목 차 전기용품안전기준제정, 개정, 폐지이력및고시현황 1 서문 2 1 적용범위 (Scope) 3 2 인용표준 (Normative references) 3 3 용어와정의 (Terms and definitions) 3 4 일반사항 (General) 5 5 시험수준 (Tes

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1 국가기술표준원

2 목 차 전기용품안전기준제정, 개정, 폐지이력및고시현황 1 서문 2 1 적용범위 (Scope) 3 2 인용표준 (Normative references) 3 3 용어와정의 (Terms and definitions) 3 4 일반사항 (General) 5 5 시험수준 (Test levels) 5 6 시험장치 (Test equipment) 시험발생기 (Test generator) 결합및감결합장치 (Coupling and decoupling devices) 결합과감결합장치의시험품포트에서공통모드임피던스의확인 (Verification of the common mode impedance at the EUT port of coupling and decoupling devices) 시험발생기의설치 (Setting of the test generator) 10 7 탁상형및바닥거치형기기에대한시험배치 (Test setup and injection methods) 주입방식과시험지점의선택에대한규칙 (Rules for selecting injection methods and test points) 결합 / 감결합회로망주입적용절차 (CDN injection application) 공통모드임피던스요구조건이부합할경우의클램프주입을위한절차 (Clamp injection application when the common mode impedance requirements can be met) 공통모드임피던스요구조건이부합되지못할경우의클램프주입을위한절차 (Clamp injection application when the common mode impedance requirements cannot be met) 직접주입절차 (Direct injection application) 단일장치로구성된시험품 (EUT comprising a single unit) 다수의장치로구성된시험품 (EUT comprising several units) 14 8 시험절차 (Test procedure) 15 9 시험결과의평가 (Evaluation of the test results) 시험성적서 (Test report) 16 부속서 A (Annex A) 27 부속서 B (Annex B) 32 부속서 C (Annex C) 34 부속서 D (Annex D) 35 부속서 E (Annex E) 39 부속서 F (Annex F) 40 부속서 G (Annex G) 43 참고문헌 (References) 51 KS C IEC : 2010 해설 52 해설 1 53 해설 2 54

3 전기용품안전기준제정, 개정, 폐지이력및고시현황 제정기술표준원고시제 호 ( ) 개정기술표준원고시제 호 ( ) 개정국가기술표준원고시제 호 ( ) 개정국가기술표준원고시제 호 ( ) 부칙 ( 고시제 호, ) 이고시는고시한날부터시행한다

4 KC 전기용품안전기준 전기자기적합성 (EMC) 제 4 부 : 시험및측정방법 - 제 6 절 : 전기자기장전도내성시험 Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-6: Testing and measurement techniques - Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields 이안전기준은 2008년제3판으로발행된 IEC , Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-6: Testing and measurement techniques - Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields를기초로, 기술적내용및대응국제표준의구성을변경하지않고작성한 KS C IEC ( ) 을인용채택한다

5 (EMC) - 제 4 부 : 시험및측정기술 - 제 6 절 : 전기자기장전도내성시험 Electromagnetic compatibility(emc) - Part 4-6: Testing and measurement techniques - Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields 1 적용범위 이표준은 9 khz 80 MHz 주파수대역의의도적인 RF 송신기에서발생하는전기자기방해에대한전기및전자기기의전도성내성요구조건에대해기술한다. 방해 RF 장에연결할수있는전도성케이블 ( 전원선, 신호선, 접지연결등 ) 이없는기기는제외한다. 비고 1 전기자기장복사에의해서유도된전도방해신호가관련기기에미치는영향을측정하는시험방법에대해서정의한다. 이전도방해파의모의실험과측정은영향의정량적인결정에완전히정확하지는않다. 정의된시험방법은전도방해파의영향에대한정성적분석을위해다양한장치에서측정결과가적절히재현될수있도록하는데주목적을두고있다. 이표준의목적은 RF 장에의해유도된전도방해를받을때전기및전자기기의기능내성을평가하는공통기준을확립한다. 이표준에서규정한시험방법은정의된현상에대하여기기나시스템의내성을평가하는일관성있는방법을설명한다. 비고 2 IEC 가이드 107 에서설명한대로이표준은 IEC 제품위원회가사용하는기본적인 EMC 간행물이다. IEC 가이드 107 에서기술한대로 IEC 제품위원회는이내성시험표준을적용하는것이바람직한지를결정할책임이있으며, 이를적용하는경우에는제품위원회가적절한시험수준과성능기준을결정할책임이있다. TC 77 과그소위원회는제품에대한개별내성시험값을평가할때제품위원회와협력할준비가되어있다. 2 인용표준 다음의인용표준은이표준의적용을위해필수적이다. 발행연도가표기된인용표준은인용된판만을적용한다. 발행연도가표기되지않은인용표준은최신판 ( 모든개정을포함 ) 을적용한다. KS C IEC 국제전기기술용어 - 제 161 장 : 전기자기적합성 3 용어와정의 IEC 의이부분의목적을위하여 KS C IEC 의정의와함께다음의용어와정의를적용한다. 3.1 의사손 (artificial hand) 보통의동작조건에서손에들고사용가능한전기기기와접지사이에인체의모의임피던스를주는전기회로망 [IEV ] 비고설치는 KS C CISPR 에따라야한다

6 3.2 보조기기 (auxiliary equipment) AE 시험품의정상적동작에필요한신호를공급하는장치와시험품의성능을확인하는장치 3.3 클램프주입 (clamp injection) 클램프주입은케이블상의클램프온 ( 클램프 -on) 전류를주입하는장치에의해얻어진다. 전류클램프 : 주입이이루어지는케이블로구성된 2 차권선의변환기. 전기자기클램프 (EM- 클램프 ): 용량성및유도성결합으로조합된주입장치 3.4 공통모드임피던스 (common-mode impedance) 확실한포트에서의공통모드전압과공통모드전류의비율 비고 공통모드임피던스는단자사이또는그포트의차폐면과기준면 ( 점 ) 사이에단위공통모드전압을적용함으로써결정된다. 그결과로생기는공통모드전류는그때이종단또는차폐면을통해흐르는모든전류의벡터합으로측정된다 [ 그림 8a 및 b 참조 ]. 3.5 결합인자 (coupling factor) 결합 ( 그리고감결합 ) 장치의시험품의포트에서얻어진개방회로전압 (e.m.f.) 을시험발생기출력에서얻어지는개방회로전압으로나눈비 3.6 결합회로망 (coupling network) 정의된임피던스하에서하나의회로로부터다른회로로에너지를전달하기위한전기적회로. 비고 결합과감결합장치는한박스 [ 결합과감결합회로망 (CDN)] 로통합될수도있고, 또는각각분리된회로망일수도있다. 3.7 결합 / 감결합회로망 (coupling/decoupling network) CDN 결합과감결합모두의기능을통합한전기회로 3.8 감결합회로망 (decoupling network) 시험품에인가되는시험신호가피시험상태가아닌다른기기, 장치또는시스템에영향을주지못하도록하는전기회로 3.9 시험발생기 (test generator) 필요한신호를발생할수있는발생기 (RF 발생기, 변조원, 감쇠기, 광대역전력증폭기그리고필터 )( 그림 3 참조 ) 3.10 기전력 (electromotive force) e.m.f. 능동소자의표현에서이상적인전압원의단자에서의전압 [IEV ] - 4 -

7 3.11 측정결과 (measurement result) U mr 측정장치의전압지시값 3.12 전압정재파비 (voltage standing wave ratio) VSWR 선로상에서최대전압과인접최소전압크기의비 4 일반사항 IEC 의이규격에서다루는방해파원은근본적으로전기자기장이며, 설치된기기에연결된케이블의전체길이에작용할수있으며의도적 RF 송신기로부터발생한다. 방해받는기기는대부분큰시스템의한부분이며, 그크기는관련파장에비해작다고가정한다. 안쪽으로들어오는선과바깥쪽으로나가는선, 예를들면전원선, 통신선로, 인터페이스케이블등은여러파장의길이가될수있으므로수동수신안테나회로망으로동작한다. 이런케이블회로망사이에서, 영향받기쉬운기기는기기내에흐르는전류에노출된다. 기기에연결되어있는케이블시스템은공진모드 ( 보기 :λ/4, λ/2 개방또는접힌다이폴 ) 로가정한다. 그리고접지기준면에대해 150 Ω 공통모드임피던스를가지는결합및감결합장치로표현된다. 가능한한시험품은 2 개의 150 Ω 공통모드임피던스연결부사이에시험품을연결하여시험한다. 하나는무선주파수원을제공하는것이고다른하나는전류의귀로를제공하는것이다. 이시험방법은의도적인 RF 송신기에서발생되는전기자기장과같도록모의실험된방해원을시험품에가한다. 이방해전기자기장 (E, H) 은그림 2a 와같은시험설치에의해발생한전압과전류로부터생긴근거리전기자기장에의해근사된다. 다른모든케이블이비여기 (non-excited) 상태인동안에한케이블에대해서만방해신호를인가하는결합및감결합장치의사용은방해원이다른진폭과위상의범위에대해모든케이블에서동시에영향을미치는실제상황에근접할수있다 [ 그림 2 b 참조 ]. 결합및감결합장치는 6.2 에주어진특성으로정의된다. 이러한특성을만족시키는결합및감결합장치가사용될수있다. 부속서 D 의결합및감결합회로망은상업적으로이용가능한회로망의예이다. 5 시험수준 9 khz 150 khz 주파수대역에서의도적인 RF 송신기의전기자기장에의한방해파시험은필요없다. 표 1 시험수준 U 0 r.m.s. 로표현되는변조되지않은방해신호의개방회로시험수준 (e.m.f.) 은표 1 에주어진다

