누비콤의약속누비콤은고객이원하는제품과솔루션을얻는데있어서더적은비용의방법을연구하고찾아내어, 이를고객에게제시할것입니다. 이는고객에게더많은이익을드리는방법을찾아내는것이며, 또한고객과의진정한비즈니스파트너가되는길이라고믿

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1 프로브및테스트토탈솔루션 Probe & Test Total Solution

2 누비콤의약속누비콤은고객이원하는제품과솔루션을얻는데있어서더적은비용의방법을연구하고찾아내어, 이를고객에게제시할것입니다. 이는고객에게더많은이익을드리는방법을찾아내는것이며, 또한고객과의진정한비즈니스파트너가되는길이라고믿습니다. 누비콤인은그믿음과약속을다음의세가지로실천하며보이겠습니다. - 항상윈-윈의비즈니스관계구축 - 고객만족을넘어선고객감동의서비스품질추구 - 24시간내에모든고객문의해결 고객만족을위한누비콤만의종합솔루션시스템 재정비및중고제품 - 저렴한가격 - 최단기일납품시스템 - 유명메이커전제품소싱 ( 세계적네트워크구축 ) - 텍트로닉스 - 키슬리 - 에어로플렉스 - 유명메이커전제품 신품계측기 족 고 적기납품합리적가격 A/S와교정동시기술지원 객 렌탈서비스 - 장 / 단기렌탈 - 리스형매각 - 저렴한보증금및월리스료 교정서비스 (Calibration) 만 수리및점검서비스 - 세계적인교정전문회사 MPC 와협약 (45 년역사 ) - 국제공인 ISO/IEC 교정랩 - ANSI/NCSL Z , - ANSI/NCSL Z 인증 - 자체기술력 / 저렴한비용 - 유명메이커전제품 - 메이커의단종장비도수리가능

3 I. NI STS SEMICONDUCTOR TEST SYSTEMS NI 소개 계측의방법을혁신함으로써우리의일상생활을향상시킬수있다 내쇼날인스트루먼트는지난 40 년간, 계측의방법을혁신시킴으로써전세계과학자및엔지니어의테스트, 컨트롤, 임베디드디자인어플리케이션을위한시스템설계, 프로토타입, 배포하는방식에큰변화를가져왔습니다. 전세계 3 만개이상의기업에서 NI 의개방된그래픽기반프로그래밍소프트웨어와모듈형하드웨어를채택하여제품개발시간을최소화하고생산성을증대하여시장출시기간을단축하고있습니다. 차세대게임시스템테스트부터의료기기구축에이르기까지, 오늘날다양한산업분야에서 NI 제품을활용한혁신적인역사가새로이쓰여지고있습니다. * 지사및직원 : 전세계 40 곳이상의지사에서약 5,200 명의전문인력근무중 * 거래현황 : 90 개국이상의 30,000 여개회사에제품공급중 * R&D 투자 : 사업비의 16% 를 R&D에투자 NI 반도체테스트시스템 PXI 기반의 NI 반도체테스트시스템 (STS) 은 RF 및혼합신호테스트를위해모듈형계측과시스템설계소프트웨어를결합하였습니다. 반도체양산환경에최적화 : NI STS 는 NI PXI 플랫폼을통해반도체양산환경에적합한개방성과유연성을제공합니다. STS 에는양산테스트셀에쉽게통합할수있도록핸들러 / 프로버통합, 스프링프로브 DUT 인터페이스, STDF 데이터리포팅, 시스템교정등의다양한기능이포함되어있습니다.

4 4 NI STS Semiconductor Test Systems NI STS NI STS Probe Solution

5 5 반도체테스트시스템으로테스트비용절감 반도체테스트시스템 (STS, Semiconductor Test System) 시리즈는바로양산환경에서사용할수있는테스트시스템으로, 반도체생산테스트환경에적합한폼팩터에 NI 기술을접목한제품입니다. STS의일체형테스트헤드에는 NI PXI 플랫폼, TestStand 테스트관리소프트웨어, LabVIEW 그래픽프로그래밍이결합되어있습니다. 헤드에내장된테스터 설계에는시스템컨트롤러, DC, AC, RF 계측, DUT 인터페이싱, 장비핸들러 / 프로버도킹기계장치등생산테스터의주요구성요소가모두포함되어있습니다. 이렇게컴팩트한설계덕분에기존의 ATE 테스터보다작은작업공간에서사용가능하며전력소모량과유지보수노력이줄어들기때문에테스트비용을절약할수있습니다. 또한개방된모듈형 STS 설계를통해더욱강력한계측및연산기능을갖춘가장최신의업계표준 PXI 모듈을활용할수있습니다. STS T1 시스템하나의 18 슬롯 PXI 섀시탑재가능 STS T2 시스템최대 2 개의 18 슬롯 PXI 섀시탑재가능 STS T4 시스템최대 4 개의 18 슬롯 PXI 섀시탑재가능 Probe Solution STS 시리즈는 T1, T2, T4의세가지테스트시스템사이즈로구성되어있으며, 각각 1개, 2개, 4개의 18 슬롯 PXI 섀시 (4U, 19인치랙공간 ) 를탑재할수있습니다. 모든테스트시스템은공통의인터페이싱인프라를지원하므로정확한핀카운트와사이트카운트요구사항을충족시키기위해시스템을확장하거나특성화를위해시스템을축소할수있습니다. 공통의하드웨어와소프트웨어인프라로시스템을확장할수있는기능은시스템관련비용을최적화하는데도움이될뿐만아니라생산에서특성화에이르는데이터상호연관작업을단순화하므로제품출시까지의시간을단축시켜줍니다. NI STS

