성 기능 형성 기능(306)은 그 싸이클에 대한 데이터를 준비한다. 이들 싸이클들은 코 히어런트 처리 간격들("CPI들")이라 알려져 있다. 모호성 표면 평활화 기능(308)은 교차-모호성 표면 데이터(380)의 배경 잡음으로부터 타겟 피크들을 구분하기에 앞서 교차-모호성 표면들에서 불규칙성을 감소시킨다. 모호성 표면 평활화 기능(306)은 평활화된 모호성 기능 데이터(302)를 교차-모호성 표면 데이터(380)로서 출력한다. 모호성 표면 평활화에 대한 3개의 대안이 구현가 능하다. 단순 평활화 기능(simple smoothing function)은 모호성 표면 형성 기능(306)에 의해 생성된 가공되지 않은 모호성 표면에 인접한 N N개의 포인트들을 평균화한다. 교차-모호성 표면 데이터(380)의 가공하지 않은 모호성 표면에 2차원 필터 커널을 적용함으로써 종래의 모호성 표면 평활화 기능이 달성될 수 있다. 패스트 콘 볼루션 평활화 기능이 가공되지 않은 모호성 표면에 2차원 필터 커널을 적용할 수 있으나, 사전-검출 처리로부 터 데시메이트된 래그-프로덕트(lag-product)에 직접 적용되어, 사전-검출 처리에서 미가공 모호성 기능을 형성 할 필요성을 회피할 수도 있다. 패스트 콘볼루션 평활화 기능은 다른 모호성 표면 평활화 처리에 관하여 계산 상 절감을 제공할 것이다. 모호성 표면 평활화 기능(308)은 평활화 스위치(310)에 의해 인에이블될 수도 있다. 따라서, 만일 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템(300)이 교차-모호성 표면 데이터(300)에서의 불규칙성을 감소 하기를 원한다면, 평활화 스위치(310)는 모호성 표면 평활화 기능(308)을 인에이블하도록 구성된다. 이어서, 교차-모호성 표면 데이터(380)는 피크/잡음 판별 기능(312)에 의해 수신된다. 피크/잡음 판별 기능 (312)은 타겟 에코나 잔여 지면 클러터에 의해 생성될 것 같은 교차-모호성 표면 데이터(380) 내에서 그 빈들을 식별한다. 알고리즘은 이전의 모호성 표면 갱신을 위한 피크/잡음 판별 기능(312)에 의해 식별된 빈들이 현재 갱신을 위한 빈들의 세트에서 합당한 초기 추측일 것이라는 결론에 입각한 피크/잡음 판별 기능(312)에 의해 구 현될 수 있다. 따라서, 이 알고리즘은 이전의 모호성 표면 데이터를 현재의 모호성 표면 데이터와 비교할 수 있다. 알려진 타겟들이나 잔여 지면 클러터와 연관된 빈들 모두는 어쩌면 교차-모호성 표면 데이터(380)와 같 은 현재의 모호성 표면 데이터와 함께 재방문한다. 비교 이후, 교차-모호성 표면 데이터(380)는 새로운 타겟 에코들을 위해 검사될 수 있다. 잡음 플로어의 추정치는 그 남은 빈들의 평균 전력에 근거하여 생성될 것이다. 이러한 정보를 이용하여, 피크/잡음 판별 기능(312)이 표면 피크들(382)을 검출할 수 있다. 표면 피크들(382)은 피크 연관 기능(314)에 의해 수신된다. 피크 연관 기능(314)은 피크/잡음 판별 기능(312) 에 의해 식별된 빈들을 불연속 피크들로 그룹화할 수 있다. 이들 불연속 피크는 피크 검출들(384)과 같은 피크 검출들로서 알려져 있다. 파라미터 추정 기능(316)은 피크 검출들(384)을 수신하여 검출된 피크들로부터 주 타 겟 파라미터들을 추정한다. 주 타겟 파라미터들은 신호대 잡음비, 시간 지연, 도플러 이동, 도달 각도, 신호 전력들을 포함할 수 있다. 파라미터 추정 기능(316)은 또한 피크 검출들(834)의 검출된 피크들에서 특징 추출 을 수행할 수 있다. 