8 시험수준은결합장치의시험품포트에서결정된다 (6.4.1 참조 ). 기기의시험을위해서, 신호는실제의방해상태를모의실험하기위해서 1 khz 정현파로 80 % 진폭변조된다. 효과적인진폭변조가그림 4 에나타나있다. 시험수준선택에대한정보는부속서 C 에있다. 비고 1 KS C IEC 은전기자기장의복사에너지에대해서전기, 전자기기의내성을확립하는시험방법을정의한다. 그것은 80 MHz 이상의주파수를포함한다. 제품위원회는 80 MHz 보다낮거나높은경계주파수를선택할수있다 ( 부속서 B 참조 ). 비고 2 제품위원회는다른변조방법을선택할수있다. 6 시험장치 6.1 시험발생기 시험발생기는원하는위치에서요구되는신호레벨의방해신호를각각의결합장치의입력포트에공급하는모든장치와부속을포함한다. 전형적인배치는분리되거나하나또는그이상의시험기구로통합되는다음품목으로구성된다 (3.9 와그림 3 참조 ). 관련주파수대역을포함하고, 1 khz 정현파로 80 % 진폭변조되는 RF 신호발생기 G1. 이들은수동제어 ( 보기 : 주파수, 진폭, 변조지수 ) 를하며, RF 합성장치의경우에는주파수의존적스텝 (step) 크기와체제시간으로프로그래밍할수있어야한다. 방해시험원출력수준을제어하기적절한주파수정격의감쇠기 T1( 전형적으로 0 db...40 db). T1 은 RF 발생기에포함될수있다. RF 스위치 S1. 방해시험신호는시험품의내성을시험할때 S1 에의해켜지고꺼질수있다. S1 은 RF 발생기에포함될수있고선택적이다. 광대역전력증폭기 PA 는 RF 발생기의출력전력이충분하지않을때, 신호를증폭하기위해필요하다. 저역통과필터 (LPF) 또는고역통과필터 (HPF) 는몇몇형태의시험품의간섭, 예를들면 ( 부 ) 고조파에의한 RF 수신기의장해를피하기위해서필요할수있다. 필터가필요할때에는광대역증폭기 (PA) 와감쇠기 (T2) 사이에삽입되어야한다. 충분한전력정격을가진감쇠기 T2( 고정감쇠기 6 db, Z o = 50 Ω). 전력증폭기로부터회로망으로의부정합을줄이기위해서 T2 가제공되고, T2 는가능한결합장치에가까이놓여야한다. 비고 T2 는결합그리고감결합회로망에포함될수있고, 광대역전력증폭기의출력임피던스가임의의부하조건의사양을만족한다면생략가능하다. 변조가없는시험발생기의특성은표 2 에주어진다. 표 2 시험발생기의특성 6.2 결합및감결합장치 결합장치와감결합장치는방해신호 ( 전체주파수범위에서, 공통모드임피던스가시험품포트에있는 ) 를시험품에연결된각종케이블에결합할때, 그리고인가된시험신호가시험대상이아닌다른장치, 기기, 시스템에영향을미치지않도록할때사용한다. 결합및감결합장치는일체형으로결합될수있다 ( 결합 / 감결합회로망, CDN). 또는몇개의 - 6 -

9 부분으로구성한다. 주결합및감결합장치매개변수, 즉시험품의포트에서보이는공통모드임피던스는표 3 에규정되어있다. 결합장치와감결합장치는시험재현성과보조기기보호때문에 CDN 을선호한다. 그러나이것이적합하지않거나사용할수없는경우에는다른주입방법을사용할수있다. 적당한주입방법을선택하는기준이아래그리고 7.1 에주어진다. 표 3 결합및감결합장치조합의주매개변수 비고 1 시험품의포트와보조기기포트사이의 Z ce 의변수또는감결합인자는별도로명시되어있지않다. 이인자는 ½Z ce½ 의허용오차가접지기준면에대한보조기기포트개방또는단락회로를만족해야하는요구조건에포함된다. 비고 2 보조기기에대한공통모드임피던스요구조건을따르지않고클램프주입방법을사용할때, Z ce 의요구조건이만족되지않을수있다. 그러나주입클램프는 7.4 를따를때, 허용할수있는시험결과를제공할수있다 결합및감결합회로망 (CDNs) 이회로망은한상자에결합및감결합회로를포함하고특수한비차폐케이블 ( 예를들어 CDN-M1, CDN-M2, CDN-M3, CDN-T2, CDN-T4, CDN-AF-2) 에사용될수있다 ( 부속서 D 참조 ). 결합및감결합회로망의일반적개념은그림 5c 와 5d 에나타나있다. 회로망은기능적신호에과도한영향을주지않아야한다. 그러한영향에대한제한이제품사양서에지정될수있다 전력공급선로에대한결합및감결합회로망 결합및감결합회로망은모든전력공급연결에권고된다. 그러나높은전력 ( 전류 16 A) 및 / 또는복수공급시스템 ( 다중위상또는여러병렬공급전압 ) 에대해서는, 다른주입방법이선택될수있다. 방해신호는 CDN-M1( 단선 ), CDN-M2(2 선 ) 또는 CDN-M3(3 선 ) 또는등가회로망 ( 부속서 D 참조 ) 을이용한공급선로에결합되어야한다. 유사한회로망이 3 상전원시스템에정의될수있다. 결합회로는그림 5c 에나타나있다. 시험품에인가된전류때문에자성재료가포화되어 CDN 성능이과도하게저하되지않아야한다. 가능하다면회로망구조는순방향전류의 자화효과를 회귀전류에 의해생긴영향으로 무효화시키는구조가바람직하다. 실제설치에서공급선이각각의방향으로향하면, 분리된결합및감결합회로망 CDN-M1 을사용해야하고모든입력단자를분리해서다루어야한다. 시험품이다른접지단자에연결되면 ( 예를들어 RF 목적또는고누설전류용으로 ), 그것은접지기준면에연결되어야한다. 시험품의특성또는사양이허용할때는 CDN-M1 을통한다. 이경우전력공급은 CDN-M3 회로망을통해서공급되어야한다. 시험품의특성또는사양이 RF 또는다른이유로접지단자와직렬로접속한 CDN-M1 회로망을가지는것을허용하지않을때, 접지단자는접지기준면에직접연결되어야한다. 이경우 CDN-M3 회로망은보호접지도체에의한 RF 단락회로를막기위해 CDN-M2 회로망으로대치되어야한다. 기기가이미 CDN-M1 또는 CDN-M2 회로망을경유하여공급될때, 이장치는동작상태이어야한다. 경고 커패시터는 CDN 브리지내활전부에사용된다. 그결과큰누설전류가발생할수있어 - 7 -

10 CDN 에서접지기준면으로의안전한연결은의무적이다 ( 어떤경우에이접속은 CDN 의설치에의해제공될수도있다 ) 비차폐평형선로에서의결합및감결합 비차폐평형선로케이블에결합및감결합방해신호를위해 CDN-T2, CDN-T4, CDN-T8 이결합및감결합회로망으로쓰일수있다. 그림 D.4, 그림 D.5, 그림 D.6 은이러한가능성을보여준다. 대칭적인 1 쌍 (2 개의선 ) 을가진케이블에서 CDN-T2 대칭적인 2 쌍 (4 개의선 ) 을가진케이블에서 CDN-T4 대칭적인 4 쌍 (8 개의선 ) 을가진케이블에서 CDN-T8 비고 6.2 의요건을만족시키고의도한주파수범위에적합하다면다른 CDN-Tx 회로망이쓰일수있다. 예를들면결합및감결합회로망의차동모드에서공통모드로의변환비율은설치된케이블이나케이블에연결된기기에명기된변환비율보다큰값을가져야한다. 케이블과기기에대해서다른변환비율이명시되어있다면더작은값이적용될수있다. 적당한결합및감결합회로망이없기때문에평형다선식케이블에서는클램프주입이더적합하다 비차폐불평형선로에서의결합및감결합 비차폐불평형케이블의결합및감결합방해신호의경우, 그림 D.3 에설명된결합및감결합회로망이한쌍으로쓰일수있다. 비고적합한 CDN 을이용할수없다면, 클램프주입을사용하여야한다 클램프주입장치 클램프주입장치로결합과감결합기능이분리된다. 결합은클램프온 ( 클램프 -on) 장치에의해제공되고공통모드임피던스와감결합기능은보조기기에서구현된다. 그림처럼보조기기는결합과감결합장치의일부가된다 ( 그림 6 참조 ). 적절한적용을위한지시사항이 7.3 에나와있다. EM 클램프나전류클램프가 7.3 의제한을따르지않고쓰일때 7.4 에정의한과정을따라야한다. 이과정에서유도전압은 에서설명된것과같은방식으로된다. 또한그에따른전류도관찰되고수정되어야한다. 이절차에서는더낮은공통모드임피던스를사용할수있지만, 공통모드전류는 150 Ω 신호원에서흐르는값으로제한된다 전류클램프 이장치는시험품에연결된케이블에유도결합을만든다. 예를들면 5:1 의권선비를이용하여변환된공통모드직렬임피던스는보조기기의임피던스 150 Ω 에비해서무시될수있다. 이경우에시험발생기의출력임피던스 (50 Ω) 는 2 Ω 으로변환된다. 다른권선비율역시사용할수있다 ( 부속서 A 참조 ). 비고 1 전류클램프를쓸때전력증폭기 (PA) 에의해발생되는높은고조파가결합장치의시험품포트에서기본신호수준보다더높게나타나지않도록주의해야한다. 비고 2 일반적으로용량성결합을최소화하기위해서케이블이클램프의중심을통과하도록위치시키는것이필수적이다 EM 클램프 EM 클램프는시험품에연결된케이블에용량성결합과유도성결합둘다를만든다. EM 클램프의구조와성능은부속서 A 에나와있다

11 6.2.3 직접주입장치 시험발생기에서오는방해신호를 100 Ω 저항을통하여, 차폐된동축케이블에주입한다 ( 차폐가접지되지않거나한쪽끝에서만접지된경우 ). 보조기기와주입포인트사이에서, 감결합회로 (6.2.4 참조 ) 는가능한한주입지점에가깝게삽입해야한다 [ 그림 5b 를참조 ]. 감결합을증가시키고회로를안정화하기위해접지는직접주입장치입력포트의차폐물에서접지기준면까지연결되어야한다. 이연결은주입장치의보조기기측에서이루어진다. 비고 박 (foil) 차폐물에직접연결할때는신뢰할수있는시험결과를얻을수있도록잘연결하는데주의해야한다. 간단한차폐케이블구성에서, 감결합회로는 100 Ω 저항과함께하나의박스속에넣어 CDN 을만들수있다 감결합회로망 일반적으로감결합회로망은주파수범위에걸쳐높은임피던스를만드는몇개의인덕터로구성되어있다. 이것은사용된페라이트의재질에의해결정되고, 150 khz 에서적어도 280 μh 의인덕턴스가요구된다. 리액턴스는 26 MHz 까지는 260 Ω 이상으로, 26 MHz 이상에서는 150 Ω 이상으로높아야한다. 페라이트토로이드에많은권선을감거나 [ 그림 5d 참조 ] 케이블에걸쳐많은페라이트토로이드를사용함으로써 ( 보통클램프온튜브 ) 인덕턴스를얻을수있다. 부속서 D 에서규정한 CDN 은이표준에서달리규정하지않는한 RF 입력포트가무부하상태인감결합회로망으로사용할수있다. 이방식으로 CDN 을사용할때 CDN 은이항의요구사항을충족해야한다. 감결합회로망은시험용으로선정되지않은나머지케이블모두에사용하여야하나, 시험품과보조기기에연결된다. 예외사항은 7.7 을참조한다. 6.3 결합과감결합장치의시험품포트에서공통모드임피던스의확인 결합과감결합장치는시험품의포트에서본공통모드임피던스 lz cel 에의해특징지어진다. 그것의정확한값은시험결과의재현성을보증한다. 그림 7 에나타낸시험장치를이용하여결합장치와감결합장치의공통모드임피던스를검증한다. 결합장치와감결합장치그리고임피던스기준면 [ 그림 7a] 은접지기준면위에있어야한다. 접지기준면의크기는모든면에서투영된시험장치의기하구조를적어도 0.2 m 초과하여야한다. 임피던스기준면은그림 7a 에나타낸대로 30 mm 이하로 CDN 의시험품포트에연결해야한다. 임피던스기준면커넥터에서나타나는공통모드임피던스크기를측정한다. 결합및감결합회로망은표 3 의임피던스요건을만족시켜야한다. 입력단자는 50 Ω 부하로종단되고보조기기포트에는그림 7b 에나타낸것처럼단락회로와개방회로조건의공통모드에서순차적으로적용한다. 이요건은충분한감쇠를보증하고개방또는단락된입력같은보조기기의설치를중요하지않게한다. 클램프주입또는직접주입이사용된다면시험품에연결된각각의보조기기에대한공통모드임피던스를확인하는것은비현실적이다. 일반적으로 7.3 에주어진과정을따르는것으로충분하다. 모든다른경우에는 7.4 에정의된과정이사용된다 Ω / 50 Ω 어댑터의삽입손실 시험발생기를시험전에설치시, 시험레벨을 150 Ω 공통모드임피던스환경에서검증하여야한다. 이것은그림 7c 에서보듯 150 Ω / 50 Ω 어댑터와 50 Ω 측정장치의연결에서적절한공통모드지점의연결을통해수행된다. 아답터는그림 7d 와 7e 에서처럼구성한다