6 6 NI STS NI 반도체테스트시스템의내부 NI PXI 플랫폼 반도체테스트시스템소프트웨어 PXI 섀시및컨트롤러 PXI 모듈형계측기 생산테스트셀구성 테스트관리소프트웨어 : TestStand 시스템인클로저 표준도킹및인터페이싱 코드모듈개발 LabVIEW Probe Solution RF 및혼합신호테스트에서 PXI 기반방식을사용할때의장점 STS는업계표준 PXI 하드웨어플랫폼을기반으로하여구성되었습니다. 여러업계에서두루채택하고있는 PXI는오픈플랫폼으로, PXI Systems Alliance에소속된 60개이상의벤더가 1,500개가넘는제품을생산하고있습니다. PXI 섀시는데이터공유, 통합타이밍및동기화를위한높은대역폭의고속 PCI Express 버스를제공합니다. 또한 PXI는최신멀티코어프로세서나 FPGA와같은상용기술을사용하기위한프레임워크도제공합니다. 최첨단상용컴퓨팅성능을활용하면서도산업환경에필요한장기적수명주기요구사항을충족시키기위해 PXI 컨트롤러의프로세서는 Intel의임베디드로드맵에서선별되며, 이로드맵에는산업현장에서장기적으로사용하기위해설계된컨트롤러가포함되어있습니다. NI STS STS는 DC (IV), AC, RF를위한 NI의첨단 PXI 모듈형계측기와함께디지털핀전자기기 (PMU) 및전원공급기와같은공통시스템리소스도함께활용합니다. 또한 LabVIEW와 TestStand의기능을도입하여세계최고수준의소프트웨어성능을구현합니다. STS는폭넓게사용되는 NI PXI 플랫폼을기반으로하고있지만반도체생산테스트환경의구체적인요구사항을충족시키도록설계되었습니다. 헤더에내장된테스트 설계는컴팩트한제로풋프린트 (Zero- Footprint) 시스템인클로저를제공하며, 여기에는핸들러또는프로버도킹을위한조작기가통합되어있습니다. STS에는시스템케이블링, 스프링프로브인터페이스, 공통장비인터페이스보드설계를갖춘표준장비인터베이스보드인프라, 시스템상태모니터링및시스템교정과같은시스템관리기능이통합되어있습니다. 이기능을활용하면, 반도체생산테스트셀에 STS를즉시통합할수있습니다.

7 7 " 기존의 ATE 시스템을사용하면테스트시스템이오래되거나새로운테스트요구사항을반영할수없는경우, 많은비용을들여시스템을재정비해야합니다. 그러나 STS는오픈 PXI 아키텍처를갖추고있기때문에초기투자를보존할수있고, 기존시스템을폐기하지않고도업그레이드를통해개선시킬수있습니다." - Glen Peer, Director of Test, Integrated Device Technology 모든시스템은상호연동가능한공통의장비인터페이스보드를공유하므로다양한핀카운트와사이트카운트요구사항을충족시키도록확장할수있습니다. 전반적으로 STS는비용최적화된고성능테스트솔루션을제공하기위해설계되었으며 RF 전력증폭기 (RF PA), 미세전지기계시스템 (MEMS) 가속도계, 전력관리 IC(PMIC) 등과같은 RF/ 아날로그중심반도체의 RF 및혼합신호테스트에이상적입니다. Probe Solution 모듈형오픈설계를바탕으로하는 STS는테스트기능을개선하고향후의테스트요구사항을충족시키는프레임워크를제공합니다. 그렇기때문에첨단 PXI 계측, 최고의상용컴퓨팅기술을탑재한최신 PXI 컨트롤러, 또는표준 19인치랙장비로핵심구성요소를업그레이드하거나보강할수있습니다. 따라서기술표준이여러차례바뀌어도테스트시스템에대한투자를보존할수있으며변화하는요구사항에효율적으로대응하여소요비용을절감할수있습니다. NI STS

8 8 NI STS 테스트프로그램개발, 디버깅, 배포를위한강력한소프트웨어 STS에는반도체테스트관리를위한기능이추가된 TestStand, 코드모듈개발을위한 LabVIEW, 시스템교정을위한내장시스템기능, 진단, 리소스모니터링, 컨트롤이포함되어있습니다. Probe Solution TestStand STS 운영자인터페이스를통해하나의강력한인터페이스에서모든주요테스트프로그램데이터를손쉽게선택하고, 실행하고, 볼수있습니다. TestStand는테스트프로그램을신속하게개발하고배포할수있도록설계되었으며, 즉시실행가능한테스트관리소프트웨어입니다. TestStand를사용하여여러가지프로그래밍언어로작성된코드모듈을통합하는테스트시퀀스를개발할수있습니다. 사용자는손쉽게실행흐름과리포트, 데이터베이스로깅, 다른기업시스템으로의연결등을맞춤설정할수있습니다. 멀티사이트를지원할수있는 Test Sequence Editor 운영자인터페이스 DUT binning 핸들러 / 프로버통합제어 강력한디버깅도구 데이터베이스연결기능을갖춘표준테스트데이터포맷 (STDF) 지원 DUT 중심테스트프로그래밍을위한핀과채널맵핑 타사계측과의통합 LabVIEW NI STS LabVIEW는복잡한기존코드설계방식과는달리직관적인그래픽개발환경을제공하므로하드웨어통합을단순화하고개발시간을단축시켜줍니다. 바로실행할수있는예제와내장템플릿및샘플프로젝트, 즉시사용할수있는엔지니어링 IP를갖춘 LabVIEW 를사용하면해당반도체장비의테스트계획에따라신속하게코드모듈을개발할수있습니다.

9 Tx 9 RF 및혼합신호반도체테스트를위한첨단계측 핵심 STS 측정엔진은업계최초의벡터신호트랜시버 (VST) 에서혁신적인 NI SourceAdapt 기술갖춘 SMU(Source Measure Unit) 에이르기까지첨단 NI PXI 모듈형계측기를바탕으로하여구현되었습니다. NI나 PXISA의다른회원사가새로운 PXI 모듈을출시할때마다 STS의전반적인기능이향상됩니다. RF 계측 세계최고수준의 NI RF 계측모듈에는벡터신호분석기 (VSA), 신호생성기 (VSG), 파워미터, 벡터네트워크분석기 (VNA), 벡터신호트랜시버 (VST) 가포함됩니다. 26.5GHz의벡터신호분석기는동급최고의측정성능, 속도, 유연성과함께업계를선도하는다이나믹범위와 765MHz의대역폭을결합한제품입니다. NI STS 와 RF 서브시스템 RF 서브시스템 포트모듈 STS에서멀티포트 RF 테스트를위한 RF 포트확장모듈을사용할수있습니다. 이서브시스템의핵심은컴팩트한 3슬롯 PXI 모듈에 RF 신호생성과분석을위한최대 200 MHz의리얼타임대역폭을제공하는 VST입니다. Rx VST RF 포트확장모듈로여러개의 VST를설정할수있으며, 전체서브시스템은 STS 안에완전히내장되어있습니다. STS 는이 RF 서브시스템을활용하여유비쿼터스 RF 프런트엔드 (RFFE) IC, RF MEMS와같이최근에각광받는반도체를포함하여다양한범위의 RFIC를위서식한완벽한생산테스트플랫폼을제공합니다. 최대 48개의양방향 RF 포트 S 파라미터와광대역측정기능 자동 RF 벡터교정 안정적인솔리드상태설계 Probe Solution DC 계측 SourceAdapt 기술을탑재하고있는컴팩트한고정밀고속 NI SMU를사용하면심지어캐패시티브로드가있을경우에도 SMU 응답을최적화할수있습니다. NI SMU는강력한 DC 또는전압-전류 (VI) 테스트성능을갖추고최대 100fA 전류측정해상도를제공하므로웨이퍼와패키지장비테스트에모두적합합니다. AC 계측 NI는최대 24 비트또는 12.5GS/s의다양한오실로스코프 / 디지타이저와최대 145MHz의아날로그대역폭을가진여러가지임의파형생성기를통해데이터컨버터, MEMS 가속도계등의반도체의 AC 계측기능을제공합니다. NI STS 디지털, 장비전력, 범용계측 NI PXI 플랫폼은핀별파라미터측정기능을갖춘디지털계측기 (PMU), 최대 12.5Gb/s의고속시리얼프로토콜 (HSD), 최고 60W 의범용전원공급장치, 다양한디지털및혼합신호테스트요구사항을위한 7½자리고성능멀티미터등의폭넓은핵심계측기능을갖추고있습니다.