특징 추출들은 블레이드 비율들(blade rates), 바이스태틱 레이더 교차 섹션들(bi-static radar cross sections) 등과 같은 보다 향상된 타겟 파리미터들을 구동할 수 있다. 따라서, 파라미터 추정 기 능(316)은 피크 측정들(386)을 계산한다. 피크 측정들(386)은 피크 편집 기능(318)에 의해 수신된다. 피크 편 집 기능(318)은 잘못된 경고로 인해 타겟 에코들의 결과가 아닌 검출된 피크들의 수를 감소시킬 수 있다. 피크 편집 기능(318)은 이하의 도 4를 참조하여 보다 상세하게 설명된다. 피크 편집 기능(318)은 또한 타겟 상태 피드백(392)을 수신한다. 타겟 상태 피드백(392)은 모호성 기능 데이터 (302)로부터 구동될 수 있다. 피크 편집 기능(318)은 또한 자동-모호성 피크 발견 기능(322)으로부터 자동-모 호성 피크들(390)을 수신한다. 자동-모호성 피크 발견 기능(322)은 모호성 표면 형성 기능(306)으로부터 표면 데이터(388)를 수신한다. 자동-모호성 피크 발견 기능(322)은 표면 데이터(388) 내의 더 높은 신호대 잡음비 피크들에 대한 변조 인공물들을 나타내는 기준과 정합한 피크들에 대해 표면 데이터(388)를 스캐닝할 수 있다. 이 동작은 모호성 기능 데이터(302) 내의 피크들의 사이드로브들(sidelobes)을 특징화할 수 있다. 자동-모호성 데이터(290)는 사이드로브 처리 동작들을 위해 피크 편집 기능(318)으로 나아가게 된다. 초기 변화 계산 기능(320)은 검출 데이터(394)를 수신한 후속 라인 트래킹 기능에서 이용될 수 있는 각 타겟 파 라미터에 대한 변화를 규정할 수 있다. 검출 데이터(394)는 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템(300)의 출력이 다. 라인 트래킹 기능은 이 변화들을 이용하여 칼만 필터 상태 벡터들(Kalman filter state vectors)을 갱신할 수 있다. 구현에 이용되는 측정 변화 계산들은 크래머-라오 경계(Cramer-Rao boundary)에 근거한다. 구성 데 이터(330)는 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템(300)에서 이용되는 PCL 레이더 시스템(100)에 관한 기술 정보

12 및 시스템 구성을 제공할 수 있다. 나아가, 구성 데이터(330)는 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템(300) 내의 다양한 기능들에 의해 구현되는 알고리즘들을 위해 디폴트값들 또는 상수값들을 제공할 수 있다. <39> <40> 강력한 타겟 소거 기능(324)은 모호성 기능 데이터(302)로부터 타겟 상태 데이터(378)를 수신할 수 있다. 강력 한 타겟 소거 기능(324)은 타겟 상태 피드백(392)을 역시 수신할 수 있다. 강력한 타겟 소거 스위치(324)는 원 한다면 강력한 타겟 소거 기능(324)을 인에이블한다. 바람직하게, 강력한 타겟 소거 스위치(324)는 강력한 타 겟 소거 기능(324)을 활성화한다. 모호성 기능 데이터(302)가 강력한 타겟 데이터를 포함한다면, 이때 강력한 타겟 데이터는 소거되는 모호성 표면 형성 기능(306)이다. 강력한 타겟은 모호성 기능 데이터(302) 내의 다른 피크들을 왜곡하는 검출된 피크를 나타낼 수 있다. 강력한 타겟을 소거함으로써, 모호성 기능 데이터(302)를 갖는 다른 피크들 및 데이터가 보다 효율적인 방법으로 분석될 수 있다. 