Microsoft Word - BWS-10-ES-0082_LSI Corporation PCI Express RAID Adapter 25243_2.doc

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2 페이지 2/52 목 차 1.0 시험기관 일반현황 시험장소재지 시험기관지정사항 시험기준 기술기준현황 시험적용규격 피시험기기보완내용 피시험기기의기술제원 피시험기기구성및배치 전체구성 시스템구성 ( 피시험기기가컴퓨터및시스템인경우 ) 접속케이블 피시험기기의동작상태 배치도 전자파보호 시험적용규격 성능평가기준 시험방법및결과 정전기방전내성시험 방사성 RF 전자기장내성시험 EFT/ 버스트내성시험 서지내성시험 전도성 RF 전자기장내성시험 전원주파수자기장내성시험 전압강하및순간정전내성시험 시험장면사진 정전기방전내성시험 방사성 RF 전자기장내성시험 EFT/ 버스트내성시험 서지내성시험 전도성 RF 전자기장내성시험 전원주파수자기장내성시험 전압강하및순간정전내성시험 피시험기기사진... 48

3 페이지 3/ 시험기관 1.1 일반현황 기관명 대표이사 ( 주 )BWS TECH 남영현 주소경기도용인시처인구모현면매산리 전화번호 팩스번호 , yhnam@bws.co.kr 1.2 시험장소재지 주소경기도용인시처인구모현면매산리 전화번호 팩스번호 , 시험기관지정사항 구분시험장소관련규칙지정번호 정전기방전 차폐실 방사성RF전자기장 EFT/ 버스트서지전도성RF전자기장전원주파수자기장 3m대용시험실차폐실차폐실차폐실차폐실 방송통신기기시험기관의지정및관리등에관한고시 ( 전파연구소고시제 호 ( )) KR0017 KR0017 전압강하및순간정전 차폐실

4 페이지 4/ 시험기준 2.1 기술기준현황 구분제목고시일자 고시 방송통신기기형식검정, 형식등록및전자파적합등록에관한고시 방송통신위원회고시제 호 ( ) 고시전자파보호기준방송통신위원회고시제 호 ( ) 공고전자파보호시험방법전파연구소공고제 호 ( ) 2.2 시험적용규격 내 용 적용규격 적용여부 시험결과 정전기방전내성시험 KN 적합 부적합 방사성RF전자기장내성시험 KN 적합 부적합 EFT/ 버스트내성시험 KN 적합 부적합 서지내성시험 KN 적합 부적합 전도내성시험 KN 적합 부적합 전원주파수자기장내성시험 KN 적합 부적합 전압강하및순간정전내성시험 KN 적합 부적합 2.3 피시험기기보완내용 - 해당없음.

5 페이지 5/ 피시험기기의기술제원 구분주요사항및특성 정격전원 - 컴퓨터내부전원 I/O 포트 - PCI-E 기 능 - 본장비는컴퓨터나대용량서버에장착하여 PCI-EXPRESS 포트를확장해주는 PCI EXPRESS RAID ADAPTER 입니다. 크기 - ( 183 x 122 x 22 )mm 기 타 - 제조번호 : MY9BBP0125 ( 시험 1)- PCI-EXPRESS 포트 7 개 ( 내장 6 개, 외장 1 개 ) 제조번호 : TH9CBP0008 ( 시험 2)- PCI-EXPRESS 포트 5 개 ( 내장 4 개, 외장 1 개 ) 제조번호 : PA9CBP0203 ( 시험 3)- PCI-EXPRESS 포트 4 개 ( 내장 4 개 ) - 본성적서는피시험기기 (25243) 가 PCI-EXPRESS 포트 7 개 ( 내장 6 개, 외장 1 개 ), PCI-EXPRESS 포트 5 개 ( 내장 4 개, 외장 1 개 ), PCI-EXPRESS 포트 4 개 ( 내장 4 개 ) 를가졌을때를시험한성적서임.

