성능사양 Agilent Cary 4000 Agilent Cary 5000 Agilent Cary 6000i 단색화장치 면외 double Littrow 단색화장치 Grating 70 x 45 mm 70 x 45 mm 70 x 45 mm UV-Vis 1200 lines/m

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지혜 여
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Agilent Cary 4000/5000/6000i 시리즈 UV-Vis-NIR 보증사양 디자인개요 Double beam, 비율기록, 면외 double Littrow 단색화장치가포함된 UV-Vis-NIR 분광광도계 (Agilent Cary 4000 은 UV-Vis 영역만가능 ) 입니다.

1 Agilent Cary 4000/5000/6000i 시리즈 UV-Vis-NIR 보증사양 디자인개요 Double beam, 비율기록, 면외 double Littrow 단색화장치가포함된 UV-Vis-NIR 분광광도계 (Agilent Cary 4000 은 UV-Vis 영역만가능 ) 입니다. 2 x 400 mm 초점거리, dual 양면그레이팅 (Agilent Cary 4000 은단면만적용 ) 으로, 컴퓨터에의해통합제어됩니다. 낮은노이즈성능과 주변환경의충격을최소화하기위한 Optical Isolation System 을갖추고있습니다. 고속 non-measurement-phase-stepping(nmps) 파장드라이브. UV-Vis 검출기 : 고성능 R928 광전자증배관, NIR 검출기 : PbSmart 기술과결합된전열제어방식의황화납포토셀 (Agilent Cary 5000) 은표준포토셀보다더나은노이즈성능과직선성을제공합니다. 또는전열제어 방식의 Indium Gallium-Arsenide PIN 포토다이오드 (Agilent Cary 6000i) 는 NIR 영역에서최저 노이즈및최고의직선성과분해능을제공합니다. 석영윈도우가장착된텅스텐할로겐 가시광원, 중수소아크자외선광원을사용합니다. 파장정확도를자동으로밸리데이션할수있도록수은램프모듈이기본으로공급됩니다. Plug-and-Go 램프관리기능이있으며, 램프는사전에얼라인먼트되어있어별도의조정없이쉽게교체할수있습니다. Plug-and-Go 는다양한디자인의램프를지원합니다. 액세서리를신속하고재현성있게교체할수있도록정밀 Lock Down 메커니즘이적용되어있습니다. Agilent Cary Lock Down 시스템덕분에도구나시간이드는얼라인먼트가필요없습니다. 소프트웨어인터페이스는선택가능합니다. Agilent Cary 4000/5000/6000i 시리즈 UV-Vis 분광광도계는 ISO9001 품질경영시스템에서 제조됩니다. 이러한보증사양은공장에서시행되는최종합격판정시험의 ±4 시그마통계학적신뢰수준에기반합니다. 일반사양은이문서에나와있지않습니다. 오퍼레이터는애질런트의기기성능테스트전용소프트웨어모음을이용하여성능 테스트를일상적으로반복할수있습니다. 공시된일부테스트에서는애질런트나국제표준기구를통해구할수있는장비나인증물질이요구됩니다.