검출 데이터(394)는 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템(300)의 출력이다. 검출 데이터(394)는 현재의 갱신에 대한 새로운 피크 검출들의 데이터 블록일 수 있다. 이 데이터 블록에는 각 조사기에 대한 피크 검출들의 수, 각 조사기에 대해 처리된 빈들의 수, 현재 갱신의 연관 시간, 각 조사기에 대한 현재 주파수들, 각 조사기에 대 한 기준 신호의 평균 실효 대역폭(average root-mean-squared bandwidth), 각 조사기에 대한 시스템 잡음 지수, 각 피크 검출과 연관된 측정 데이터 등이 포함될 수 있다. 이 데이터는 후속 라인 트래킹 기능에 의해 타겟 추정 상태를 갱신하도록 이용될 수 있다. 검출 데이터(394)의 개개의 피크 검출들에는 이들 갱신에 이용 된 측정이 포함될 수 있다. 표 1에 도시된 측정 데이터는 각 개개의 피크 검출을 위해 포함되는 파라미터들의 예이다. <41> 표 1 <42> <43> <44> <45> 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 피크 편집 기능을 위한 블록도를 도시한다. 피크 편집 기능(318)은 본 발명의 실시예들을 더 개시하기 위하여 보다 상세하게 도시된다. 그러나, 피크 편집 기능(318)은 도 4에 도시된 실시 예에 제한되지 않는다. 위에 언급된 바와 같이, 피크 편집 기능(318)은 잘못된 경고들로 인해 피크 측정 데이 터(386) 내의 타겟 에코들의 결과가 아닌 검출된 피크들의 수를 감소시킬 수 있다. 피크 편집 기능(318)은 이 러한 과제를 달성하는 여러 기능들 및 필터들을 포함할 수 있다. 도 4는 피크 편집 기능(318)을 포함하는 기능 들 및 필터들의 개략을 도시한다. 나쁜 기준 신호 특성들, 신호 변조 인공물들 및 잔여 지면 클러터는 바람직 하지 못한 검출 피크들의 결과일 수 있다. 이하에 개시된 기능 및 필터들은 이들 검출이 그 이상 처리되는 것 을 방지하게 할 수 있다. 피크 측정 데이터(386)는 피크 편집 기능(318)에서 수신된다. 피크 측정 데이터 (386)는 검출된 피크들로부터 주 타겟 파라미터들을 포함할 수 있다. 실효 대역폭 규정의 피크 검출 배제 기능(402)은 실효 대역폭 스위치(404)에 의해 인에이블될 수 있다. 기준 신호들 대역폭이 와해될 때 교차-상관들이 나빠지는 것으로 인한 잘못된 피크들을 방지하기 위하여, 그 피크 검 출과 연관된 실현 대역폭이 임계치보다 하락하면, 실효 대역폭 스위치(404)는 검출 처리에서 현재의 피크 검출 을 무시하도록 인에이블된다. 이 임계치는 실효 대역폭 규정 피크 검출 배제 기능(402)에 의해 규정될 수 있다. 사이드로브 피크 검출 필터(406)는 사이드로브 필터 스위치(408)에 의해 인에이블될 수 있다. 사이드로브 피크

13 검출 필터(406)는 더 높은 SNR 비의 변조 인공물들인 검출된 피크들을 제거할 수 있다. 교차-모호성 표면으로 부터의 피크 검출들 및 자동-모호성 피크 발견 기능(322) 또는 현재의 처리 간격 갱신에 의해 발견된 피크들은 사이드로브 피크 검출 필터(406)의 엔트리에 가장 강력한 것부터 가장 약한 것까지 저장될 수 있다. 가장 강력 한 것부터 가장 약한 것까지 저장됨으로써, 더 약한 사이드로브 피크들은 인에이블되면 사이드로브 필터 스위치 (408)에 의해 제거될 수 있다. <46> <47> <48> <49> <50> <51> 인접한 타겟 임계화 기능(410)은 인접 타겟 스위치(412)에 의해 인에이블될 수 있다. 