6 페이지 6/ 피시험기기구성및배치 4.1 전체구성 시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ) 기기명형식명제조번호제작사비고 PCI Express RAID Adapter Testing System Configuration MY9BBP0125 Inventec Corporation 피시험기기 2U Chassis-1 SX LESC - Server ML370G6 CN792403N5 HP B 급검정필 모니터 ET-0007-B ETM SL0 BenQ B 급검정필 키보드 SK BC35A0AJ6U14OP HP B 급검정필 마우스 SMOP5004WX Samsung B 급검정필 마우스 SMOP5007WX Samsung B 급검정필 조이스틱 Side Winder GamePad Usb 미상 Microsoft B 급검정필 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5 개 ) 기기명형식명제조번호제작사비고 PCI Express RAID Adapter Testing System Configuration TH9CBP0008 Inventec Corporation 피시험기기 2U Chassis-1 SX LESC - Server ML370G6 CN792403N5 HP B 급검정필 모니터 PE1233 CNC4140RXH HP B 급검정필 키보드 SK BC35A0AJ6U14OP HP B 급검정필 마우스 SMOP5004WX Samsung B 급검정필 마우스 SMOP5007WX Samsung B 급검정필 조이스틱 Side Winder GamePad Usb 미상 Microsoft B 급검정필

7 페이지 7/52 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4 개 ) 기기명형식명제조번호제작사비고 PCI Express RAID Adapter PA9CBP0203 Inventec Corporation 피시험기기 Server ML370G6 CN792403N5 HP B 급검정필 모니터 PE1233 CNC4140RXH HP B 급검정필 키보드 RT Microsoft B 급검정필 마우스 SMOP5004WX Samsung B 급검정필 마우스 SMOP5007WX Samsung B 급검정필 조이스틱 Side Winder GamePad Usb 미상 Microsoft B 급검정필 4.2 시스템구성 ( 피시험기기가컴퓨터및시스템인경우 ) 항목형식명제조번호제작사비고

8 페이지 8/ 접속케이블시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7개 ) 접속시작장치 접속끝장치 케이블규격 명칭 I/O Port 명칭 I/O Port 길이 (m) 차폐여부 VIDEO 모니터 Shielded PS/2 키보드 Shielded Server PS/2 마우스 Unshielded SERIAL 마우스 Unshielded USB 조이스틱 Shielded INLET 파워콘센트 Unshielded 피시험기기 PCI-E Testing System Configuration PCI-E 10.0 Shielded 모니터 INLET 파워콘센트 Unshielded 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5개 ) 접속시작장치 접속끝장치 케이블규격 명칭 I/O Port 명칭 I/O Port 길이 (m) 차폐여부 VIDEO 모니터 Shielded PS/2 키보드 Shielded Server PS/2 마우스 Unshielded SERIAL 마우스 Unshielded USB 조이스틱 Shielded INLET 파워콘센트 Unshielded 피시험기기 PCI-E Testing System Configuration PCI-E 10.0 Shielded 모니터 INLET 파워콘센트 Unshielded 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4개 ) 접속시작장치 접속끝장치 케이블규격 명칭 I/O Port 명칭 I/O Port 길이 (m) 차폐여부 VIDEO 모니터 Shielded PS/2 키보드 Unshielded Server PS/2 마우스 Unshielded SERIAL 마우스 Unshielded USB 조이스틱 Shielded INLET 파워콘센트 Unshielded 모니터 INLET 파워콘센트 Unshielded 4.4 피시험기기의동작상태 - 본피시험기기인 PCI Express RAID Adapter (25243) 를 Server에장착하고주변기기를연결한후, 제조사가제공한 Smasher, iptemc(win32)1.1 프로그램을실행시킨상태에서모니터링하며시험하였음.

9 페이지 9/ 배치도 시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ), 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5 개 ) Server 피시험기기 모니터 Testing System Configuration ` 키보드 마우스 마우스 조이스틱 전원케이블인터페이스케이블 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4 개 ) Server 피시험기기 모니터 ` 키보드 마우스 마우스 조이스틱 전원케이블인터페이스케이블