12 어댑터는접지기준면상에놓이며, 접지면의크기는모든면에서투영된시험장치의기하구조를적어도 0.2 m 초과하여야한다. 주입손실은그림 7c 의원칙에따라서시험한다. 삽입손실값은 (9.5±0.5) db(50 Ω 계통에서측정된부가적인직렬임피던스에의해발생된이론적값 9.5 db) 의범위에있다. 필요하다면시험배치의케이블감쇠는보상되어야한다. 수신기와발생기의입력과출력에서해당 VSWR( 1.2) 를가진감쇠기가권고된다. 6.4 시험발생기의설치 비변조된시험레벨의올바른설치에대해서는 의절차가적용된다. 시험발생기, 결합, 감결합장치와 150 Ω / 50 Ω 어댑터는 6.1, 6.2 와 의요건을따르는것으로가정한다. 경고측정장비의파괴나단락회로조건을피하기위해서시험발생기의설치시필요한것 ( 그림 8 참조 ) 이외에는결합, 감결합장치의시험품과보조기기의모든연결을끊어야한다. 시험발생기의출력레벨은비변조된반송파가되어야한다 (6.4.1 참조 ). 정확한설치가이루어진후변조가이루어지고검증된다. 시험발생기출력레벨은시험기기의안정성을보증할수있다면증폭기출력전력을측정하거나 RF 발생기출력을측정하여결정할수있다. 시험품에인가된모든시험주파수에대하여정확한출력레벨을측정해야한다 결합장치의시험품의포트에서출력레벨의설정 시험발생기는결합장치의 RF 입력포트에연결되어야한다. 공통모드에서결합장치의시험품포트는 150 Ω / 50 Ω 어댑터를통하여 50 Ω 의입력임피던스를가지는측정기기에연결되어야한다. 공통모드에서보조기기단자에는 50 Ω 으로종단된 150 Ω / 50 Ω 어댑터를연결한다. 모든결합및감결합장치에대한설치가그림 8 에주어져있다. 비고 1 직접주입에서차폐면이보조기기포트쪽에서접지기준면에연결될때, 보조기기포트에서 150 Ω 부하는요구되지않는다. 시험발생기는위에언급한설치를사용하여측정기기에서아래식의결과가나타나도록조정된다. U mr=u 0/6 ± 25 % U mr=u db ± 2 db 선형값에서, 또는대수값에서 각각의결합, 감결합장치에대해서설정이이루어져야한다. 시험발생기설정의제어변수 ( 소프트웨어변수, 감쇠기설정등 ) 은시험동안기록되고사용되어야한다. 비고 2 U 0 는표 1 에명기된시험전압이고 U mr 은 3.11 과그림 8 에정의되었듯이시험된전압이다. 시험오차를최소화하기위해서시험발생기의출력수준은 U 0 가아닌 150 Ω 부하를가지는 U mr 로설정한다. 비고 3 인자 6(15.6 db) 은시험레벨에대해명기된 e.m.f. 값으로부터생긴다. 매칭된부하레벨은 e.m.f. 레벨의반이고더욱이 3:1 전압분배는 50 Ω 시험기기로종단된 150 Ω / 50 Ω 어댑터에의해발생된다. 전류클램프에대한레벨설정이 50 Ω 시험환경 (A.1 참조 ) 에서수행될때 50 Ω 부하에나타나는전압 U mr 은요구되는시험레벨보다 6 db 작아야한다. 이경우에 50 Ω 시험지그에서시험된전압또는나타나는전류는다음과같다. U mr=(u 0/2)± 25 % 선형값에서, 또는 U mr=u 0-6 db ± 2 db 대수값에서 7 탁상형및바닥거치형기기에대한시험배치 시험할기기는접지기준면에서 0.1 m 높이의절연지지대위에놓인다. 시험품에존재하는모든

13 케이블은접지기준면위최소 30 mm 의높이에서지지되어야한다. 기기가패널이나랙, 캐비닛에부착하도록설계되었다면, 이러한구조에서기기를시험해야한다. 시험시료를지지할수단이필요하다면그러한지지대는비금속성, 비도전성재료로만든것이어야한다. 기기접지는제조자의지시사항을따라야한다. 결합 / 감결합장치가필요한경우에는이들을시험품에서 0.1 m 0.3 m 거리에놓아야한다. 이거리는접지기준면으로시험품을투영한지점에서결합 / 감결합장치까지수평하게측정해야한다. 그림 6, 그림 9, 그림 10 을참조한다. 자세한내용은 7.1 에서 7.7 을참조한다. 7.1 주입방식과시험지점의선택에대한규칙 결합및감결합장치에제공될케이블의형태와수량을선택할때, 일반적설치조건의물리적형태 ( 보기를들면가장긴케이블의알맞은길이 ) 가고려되어야한다. 모든시험에서시험품과보조기기 ( 사용중인 CDN 의내부케이블포함 ) 사이의총케이블길이는시험품제조자가규정한최대길이를초과하지않아야한다 주입방식 그림 1 은주입방식의선택을위한규칙에대해서나타내고있다

14 그림 1 주입방식선택을위한규칙 여기에서규정하지않은경우, 시험을위해시험품은선택한케이블을포함하여일반적인응용과일치하는방식으로구성, 설치, 배치, 운용해야한다. CDN은이기준에는언급되어있지는않지만, 이기준의요구조건을만족하면사용가능하다. 시험품에서나오는여러개의케이블이 10 m 이상의길이만큼매우근접해있거나시험품에서다른장치로가는여러케이블이케이블트레이 (tray) 나관 (conduit) 의내부에있을때, 그것은단일케이블로취급한다. 제품위원회가그제품군에연결되어있는케이블에어떤특정한종류의결합및감결합장치가더적합하다고결정하면 ( 기술적토대위에서확증된 ) 그결정은우선권을가진다. 이러한장치는제품기준서에명시되어야한다. CDN 의예는부속서 D 에명시되어있다 시험대상포트 시험에서 150 Ω 회로망은두개만이필요하다. 시험신호주입에사용되는회로망은여러개의시험대상포트를옮겨가며사용할수있다. CDN 을포트에서빼는경우에는감결합회로망으로대체할수있다

15 시험품에동일한포트 ( 동일입력 / 출력전자회로, 부하, 연결된기기등 ) 가여러개가있으면이들중최소 1 개를시험용으로선택하여다른종류의포트모두가포괄될수있게한다. 7.2 결합 / 감결합회로망주입적용절차 결합 / 감결합회로망주입을사용할때, 다음과같은조치를취해야한다. 보조기기를접지기준면위에놓는경우, 접지기준면보다 0.1 m 높게놓아야한다. CDN 하나는시험할포트에연결하고 50 Ω 종단된 CDN 은다른포트에연결해야한다. 감결합회로망은케이블이부착된다른모든포트에설치해야한다. 이방법으로각끝에서 150 Ω 으로종단되는하나의루프가형성된다. 종단된 CDN 은다음우선순위에따라선정해야한다. 1) CDN-M1 은접지단자연결을위해사용 2) CDN-Sn(n=1, 2, 3,..) 은주입점에서가까울때 ( 시험포트까지가장짧은기하학적거리 ) 3) CDN-M2, CDN-M3, CDN-M4 또는 CDN-M5 는전원선에사용 4) 그밖의 CDN 은주입점에서가까울때 ( 시험포트까지가장짧은기하학적거리 ) 시험품에포트가하나만있으면그포트를주입용으로사용된 CDN 에연결한다. 적어도하나의보조기기를시험품에연결하고단하나의 CDN 만시험품에연결할수있다면, 보조기기의포트하나를위에서언급한우선순위에따라 50 Ω 으로종단된 CDN 에연결하고, 보조기기에대한다른연결은감결합시켜야한다. 7.3 공통모드임피던스요구조건이부합할경우의클램프주입을위한절차 클램프주입을사용할때, 보조기기의배치는가능한한 6.2 에서요구되는공통모드임피던스에가깝게나타나야한다. 클램프주입과함께사용되는각각의보조기기는가능한한기능적설치조건을만족하도록해야한다. 요구되는공통모드임피던스에근접하기위해서다음과같은시험이수행되어야한다. 클램프주입과함께사용되는각각의보조기기는접지면위 0.1 m 의절연체지지대위에위치해야한다. 감결합회로망은시험대상케이블은제외하고, 시험품과보조기기사이의각케이블에설치해야한다. 시험품에연결된것은제외하고, 각보조기기에연결된모든케이블에는감결합회로망이있어야한다 와그림 6 을참조한다. 각보조기기에연결된감결합회로망 ( 시험품과보조기기사이케이블에대한것은제외 ) 은보조기기에서 0.3 m 떨어진거리까지만적용한다. 보조기기와감결합회로망사이또는보조기기와주입클램프사이케이블은묶거나감싸지지않아야하며접지기준면 ( 그림 6) 에서 30 mm 50 mm 위에있어야한다. 시험대상케이블의한쪽끝에는시험품, 반대편끝에는보조기기를연결한다. 시험품과보조기기에는여러개의 CDN 을연결할수있지만, 시험품과보조기기각 CDN 중하나는 50 Ω 으로종단해야한다. CDN 종단은 7.2 의우선순위에따라선정해야한다. 여러개의클램프를사용할때시험을위해선택한각케이블에하나씩주입을실시한다. 주입클램프로시험하기위해선택하였지만실제로사용하지않는케이블은 에따라감결합해야한다. 다른모든경우에대해서는 7.4 에서주어진절차를따라야한다. 7.4 공통모드임피던스요구조건이부합되지못할경우의클램프주입을위한절차 클램프주입을사용할때공통모드임피던스요구조건이보조기기측면에서부합되지못한경우, 보조기기의공통모드임피던스는시험할시험품포트의공통모드임피던스보다작거나같아야한다. 그렇지않으면보조기기에서이조건을만족하고공진을예방하기위한조치를취해야한다 ( 보기. 보조기기와접지사이에 CDN-M1 또는 150 Ω 저항을사용 ). 이절차에서는 7.3 에서언급한조치와다른점에관련해서만기술한다