10 II. 프로브솔루션 PROBE SOLUTION ( 주 ) 누비콤은각종전자 / 통신그리고반도체부품등의연구개발에서부터제조생산에이르기까지필요한계측및시험분석, 그리고측정자동화시스템등을지원하는종합솔루션전문회사입니다. I. 프로브솔루션부문에서는미세프로브, 프로브헤드, 그리고프로브스테이션을소개합니다. 누비콤은기가프로브 ( 미국 ), T- 플러스 ( 일본 ), 아폴로웨이브 ( 일본 ) 사와채널파트너계약을맺고, 성능은어떤제품에도뒤지지않으면서도가격은훨씬저렴한솔루션을공급하고있습니다. 본제품들은매년 1 월에 COEX 에서열리는세미콘코리아전시회에출품하고있습니다. 1. Giga Probe DVT30-1MM 30 GHz 듀얼프로브 TDR 상호연결분석 DVT40-1MM 40 GHz 듀얼프로브 TDR/ 네트워크분석기용 S-파라미터프로브 2. T-Plus 싱글 RF 프로브헤드듀얼 / 디퍼런셜 RF 프로브헤드멀티 RF 포트프로브헤드 DC + RF 프로브헤드 DC 프로브헤드 3. Apollowave 칩 12인치프로브스테이션저온 / 고온, 저전류프로브스테이션 LED 프로브스테이션 WLR 프로브스테이션 RF 프로브스테이션고출력프로브스테이션진공프로브스테이션컴팩트프로브스테이션메니퓰레이터 (Manipulator) 및포지셔너

11 Giga Probe 제품안내 Giga Probe DVT 솔루션소개 DVT 솔루션사는미국캘리포니아주산케롤시에위치하고있으며, TDR 기반측정서비스를위해 2006 년에창립된회사입니다. 고속 TDR 및 S- 파라미터프로브로신호무결성에관한컨설팅과관련제품을연구 / 개발및생산을전문으로하고있습니다. DVT 솔루션사는 100 Ω 저전압디프런셜시그널링 (LVDS) 인터커넥트디자인의제품개발을위해 GigaProbesr 라는브랜드명으로 30 GHz 멀티모드디퍼런셜 TDR 프로브를개발하였습니다. 이프로브들은텍트로닉스, 애질런트, 르크로이,R&S, 안리츠등의장비들과모두호환이되는것입니다 년에는 TDR, 벡트네트워크분석기, 스펙트럼분석기에서시간과주파수측정을모두할수있는 40 GHz 멀티모드 S- 파라미터핸드프로브를개발하여업계처음으로발표하기도했습니다. DVT 솔루션사는또한 GigaProbes, Microprobes 및액티브오실로스코프프로브들을사용하여수평및수직프로빙이동시에요구되는백플레인 / 보조카드시스템등을위하여저가형벤치탑프로빙시스템에서독립형의프로빙스테이션까지다양한프로브조작기 (manipulators) 와 PCP 픽스춰를제공합니다. 더자세한정보는 에서볼수있습니다. 제품소개 * DVT30-1MM * DVT40-1MM 30 GHz Fine Pitch 용 TDR 프로브키트 40 GHz 디퍼런셜멀티모드 TDR 및 S- 파라미터프로브키트