10 페이지 10/ 전자파보호기준 5.1 시험적용규격 전자파보호시험방법 : 전파연구소공고제 호내성시험명적용포트내성기준단위성능평가기준적용규격 정전기방전 방사성 RF 전자기장 EFT/ 버스트 서지 전도성 RF 전자기장 전원주파수자기장 전압강하 순간정전 표면포트 표면포트 신호선및통신포트 입력직류전원포트 입력교류전원포트 신호선및통신포트 입력직류전원포트입력교류전원포트 신호선및통신포트 입력직류전원포트 입력교류전원포트 표면포트 4( 접촉방전 ) 8( 공기중방전 ) 80~ ±0.5 5/50 5 ±0.5 5/50 5 ±1 5/ /700 ±4 ± /50 (8/20) /50 (8/20) ±1( 선-선간 ) ±2( 선-접지간 ) 0.15 ~ ~ ~ > 입력교류전원포트 입력교류 >95 전원포트 300 kv kv MHz V/m( 무변조, rms) % AM (1kHz) kv Tr / Th ns khz ( 반복주파수 ) kv Tr / Th ns khz ( 반복주파수 ) kv( 첨두치 ) Tr / Th ns khz Tr / Th μs Kv ( 첨두치 ) Kv ( 첨두치 ) Tr / Th μs kv( 첨두치 ) Tr / Th μs kv( 첨두치 ) kv( 첨두치 ) MHz V( 무변조, rms) % AM (1kHz) MHz V( 무변조, rms) % AM (1kHz) MHz V( 무변조, rms) % AM (1kHz) Hz A/m(rms) % 감소주기 % 감소주기 % 감소주기 B A B A B A A B C C KN KN KN KN KN KN KN 성능평가기준대상기기에대한내성시험중또는내성시험종료후에적용하는성능평가기준은다음과같다. 성능평가기준 A : 시험중이거나시험종료후에도당해기기의사양에서정한성능을유지하는상태성능평가기준 B : 시험중에는기기의성능이떨어지나시험종료후정상적으로동작하는상태성능평가기준 C : 시험중에는기기의성능이떨어지나시험종료후전원개폐또는재시동등에의해정상적으로복원되는상태

11 페이지 11/ 시험방법및결과 6.1 정전기방전내성시험 측정설비 사용장비모델명제조자제조번호차기교정일사용여부 ESD Simulator ESS-2000 NoiseKen 4000v 시험장소 : 전자파차폐실 환경조건 시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ) 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5 개 ) 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4 개 ) 기준치측정치측정치측정치 온도 (15-35 C) 25 C 23 C 24 C 습도 (30-60%R.H.) 41 %R.H. 39 %R.H. 41 %R.H. 기압 (86-106kPa) kpa kpa kpa 시험조건 방전간격 : 1회 / 1초 방전임피던스 : 330 Ω / 150 pf 방전종류 : 직접방전-공기중방전, 접촉방전 간접방전-수평결합면, 수직결합면 극성 : + / - 방전회수 : 접촉방전 : 최소 4개의시험지점 ( 각지점에서최소한 50회의방전 ) 에서 ±100회씩 200회 공기중방전 : 인가부위당 10회이상 성능평가기준 : B 방전전압 : 구분 직접방전간접방전접촉방전공기중방전수평결합면수직결합면 인가전압 ± 2 kv ± 2 kv ± 2 kv ± 2 kv ± 4 kv ± 4 kv ± 4 kv ± 4 kv - ± 8 kv 시험방법 전자파보호시험방법 : 전파연구소공고제 호 공통조건 1) 피시험기기와시험실또는기타금속물간의거리는 1m 이상격리하여야한다. 2) 발생기의방전귀환로케이블은약 2m 의길이로서기준접지면에접속하며, 여분의길이는가능한기준접지면에유도되지않도록하거나도전부로부터 0.2m 이상격리하여야한다.

12 페이지 12/52 3) 책상위에서사용하는기기는기준접지면위의 0.8m 높이의비전도성시험대위에설치하며바닥설치형기기는기준접지면위에 0.1m 두께의절연받침대를설치하고, 받침대위에피시험기기와케이블을설치한다. 4) 시험결과의재현성을위하여정전기방전발생기는피시험기기의표면에수직으로시험전압을인가한다. 5) 비접지기기의시험은 3) 번항에기술된하나와동일해야한다. 공기중방전시험 1) 원형의방전전극팁은피시험기기에기계적인손상이발생하지않도록신속히피시험기기에서접촉하기까지접근시켜야하며, 각각의방전이종료된후정전기방전발생기 ( 방전전극 ) 는피시험기기로부터신속히격리하여야한다. 접촉방전시험 1) 칩형의방전전극팁은방전시스위치를동작시키기전에피시험기기에접촉하여야한다. 2) 피시험기기의표면이도장되어있지만, 도장내용이제조자의취급설명서에기재되어있지않은경우, 정전기발생기의방전전극팁으로도장을관통시켜도장층에접촉방전시험을실시하여야한다.