16 클램프주입을사용한각보조기기와시험품은가능한한기능상의설치조건을만족해야한다. 예를들어시험품은접지면에연결되거나절연체지지대에위치해야한다 ( 그림 A.6 과그림 A.7 참조 ). 주입클램프와시험품사이에삽입된추가전류프로브 ( 낮은삽입손실을갖는 ) 를사용해서유도전압 (6.4.1 에의해정해지는 ) 에의한전류를점검해야한다. 전류가다음과같이주어진공칭회로값 I max 를초과할경우, 시험발생기레벨을시험전류가 I max 값과같아질때까지낮춘다. I max=u 0 / 150 Ω 인가되고있는수정된시험전압레벨은시험성적서에기록해야한다. 재현성을보증하기위해서, 시험구성은시험보고서에상세히기록해야한다. 7.5 직접주입절차 차폐케이블에직접주입할때는다음의조치를취해야한다. 시험품은접지기준면보다 0.1 m 높은절연지지대위에놓아야한다. 시험대상케이블에서감결합회로망은주입점과보조기기사이에서, 주입점에가능한한가깝게놓아야한다. 두번째포트에는 150 Ω(50 Ω 으로종단한 CDN) 으로부하를가해야한다. 이포트는 7.2 의우선순위에따라선택한다. 시험품에부착된다른모든케이블에는감결합회로망을설치해야한다 ( 개방된상태일때 CDN 은감결합회로망으로간주한다 ). 주입점은접지기준면상의시험품의기하학적투영도에서 0.1 m 0.3 m 위치에있어야한다. 시험신호는 100 Ω 저항 (6.2.3 참조 ) 를통하여케이블차폐물에직접주입해야한다. 비고 박차폐물에직접연결할때는신뢰할수있는시험결과를얻도록주의하여제대로연결하여야한다. 7.6 단일장치로구성된시험품 시험품은접지기준면 0.1 m 위의절연지지대에위치시킨다. 탁상형기기는접지기준면이테이블위에놓인다 ( 그림 9 참조 ). 시험할모든케이블은결합 / 감결합장치로삽입해야한다 (7.1.2 참조 ). 결합 / 감결합장치는접지기준면위에놓아야하며, 시험품과대략 0.1 m 0.3 m 이격시켜직접연결한다. 결합 / 감결합장치와시험품사이의케이블은가능한한짧아야하고, 묶음형태나감싸는형태가되어서는안된다. 접지기준면위의높이는 30 mm 와 50 mm 사이가되어야한다. 시험품에다른접지단자가있다면, 허락되는범위내에서결합 / 감결합회로망 CDN-M1( 참조 ) 을통해접지기준면과연결되어야한다 ( 즉, CDN-M1 의보조기기포트는접지기준면에연결된다 ). 시험품에키보드나휴대형보조기기가있다면, 의사손은키보드위에놓이거나보조기기주위로감싸는형태로접지기준면에연결되어야한다. 제품위원회의명세서에따른시험품의규정된동작을위해요구되는보조기기, 예를들어통신기기, 모뎀, 프린터, 센서등과모든데이터전송과기능의평가를보증하기위해필요한보조기기는결합 / 감결합장치를통해시험품에연결되어야한다. 시험대상케이블의수는대표적인기능에국한하여가능한한제한하여야하지만모든물리적포트에주입해야한다. 7.7 다수의장치로구성된시험품 상호연결되어있는다수의장치로구성된기기는다음방법중한가지로시험한다. 선호되는방법 : 각각의부수장치 (sub-units) 는시험품으로서분리되어다루어지고시험되어야하며 (7.6 참조 ), 다른모든것은보조기기로간주된다. 결합, 감결합장치 ( 또는 CDN) 는시험품으로간주된부수장치의 (7.1 에따라 ) 케이블위에위치해야한다. 모든부수장치는차례로시험되어야한다

17 대안방법 : 부수장치가항상짧은케이블 ( 1 m) 로연결되고, 시험되는기기의한부분이면하나의시험품으로간주할수있다. 전도내성시험은시스템의내부케이블로간주되는상호연결된케이블에서는수행되지않아야한다 ( 그림 10 참조 ). 그러한시험품의한부분인장치는접촉은시키지않고근접하게위치시켜야하며, 접지면 0.1 m 위에절연지지대위에위치시켜야한다. 이러한장치의상호연결케이블또한절연지지대위에놓여있어야한다. 종단되지않은 CDN 또는감결합장치는시험품의모든다른케이블위에놓아야한다. 예를들어전원공급장치와보조기기 (7.1 참조 ) 에연결하는케이블위에놓아야한다. 8 시험절차 시험품은의도된동작및적정기후조건에서시험되어야한다. 온도와상대습도는시험성적서에기록되어야한다. 국가장해규정은시험배치로부터복사에관해적용되어야한다. 복사에너지가허용수준을초과한다면차폐실이사용되어야한다. 비고 1 일반적으로이시험은잘차폐된방을사용하지않고도수행가능하다. 이것은인가된방해수준과시험배치의기하학적구조, 특히저주파에서는복사하는에너지의양이그리많지않다고볼수있기때문이다. 각결합장치 (CDN, EM 클램프, 전류주입프로브 ) 에연결된시험발생기로시험을실시한다. 시험대상이아닌다른모든케이블은단선하거나 ( 기능적으로허용될때 ), 감결합회로망또는종단되지않은 CDN만을제공해야한다. ( 고차수또는저차수 ) 고조파가시험품을교란하지않도록방지하기위해시험발생기출력에저역통과필터 (LPF) 와고역통과필터 (HPF) ( 보기 :100 khz 차단주파수 ) 가필요할수있다. 저역통과필터 (LPF) 의대역정지특성은결과에영향을미치지않을정도로고조파를억제하기에충분한것이어야한다. 이필터는시험레벨을정하기전에시험발생기뒤에삽입해야한다 (6.1 과 참조 ). 주파수범위는설정과정중에정한신호레벨과 1 khz 정현파로 80 % 진폭변조된방해신호를을사용하여 150 khz 에서 80 MHz 까지스윕 (sweep) 한다. 필요한경우 RF 신호수준을조정하거나결합장치를변경하기위해멈출수있다. 주파수가단계적으로점차스윕될때, 한단계에서다른단계로스윕되는주파수크기는이전주파수값의 1 % 를초과하지않아야한다. 각주파수에서진폭변조반송파의체류시간은시험품을가동하고응답하는데필요한시간보다길어야하지만어떤경우에도 0.5 초보다짧아서는안된다. 민감주파수 ( 보기 : 클록주파수 ) 는별도로분석해야한다. 비고 1 시험품은주파수스테핑 (stepping) 중에발생한과도현상에의해교란될수있기때문에이러한교란을피하는규정이있어야한다. 가령주파수가변하기전에신호의강도를시험수준보다몇 db 아래로감소시킬수있다. 시험하는동안시험품이완전하게동작하기위한시도와내성을위해선택된모든동작모드를완전히분석하기위한시도가이뤄져야한다. 특별동작프로그램의사용이권장된다. 시험은시험계획에따라수행하여야한다. 어떤측면의시험계획을수립하기위해서는약간의조사시험이필요할수도있다. 9 시험결과의평가 시험결과는제조자나시험요청자혹은제조자와제품구매자간에합의한성능수준에대한시험품의기능손실이나성능저하의관점에서분류해야한다. 권고하는분류는다음과같다

18 a) 제조자, 시험의뢰인또는구매자가규정한기준치내에서정상적인성능 b) 시험이끝난후방해현상이사라지는일시적인성능의저화또는기능의손실, 별다른조치없이피시험기기가정상적인성능의회복이가능한경우 c) 사용자개입이나시스템재작동이요구되는, 기능이나동작의일시적성능악화또는손실 d) 기능의손실또는성능의저하가발생하여하드웨어또는소프트웨어의손실또는데이터의손실로인하여기능의회복이불가능한경우 제조자사양에서시험품에대한시험결과가중요하지않다고규정된경우, 인정될수있다. 이러한분류는공통, 제품및제품군표준에대하여책임이있는위원회에서성능평가기준을설정하기위한지침으로사용되며, 또는제품에대하여적용할수있는공통, 제품또는제품군표준이존재하지않을경우제조자와구매자간의성능평가기준에관한일치점을찾기위한분류로서사용된다. 10 시험성적서 시험결과성적서는시험을재현하는데필요한모든정보가포함되어야한다. 특히다음사항이기록되어야한다. 시험품의정보및관련기기 ( 예를들면상품명, 제품형태, 일련번호 ) 시험품의크기 시험품의대표적인동작조건 시험대상시험품이단일또는다중장치인지여부 상호연결케이블의종류, 길이와연결된시험품의인터페이스포트포함 적합성을달성하는데필요한케이블길이나유형, 차폐, 접지, 혹은시험품동작조건등특정한사용조건 필요한경우시험품의회복시간 사용한시험설비의종류와시험품, 보조장비, 결합 / 감결합장치의위치 시험기기의식별 ( 보기 : 상표명, 제품유형, 일련번호 ) 결합 / 감결합장치에사용된각케이블과내장케이블의길이 각주입포트별, 50 Ω 으로종단된감결합장치식별. 시험품가동방법설명 시험을실시하는데필요한특정한조건 시험적용주파수범위 스윕주파수의비율, 체재시간과주파수의단계 적용된시험레벨 제조자나시험의뢰인, 구매자가정의한성능레벨 적용한성능기준 방해시험의적용중이나후에관찰된시험품의결과, 이러한결과가지속된시간 합리적인합격 / 불합격의결정 ( 품목표준, 제품표준, 제품군표준에규정된, 또는제조자와구매자가합의한성능기준을토대로 )