2 성능사양 Agilent Cary 4000 Agilent Cary 5000 Agilent Cary 6000i 단색화장치 면외 double Littrow 단색화장치 Grating 70 x 45 mm 70 x 45 mm 70 x 45 mm UV-Vis 1200 lines/mm(250 nm 에서블레이징됨 ) 1200 lines/mm(250 nm 에서블레이징됨 ) 1200 lines/mm(250 nm 에서블레이징됨 ) NIR 300 lines/mm(1192 nm 에서블레이징됨 ) 600 lines/mm(1000 nm 에서블레이징됨 ) Beam splitting 시스템 회전형 beam splitter 로서, 사이클당시료, dark 및레퍼런스신호를 30 Hz 의속도로측정 검출기 UV-Vis R928 PMT R928 PMT R928 PMT NIR 냉각 PbS 냉각 InGaAs 한계분리능 (nm) UV-Vis <0.048 nm <0.048 nm <0.048 nm NIR Stray light (%T) <0.2 nm 220 nm에서 (10 g/l NaI ASTM 분석법 ) < % < % < % 370 nm에서 (50 mg/l NaNO 2 ) < % < % < % 1420 nm(h 2 O, 1 cm 경로길이 ) < % < % 2365 nm(chcl 3, 1 cm 경로길이 ) < % 파장범위 (nm) (185 nm 이하에서 N 2 퍼지필요 ) 175~900 nm 175~3300 nm 175~1800 nm 파장정확도 (nm) Deuterium 램프제품군 UV-Vis: 190~900 nm ± 0.08 nm ± 0.08 nm ± 0.08 nm NIR: 760~3000 nm(cary 5000) NIR: 760~1700 nm(cary 6000i) ± 0.4 nm ± 0.4 nm 파장재현성 (nm) UV-Vis 선광원의반복적인스캔을통한피크분리 NIR 선광원의반복적인스캔을통한피크분리 <0.025 nm <0.025 nm <0.025 nm <0.1 nm <0.05 nm 10 회측정의표준편차, UV-Vis <0.005 nm <0.005 nm <0.005 nm 10 회측정의표준편차, NIR <0.02 nm <0.02 nm 광도정확성 (Abs) 0.3 Abs UV-Vis 에서이중조리개분석법사용 < Abs < Abs < Abs 광도직선성 (Abs) 모든테스트는 UV-Vis (465 nm, 10 s SAT, 2 nm SBW), NIR(1200 nm, 10 s SAT, energy 3) 필터기술을추가하여수행했습니다. UV-Vis, 1 Abs 에서 < Abs < Abs < Abs UV-Vis, 2 Abs 에서 < Abs < Abs < Abs UV-Vis, 3 Abs 에서 <0.005 Abs <0.005 Abs <0.005 Abs NIR, 1 Abs 에서 < Abs < Abs NIR, 2 Abs 에서 <0.007 Abs < Abs 광도범위 (Abs), RBA 적용 8 Abs 8 Abs 8 Abs 2

3 Agilent Cary 4000/5000/6000i 시리즈 UV-Vis-NIR 성능사양 광도재현성 (Abs) NIST 930D 필터사용 (546.1 nm, 2 s SAT, 2 nm SBW) Agilent Cary 4000 Agilent Cary 5000 Agilent Cary 6000i 0.5 Abs, 10 회측정의표준편차 < < < Abs, 10 회측정의표준편차 < < < 광도안정성 (Abs/hour) (2 시간예열후, 500 nm, 1 s SAT, 2 nm SBW) < < < 광도노이즈 (Abs/RMS) UV-Vis (190 nm, 1 s SAT, 2 nm SBW) 0 Abs 에서 < < < Abs 에서 < < < UV-Vis(500 nm, 1 s SAT, 2 nm SBW) 0 Abs 에서 < < < Abs 에서 < < < Abs 에서 < < < Abs 에서, 1.5 Abs RBA 적용 < < < Abs 에서, 1.5 Abs RBA 적용 < < < Abs 에서, 1.5 Abs RBA 적용 <0.002 <0.002 < Abs 에서, 3.0 Abs RBA 적용 < < < NIR: 고정 SBW (1500 nm, 1 s SAT, 2 nm SBW(Cary 5000), 1500 nm, 1 s SAT, 0.4 nm SBW(Cary 6000i)) 0 Abs 에서 < < Abs 에서 < < Abs 에서 < < Abs 에서 <0.007 < Abs 에서 <0.007 NIR: 가변 SBW (1500 nm, 1 s SAT, Energy 1) 0 Abs 에서 < < Abs 에서 < Abs 에서, 1.5 Abs RBA 적용 < < Abs 에서, 3.0 Abs RBA 적용 < 베이스라인편평도 (Abs) UV-Vis(0.1 s SAT, 4 nm SBW), NIR(0.2 s SAT, Energy 1), 베이스라인보정됨 UV-Vis (0.2 s SAT, 2 nm SBW), NIR(0.24 s SAT, Energy 1), 평활화 (smoothing) 미적용 ± (200 에서 850 nm 까지 ) ± (200 에서 3000 nm 까지 ) ± (200 에서 1700 nm 까지 ) ± (200 에서 850 nm 까지 ) ± (200 에서 3000 nm 까지 ) ± (200 에서 1700 nm 까지 ) 3