13 페이지 13/ 정전기방전인가부위 공기중 접촉 시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ), 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5 개 ) [ 전면 ] [ 후면 ]

14 페이지 14/52 [ 좌측면 ] [ 우측면 ]

15 페이지 15/52 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4 개 ) [ 전면 ] [ 후면 ]

16 페이지 16/52 [ 좌측면 ] [ 우측면 ]

17 페이지 17/ 시험결과 : 적합부적합 시험일 : 시험 년 03 월 12 일시험 년 03 월 15 일시험 년 03 월 16 일 시험자 : 이창영 시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ), 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5 개 ) 인가방식 No. 인가부위방전방법기준결과비고 간접인가 수평결합면 B A - 접촉방전수직결합면 B A - 1 피시험기기포트 접촉방전 B A - 2 피시험기기브라켓 접촉방전 B A - 3 Server 케이스 접촉방전 B A - 4 Server 전면케이스 접촉방전 B A - 직접인가 5 Server 브라켓접촉방전 B A - 6 Server 포트접촉방전 B A - 7 Server 전면버튼 공기중방전 B A - 8 Server 전면 HDD 공기중방전 B A - 9 Server 전면 LED 공기중방전 B A - 10

18 페이지 18/52 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4 개 ) 인가방식 No. 인가부위방전방법기준결과비고 간접인가 수평결합면 B A - 접촉방전수직결합면 B A - 1 Server 케이스 접촉방전 B A - 2 Server 전면케이스 접촉방전 B A - 3 Server 브라켓 접촉방전 B A - 4 Server 포트 접촉방전 B A - 직접인가 5 피시험기기브라켓접촉방전 B A - 6 Server 전면버튼공기중방전 B A - 7 Server 전면 HDD 공기중방전 B A - 8 Server 전면 LED 공기중방전 B A 시험자의견 - 시험중피시험기기가정상작동하여적합판정됨.

19 페이지 19/ 방사성 RF 전자기장내성시험 측정설비 사용장비모델명제조자제조번호차기교정일사용여부 Signal Generator 2031 MARCONI / RF Amplifier 100W 1000M 11 AmplifierReseach Bilog Antenna CBL6140A CHASE 시험장소 : 전자파무반사실 환경조건 시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ) 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5 개 ) 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4 개 ) 기준치 측정치 측정치 측정치 온도 (15-35 C) 25 C 23 C 25 C 습도 (30-60%R.H.) 41 %R.H. 41 %R.H. 41 %R.H. 기압 (86-106kPa) kpa kpa kpa 시험조건 안테나위치 : 안테나거리 : 전계강도 : 주파수범위 : 변조 : 스위프율 : 주파수스텝 : 인가부위 : 성능평가기준 : 수평및수직 3 meters 3 V/m ( 무변조, rms) 80 MHz to 1 GHz 80, 120, 145, 160, 230, 375, 435, 460, 600, 814, 835 MHz (±1%) (2012년 10월 31일까지적용이유예됨 ) AM 80 %, 1 khz sine wave 1.5 x 10-3 decades/sec 1 % step 4면 A 시험방법 전자파보호시험방법 : 전파연구소공고제 호 1) 시험에사용된전자파무반사실은기준접지면으로부터 0.8m 이상높이에서정해진 1.5m x 1.5m 의가상수직면에대한전자장의강도가규정치의 0dB~+6dB 이내의균일전자장이형성되었다. 2) 탁상용피시험기기는 0.8m 높이의비전도성받침대위에배치하고, 바닥설치형피시험기기는 0.1m 높이의비전도성받침대위에설치한다. 3) 각각의주파수에서의체재시간은피시험기기가동작하고응답할수있는데필요한시간이하가되어서는안되며, 0.5 초보다작아서는안된다. 민감한주파수 ( 예 : 클럭주파수 ) 는별도로분석되어야한다.