19 Z ce U 0 U com com I J com 결합 / 감결합회로망시스템의공통모드임피던스, Z ce=150 Ω 시험발생기출력전압 (e.m.f.) 시험품과기준면사이의공통모드전압시험품을통한공통모드전류도체면상의전류밀도또는시험품의다른도체상의전류 E, H 전기장과자기장 EUT 시험품 비고 100 Ω 저항은결합 / 감결합회로망에포함된다. 왼쪽입력부는 ( 수동 ) 50 Ω 부하로, 오른쪽입력부는시험발생기의소스임피던스로부하를받는다. 그림 2a - 케이블상의공통모드전류로인한시험품근방의전기자기장 (EM fields) 을보여주는그림

20 T 종단 50 Ω T2 전력감쇠기 (6 db) CDN 결합및감결합회로망 주입클램프전류클램프또는 EM 클램프 그림 2b - RF 전도방해내성시험을위한도식적인배치 그림 2 RF 전도방해에대한내성시험

21 G1 PA LPF/HPF T1 T2 S1 RF 발생기광대역전력증폭기저역통과필터 / 고역통과필터가변감쇠기고정감쇠기 (6 db) RF 스위치그림 3 시험발생기의배치 그림 4 시험레벨 1 을위한결합장치의시험품포트에서의개방회로파형

22 그림 5a - 배치원리에사용되는기호목록

23 그림 5b - 차폐케이블에대한직접주입원리 그림 5c - 비차폐케이블에대한결합의 원리 그림 5d - 감결합의원리

24 그림 5 결합및감결합의원리 보조기기에연결되어있는 CDN, 예를들어, 전용접지단자에연결된 CDN-M1 또는 CDN-M3 는입력단자에서 50 Ω 으로종단되어야한다 (7.4 참조 ). 그림 6 클램프주입방식에의한결합및감결합원리 단위 :mm 접지기준면 : 결합및감결합장치의투영물그리고다른부품보다최소 0.2 m 를초과해야한다. 시험품포트는접지기준면보다 30 mm 위에있다. 임피던스기준면 (BNC 커넥터를가진 ):0.1 m 0.1 m 양쪽면은구리, 황동, 알루미늄으로구성되어야하고좋은 RF 접촉을가져야한다. 그림 7a - 결합및감결합장치의임피던스특성을확인하기위한기기배치구조의예

25 비고임피던스요구조건은닫힌그리고열린스위치 S 를만족해야한다 (6.3 참조 ). 그림 7b - 결합및감결합장치의 Z ce 를확인하기위한배치의원리

26 그림 8a - 비차폐된케이블에서의공통모드지점의정의 그림 8b - 차폐된케이블에서의공통모드지점의정의 결합, 감결합장치의예 : 결합, 감결합회로망 (CDNs) 직접주입회로망 ( 감결합포함 ) 클램프주입장치 ( 전류클램프또는 EM 클램프 ) 비고 50 Ω 부하로종단되는 150 Ω / 50 Ω 어댑터와같은보조기기포트에서의 150 Ω 부하는오직비차폐된케이블에만적용될수있다 ( 차폐된케이블은보조기기쪽에서접지기준면에연결되어차폐된다 ). 그림 8c - 결합, 감결합장치의시험품포트에서의레벨설정을위한배치 그림 8 레벨설정을위한배치 (6.4.1 참조 )

27 비고어떠한금속물로부터시험품까지의간격은적어도 0.5 m 가되어야한다. 그림 9 단일장치시험배치의예

28 어떠한금속장애물로부터시험품까지의간격은적어도 0.5 m 가되어야한다. 한개의귀로만을제공하면, 주입에사용하지않은 CDN 중한개만 50 Ω 으로종단시켜야한다. 그밖의모든 CDN 은감결합회로망으로결합하여야한다. 시험품에속하는상호연결케이블 ( 1 m) 은절연지지대위에있어야한다. 그림 10 다중장치시험배치의예

29 부속서 A ( 규정 ) 클램프주입에관한추가정보 A.1 전류주입클램프 입력포트에서 50 Ω 부하에의해종단되고전류클램프가설치된 50 Ω 시스템에서시험할때, 시험지그 (jig) 의전송손실은 1 db 을초과하지않아야하는것이전류클램프에서요구되는성능이다. 레벨설정배치회로는그림 A.1 에나와있고시험지그의그림은그림 A.2 에나와있다. 전류주입클램프에적용되는신호레벨은시험전에설정된다. 시험레벨설정과정은 과그림 8 에나와있다. 레벨설정이 150 Ω 임피던스환경이아니라 50 Ω 시험지그에서수행될때아래의과정을따라야한다. 주입클램프의입력포트에연결된케이블의차폐면은낮은임피던스연결에의해시험지그의기준면으로연결되어야한다. 시험지그의한쪽은 50 Ω 의동축부하로, 다른쪽은관심주파수범위에걸쳐 1.2 보다작은 VSWR 를가진전력감쇠기로종단되어야한다. 전력감쇠기는 RF 전압계의 50 Ω 입력이나 RF 스펙트럼분석기에연결되어야한다. 시험지그의출력커넥터와관련된전압레벨이요구되는시험레벨보다 6 db 작은값에도달할때까지신호발생기의출력레벨은증가하여야한다 참조. 발생기의출력레벨은주파수단계마다기록되어야한다 ( 그림 A.1 참조 ). A.2 EM 클램프 EM 클램프의구조와개념은그림 A.3, 그림 A.4 와그림 A.5 에나와있다. EM 클램프 ( 통상적인전류주입클램프와대조적인 ) 는 10 MHz 이상에서 10 db 이상의지향성을가지므로보조기기의공통모드지점과접지기준면사이에설정된임피던스는더이상필요하지않다. 10 MHz 이상에서 EM 클램프의작동은 CDN 과비슷하다. EM 클램프의레벨설정과정은그림 8 에지시된것처럼 150 Ω 환경에서 에따라수행되어야한다. A.3 시험배치 시험을하기위해클램프는시험될케이블위에놓여야한다. 레벨설정과정동안미리정해진시험발생기레벨을클램프에공급해야한다. 시험동안 EM 클램프의접지막대나, 전류주입클램프입력포트의차폐면에서접지기준면으로접지연결이되어야한다 ( 그림 A.6 과그림 A.7 참조 ). 시험동안 EM 클램프와전류클램프로시험된전류가공칭회로전류값 (7.4 참조 ) 을초과할때시험발생기의출력레벨은전류가공칭회로전류레벨과같게될때까지감소되어야한다. 감소된시험발생기출력값레벨은시험보고서에기록되어야한다

30 그림 A.1 50 Ω 시험지그에서의레벨설정배치를위한회로 단위 :mm 그림 A.2 50 Ω 시험지그의구조

31 EM 클램프 0.15 MHz 230 MHz 단위 :mm 부품목록 : 1 페라이트링코어 φ 36 φ mm 10 개의링, 4C65 형, NiZn, μ 개의링, 3C11 형,mnZn, μ 홈에붙여진얇은구리판의반원통 3 하단도체판 4 접지막대 5/6 시험중인케이블을홈에조이기위한장치압박스프링을가진절연재료부분 ( 안보임.) 7 페라이트관, 4C65 8 BNC 커넥터를가진 50 Ω 동축케이블 9 Z1 의단절을위한스위치 10 No.2 부분을위한홈 11 페라이트 ( 상단반고리 ) 의탄성고정 12 하단절연판 13 Z1, Z2의보호판 EUT 시험품 Z1 직렬임피던스 :C1: pf, L1:0.15 μh, R1:50 Ω / 12 W Z2 직렬임피던스 :L2:0.8 μh, R2:50 Ω / 12 W 그림 A.3 EM 클램프의상세한구조

32 부품목록 : 1 시험품측에 4C65( μ 100) 10개의고리로구성되고, 보조기기측에 3C11( μ 4 300) 26개의고리로구성된길이 0.6 m, φ 20 mm의페라이트관 ( 클램프 ) 2 얇은구리판의반원통 7 EM 클램프구조에포함된페라이트관 (m 100) Z1, Z2 주파수응답과지향성을최적화하기위해넣음. G1 시험발생기 EUT 시험품 EM 클램프의원리 : 페라이트관에의한자기결합 ( 항목 1) 시험품케이블과얇은구리판사이의밀착에의한전기결합 ( 항목 2) 그림 A.4 EM 클램프의개념 상업적으로이용할수있는 EM 클램프구조의전형적특징 : 동작주파수대역 :0.15 MHz 230 MHz EM 클램프결합인자의주파수응답 10 MHz 이상에서지향성과감결합시험품 / 보조기기 10 db 그림 A.5 EM 클램프의결합인자

33 그림 A.6 주입클램프를사용한시험배치의일반적원칙 T 종단 50 Ω T2 전력감쇠기 (6 db) 금속물로부터시험품까지의거리는적어도 0.5 m 가되어야한다. CDN 의시험조건은그림 2, 그림 9, 그림 10 을참조한다. 그림 A.7 주입클램프를사용할때접지면위의시험장치위치의예 ( 위에서본것 )

34 부속서 B ( 참고 ) 적용주파수대역에대한선택기준 비록기준은 150 khz 80 MHz 까지의주파수대역에대한요구조건이명시되어있지만, 적용가능주파수대역은시험될기기의통상적인배치와동작조건에의존한다. 예를들면전체크기가 0.4 m 이상이고어떠한금속케이블도연결되지않은배터리구동기기는방해 EM- 필드로부터유도된 RF 에너지가기기를고장나게할수있기때문에 80 MHz 이하에서시험할필요가없다. 일반적으로종료주파수는 80 MHz 가될것이다. 작은 ( 크기가 λ/4 보다작은 ) 기기의경우에는종료주파수가최대 230 MHz 까지확장되도록제품기준이규정될수있다. 이경우에결합및감결합장치는아래표 B.1 에서지정한시험품포트에서볼수있는공통모드임피던스의매개변수를충족해야한다. 이시험방식을더높은주파수에까지사용할때기기의크기, 상호연결에사용된케이블의형태와특별한 CDN 의유용성등이결과에영향을준다. 적절한적용에대한안내는주어진전용제품기준에서제공되어야한다. 표 B.1 시험주파수범위가 80 MHz 이상으로확장될때결합장치와감결합장치조합의주요매개변수 연결된케이블을포함한기기가방해 EM- 필드로부터얼마나많은 RF 에너지를받아들이는가에따라시작주파수가결정된다. 세가지의다른상황이고려된다. a) 접지나어떤다른 ( 절연되지않은 ) 기기에연결되지않고, 배터리를충전하는동안사용되지않는배터리구동기기 ( 크기가 λ/4 보다작은 ) 는이기준에따라시험될필요가없다. 배터리를충전하는동안배터리구동기기가작동된다면 b) 나 c) 경우가적용된다. 배터리구동기기 ( 크기가 λ/4 이상인 ) 에대해서연결된케이블의최대길이를포함하는기기의크기가시작주파수 ( 그림 B.1) 를결정한다. b) ( 전력 ) 주전원회로망에연결되고다른기기나케이블에는연결되지않은기기전력공급은결합및감결합장치를통해서공급되며의사손에의해기기에전달된다. 시작주파수는 150 khz 이다. c) 제어케이블, 입ㆍ출력케이블또는통신케이블을통해서다른절연또는비절연기기에연결되고 ( 전력 ) 전원망에연결된기기 시작주파수는 150 khz 이다