4 성능사양 Agilent Cary 4000 Agilent Cary 5000 Agilent Cary 6000i 시료부 beam 분리 (mm) mm mm mm 시료부크기 ( 폭 x 깊이 x 높이 ) 확장시료부장착 160 x 433 x 221 mm 160 x 433 x 221 mm 160 x 433 x 221 mm 접근방향상부, 전면및바닥상부, 전면및바닥상부, 전면및바닥 기기크기 ( 폭 x 깊이 x 높이 ) 1020 x 710 x 380 mm 1020 x 710 x 380 mm 1020 x 710 x 380 mm 퍼지 시료부가능가능가능 광학장치 (Optics) 가능가능가능 기기무게 91 kg 91 kg 91 kg 운용 스펙트럼대역폭 (nm) UV-Vis 0.01~5.00 nm, 0.01 nm 증감단위 0.01~5.00 nm, 0.01 nm 증감단위 0.01~5.00 nm, 0.01 nm 증감단위 NIR 0.04~20 nm 0.04~20 nm 평균신호 ( 초 ) 0.033~999 초 0.033~999 초 0.033~999 초 최대스캔속도 (nm/min) UV-Vis 2000 nm/min 2000 nm/min 2000 nm/min NIR 8000 nm/min 8000 nm/min Slew 속도 ( 파장간의변환, nm/min) UV-Vis nm/min nm/min nm/min NIR nm/min nm/min 데이터간격 (UV-Vis) (nm) 0.005~1.111 nm 0.005~1.111 nm 0.005~1.111 nm cm -1 * 1.633~ cm -1 * 1.627~ cm -1 * 1.627~ cm -1 * Å 0.05~11.1 Å 0.05~11.1 Å 0.05~11.1 Å 데이터간격 (NIR) (nm) 0.02~4.444 nm 0.02~2.222 nm cm -1 * ~ cm -1 * ~ cm -1 * Å 0.2~44.44 Å 0.2~22.22 Å * 간격범위는스캔범위에따라다름 반복스캔 최대스캔수 최대스캔시간 (min)

5 Agilent Cary 4000/5000/6000i 시리즈 UV-Vis-NIR 권장환경조건 기기보관 기기운용 전력요건 Agilent Cary 4000/5000/6000i 5~45 C, 상대습도 20~80 %, 비응결상태, 고도 2133 m 미만 고도 853 m 이하 : 10~35 C, 상대습도 50~80 %, 비응결상태고도 853 m ~ 2133 m 사이 : 10~25 C, 상대습도 50~80 %, 비응결상태 주전원 85~264 volts AC, 소비전력 300 VA. 주파수 47~63 Hz 지원정책 형태 정책 보증기간 12 개월, 지역에따라다를수있습니다. 하드웨어지원기간 기기단종시점으로부터 7 년. 그이후에부품과소모품은일부공급되지않을수있습니다. 소프트웨어지원 Telediagnostic( 전화진단 ) 기능은일부모델에서가능합니다. Telediagnostic 지원여부는지역에따라달라질수있습니다. 기능추가를위한소프트웨어업그레이드는유료입니다. 세부사항 추가정보 더자세한정보는애질런트사무소나공급자에게문의하시거나웹페이지 을참조하십시오. 5

6 애질런트는이발간물에포함된오류나, 이발간물의제공, 이행또는사용과관련하여발생한부수적인또는결과적인손해에대해책임을지지않습니다. 이발간물의정보, 설명및사양은사전공지없이변경될수있습니다. Agilent Technologies, Inc 년 10 월발행발행물번호 : KO 서울강남구역삼로 542 신사제2빌딩 2층우 ) 한국애질런트테크놀로지스 ( 주 ) 생명과학 / 화학분석사업부고객지원센터

810 & 820 810 는 소기업 및 지사 애 플리케이션용으로 설계되었으며, 독립 실행형 장치로 구성하거 나 HA(고가용성)로 구성할 수 있습니다. 810은 표준 운영 체제를 실행하는 범용 서버에 비해 가격 프리미엄이 거의 또는 전혀 없기 때문에 화이트박스 장벽 을

810 & 820 810 는 소기업 및 지사 애 플리케이션용으로 설계되었으며, 독립 실행형 장치로 구성하거 나 HA(고가용성)로 구성할 수 있습니다. 810은 표준 운영 체제를 실행하는 범용 서버에 비해 가격 프리미엄이 거의 또는 전혀 없기 때문에 화이트박스 장벽 을 목적에 맞게 설계된 어플라 이언스 원격 용도로 최적화된 어플라이언스 관리 및 에너지 효율성 향상 원격 관리 LOM(Lights Out Management), IPMI 2.0 장치 식별 버튼/LED 실시간 시스템 환경 및 오류 모 니터링 Infoblox MIBS를 통한 SNMP 모니터링 고가용성 공급 장치 예비 디스크 예비 냉각 팬 전원 공급 장치 현장 교체