20 페이지 20/ 시험배치의평면도시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7개 ), 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5개 ) Server 피시험기기 모니터 Testing System Configuration ` 키보드 마우스 마우스 조이스틱 전원케이블인터페이스케이블 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4 개 ) Server 피시험기기 모니터 ` 키보드 마우스 마우스 조이스틱 전원케이블인터페이스케이블

21 페이지 21/ 시험결과 : 적합부적합 시험일 : 시험 년 03 월 12 일시험 년 03 월 15 일시험 년 03 월 16 일 [ 시험 1,2,3 공통사항 ] 인가부위 기준 수평 시험자 : 이창영 성능평가결과 수직 전면 A A A 후면 A A A 우측면 A A A 좌측면 A A A 시험자의견 - 시험중피시험기기가정상작동하여적합판정됨.

22 페이지 22/ EFT/ 버스트내성시험 측정설비시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ) 사용장비모델명제조자제조번호차기교정일사용여부 EMS Immunity Test System EMC Pro KeyTek Capacitor clamp PRO CCL KeyTek 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5개 ) 사용장비 모델명 제조자 제조번호 차기교정일 사용여부 EMS Immunity Test System EMC Pro KeyTek Capacitor clamp PRO CCL KeyTek 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4개 ) 사용장비 모델명 제조자 제조번호 차기교정일 사용여부 EMS Immunity Test System EMC Pro KeyTek 시험장소 : 차폐실 환경조건 시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ) 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5 개 ) 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4 개 ) 기준치측정치측정치측정치 온도 (15-35 C) 25 C 23 C 24 C 습도 (30-60%R.H.) 41 %R.H. 40 %R.H. 40 %R.H. 기압 (86-106kPa) kpa kpa kpa 시험조건 인가전압및극성 : 입출력교류전원포트 ± 1.0 kv 입출력직류전원포트 ± 0.5 kv 신호선및통신포트 ± 0.5 kv 임펄스반복률 : 5 khz 임펄스상승시간 : 5 ns ± 30 % 임펄스주기 : 50 ns ± 30 % 버스트지속시간 : 15 ms ± 20 % 버스트주기 : 300 ms ± 20 % 인가시간 : 1분이상 인가방법 : 입력교류전원포트 ( 결합 / 감결합회로망 ) 입력교류전원포트외 ( 용량성결합클램프 ) 성능평가기준 : B

23 페이지 23/ 시험방법 전자파보호시험방법 : 전파연구소공고제 호 1) 피시험기기가고정식바닥설치형또는탁상용기기가다른구성품과결합되도록설계된기기는접지기준면위에위치시키고 0.1m ± 0.01m 두께위에절연되어야한다. 2) 기준접지면은피시험기기의각경계로부터 0.1m 이상넓어야하며, 최소가로 1m x 세로 1m 이상의크기로서보호접지에연결되어야한다. 3) 피시험기기와다른모든전도성구조 ( 예를들면, 차폐된방의벽 ) 사이의최소거리는피시험기기밑의접지면은제외하고 0.5m 이상되어야한다. 4) 피시험기기의모든케이블은접지기준면위 0.1m 절연지지대위에위치되어야한다. 케이블은전기적빠른과도현상의영향을받지않도록케이블간에결합을최소화하기위해시험중인케이블로부터가능한멀리배치시켜야한다. 5) 접지기준면과모든본딩 (Bonding) 으로연결된결합 / 감결합회로망의접지케이블의연결임피던스는저유도성이제공되어야한다. 6) 피시험기기는취급설명서에따라접지시스템에연결시키고, 추가적인접지는연결하지않는다. 7) 결합클램프를사용할때결합클램프아래의접지기준면을제외하고는결합면과모든다른도전성표면사이의최소거리는 0.5m 이어야한다. 8) 결합장치와피시험기기사이의신호선과전원선의길이는 0.5m ± 0.06 m 이어야한다. 만약에제조자에의해제공된비분리형전원공급케이블이제품의길이와함께 0.5m ± 0.06m 를초과하면접지기준면 0.1m 위에위치시키고평평한코일을피하기위해초과되는케이블을접어야한다.