12 12 TDR Probe DVT30-1MM Fine Pitch 용 TDR 프로브 DVT30-1MM Gigaprobe 는 Differential TDR 100Ω, Single TDR 50 Ω 변환가능한멀티모드 30GHz TDR 프로브로 Odd/Even mode 임피던스를정확하게측정할수있습니다. 금도금된 Diamond Tip 에의한뛰어난접촉특성은 TDR 측정시프로브접촉으로인한임피던스불연속지점이최소화되고, 프로브 Tip 이작아접촉부분이 0.5 mm 이하이므로매우짧은길이의 IC package 를분석하는데에도적합합니다. Probe Tip pitch 가 0.25 mm ~ 2.0 mm 까지자유롭게가변가능하고자주사용되는 0.8 mm, 1.0 mm, 1.27 mm Pitch 는제공되는 Pitch calibration wrench 로정밀하게조정할수있습니다. 전도성다이아몬드도금기술은금과니켈로도금된미세한 100 여개의날카로운다이아몬드를팁 (Tip) 에접착한것입니다. 팁 (Tip) 자체가산화되지않으며접촉시 PCB 패드의산화막을뚫고프로빙되어 10 g 의아주적은힘으로도어느각도에서든완벽한프로빙접촉을할수있게합니다. 이는솔딩 (Soldering) 을한것과같이정확하고반복가능한 TDR 측정을할수있게해줍니다 주요특장점 Probe Solution 30 GHz 대역폭 True Odd Mode 100ohm 디퍼런셜임피던스 50 Ω Single-end 프로브로전환가능 TDR 측정시작점의불연속 20 mv 이하 프로브의 Fall Time이 20 ps 이내 Ground Contact 없이완전한 Balanced Differential 측정 프로브 Pitch 0.25 mm ~ 2.0 mm 가변 프로브팁 (Tip) 직경 mm 금도금된전도성다이아몬드프로브팁으로안정적인 TDR 측정 10 g 이하의적은힘으로완벽한프로빙 한개의프로브로 4가지용도로사용 : 100 Ω, 50 Ω Hand-held. 프로브 Positioner에연결한보다안정적인프로빙 프로브 Pitch 조절을위한도구기본제공 주요어플리케이션 주요특성 DVT30-1MM GigaProbes 완벽한 TDR/TDT Interconnect 프로빙키트 Single Ended, Differential Insertion, 반사손실 S- 파라미터계산 : TDR 과 IConnect SW 를이용한주파수도메인분석에최적화된성능 임피던스측정 : TDR 장비단독또는보다정밀한 TDR 임피던스분석을위한 IConnect SW 를이용한 IC 패키지, 케이블, 커넥터, PCB 와 Backplane 테스트. IC 패키지의오류분석 : TDR 을이용한불량지점비파괴탐색 Attenuation: 1x Probe only BW: 30 GHz TDR Degradation: <5 ps Probe Pitch: 0.25 mm ~ 2.0 mm Connector Type: SMA Measured Reflected TDR Fall Time: 20 ps Impedance: 100 Ω differential, 50 Ω common mode Max Voltage: 5.0 V 제품구성 Giga Probes 3DVT30-1MM GigaProbes 는액세서리와함께견고한보관용케이스에제공되며, DVT30-1MM GigaProbes 키트는다음과같이구성되어있습니다. (DVT30-1MM-1 One probe kit 는 Probe 1 개와관련액세서리로구성 ) Qty 2: 30 GHz TDR Probes (patent pending) Convertible to Single 50 Ω or Differential 100 Ω, with gold plated Conductive Diamond probe tips for repeatable high-bandwidth TDR measurements when probing at ANY angle Qty 2: GPMMA Attaches probe to Tektronix PPM100, PPM203B Articulating arms or any standard micro-positioner ( 그림2) Qty 1: Stainless Steel 110mm Tweezers for Fine Pitch Probe Adjustments and used to attach ground lead to convert probe to 50 Ω Qty 1: Desk-Top 5X Macro-Lens Inspection Station Qty 1: Model 10 SMA Wrench (patent pending) with Quick Calibrator Holes to set probe pitch and planarize probes to 0.8 mm, 1.0 mm, or 1.27 mm ( 그림 3) Qty 2: Hand Held Probe Sleeve Adapters with EZ-Hold Foam Cushions ( 그림 1) Qty 4: Right Angle SMA Elbows for easy routing of TDR of SMA cables ( 그림 1) Qty 1: 50 ohm conversion kit includes 2 SMA shorting caps, ground strap and shrink wrap. Qty 4: Cable 24GHz 12 SMA-SMA Cables Qty 1: Resource CD with IConnect application notes, data sheets

13 13 그림 1. 편리한 Hand Held 프로빙 : EZ-hold 쿠션어댑터를사용하여미세한간격의포인트에쉽게프로빙 그림 2. Tektronix 의 PPM100 Articulating Arm 에직접연결한모습 : 기본구성품인 GPMMA 어댑터를이용해보다고대역의정밀한 TDR 측정. 제조사에상관없이모든종류의 Probe Manipulator 에연결가능 그림 3. Signal-Signal Pitch Calibration: Model 10 SMA 교정렌치로빈번히사용하는 0.8 mm, 1.0 mm, 1.27 mm 간격을조정. 프로빙위치를조정하고이외의다양한간격을정밀하게조정하기위해서는기본포함된트위저와탁상용확대경사용 그림 4. Gold Plated Conductive Diamond Probe Tips: 프로브팁의 100 여개의금도금된날카로운다이아몬드팁은프로빙을했을때, PCB pad 표면의산화막을뚫게되어솔더링을한것과같은완벽한접촉이된다. 도전성다이아몬드팁은어느각도에서프로빙을하여도안정된접촉을하게됨 DVT40-1MM TDR 및 S- 파라미터프로브키트 40 GHz 100 & 50 ohm TDR Hand Probe: DVT40 Gigaprobe 는 100 오옴과 ( 차동모드 ) 50 오옴 ( 싱글엔드 ) 에서 40 GHz 까지 3.5 ps 이하의작은 Fall time 을가지는견고한휴대형프로브로서고속의전송신호의측정을위한완벽한프로브입니다. 텍트로닉스를포함한임피던스및 S- 파라미터측정장비와완벽히호환되어 S2P, S4P 등의파라미터추출을할수있는프로브솔루션입니다. 정확한시간및주파수측정측정결과로부터 S2P, S4P 파라미터추출 (De-embedding 포함 ) 하기위한 PCB, Wafer 등의주파수영역과시간영역에의신호전송특성을위해서최고의성능을제공합니다. 추가적으로 Y 커넥터어셈블리를이용하여 40 GHz 차동신호의측정함에주파수손실이나반사손실을최소화시켜드립니다. 주요특장점 40 GHz Differential Probe Fully Balanced 100 Ω Differential Signals without Ground Contact Adaptable to 50 Ω Single Ended Input Impedance Measure S2p, S4p S-parameters using configurable Ground Collars Adjustable Signal Probe Pitch (from 450um to >1.7mm) 4-6 um Conductive Diamond Plated Probe Tips for repeatable measurements ~3.5 ps Fall Time Degradation Universal Probe Design: use as Hand Probe or Mount in Micro-positioners Full Set of Probe Pitch Calibration Accessories Probe Solution 주요어플리케이션 주요특성 시간영역측정 100 Ω 임피던스측정 PCBs, 케이블s, 회로기판 (backplanes), daughter-cards, 커넥터 50 Ω 모드사용 1 mm의결함분리 (fault Isolation) 가능한고해상도실패분석 (Failure Analysis) 주파수영역측정 2 포트디퍼런셜 TDR/TDT 측정 ( SDD11/21 반사손실및입력손실 S-파라미터를생성 ) 40 GHz 벡터네트워크분석기또는 TDR/T (2 또는 4 포트멀티모드 S-파라미터측정 ) (requires ground collar adapter). 제품구성 Qty 2: 40 GHz Differential Multimode TDR/NA S-parameter Probe 40 GHz 2.92 mm K differential connector assembly in a Y formation Gold-plated probe body and differential connector assembly Gold plated conductive diamond (4-6um) adjustable probe tips Qty 2: Custom Mount Anodized Right Angle Adapter connects DVT40 to articulating arms using a #10 screw mount. 2.5 long dowel adapter to connect probe to manipulators with compression holders Qty 2: Ultem Hand Mount Adapter designed for GigaProbes DVT40 probes. Converts DVT40 to a precise, ergonomic hand probe Attenuation: 1x Probe only BW: 30 GHz TDR Degradation: 3.5 ps Probe Pitch: 0.45 mm ~ 1.7 mm Connector Type: 2.92mm K-connector Measured Reflected TDR Fall Time: 20 ps Impedance : 100 Ω differential, 50 Ω common mode Max Voltage : 5.0 V Qty 1: Stainless Steel Tweezers for fine 110mm pitch adjustments. Qty 1: Steel SMA wrench to tighten cables to probes. Qty 1: Pitch setting calibration tool (.8mm, 1mm, 1.27mm) Qty 1: Desktop Macro-lens Inspection Station (5x magnification) Qty 1: 50 ohm Conversion Kit: 2 SMA short cap, 5ea 20 gauge wire and 5ea pre-cut shrink-wrap Giga Probes