인에이블되면, 임계 램프 (threshold ramp)는 인접한 타겟들에서 검출기의 감도를 감소시키기 위해 이용될 수 있다. 감소된 전파 손실들 때문에, 인접 타겟은 검출기에 의해 피크들로 해석될 수 있는 높은 사이드로브들을 일으키는 더 높은 신호대 잡 음비를 가질 수 있다. 감도의 감소는 피크의 시간 지연 측정에 근거하여 적응형 임계으로 구현될 수 있다. 따 라서, 인접 타겟 임계화 기능(410)은 인접 타겟들의 결과인 모든 사이드로브들을 제거할 것이다. 블레이드 변조 유도 피크 편집기(414)는 블레이드 변조 편집기 스위치(416)에 의해 인에이블될 수 있다. 블레 이드 변조 유도 피크 편집기(414)는 항공기 블레이드 변조 효과들 때문에 도플러 공간에서 반복된 피크 검출들 을 방지하기 위하여 인에이블될 수 있다. 항공기가 회전 날개들을 가진다면, 이 회전 날개들은 항공기로부터 소정의 도플러 이동들 외에 블레이드 도플러 이동들을 일으킬 수 있다. 블레이드 변조 유도 피크 편집기(414) 는, PCL 시스템이 항공기 검출 동작들과 함께 이용되는 경우에 인에이블될 수 있다. 피크 검출 제로-도플러 배제 기능(418)은 제로-도플러 배제 스위치(420)에 의해 인에이블될 수 있다. 피크 검 출 제로-도플러 배제 기능(418)은 제로-도플러 소거 효과들 때문에 왜곡된 검출들이 기존의 라인 트랙들과 연관 되는 것을 방지하기 위하여 인에이블될 수 있다. 제로-도플러 배제 구역은 피크 검출 촉진을 위해 규정될 수 있다. 피크 편집 기능들 및 필터들에 의해 이용되는 데이터는 사전-검출기 처리 동작들에서 계산될 수 있다. 예를 들 면, 제로-도플러 소거 및 실효 대역폭 계산들은 광대역 처리 동작들 동안 수행될 수 있고 그 값들이 여기에 이 용된다. 피크 제한 기능(422)은 피크 편집 기능(318)을 참조하여 개시된 기능들에 의해 촉진된 피크들의 최종 수를 제한 할 수 있다. 이 피크들은 그 이상의 처리를 위해 알고리즘들을 트래킹하도록 촉진된다. 가장 큰 신호대 잡음 비들을 갖는 피크들은 피크 검출 블록 출력을 형성하는 피크들 또는 검출 데이터(394)일 수 있다. 필터링된 피 크 데이터(430)는 검출 데이터(394) 내에 포함될 수 있다. 따라서, 피크 편집 기능(318)은 피크 검출들을 필터 링하여 사이드로브들, 인접 타겟들, 및 블레이드 변조 효과들에 의해 야기된 검출들을 제거한다. 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 PCL 동작들을 위한 특징들을 검출 및 추출하는 흐름도를 도시한다. 단계(50 2)는 평활화 모호성 표면 데이터에 의해 실행된다. 구성한다면, 모호성 평활화 표면은 단순 N N 평활화 기능 에 의해 평활화될 수 있다. 모호성 표면 평활화 기능을 구현하기 위해 위에 개시된 대안들을 이용할 수 있다. 배경 잡음으로부터 타겟 피크들을 검출 및 추출하기 전에 불규칙성이 모호성 표면 데이터에서 감소될 수 있다. <52> <53> 단계(504)는 타겟들 또는 잔여 지면 클러터를 나타내는 빈들을 스캐닝함으로써 실행된다. 각 교차-모호성 표면 은 이 빈들로 스캐닝될 수 있다. 피크 잡음 판별 출력은 타겟 에코들에 의해 생성될 것 같은 그 빈들에 대한 표면 데이터를 스캐닝하여 구현될 수 있다. 단계(506)는 현재의 갱신을 위한 피크 검출들을 형성하도록 타겟 빔들 또는 표면들을 교차하여 빈들을 연관시킴으로써 실행된다. 