24 페이지 24/ 시험결과 : 적합부적합 시험일 : 시험 년 03 월 12 일시험 년 03 월 15 일시험 년 03 월 16 일 [ 입출력교류전원포트 ] [ 시험 1,2,3 공통사항 ] 적용부분 기준 시험자 : 이창영 성능평가결과 (+) 버스트 (-) 버스트 L1 B A A L2 B A A PE B A A L1-L2 B A A L1-PE B A A L2-PE B A A L1-L2-PE B A A [ 신호선 ] [ 시험 1,2 공통사항 ] 적용부분 기준 성능평가결과 (+) 버스트 (-) 버스트 PCI-E B A A 시험자의견 - 시험중피시험기기가정상작동하여적합판정됨. - 시험 3 은외장포트를포함하고있지않으므로신호선시험에서제외함.

25 페이지 25/ 서지내성시험 측정설비 시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7개 ) 사용장비 모델명 제조자 제조번호 차기교정일 사용여부 EMS Immunity Test System EMC Pro KeyTek 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5개 ) 사용장비 모델명 제조자 제조번호 차기교정일 사용여부 EMS Immunity Test System EMC Pro KeyTek 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4개 ) 사용장비 모델명 제조자 제조번호 차기교정일 사용여부 EMS Immunity Test System EMC Pro KeyTek 시험장소 : 차폐실 환경조건 시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ) 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5 개 ) 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4 개 ) 기준치 측정치 측정치 측정치 온도 (15-35 C) 25 C 24 C 24 C 습도 (30-60%R.H.) 42 %R.H. 40 %R.H. 41 %R.H. 기압 (86-106kPa) kpa kpa kpa 시험조건 서지전압 : 입력교류전원포트 선-선 : ± 1.0 kv 선-접지 : ± 2.0 kv 입력직류전원포트 선-접지 : ± 0.5 kv 신호선및통신포트 선-선 : ± 4.0 Kv (10/700 μs ) ± 1.5 Kv (10/700 μs ) 개방회로전압파형 : 1.2/50 μs 단락회로전류파형 : 8/20 μs 인가회수 : 각 5회 위상 : 0, 90, 180, 270 ( 입력교류전원포트 ) 극성 : + / - 반복률 : 1회 / 1분 성능평가기준 : B

26 페이지 26/ 시험방법 전자파보호시험방법 : 전파연구소공고제 호 1) 특별히명시되어있지않은한, 서지는제로크로싱과교류전압파형 ( 정및부 ) 의최대값에서전압위상에동기되도록인가한다. 2) 서지는선과선간및선과접지간에인가되어야한다. 선과접지간시험인경우에특별한조건이없는한, 시험전압은각각의선과접지간에연속적으로인가되어야한다. 3) 시험절차는시험품의비선형전류 - 전압특성을고려하여단계적으로전압을상승시키며시험하여야한다 시험결과 : 적합부적합 시험일 : 시험 년 03 월 12 일시험 년 03 월 15 일시험 년 03 월 16 일 [ 입출력교류전원포트 ] [ 시험 1,2,3 공통사항 ] 시험자 : 이창영 적용부분 기준 성능평가결과 (+) 서지 (-) 서지 L1- L2 B A A L1-PE B A A L2-PE B A A 시험자의견 - 시험중피시험기기가정상작동하여적합판정됨.