35 보기 : 배터리로동작되고코일이감긴 4 m 길이의케이블을가지는개인컴퓨터로부터전원을공급받는키보드 (λ/4 이상의크기 ) 에연결된케이블에대해서시작주파수는 6.67 MHz 가되어야한다. 키보드는의사손으로감싸야한다. 2m 미만의케이블을가지는마우스에대한시작주파수는 15 MHz 가될것이다. 교류 / 직류어댑터를옵션으로가지는휴대계산기는 150 khz 이상에서어댑터의본체면에대해시험되어야한다. 휴대계산기는의사손으로감싸야한다. 접지에연결되고배터리로전원이공급되는휴대용멀티미터는 150 khz 이상에서그케이블에대해위에서시험되어야한다. 멀티미터는의사손으로감싸야한다. 절연된스피커상자에연결되는오디오수신기에연결할수있고, 또한접지에연결될수있는안테나입력단을가진이중절연된 ( 본체 ) CD 플레이어는 150 khz 이상에서전력공급기와오디오케이블에대해시험되어야한다. 최대길이가 200 m( 제조업체의사양 ) 이상의케이블로빌딩전체에분포된다양한절연센서를가진자동도난경보기는 150 khz 이상에서이케이블에대해시험되어야한다. 그림 B.1 케이블길이와기기크기의함수로나타낸시작주파수

36 부속서 C ( 참고 ) 시험레벨의선택을위한지침 시험레벨은설치완료된시험품과케이블이노출될가능성이있는전기자기복사환경에의해선택되어야한다. 사용될시험레벨을선택할때실패의결과를항상염두에두어야한다. 실패의결과가심각하다면, 더큰레벨이고려되어야한다. 시험품이단지몇개의지점에설치된다면, 국부 RF 원의고찰은전기장강도의계산을더욱용이하게한다. 방해원의전력이알려져있지않은경우에는관련된위치에서의실제전기장강도를측정하는것이가능할수있다. 다양한위치에서의동작을필요로하는기기에대해서는사용되는시험레벨을선택할때다음지침사항을따라야한다. 다음등급은 5. 에서목록으로만들어진레벨과관련되어있다. 이것은적절한레벨의선택을위한일반적인지침사항으로간주된다. 등급 1: 낮은레벨의전기자기복사환경. 라디오 /TV 방송국이 1 km 이상의거리에위치하고있는장소에서의전형적레벨과저전력라디오송신기를위한전형적레벨 등급 2: 적절한전기자기복사환경. 저전력휴대형송수신기 ( 일반적으로 1 W 이하의정격전압 ) 에사용되지만, 기기와매우근접해야한다는사용상의제한사항을갖는다. 전형적인상업환경 등급 3: 심각한전기자기복사환경. 휴대용송수신기 (2 W 이상 ) 가기기와상대적으로가까운위치에서 1 m 미만의거리에서사용된다. 고전력방송송수신기가그기기에인접하고 ISM 기기와매우근접한거리를가진기기. 전형적인산업환경 등급 X:X 는전용기기명세서나기기기준에서협의되고규정될수있는개방레벨이다. 위에설명된시험레벨은지정된위치에서는쉽게초과하지않는전형적인수치이다. 몇몇의위치에서는, 예를들면동일건물에위치한고전력송신기나산업, 과학, 의료 (ISM) 기기의근방에있는기기는이값을초과할수도있다. 이러한경우모든기기를그러한레벨에무관해야한다고설정하는것보다는오히려방이나건물을차폐하고기기의신호선이나전력선을필터링하는편이낫다

37 부속서 D ( 참고 ) 결합과감결합회로망에대한정보 D.1 결합과감결합회로망의기본적인특성 결합과감결합회로망은다음을제공해야한다. 방해신호를시험품에결합 보조기기공통모드임피던스와는독립적인, 시험품으로부터본안정된임피던스 보조기기의간섭을방지하기위한방해신호로부터의보조기기의감결합 희망신호의명확도 150 khz 80 MHz 까지의주파수대역에서결합과감결합망에대한변수가 6.2 에주어지며, 예제는 D.2 에주어진다. 그림 D.1 D.6 에서공통모드임피던스 Z ce 는시험저항의내부저항 (50 Ω) 과시험대상케이블도체에있는저항의병렬조합 (100 Ω) 의합으로구성된다. 그림 5c 를참조한다. 적절한인덕터 L wl 150Ω) 을사용하여감결합소자 C 2 가 Z ce 에영향을미치지않게한다. 결합과감결합망상에시험품포트의중심은접지면위 30 mm 에위치시켜야한다. 결합및감결합회로망과시험품사이의케이블은접지면위 30 mm 에위치한다면, 약 150 Ω 의특성임피던스를갖는전송선으로볼수있다. 시험발생기와결합, 감결합망의각전선에대해직류성분과저역주파수분리를제공하는커패시터 C 1 의임피던스는희망주파수범위내에서 150 Ω 보다훨씬낮은값을유지해야한다. 보조기기는비차폐케이블의공통모드인덕터 L 과커패시터 C 2 아니면단지공통모드인덕터 L 에의해분리된다. 차폐케이블의경우에는차폐막이보조기기쪽접지면에연결되기때문에커패시터 C 2 가필요없게된다. 비차폐케이블에대해서 C 2 의값을원하는신호가심한영향을받지않도록선택해야하는것은필수요건이다. 결합과감결합망의인자는원하는신호, 예를들면 CDN-M1 안에서의페라이트의포화에의해과도하게영향을받아서는안된다. 경고 C 1 과 C 2 가주요결합및감결합망의중요한부분을연결하기때문에적당한 Y- 커패시터가사용되어야한다. 높은누설전류로인해 CDN 은모든시험조건하에서접지기준면에연결해야하고그접지기준면은적절히보호접지에연결하여야한다. D.2 결합과감결합회로망의예 하나의결합및감결합회로망으로모든기능적요구조건을충족시킨다는것은불가능하기때문에그림 D.1 D.6 에는많은가능성이주어진다

38 R=100 Ω 150 khz 에서 L 280 μh 그림 D.1 차폐케이블 (6.2.1 참조 ) 을사용한 CDN-S1 회로에대한단순화된도면의예 150 khz 에서, C 1( 대표적 )=10 nf, C 2( 대표적 )=47 nf, R=300 Ω, L 280 μh 인 CDN-M3 150 khz 에서, C 1( 대표적 )=10 nf, C 2( 대표적 )=47 nf, R=200 Ω, L 280 μh 인 CDN-M2 150 khz 에서, C 1( 대표적 )=22 nf, C 2( 대표적 )=47 nf, R=100 Ω, L 280 μh 인 CDN-M1 그림 D.2 비차폐전원공급선 ( 참조 ) 을사용한 CDN-M1/-M2/-M3 회로에대한단순화된도면의예

39 150 khz 에서, C 1 ( 대표적 )=10 nf C 2 ( 대표적 )=47 nf R = 200 Ω L 280 μh 그림 D.3 비차폐불평형전송선 ( 참조 ) 을사용한 CDN-AF2 회로에대한 단순화된도면의예 150 khz 에서, C 1( 대표적 ) = 10 nf C 2( 대표적 ) = 47 nf R = 200 Ω L μh L 2 = L 3 = 6 mh(c 2 와 L 3 가사용되지않을때, L 1 30 mh) 그림 D.4 비차폐평형쌍 ( 참조 ) 을사용한 CDN-T2 회로에대한단순화된도면의예

40 150 khz 에서, C ( 대표적 ) = 5.6 nf R = 400 Ω L μh L 2 = 6 mh 그림 D.5 비차폐평형쌍 ( 참조 ) 을사용한 CDN-T4 회로에대한단순화된도면의예 그림 D.6 비차폐평형쌍 ( 참조 ) 을사용한 CDN-T8 회로에대한단순화된도면의예

41 부속서 E ( 참고 ) 시험발생기사양에대한정보 전력증폭기 PA( 그림 3) 의가용출력전력은감쇠기 T 2(6dB), 진폭변조깊이 (80 %)( 그림 4 참조 ) 그리고사용된 CDN 또는클램프의최소결합인자를고려함으로써결정된다. 표 E.1 시험레벨 10 V 를얻기위해요구되는전력증폭기출력전력

42 부속서 F ( 참고 ) 대형시험품에대한시험배치 F.0 개요 이표준의본문에서설명한시험배치 (7. 참조 ) 는 1 m 이상의높이에서시험품으로케이블이들어가고나가는일부대형시험품의필요성을다루기에는충분하지않다. 시험신호의상위주파수는 80 MHz 이기때문에시험품크기는그파장에비례하여상당히클수있으며, 그러한시험품에연결된케이블에는공진효과가나타날수있다. 이경우에, 이부속서는케이블인입구근처에결합장치를놓아결과적으로공진영향이감소된작은루프영역을만드는대형시험품에적용할수있는대안시험방법을제시한다. 이부속서를적용할수있는대형시험품의예는다음과같지만이에국한하지않는다. 랙 (rack) 장착용통신교환시스템 전기기계 랙 (rack) 장착용스위치 (switch) 와제어장치 F.1 대형시험품시험배치 대형시험품의시험배치예를그림 F.1 과그림 F.2 에주어진다. 그림 F.1 에서보듯위로높인접지기준면이이시험배치에서의접지기준면이다. 위로높인이유는시험품과 CDN 사이의케이블길이를줄여이케이블에서발생하는공진영향을제어하거나줄이기위해서이다. 접지기준면의크기는이시험에서사용한모든 CDN 보다최소 0.2 m 커야한다. 시험품과 CDN 사이의시험대상케이블길이는최대 0.3 m 이어야한다. 접지기준면은주접지면위일정높이에배치하여시험품에서나온케이블이수평하게정렬된상태로 CDN 을지나갈수있도록해야한다. 접지기준면은안전상의이유로접지에전기적으로연결하여야한다. 이연결은 RF 관점에서는중요하지않다. 비고 1 기계적으로안전한상태를보장하기위해위로올리는접지기준면과그지지대구조물의물리적제작시주의를기울여야한다. 시험품은접지면보다 0.1 m 높은절연지지대에놓아야한다. 기기가운송팔레트에올려져전달된경우, 과도한무게나크기때문에운송팔레트에서안전하게내려놓을수없으면그높이가 0.1 m 를초과하더라도시험품을그팔레트위에놓을채시험할수있다. 기기의크기나무게때문에기기를 0.1 m 위로올릴수없는경우, 시험품이접지면에서전기적으로절연되어있으면더얇은절연물을사용할수있다. 표준시험방법과다른사항은모두시험보고서에기재해야한다. 보조기기는높인접지기준면위에놓을수있지만, 보조기기가 CDN 을통해시험품에연결되어있으면반드시그위에올려놓을필요는없다. 직접주입을사용할때적절한감결합을사용하면보조기기는접지기준면이아닌다른곳에놓을수있다. CDN 을통한주입대신에클램프주입을사용하는경우에보조기기는반드시높인접지기준면위에놓아야한다