예를 들면, 모호성 표면 데이터를 산란하는 모 호성 기능 데이터는 불연속 갱신들 동안까지 수신될 수 있다. 이 데이터는 타겟 에코들의 결과로서 피크 검출 들을 결정하도록 분석되고 스캐닝된다. 단계(506)에서 식별된 빈들은 피크 검출들을 형성하기 위하여 불연속 피크들로 그룹화될 수 있다. 단계(508)는 피크 검출들에 대한 타겟 측정 파라미터들을 추정함으로써 실행된다. 각 피크 검출을 위한 지연, 도플러, 도달 각도, 신호 전력, 및 신호대 잡음비 등의 타겟 측정 파라미터들은 피 크의 위치 확인 및 에너지로부터 추정될 수 있다. 나아가, 지연, 도플러, 도달 각도, 및 신호 전력 등의 변화 들은 검출 피크들로부터 추정될 수 있다. 단계(510)는 잘못된 경고들로 인해 타겟 에코의 결과가 아닌 검출된 피크들의 수를 감소시키기 위해 검출된 피크들을 편집함으로써 실행된다. 필터들 및 기능들은 이 거짓 피크 검 출들이 처리되는 것을 방지하게 할 수 있다. 도 6은 본 발명의 또다른 실시예에 따른 모호성 기능 데이터로부터 특징들을 검출 및 추출하는 흐름도를 도시한 다. 단계(602)는 모호성 기능 데이터를 입력함으로써 실행된다. 예를 들어, 모호성 기능 데이터(302)는 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템(300)에 대한 입력일 수 있다. 단계(604)는 표면 데이터 교차-모호성 표면 데이

14 터를 갖는 모호성 표면을 형성함으로써 실행된다. 나아가, 단계(604)는 모호성 표면 데이터로부터 강력한 타겟 데이터를 소거할 수 있다. 단계(606)는 배경 잡음으로부터 타겟 피크들을 판별하기 전에 불규칙성을 감소시키 도록 모호성 표면 데이터를 평활화함으로써 실행된다. 위에 언급한 바와 같이, 모호성 표면 평활화를 위해 3개 의 대안들이 구현될 수 있다. 모호성 표면 데이터가 평활화된다면, 단계(608)는 잡음으로부터 타겟 피크들을 판별함으로써 실행된다. 이전의 모호성 표면 데이터를 갖는 피크/잡음 판별 기능에 의해 식별된 빈들은 현재의 갱신을 위해 초기화될 수 있다. 따라서, 이전의 피크 검출들은 현재의 모호성 표면 데이터와 비교되어 타겟 에 코 검출들을 갱신할 수 있다. 단계(610)는 단계(608)에서 이전의 모호성 표면 갱신들과 비교될 수 있는 빈들을 식별함으로써 실행된다. 알려진 타겟들 또는 잔여 지면 클러터와 연관된 모든 빈들이 재검사되었다면, 새로운 타겟 에코들을 위해 모호성 표면이 검사된다. 나아가, 잡음 공식의 추정은 남은 빈들의 평균 전력에 근거하여 생성될 수 있다. <54> <55> <56> <57> <58> 단계(610)는 빈들을 불연속 피크들로 그룹화함으로써 실행된다. 상기 빈들은 단계(608)의 피크/잡음 판별 동작 들에 의해 식별될 수 있다. 단계(614)는 검출된 피크들로부터 주 타겟 경계들을 검사함으로써 실행된다. 주 타겟들은 신호대 잡음비, 시간 지연, 도플러, 도달 각도, 신호 전력 등을 포함할 수 있다. 단계(616)는 검출된 피크들을 갖는 향상된 타겟 경계들을 구동함으로써 실행된다. 향상된 타겟 경계들은 블레이드 비율들, 바이스 태틱 레이더 교차 섹션들 등을 포함할 수 있다. 향상된 타겟 경계들은 검출된 피크들을 위한 주 타겟 경계들과 상관된다. 주 타겟 경계들 및 향상된 타겟 경계들은 PCL 시스템(100) 내의 라인 트래킹 기능들에 의해 이용될 수 있다. 단계(618)는 단계(604) 내에서 형성된 자동-모호성 표면 데이터를 스캐닝함으로써 실행된다. 