27 페이지 27/ 전도성 RF 전자기장내성시험 측정설비시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ) 사용장비모델명제조자제조번호차기교정일사용여부 RF Power Amplifier 5085R OPHIR Signal Generator 2030 MARCONI / CDN FCC-801-M3-16A FCC EM Injection lamp F mm FCC 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5개 ) 사용장비 모델명 제조자 제조번호 차기교정일 사용여부 RF Power Amplifier 5085R OPHIR Signal Generator 2030 MARCONI / CDN FCC-801-M3-16A FCC EM Injection Clamp F mm FCC 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4개 ) 사용장비 모델명 제조자 제조번호 차기교정일 사용여부 RF Power Amplifier 5085R OPHIR Signal Generator 2030 MARCONI / CDN FCC-801-M3-16A FCC 시험장소 : 차폐실 환경조건 : 시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ) 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5 개 ) 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4 개 ) 기준치측정치측정치측정치 온도 (15-35 C) 25 C 24 C 25 C 습도 (30-60%R.H.) 41 %R.H. 41 %R.H. 40 %R.H. 기압 (86-106kPa) kpa kpa kpa 시험조건 주파수범위 : 전계강도 : 변조 : 주파수스텝 : 성능평가기준 : 150 khz 80 MHz 0.2, 1, 7.1, 13.56, 21, 27.12, 40.68, 52 MHz(±1%) (2012년 10월 31일까지적용이유예됨 ) 3 V AM 80 %, 1 khz sine wave 1 % step A

28 페이지 28/ 시험방법 전자파보호시험방법 : 전파연구소공고제 호 1) 피시험기기를설치한후내성기준에명시된주파수범위, 시험레벨을설정하여시험주파수대역을스위프시킨다. 2) 각각의주파수에서의체재시간은피시험기기가동작하고응답할수있는데필요한시간이하가되어서는안되며, 0.5 초보다작아서는안된다. 민감한주파수 ( 예 : 클럭주파수 ) 는별도로분석되어야한다. 3) 시험은각각의결합, 감결합장치에연결된시험발생기를가지고수행되어야하고결합장치들의여기되지않은 RF 입력모드들은 50Ω 부하저항으로종단한다. 4) 피시험기기는기준접지면위로 0.1m 높이의절연지지대위에놓인다. 피시험기기에존재하는모든케이블은기준접지면위적어도 30mm 높이에지지되어야한다. 5) 기준접지면위에있는피시험기기와결합, 감결합장치와는 0.1 ~ 0.3m 의거리를두고설치한다 시험결과 : 적합부적합 시험일 : 시험 년 03 월 12 일시험 년 03 월 15 일시험 년 03 월 16 일 [ 입출력교류전원포트 ] [ 시험 1,2,3 공통사항 ] 시험자 : 이창영 인가부위인가방법기준성능평가결과 주전원입력 CDN (M3) A A [ 신호선및통신단자 ] [ 시험 1,2 공통사항 ] 인가부위인가방법기준성능평가결과 PCI-E EM Injection Clamp A A 시험자의견 - 시험중피시험기기가정상작동하여적합판정됨. - 시험 3 은외장포트를포함하고있지않으므로신호선시험에서제외함.

29 페이지 29/ 전원주파수자기장내성시험 측정설비 사용장비모델명제조자제조번호차기교정일사용여부 시험장소 : 차폐실 환경조건 기준치 측정치 온도 (15-35 C) C 습도 (25-75%R.H.) %R.H. 기압 (86-106kPa) kpa 시험조건 자기장세기 : 주파수 : 성능평가기준 : 1 A/m 60 Hz A 시험방법 전자파보호시험방법 : 전파연구소공고제 호 1) 피시험기기를설치한후 1m X 1m 표준크기의유도코일을사용하여장비가시험자기장하에있도록설치한다. 2) 피시험기기가서로다른방향을갖는시험휠드에노출되도록유도코일을 90 회전시켜시험한다.(X-Y-Z 방향 ) 3) 유도코일은시험실벽과자성체로부터적어도 1m 이상의거리를두고위치하여야한다. 4) 피시험기기는 1m X 1m 이상넓이의기준접지면위에놓인 0.1m 높이의절연지지물위에놓인다.

30 페이지 30/ 시험결과 : 적합부적합 시험일 : 시험자 : 이창영 유도코일위상 / 편파 기준 성능평가결과 X A - Y A - Z A 시험자의견 - 피시험기기가자계에민감한제품이아니므로시험에서제외하였음.