43 그림 F.1 위로높인수평접지기준면을이용한대형시험품시험배치의예 그림 F.2 에보듯수직접지기준면은이시험배치의접지기준면이다. 수직접지기준면을사용하는이유는시험품과 CDN 사이의케이블길이를줄여이케이블의공진영향을제어하거나줄이기위해서이다. 비고 1 케이블이여러높이에서시험품에들어가거나나오는경우, 수직접지기준면이수평으로높인접지기준면보다더적합할수있다. 수직접지기준면은안전상의이유로접지에전기적으로연결하여야한다. 이연결은 RF 관점에서는중요하지않다. 수직접지기준면의크기는이시험에서사용한모든 CDN 보다최소 0.2 m 커야한다. 시험품과 CDN 사이의시험대상케이블길이는최대 0.3 m 이어야한다. 시험품과수직접지기준면사이의거리는 0.3 m 케이블길이요구사항을충족하는거리이어야한다. 차폐실의벽면을수직접지기준면으로사용할수있다. CDN 은시험품에서나온케이블이수평으로정렬된상태로 CDN 을지나갈수있는높이에서수직접지기준면에부착해야한다. 수평으로높인접지기준면 ( 즉, 절연지지대와보조장치위치 ) 을사용하는시험배치에대한설명을수직접지기준면을사용하는시험배치에적절히적용한다

44 그림 F.2 수직접지기준면을가진대형시험품시험배치의예

45 부속서 G ( 참고 ) 시험장비의측정불확도 G.1 일반사항 이부속서는이표준의본문에수록된시험방식의특정필요에의거하여시험장비의측정불확도 (MU) 와관련된정보를제공한다. 더자세한정보는 [1, 2] 1 에서찾을수있다. 이부속서는하나의예로서레벨설정에서의불확도를중심으로살펴본다. 다른방해량매개변수역시동일한중요성을갖고시험소에서적절히고려하여야한다. 이부속서에서제시한방법론은모든방해량매개변수에적용할수있는것으로여겨진다. G.2 시험방식의불확도산출표 (budget) G.2.1 측정량정의 측정량은 에서처럼레벨설정에해당하는 150 Ω 임피던스를지닌어느한가상의시험품에시험동안공급되는전압이다 (150 Ω 은전기자기적합성평가에서이주파수범위에서전형적으로사용하는평균공통모드임피던스임에유의한다 ). G.2.2 측정량의측정불확도기여요소 다음의영향도 (Influence Diagram, 그림 G.1 ~ G.4) 는이방식에미치는영향력의예를보여준다. 이다이어그램은총망라된완벽한것이아님을명심해야한다. 불확도산출표 (budget) 표 G.1, G.2, G.3, G.4. 를작성하기위해이영향도 (Influence Diagram) 에서가장중요한기여요소를선택하였다. 여러상이한시험장소또는실험실에서의비교가능한산출표 (budget) 를얻기위해최소한표 G.1, G.2, G.3, G.4 에서나열된기여요소를불확도산출표 (budget) 계산에사용하여야한다. 각실험실은각자의특수상황에기초하여측정불확도계산에추가적인요소 ( 예를들어, A 형 ) 를포함시킬수있음을주지한다. 1 안의숫자는이부속서의참고문헌을참조한다

46 그림 G.1 CDN 을사용하는시험방식에미치는영향력의예 그림 G.2 EM 클램프를사용하는시험방식에미치는영향력의예 그림 G.3 전류클램프를사용하는시험방식에미치는영향력의예

47 그림 G.4 직접주입을사용하는시험방식에미치는영향력의예 확장불확도계산의예교정과시험에적용하는기여율이동일하지않을수있음을인식해야한다. 이는각과정에서 ( 약간 ) 다른불확도산출표 (budget) 을낳게한다. 표 G.1 ~ G.4 은레벨설정에서불확도산출표 (budget) 의예를보여준다. 각불확도산출표 (budget) 은두개부분즉, 교정불확도와시험불확도로구성된다. 표 G.1a CDN 교정과정 표 G.1b CDN 시험과정

48 비고 1 신호발생기또는증폭기출력레벨을위한컨트롤루프가사용되는지여부에따라 LMC 또는시험발생기 (TG) 기여율을교정및 / 또는시험표에포함시킨다. 이예에서, 시험발생기는컨트롤루프중한부분이기때문에불확도산출표 (budget) 에기여하지않는다. 컨트롤루프에서나오는기여율은레벨미터에의해수립된다 ( 또한비고 2 참조 ). 하지만시험소에게실험실의특정시험배치에따라이항목을고려하여야함을상기시키기위해시험발생기를표에포함시켰다. 이경우, 시험발생기기여율에대한더자세한분석이필요할수있다. 용어설명을참조한다. 비고 2 교정과시험에동일장비를사용하면, 반복성과선형기여율만을시험과정표에포함시킨다. 교정에서는이를무시할수있다. 비고 3 교정과시험에동일회로를사용하면, 이기여율은표에넣지않는다.. 용어설명 : RCAL 150 Ω / 50 Ω 아답터의불확도. 이기여율은일반적으로교정성적서에서얻을수있다. 또는삽입손실을망분석기를사용하여측정할수있다 ( 그림 7c 참조 ). 삽입손실 (9.5 db) 과의최대편차와그교정불확도를반드시표에나타내야한다. 교정성적서에 0.5 db 가적합하다고명시되어있는경우에한해그허용오차의사용을권고한다. 비고 4 편차는소프트웨어로시정할수있다. 이경우, 최대편차를보간법불확도와교정불확도로줄일수있다. 비고 Ω / 50 Ω 아답터의임피던스역시예를들어망분석기를사용하여직접측정하거나또는교정인증서를참고하여구할수있다. 이경우 100 Ω 과의편차와교정불확도를표에넣어야한다. 이기여율을위한감도계수 c i 는그에따라변경해야한다. 배치 레벨설정을위한배치즉, 교정고정, CDN 과 CDN 아답터사이의연결, 접지면영향, 예를들어접지면접촉등으로발생하는불확도의조합. 이기여율은조건을달리하여실시하는재현성시험에서유추하거나또는예에서보는바와같이경험에기초하여추정한다. LMc 레벨미터즉, CDN의출력부에서레벨을측정하는데사용하는전압계또는전력계의불확도. 제조사의사양서에서찾을수있지만다른출처의자료로도결정할수있다. SWc 교정과정동안신호발생기와레벨설정용소프트웨어윈도우상에표시되는불연속의레벨스텝 (step) 크기에서얻을수있는불확도. LMCc 레벨미터, 즉, 신호발생기와증폭기의출력레벨을위한컨트롤루프에사용하는전압계또는전력계의불확도. 제조사의사양서에서찾을수있지만다른출처의자료로도결정할수있다. TGc 주파수발생기, 전력증폭기, 감쇠기를포함하여시험발생기의불확도. 제조사의사양서에서찾을수있지만다른출처의자료로도결정할수있다. 비고 6 시험발생기의개별구성요소 ( 예, 신호발생기, 전력증폭기안정, 전력증폭기급증변화, 감쇠기등 ) 의불확도는특히, 컨트롤루프를시험배치에사용하는경우별개로분리하여평가해야한다. MTc 증폭기와감쇠기, CDN 간의부정합. ML CDN 와레벨미터의부정합. CAL 교정과정에서시험전압레벨의확장불확도 LMCt 전력증폭기의출력부에서사용하는전압계등레벨미터의불확도. 제조사사양서에서구할수있다. 또는더낮은불확도를얻기위해전력계를사용할수있다

49 TGt 주파수발생기, 전력증폭기, 감쇠기를포함하여시험발생기의불확도. 제조사의사양서또는다른출처에서구할수있다. 비고 7 시험발생기의개별구성요소 ( 예, 신호발생기, 전력증폭기안정, 전력증폭기급증변화, 감쇠기등 ) 의불확도는특히, 컨트롤루프가시험배치에사용되지않는경우별개로분리하여평가해야한다. MTt 증폭기와감쇠기, CDN 간의부정합. 동일배치즉, 감쇠기와케이블을교정및시험에사용하는경우, 이기여율은무시할수있다. SWt 시험과정동안신호발생기와레벨설정용소프트웨어윈도우상에표시되는불연속의레벨스텝 (step) 크기에서얻을수있는불확도. 소프트웨어윈도우는일반적으로시험소에서조정할수있다. 표 G.2a EM 클램프교정과정 표 G.2b EM 클램프시험과정 비고 8 신호발생기또는증폭기출력레벨을위한컨트롤루프가사용되는지여부에따라 LMC 또는시험발생기 (TG) 기여율을교정및 / 또는시험표에포함시킨다. 이예에서, 시험발생기는컨트롤루프중한부분이기때문에불확도산출표 (budget) 에기여하지않는다. 컨트롤루프에서나오는기여율은레벨미터에의해수립된다 ( 또한비고 9 참조 ). 하지만시험소에게실험실의특정시험배치에따라이항목을고려하여야함을상기시키기위해시험발생기를표에포함시켰다. 이경우, 시험발생기기여율에대한더자세한분석이필요할수있다. 용어설명을참조한다. 용어설명참조. 비고 9 교정과시험에동일장비를사용하면, 반복성과선형기여율만을시험과정표에포함시킨다

50 교정에서는이를무시할수있다. 비고 10 교정과시험에동일회로를사용하면, 이기여율은표에넣지않는다.. 용어설명 : 일부항목은원칙적으로앞의예에서와동일하게적용한다 (CDN 방식 ). 이러한항목은여기서는설명하지않으며앞의예를참고한다. 비고 11 모니터링프로브를사용하고전류한계값을적용하는경우, 이부속서는 7.4 관련불확도는고려하지않는다. 이경우, U 0 값은더이상레벨설정절차에서정한값과같지않고미상의값으로감소한다. 그러므로이경우, U 0 에는불확도를배정할수없다. AETERM 150 Ω 에서유지하여야하는보조장치임피던스의영향. 이값과의편차는 EM 클램프의지향성이약한경우특히저주파수범위 (10 MHz 이하 ) 에서중요한영향을미친다. 이경우, AETERM 이불확도산출표 (budget) 에미치는기여율은여기예에서사용하는값보다클수있다. 주파수가 10 MHz 이상이면더낮은값을사용한다. 이기여율은망분석기를사용하여실증적으로조사할수있다. 클램프의결합계수는 150 Ω 보조장치임피던스에서측정하여다른보조장치임피던스와비교할수있다. 표 G.3a 전류클램프교정과정 표 G.3b 전류클램프시험과정