14 14 TDR Probe Complete Tektronix DSA8200 TDR/T Interconnect Development Station 그림 5. Tektronix DSA8200 TDR system: Gigaprobe 는 80E10, 80E08, 80E04 에직접연결. PPM100 과같은 Articulating arm 을사용하여보다안정적으로프로빙 그림 8. 다양한 Probe Manipulator 로수직프로빙 Probe Solution 그림 6. Differential Rise Time: 9ps TDR pulser 출력을 DSA8200 과 50 GHz module 로측정한 Gigaprobe 의 RiseTime. 대역폭이 30 GHz 를상회. Giga Probes 그림 7. 프로브 2 개를이용한측정 : 2 port Single & Differential S-parameter 또는 TDT 측정을위한셋업

15 T-Plus 제품안내 PROBE Probe SOLUTION Head 티플러스 (T+) 소개 티플러스 (T-Plus) 사는일본치바현에위치하고있는 RF/ 마이크로웨이브및광학디바이스측정솔루션전문회사입니다 년 RF 프로브생산업체로출발하였으며, 1994 년에 RF 프로브카드의생산을시작으로 2003 년과 2006 년에각각 20 GHz 및 40 GHz RF 프로브카드를자체개발 / 생산하여전세계에공급하고있습니다 년에 67 GHz RF 프로브헤드를, 2010 년에는 40 GHz 테스트픽스춰, 2013 년에는 110 GHz RF 프로브헤드를연이어개발 / 생산함으로써, 일본정부로부터 300 대유망중소기업 에선정되었습니다. 최근에는 325 GHz 까지가능한웨이브가이드 (Wave Guide) 프로브를발표하였습니다. 티플러스에서는생산하는제품을요약하면다음과같습니다 : 1. 프로빙솔루션 (Probing Solution) * RF 및마이크로웨이브프로브헤드 : DC-40, 50, 67, 110 GHz * 웨이브가이드 (Waveguide) 프로브 : WR15, 12, 10, 8, 6, 5, 및 WR3 * RF 테스트픽춰 : 광학모듈테스트용, 마이크로웨이브 IC 테스트용 * 매뉴얼프로브스테이션 : 고객맞춤형, 4-6, 진공척 2. 케이블솔루션 * 네트워크분석기케이블 : SMA, 2.92mm, 2.4mm, 1.85mm, 1mm * 동축케이블 : SMA, 2.92mm, 1.85mm, 1mm * DC, TXA 커넥트 * 동축어뎁터 / 동축웨이브가이드어뎁터 * 웨이브가이드튜브 : 고객맞춤형및 WR15, 12, 10, 8, 6, 5, 그리고 WR3 3. 개발중 (2015 년 10 월현재 ) * RF 및고속평가보드 : DC-25 GHz, 32, 40, 50 그리고 67 GHz * PCB 생산 : RF/DC PCB, Flex, 그리고세라믹 * IC/ 모듈 PCB 마운트서비스 * 측정용액세서리 : 바이어스티 (Bias Tee), 앰프, 감쇄기, 동축스위치 * 기타 제품소개 * 싱글 RF 프로브헤드 * 듀얼 / 디퍼런셜 RF 프로브헤드 * 멀티포트프로브헤드 * DC+RF 프로브헤드 * DC 프로브헤드

16 16 싱글 RF 프로브헤드 다인용납연기정화시스템 싱글 RF 프로브헤드 ~67 GHz 표준사양 스펙 프로브구성 주파수 커넥터 μm 로즈미터 단위 Min Typ Max S S DC-40 GHz 2.92 mm (K) S S S S 성능 GSG DC-50 GHz 1.85 mm (V) S S S S11 db S S DC-67 GHz 1.85 mm (V) S S S S GS(SG) DC-40 GHz 2.92 mm (K) S S S S 싱글 RF 프로브헤드 RF Microwave Measurement Solution Probe Solution 주요특징 Full Auto Prober applicable Tip 사용자지정구성, 피치가능 (Pitch Available) 고장시수리후사용가능 Same attachment compare from other brands 뛰어난내구성 쉬운핸들링 캔틸레버식바늘 (Cantilever Needle) 고성능 (110 GHz) 교정서브스트레이트 (substrate) 가능 주요스펙 싱글 RF 앵글타입 싱글 RF 버티컬타입 ITEM TP40 시리즈 TP50 시리즈 TP67 시리즈 TP110 시리즈 주파수 DC-40 GHz DC-50 GHz DC-67 GHz DC-110 GHz 삽입손실 (Typ) >1 db >1 db 1.3 db 1.3 db 반사손실 (Typ) <18 db <18 db <18 db <18 db 구성 GS, SG, GSG 커넥터 K (2.92 mm) V (1.85 mm) V (1.85 mm) 1mm 피치 교정서브스트레이트 (Substrate) 가능 가능 가능 가능 110 GHz 까지의전형적인성능 (Typical Performance up to 110 GHz) T Plus

17 듀얼 / 디퍼런설 RF 프로브헤드 17 듀얼 / 디퍼런셜 RF 프로브헤드 RF 및마이크로웨이브측정솔루션 주요특징 뛰어난내구성 쉬운핸들링 캔틸레버식바늘 (Cantilever Needle) 고성능 (110 GHz 까지 ) 교정서브스트레이트 (Substrate) 가능 듀얼 RF 버티컬타입듀얼 RF 앵글타입교정서브스트레이트 주요스펙 ITEM TPD40 시리즈 TPD50 시리즈 TPD67 시리즈 TPDA 주파수 DC-40 GHz DC-50 GHz DC-67 GHz DC-110 GHz 삽입손실 (Typ) >1 db >1 db >1 db 반사손실 (Typ) <18 db <18 db <15 db 기울기 (Skew) 구성 Less than 1 ps (between+/-) GSSG, GSGSG, (SS, GSS(SSG) and Custom configuration available Adjustable between GS-SG pitch 커넥터 K (2.92 mm) V (1.85 mm) V (1.85 mm) K 또는 V 교정서브스트레이트 (Substrate) 가능가능가능가능 멀티포트프로브헤드 RF 및마이크로웨이브측정솔루션 주요특징 사용자지정제작 독특한프로브레이아웃가능 10 포트까지 Full Auto Prober applicable Tip 사용자지정구성, 피치가능 (Pitch Available) Same attachment compare from other brands QUAD RF Probe Probe Solution 주요스펙 TPDA (GS-SG gap adjustable) 10 Port RF ITEM TPD40 시리즈 TP50D 시리즈 TP67D 시리즈 TPDA 주파수 DC-40 GHz DC-50 GHz DC-67 GHz 삽입손실 (Typ) >1 db >1 db >1.3 db 반사손실 (Typ) <18 db <18 db <15 db 구성 SS, GSS(SSG), GSSG, up to 10 RF port(custom configuration available) 커넥터 K (2.92 mm) V (1.85 mm) V (1.85 mm) 피치 교정서브스트레이트 (Substrate) 사용자구성 De-Embedding GSSG, GSGSG GSSG,GSGSG GSSG,GSGSG 가능 Same Electrical performance as shown in left side (40, 50, 67 GHz) Can be adjust between GS-SG or GSG-GSG T Plus