31 페이지 31/ 전압강하및순간정전내성시험 측정설비시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ) 사용장비모델명제조자제조번호차기교정일사용여부 EMS Immunity Test System EMC Pro KeyTek 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5 개 ) 사용장비모델명제조자제조번호차기교정일사용여부 EMS Immunity Test System EMC Pro KeyTek 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4 개 ) 사용장비모델명제조자제조번호차기교정일사용여부 EMS Immunity Test System EMC Pro KeyTek 시험장소 : 차폐실 환경조건 : 시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ) 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5 개 ) 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4 개 ) 기준치측정치측정치측정치 온도 (15-35 C) 26 C 23 C 24 C 습도 (30-60%R.H.) 41 %R.H. 40 %R.H. 41 %R.H. 기압 (86-106kPa) kpa kpa kpa 시험조건 전압의오버슈트 / 언더슈트 : 전압상승과하강시간 : 시험전압의주파수편차 : 피시험기기인가전압 : 시험회수 : 시험간격 : 성능평가기준 : 전압변화의 5% 이내 1μs - 5μs ± 2% 이내 AC220V/60Hz 3회 10초 감쇄량 주기 기준 95% 이상 0.5 B 30 % 30 C 95% 이상 300 C

32 페이지 32/ 시험방법 전자파보호시험방법 : 전파연구소공고제 호 1) 시험은시험발생기에피시험기기제조자에의해규정된가장짧은전원공급선으로피시험기기에연결하고수행되어야한다. 2) 시험전압의주파수는정격주파수의 ± 2% 이내이어야한다. 3) 시험중시험용주전원전압은 2% 의정확도내에서모니터되고발생기의영점교차조정은 ± 10 의정확도를가져야한다. 4) 전원공급전압의급격한변화는전압파형의 0 도인지점에서변화가발생해야한다 시험결과 : 적합부적합 시험일 : 시험 년 03 월 12 일시험 년 03 월 15 일시험 년 03 월 16 일 시험자 : 이창영 [ 시험1,2,3 공통사항 ] 감쇄량 주기 기준 성능평가결과 95% 이상 0.5 B A 30 % 30 C A 95% 이상 300 C C 시험자의견 - 본피시험기기에전압강하감쇄량 95% 이상 300 주기시험시, 전원이꺼지는현상이발생하였으나시험기준에만족하므로적합판정됨.

33 페이지 33/ 시험장면사진 7.1 정전기방전내성시험 시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ) 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5 개 )

34 페이지 34/52 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4 개 )

35 페이지 35/ 방사성 RF 전자기장내성시험 시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ) 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5 개 )

36 페이지 36/52 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4 개 )

37 페이지 37/ EFT/ 버스트내성시험 [ 전원단자 ] 시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ) 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5 개 )

38 페이지 38/52 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4 개 )

39 페이지 39/52 [ 신호선 ] 시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ) 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5 개 )

40 페이지 40/ 서지내성시험 시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ) 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5 개 )

41 페이지 41/52 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4 개 )

42 페이지 42/ 전도성 RF 전자기장내성시험 [ 전원단자 ] 시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ) 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5 개 )

43 페이지 43/52 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4 개 )

44 페이지 44/52 [ 신호선 ] 시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ) 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5 개 )

45 페이지 45/ 전원주파수자기장내성시험 - 해당없음 -

46 페이지 46/ 전압강하및순간정전내성시험 시험 1 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ) 시험 2 (PCI EXPRESS 포트 5 개 )

47 페이지 47/52 시험 3 (PCI EXPRESS 포트 4 개 )

48 페이지 48/ 피시험기기사진 (PCI EXPRESS 포트 7 개 ) [ 전면 ] PCI EXPRESS 내장포트 PCI EXPRESS 외장포트 [ 후면 ]

49 페이지 49/52 (PCI EXPRESS 포트 5 개 ) [ 전면 ] PCI EXPRESS 내장포트 PCI EXPRESS 외장포트 [ 후면 ]

50 페이지 50/52 (PCI EXPRESS 포트 4 개 ) [ 전면 ] PCI EXPRESS 내장포트 [ 후면 ]

51 페이지 51/52 [ 라벨 ] [ 컴퓨터장착내부 ]

52 페이지 52/52 [ 외장포트 ] [ 내장포트 1] [ 내장포트 2] * 시험 1 의경우모든포트가포함되어있고, 시험 2 는외장포트와내장포트 1 이포함되어있고, 시험 3 의경우는내장포트 1 만포함되어있습니다.

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