51 비고 12 신호발생기또는증폭기출력레벨을위한컨트롤루프가사용되는지여부에따라 LMC 또는시험발생기 (TG) 기여율을교정및 / 또는시험표에포함시킨다. 이예에서, 시험발생기는컨트롤루프중한부분이기때문에불확도산출표 (budget) 에기여하지않는다. 컨트롤루프에서나오는기여율은레벨미터에의해수립된다 ( 또한비고 13 참조 ). 하지만시험소에게실험실의특정시험배치에따라이항목을고려하여야함을상기시키기위해시험발생기를표에포함시켰다. 이경우, 시험발생기기여율에대한더자세한분석이필요할수있다. 용어설명참조. 비고 13 교정과시험에동일장비를사용하면, 반복성과선형기여율만을시험과정표에포함시킨다. 교정에서는이를무시할수있다. 비고 14 교정과시험에동일회로를사용하면, 이기여율은표에넣지않는다.. 용어설명 : 일부항목은원칙적으로앞의예에서와동일하게적용한다 ( 예. CDN 방법 ). 이러한항목은여기서는설명하지않으며앞의예를참고한다. 비고 1 모니터링프로브를사용하고전류한계값을적용하는경우, 이부속서는 7.4 관련불확도는고려하지않는다. 이경우, U 0 값은더이상레벨설정절차에서정한값과같지않고미상의값으로감소한다. 그러므로이경우, U 0 에는불확도를배정할수없다. JIG 교정지그로인한불확도의조합. 이기여율은조건을달리하여실시하는재현성테스트에서유추하거나또는예에서보는바와같이경험에기초하여추정할수있다. 표 G.4a 직접주입교정과정 표 G.4b 직접주입시험과정

52 비고 16 신호발생기또는증폭기출력레벨을위한컨트롤루프가사용되는지여부에따라 LMC 또는시험발생기 (TG) 기여율을교정및 / 또는시험표에포함시킨다. 이예에서, 시험발생기는컨트롤루프중한부분이기때문에불확도산출표 (budget) 에기여하지않는다. 컨트롤루프에서나오는기여율은레벨미터에의해수립된다 ( 또한비고 17 참조 ). 하지만시험소에게실험실의특정시험배치에따라이항목을고려하여야함을상기시키기위해시험발생기를표에포함시켰다. 이경우, 시험발생기기여율에대한더자세한분석이필요할수있다. 용어설명참조. 비고 17 교정과시험에동일장비를사용하면, 반복성과선형기여율만을시험과정표에포함시킨다. 교정에서는이를무시할수있다. 비고 18 교정과시험에동일회로를사용하면, 이기여율은표에넣지않는다.. 용어설명 : 일부항목은원칙적으로앞의예에서와동일하게적용한다여기서는설명하지않으며앞의예를참고한다. ( 예. CDN 방법 ). 이러한항목은 DD 감결합장치와보조장치종단의불확도조합. 견고한감결합은보조장치종단으로인한영향이적지만부실한감결합은영향이크다. 이기여율은감결함구성요소의임피던스로계산할수있다. G.3 적용 계산한불확도측정값 ( 확장불확도 ) 은예를들어제품표준에서명시한용도또는실험실공증용등다양한목적으로사용할수있다. 이계산의결과는시험과정동안시험품에적용한시험레벨을조정하려는의도는없다. G.4 참고문헌 [1] IEC TC77 document 77/349/INF, General information on measurement uncertainty of test instrumentation for conducted and radiated r.f. immunity tests [2] UKAS, M3003, Edition 2, 2007, The Expression of Uncertainty and Confidence in Measurement, free download,

53 참고문헌 KS C IEC , 전기자기적합성 (EMC) - 제 4-3 부 : 시험및측정기술 - 복사무선주파수전기자기장내성시험 KS C CISPR , 전기자기장해. 내성측정장비및측정방법 제 1 부 : 전기자기장해. 내성측정장비 제 2 절 : 측정부대품 - 전도방해 KS C CISPR 20, 음성, TV 방송수신기및관련기기의전기자기내성측정방법및한계값 IEC , International Electrotechnical Vocabulary (IEV) Chapter 131: Electric and magnetic circuits

54 KS C IEC :2010 해설 이해설은본체및부속서에규정 / 기재한사항및이것에관련된사항을설명하는것으로표준의일부는아니다. 1 개요 1.1 개정의취지 이표준은 2008 년에제 3.0 판으로발행된 IEC , Electromagnetic compatibility (EMC)-Part 4-6:Testing and measurement techniques-immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields 를근간으로국제표준과부합화할목적으로개정하게되었다. 1.2 개정의경위 이표준은 2010 년도기술표준원국가표준개발과제전기자기적합성분야 KS 부합화원안작성을위한표준개발협력기관사업의일환으로한국화학융합시험연구원에서개정초안을작성하였다. 1.3 개정의기본방향 이표준은 2008 년 10 월에추가개정된 IEC Edition 3.0 의내용을반영하며, 불확도에대한내용의추가로시험및교정시발생할수있는불확도요인에대한검토의필요성을반영하였다. 2 현안사항 시험재현성및시험결과의신뢰도를높이기위해시험소에서도불확도에대한반영이필요하다. 3 신구비교표 * 원안작성협력자 : 서봉수 ( 삼성전자 ) * 원안작성실무작업반 : 김용성 ( 한국기계전기전자시험연구원 ), 김영식 ( 한국기계전기전자시험연구원 ), 윤상욱 ( 한국산업기술시험원 ), 남재우 (LG 전자 ), 손광무 (LG 전자 ), 김기영 (LG 전자 ), 류정기 (LS 산전 ), 안중선 (LS 산전 ), 서봉수 ( 삼성전자 ), 지성원 ( 한국화학융합시험연구원 ), 강종식 ( 한국화학융합시험연구원 )

55 해설 1 전기용품안전기준의한국산업표준과단일화의취지 1. 개요이기준은전기용품안전관리법에따른안전관리대상전기제품의안전관리를수행함에있어국가표준인한국산업표준 (KS) 을최대한인용하여단일화한전기용품안전기준이다. 2. 배경및목적전기용품안전관리법에따른안전관리대상전기제품의인증을위한시험의기준은 2000 년부터국제표준을기반으로안전성규격을도입 인용하여운영해왔으며또한한국산업표준도 2000 년부터국제표준에바탕을두고있으므로규격의내용은양자가거의동일하다. 따라서전기용품안전관리법에따른안전기준과한국산업표준의중복인증이발생하였으며, 기준의단일화가필요하게되었다. 전기용품안전인증기준의단일화는기업의인증대상제품의인증시시간과비용을줄이기위한목적이며, 국가표준인한국산업표준과 IEC 국제표준을기반으로단일화를추진이필요하다. 또한전기용품안전인증기준을한국산업표준을기반으로단일화함으로써한국산업표준의위상을강화하고, 우리나라각부처별로시행하는법률에근거한각인증의기준을국제표준에근거한한국산업표준으로일원화할수있도록범부처모범사례가되도록하였다. 3. 단일화방향전기용품안전관리법에서적용하기위한안전기준을동일한한국산업표준으로간단히전기용품안전기준으로채택하면되겠지만, 전기용품안전기준은그간의전기용품안전관리제도를운용해오면서국내기업의여건에맞추어시험항목, 시험방법및기준을여러번의개정을통해변경함으로써한국산업표준과의차이를보이게되었다. 한국산업표준과전기용품안전기준의단일화방향을두기준모두국제표준에바탕을두고있으므로전기용품안전기준에서한국산업표준과중복되는부분은그내용을그대로인용하는방식으로구성하고자한다. 안전기준에서그간의전기용품안전관리제도를운용해오면서개정된시험항목과시험방법, 변경된기준은별도의항을추가하도록하였다. 한국산업표준과전기용품안전기준을비교하여한국산업표준의최신판일경우는한국산업표준의내용을기준으로전기용품안전기준의내용을개정키로하며, 이경우전기용품안전기준의구판은병행적용함으로서그간의인증받은제품들이개정기준에맞추어개선할시간적여유를줌으로서기업의혼란을방지하고자한다. 그리고국제표준이개정되어판번이변경되었을경우는그최신판을한국산업표준으로개정요청을하고그리고전기용품안전기준으로그내용을채택함으로써전기용품안전기준을국제표준에신속하게대응하고자한다. 그리고전기용품안전기준에서만규정되어있는고유기준은한국산업표준에도제정요청하고, 아울러필요시국제표준에도제안하여우리기술을국제표준에반영하고자한다. 4. 향후한국산업표준과전기용품안전기준의중복시험항목을없애고단일화함으로써표준과기준의이원화에따른중복인증의기업부담을경감시키고, KS 표준의위상을강화하고자한다. 아울러우리나라각부처별로시행하는법률에근거한각인증의기준을국제표준에근거한한국산업표준으로일원화할수있도록범부처모범사례가되도록한다. 또한국제인증기구는국제표준인증체계를확대하는추세에있으며, 표준을활용하여자국기업의경쟁력을강화하는추세에있다. 이에대응하여국가표준과안전기준이국제표준에신속히대응함으로서우리나라의수출기업이인증에애로사항을감소하도록한다

56 해설 2 전기용품안전기준의추가 대체항목해설 이해설은전기용품안전기준으로한국산업표준을채택함에있어추가 대체하는항목을적용하는데 이해를돕고자주요사항을기술한것으로규격의일부가아니며, 참고자료또는보충자료로만사용 된다

57 심의 : 구분성명근무처직위 ( 위원장 ) ( 위원 ) ( 간사 ) 원안작성협력 : 구분성명근무처직위 ( 연구책임자 ) ( 참여연구원 ) 전기용품안전기준의열람은국가기술표준원홈페이지 ( 및제품안전정보센터 ( 를이용하여주시고, 이전기용품안전기준에대한의견또는질문은산업통상자원부국가기술표준원제품안전정책국전기통신제품안전과 ( ~9) 으로연락하여주십시오. 이안전기준은전기용품안전관리법제 3 조의규정에따라매 5 년마다안전기준전문위원회에 서심의되어제정, 개정또는폐지됩니다.

58 ICS Korean Agency for Technology and Standards

59 산업통상자원부국가기술표준원 Korean Agency for Technology and Standards Ministry of Trade, Industry & Energy 주소 : ( 우 ) 충북음성군맹동면이수로 93 TEL : ~9