18 18 싱글 RF 프로브헤드 DC+RF 프로브헤드 RF 및마이크로웨이브측정솔루션 주요특징 Full Auto Prober applicable Tip 사용자지정제작 (Custom fabrication) Same attachment compare from other brands 독특한프로브레이아웃가능 2 RF 포트 ( 더많은 RF 포트가능 ) DC+RF 프로브헤드 주요스펙 DC + RF 프로브 최대핀수 (DC/RF) 26 / 2 주파수 구성 DC up to 67 GHz 사용자지정구성 (Custom configuration) 커넥터 DC: Pin Header, BNC etc. RF: 2.9 mm or 1.85 mm 피치 (Pitch) 기울기보정 (Skew Adjustment) (P/N) 프로브재료프로브팁지름 커스톰피치 (Custom pitch) 가능 (Available) Tungsten (W), BeCu / ASK different material Min 15 um / Max TBD Probe Solution DC 프로브헤드 RF 및마이크로웨이브측정솔루션 주요특징 Full Auto Prober applicable Tip Decoupling Capacitor Available 사용자지정구성 (Custom fabrication) 저가격 Same attachment compare from other brands 34 핀까지가능 DC 프로브 주요스펙 DC14 DC26 DC34 최대핀수 (DC/RF) 14 / - 26 / - 34 / - 커넥터 DC: Pin Header, BNC etc. RF: 2.9 mm or 1.85 mm 반사손실 (Typ) <18 db <18 db <15 db 주파수 (DC/RF) DC / - DC / - DC / - T Plus 삽입손실 (GSS-150 um Typ) 반사손실 (GSG-150 um Typ) - - ㅡ 최소피치 (Pitch) 50 um 프로브재료 Tungsten (W), BeCu / ASK different material 프로브팁지름 Min 15 um / Max TBD

19 Apollowave 제품안내 Probe Station 아폴로웨이브소개 아폴로웨이브사는 2000 년 2 월에설립되었으며, 일본오사카에위치하고있습니다 년에세미 - 오토메틱웨이퍼프로브개발및고주파프로브의구개발로일본정부로부터 중소창조적활용촉진법 인증을받았습니다 년에 6GHz 프로토타입프로브카드및 TDDB/EM 프로브카드를개발하였으며, 2003 년에는고주파수수직프로브의개발로 " 지역일으킴대상 을수상하였습니다. 또한 " 반도체웨이퍼레벨일렉트로마이그레이션평가장치개발 로 중소창조적활용촉진법 인증을받았습니다. 연이어 300 mm 웨이퍼 TDDB/EM 프로브카드와 300 mm WLR 프로빙시스템및프로브카드발표로제 5 회오사카프론티어상, 창업장려부문특별상을수상하였습니다 년에프로브스테이션새로운 α 시리즈를출시하였으며, EM350 대응신뢰성시험매뉴얼프로브스테이션 PEM300 출시로 내일의일본을지탱하는건강한제품만들기중소기업 300 사 에선정되었습니다. 고 / 저온및미소전류용프로브스테이션, 고출력프로브스테이션등계속새로운제품을매년발표하는능력을인정받아 2012 년 4 월에는애질런트테크놀로지 ( 현, 키사이트 ) 와솔루션파트너계약을체결하고동사의모든제품에사용할수있는프로브스테이션을공급하고있습니다. 가장최근에는세미 - 오토메틱프로브스테이션 AP 시리즈출시했습니다. 더자세한정보는 에서볼수있습니다. 제품소개 컴팩트프로브스테이션진공프로브스테이션저전류고주파수프로브스테이션 (α100) 저전류고주파수하이파워프로브스테이션 (α150/200/300) 고온및저온, 미소전류프로브스테이션 (α300cs/200cs) RF 프로브스테이션 (α100rf/200rf) WLR 프로브스테이션 (PEM300) 세미 - 오토메틱프로브스테이션 (AP-200PW) LED 프로브스테이션 (α2000lx) 고출력프로브스테이션 (α200pw) 옵션 ( 매니퓰레이터및포지셔너 )

20 20 프로브스테이션 프로브스테이션 (Probe Station) 이란? 프로브스테이션은반도체, PCB, 전자회로, 부품의조립공정등을진행하기전에제품의전자적특성을측정하기위해서주요측정장비와피측정체를연결하기위해사용됩니다. 프로브스테이션은주로반도체소자의특성을측정하는장비로, 반도체디바이스와계측장비가쉽게프로빙 (Probing) 될수있도록도와주는장비입니다. 프로브스테이션 (Probe Station) 은프로브카드 (Probe Card) 나프로브헤드 (Probe Head) 등을이용하여 PCB 나반도체웨이퍼 (Wafer) 상에서눈에보이지않는디바이스 (Device) 의측정포인트 (Point) 에프로빙 (Probing) 을쉽게할수있게해주는장비로반도체디바이스의불량분석에사용됩니다. 시스템에따라서 DC 부터고주파신호분석이가능하도록수동, 반자동, 자동의기능을제공하며동시에여러측정포인트를측정할수있습니다. Probe Solution 프로브스테이션 (Probe Station) 과함께사용되는전자계측장비는커버트레이서 (Curve tracer), 소스미터 (Source meter), 네트워크분석기 (Network Analyzer), LCR 미터 (LCR meter), 시간영역반사계 (Time Domain Reflectometer), 스펙트럼분석기 (Spectrum Analyzer) 등으로측정용도에따라다양하게연결이됩니다. 프로브스테이션 (Probe Station) 의종류 컴팩트프로브스테이션 α100 칩 12 인치프로브스테이션저온 / 고온및저전류프로브스테이션고출력프로브스테이션 Apollowave RF 프로브스테이션 LED 프로브스테이션 WLR 프로브스테이션진공프로브스테이션