자동-모호성 표면 데이터를 스캐닝함으로써, 자동-모호성 피크들이 검출된다. 단계(620)는 단계(618)로부터의 자동-모호성 피크 들뿐만 아니라 단계(614) 및 단계(616)로부터의 타겟 파라미터 데이터를 이용하여 검출된 피크들을 편집함으로 써 실행된다. 검출된 피크들은 잘못된 경고들로 인해 타겟 에코의 결과가 아닌 피크들의 수를 감소시키도록 편 집된다. 필터링된 동작들 및 다른 판별 기능들은 가짜 피크 검출들이 그 이상 처리되는 것을 방지하게 할 수 있다. 단계(662)는 타겟 파라미터 변화를 계산함으로써 실행된다. 각 타겟 파라미터를 위한 변화는 나중의 라 인 트래킹 기능들에서 이용되도록 규정될 수 있다. 단계(626)는 그 이상 처리하기 위해 출력하고자 하는 검출 데이터를 발생시킴으로써 실행된다. 바람직하게, 검출 데이터는 라인 트래킹 기능에 출력되어 피크 측정 데이 터를 기존의 타겟 검출들과 연관시키거나 새로운 타겟 검출 데이터를 발생시킨다. 도 7은 본 발명의 실시예에 따른 잡음에서 피크들을 판별하는 흐름도를 도시한다. 도 7은 도 6의 단계들(608 및 610)과 상관된다. 그러나, 도 6의 단계들(608 및 610)은 도 7의 개시된 단계들에 제한되지 않는다. 단계(702)는 이전의 모호성 표면으로부터 빈들을 식별함으로써 실행된다. 이전의 모호성 표면은 시간상 현재의 갱신 시간에 우선하는 갱신일 수 있다. 단계(704)는 현재의 모호성 표면의 현재의 빈들과 이전의 모호성 표면 내의 이전의 빈들을 연관시킴으로써 실행된다. 이전의 빈들은 현재의 모호성 표면 갱신 내의 빈들의 세트에 대 한 초기 추측으로서 이용될 수 있다. 단계(706)는 새로운 타겟 에코들을 위한 모호성 표면을 조사함으로써 실 행된다. 이전의 모호성 표면 갱신에 상관없는 피크들은 새롭게 검출된 타겟들에 대한 타겟 경계들을 계산할 때 이용될 수 있다. 단계(708)는 검출된 피크들에 따라 새로운 빈들을 식별함으로써 실행된다. 단계(710)는 잔여 지면 클러터의 타겟 에코와 연관되지 않은 남은 빈들에서 평균 전력에 근거한 4개의 전력을 조사함으로써 실행 된다. 다양한 변형들 및 변경들이 본 발명의 정신 및 사상으로부터 벗어나지 않고 본 발명의 개시된 실시예들에서 실 행될 수 있음은 당업자에게 명백하다. 따라서, 본 발명은 어떠한 청구항의 범위 및 그 등가물들 내에 오는 본 발명의 변형들 및 변경들을 구현하도록 한다. <19> <20> <21> <22> <23> 도면의 간단한 설명 도 1은 본 발명의 실시예에 따른 레이더 시스템, 타겟 및 송신기들의 블록도. 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 PCL 시스템의 블록도. 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 검출 및 특징 추출 처리 서브시스템의 블록도. 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 피크 편집 기능을 위한 블록도. 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 PCL 동작에 대한 검출 및 추출 특징의 흐름도

15 <24> <25> 도 6은 본 발명의 실시예에 따른 모호성 기능 데이터로부터 검출 및 특징 추출을 위한 흐름도. 도 7은 본 발명에 따른 잡음으로부터 피크를 판별하기 위한 흐름도. 도면 도면1-15 -

16 도면2-16 -

17 도면3-17 -

18 도면4-18 -

19 도면5-19 -

20 도면6-20 -

21 도면7-21 -