21 21 Desk Top Type 컴팩트프로브스테이션 간단한 IV/CV 측정에최적의솔루션 50 mm사이즈칩까지측정가능!! 주요특장점 쏠라시뮬레이터장착가능 작은사이즈, 가벼운무게 편리한이동성 안정적이고정확한측정을위해차폐박스설치가능 간단한구조, 저렴한가격 글로브박스 (Glove Box) 200 mm 340 mm ( 본체 : 300 mm) 630 mm ( 본체 : 400 mm) Low leak 측정유닛구성예 본체 (50 mm stage) 마이크로포지셔너 (Micropositioner): 3 pcs 3 축 (Triaxial) 프로브 : 3pcs 텅스텐바늘 : 25pcs/box 커넥터판넬 : TXA 4pcs 진공펌프 (Vacuum pump) 장비도면예 Vacuum Probe Station 진공프로브스테이션 4 매니퓰레이터 (manipulator) 타입 Probe Solution 진공정도는 10-3 Pa 지원 신호분리방법은개별사양에대응 미세전류도측정가능 스테이지도 X Y 50 mm가동 스테이지크기는 100 mm까지가능 Organic 디바이스 / MEMS 디바이스재료연구개발용 프로브카드타입 10-3 pa 에상응하는진공도 스테이지의 X, Y 축을 50 mm 단위로이동가능 모든종류의커넥터 (Connector) 가능 미세전류측정가능 다핀대응프로브카드형 프로브카드타입으로여러개의핀 (pin) 가능 진공정도는 10-1Pa 에부응 비측정물은프로브카드의교체에따라부응 X,Y,Z 및 θ 스테이지에따라정렬 Apollowave 프로브카드타입

22 22 프로브스테이션 α100 시리즈 알파시리즈프로브스테이션 저전류, 고주파수용프로브스테이션 A100 은알파시리즈프로브스테이션중가장콤팩트한매뉴얼프로브스테이션입니다. IC, 다이오드, 트랜지스터, 웨이퍼등의전기적인특성을측정하고분석하는용도로사용됩니다. 사용자는합리적인가격으로유용성과높은퍼포먼스를느끼실수있습니다. Just Right, Just Fit! Optimum for chip size up to 4 inch wafer 다양한현미경선택가능 다양한스테이지 (Stage) PCB 홀더 Hot Chuck / Thermo Chuck / Normal Chuck / Chuck for film / Resinous Chuck Others 주요특장점 쏠라시뮬레이터장착가능 작은사이즈, 가벼운무게 편리한이동성 안정적이고정확한측정을위해차폐박스설치가능 간단한구조, 저렴한가격 표준스펙 Stage travel: Sub-stage travel: 웨이퍼척 (Wafer chuck): 웨이퍼홀더 (Wafer hold): 칩사이즈 : θ- stage travel: 크기및무게 : X: 100mm Y: 100 mm (coarse motion) X: 14mm Y: 14 mm (micro motion) Diameter 110mm / thickness: 5 mm 진공 (Vacuuming) Max. 4 inch wafer 360 degree. / Fine: ±5 deg. W400 x H330 x D360mm, 25Kg Probe Solution α150/200/300 시리즈 알파시리즈프로브스테이션 저전류! 고주파! 하이파워용프로브스테이션 6, 8, 12 프로브스테이션선택가능 알파시리즈프로브스테이션의컨셉은소형, 낮은가격의놓은퍼포먼스, 유용성입니다. 알파시리즈는 150mm ~ 300mm 의초소형소자측정의필요성증가에따라 IC, Diode, TR, Wafer, Package 등의측정및분석의다양한요구를충족시키기위해가장유연성이좋은모델로디자인되었습니다. 주요특장점 Apollowave 미세전류, 하이파워, RF 측정가능 콤팩트한디자인 건공기주입으로낮은이슬점층의측정 저온측정을위해 Thermal chuck 장착가능 프로브카드를이용하여 WLR 측정가능 표준스펙 본체 : D:600 mm, W: 600 mm, H: 450 mm 무게 : 40 kg Stage Travel: X: 200 mm, Y: 200 mm Sub Stage Travel: X: 25 mm, Y: 25 mm 척크기 : 4~8 인치 웨이퍼홀딩방식 : 진공홀딩 ( 40 mhg 이상 ) Just Right, Just Fit! Versatile, affordable and user-friendly 정밀얼라인먼트 (alignment) 빠른포지셔닝 (positioning) 정밀마이크로미터를갖춘 X,Y,Z, 세타 (Theta) 스테이지. 프로브카드사용을위해얼라인머트 (alignment) 가능합니다. 사용자는스테이지손잡이를사용하여자유자재로 XY 스테이지를움직일수있습니다. XY 트래블 (travel) 범위는척 (Chuck) 사이즈와같습니다.

23 23 α300cs / α200cs 고온및저온, 미소전류프로브스테이션 미세누설전류측정고온측정, 저온측정용프로브스테이션 -55 C ~ 350 C 스테이션에장착된콤택트한차폐쉴드를이용하여 fa 단위의저전류측정이가능하고, 내부를질소또는건공기환경으로변경가능하므로유기발광다이오드 (OLED) 측정이가능합니다. 주요특장점 미세전류, 하이파워, RF 측정가능 콤팩트한디자인 건공기주입으로낮은이슬점층의측정 저온측정을위해 Thermal chuck 장착가능 프로브카드를이용하여 WLR 측정가능 다양한측정고성능 (APW original TXA probe, HV TXA 프로브및고전류프로브 ) 표준스펙 온도 : -55 ~ 350 C Sub-stage travel X: 14 mm Y: 14 mm (micro motion) 웨이퍼척 : 5 mm 칩사이즈 : 4~12 인치 크기및무게 : W500 H500 D365 mm, 50 Kg 빠른포지셔닝사용하는스테이지손잡이를사용하여자유자재로 XY 스테이지르움직일수있습니다. XY 트래블 (travel) 범위는척 (Chuck) 사이즈와같습니다. Pulse IV 측정시스템지원 써모척 (Thermo chuck) -55~300 Probe Solution 9 세트매니퓰레이터 (Manipulator). 애질런트 Agilent ASU/RSU 또는키슬리프리앰프를프로브가까이에마운트할수있습니다. 완벽한얼라인먼트 (Alignment). X,Y,Z 및 θ 를위해마이크로미터를갖춘초정밀스테이지 (stage) 를사용합니다. 고저온및초저누설 (leakage) 프로브카드 Apollowave

24 24 프로브스테이션 α100rf / α200rf RF 프로브스테이션 최고의퍼포먼스!! 높은선형성 (<3um) 에의한정확한프루빙 RF & DC 측정가능 α100rf / α200rf 는가장다용도로사용할수있도록디자인된프로브스테이션시리즈입니다. 낮은가격으로파워풀한측정툴을제공합니다. 일반적으로사용되는 M60 Manipulator 는 MM Wave 측정과 RF 특성테스트시정밀한측정을제공합니다. 모든종류의 RF 프로브를장착하여사용가능합니다. (Cascade Microtech, SUSS MicroTec, GGB, 등 ) 플레이트위에 4 개의매니퓰레이터까지사용가능합니다. 구성예 α100 본체 4 인치용노멀척 (Normal chuck) 현미경암 (arm) 스테레오현미경 (with ring light) RF 매니퓰레이터 (manipulator) M60 (2 pcs) 진공펌프 (Vacuum pump) Probe Solution Apollowave PEM300 WLR 프로브스테이션 WLR 테스트특화장비 TDDB/ EM/ NBTI 등웨이퍼레벨로측정웨이퍼상태로 350 도고온에서까지측정! probe card lump를사용하여웨이퍼의양방향을모두프루빙할수있는 WRL test (TDDB, EM) 특화장비 (WLR card) 챔버내에질소제거기능 어떠한대미지로부터 Probe card를보호하기위한보호기능장착 질소화의위험성을줄이기위한조절기능장착. CCD카메라의부드러운이동성을위한레일기능. 350도의고온측정. WLR 테스트용프로브카드 컴팩트한챔버 (N2 소모방지 ) CCD 카메라마운트 CCD 트래블범위 : X Y 300mm 챔버에서쉽게웨이퍼로드 / 언로드척스테이지모든작동을안전하게얼라이언먼트가능 이프로브카드는신뢰성및수율 (Yield) 의평가방법에사용, TDDB 에 MOS 소자의산화막평가, EM 의와이어링 (wiring) 평가를위한것입니다. 베이스상에세라믹 PCB 를사용하여내구성뿐만아니라과온도변화에도염려없습니다. 바늘은마이크로스트립의세라믹블레이드로만들어져, 고온에서도높은정밀도를유지하면서안정적으로측정할수있습니다. 광범위한온도측정을위한베스트솔루션 * 키사이트 ( 애질런트 ) 및키슬리의모든제품과함께사용할수있습니다.

25 25 AP-200PW 세미 - 오토메틱프로브스테이션 1. XY 축 : 공기완충장치 (Air suspension) 및저울 (Scale) 장착 Stage travel: 210 (x) x 300 (Y) mm Control resolution ability: 0.5 μm Scale resolution ability: 0.1 μm ( 옵션 ) Repeatability: within ±0.5 μm Accuracy: within ±20 μm Moving speed: Max. 50 mm/sec. 2. Z 축 Stage travel: ±15 mm Resolution ability: 1 μm Repeatability: within ±3 μm Moving speed: Max. 25 mm/sec. 3. T 축 Stage travel: 3 degree Resolution ability: degree Rolling speed: Max. 1 degree/sec. Leak Data: Probe Leak Chuck Data: Probe Leak Probe Solution α2000lx LED 프로브스테이션 ( 태양광전지프로브스테이션시스템 ) 태양전지평가를위한태양광시뮬레이터와트랜지스터특성같은회로분석을위한광출력장치가결합된모델입니다 Solar Cell 측정과 Display 개발에특화된장비 가시광선, 적외선, 자외선타입의광원선택가능 위쪽과아래쪽의광원에대한스펙제공 다양한옵션, 저온 Chuck, 고온 Chuck 선택가능 Apollowave 태양광조사로전기적특성샘플들을측정 광원에따라가시광선및적외선의조사 ( 아웃사이드보라색 ) 가능 스테이지옆면에조도계 (illuminometer) 및강도계 (strength meter) 설치가능 보드위에써모척 (Thermo Chuck) 및핫척 (Hot Chuck) 설치가능

26 26 프로브스테이션 α200pw 고출력프로브스테이션 High Voltage, High Power 측정에최적의솔루션!! 주요특장점 다양한프로브선택가능, 20 kv 및 100A 측정테스트가능 각각의프로브방전가능 빠른포지셔닝 3 스텝의 Z 축스위칭 포지션미세조정가능 다양한장비사용가능 ( 키사이트및키슬리제품 ) 표준스펙 본체크기 : 본체무게 : Stage travel: Sub stage travel: 척 (Chuck) 크기 : 웨이퍼홀더 (Wafer hold): D: 600mm W: 600mm H: 450mm 40 kg X: 200mm, Y: 2 00mm X: 25mm, Y: 25mm 4~8 인치 Vacuum absorbing (400mm Hg 이상 ) 5kV, 100A 측정가능. 다양한현미경선택가능. 고전력프로브 Probe Solution 키슬리 2600 시리즈용고전압프로브 키슬리 2600 시리즈용고전류프로브 Needle Tip Diameter Current(DC) 25 um 8A Apollowave * 키슬리 2600 시리즈는시스템소스미터 SMU 계측기입니다. (p42 참조 ) 50 um 9A 100 um 12A 150 um 13A

27 27 고전압및고온의 Low Leak 측정 프로브의리크데이터 (Leak Data) 핫척 (Hot Chuck) 의리크데이터 (Leak Data) 고전력용핫척 (Hot Chuck) 및온도척 (Thermo Chuck) 온도범위, 노이즈수준, 고전력, 크기및측정용도등에따라알맞은척 (Chuck) 를선택할수있습니다. Heated 형히터 (heater) 및칠러 (Chiller) 혼합형펠티에 (Peltier) 형 4 ~ 12 인치웨이퍼 RT~400 c 온도범위 저노이즈, Low Leak, 스펙및일반스펙라인업 4 ~ 12 인치웨이퍼 -55 ~ 330 c 온도범위 저노이즈, Low Leak 라인업 5 인치웨이퍼 -40 ~ 125 c 온도범위 저노이즈, Low Leak 라인업 신속한온도조정 약 20 c 를조절가능 칠러형보다더합리적 Apollowave Probe Solution 6 인치핫척 (Hot Chuck) Leak Data

28 28 프로브스테이션 옵션매니퓰레이터및포지셔너 (Manipulator/Positioner) 다양한옵션으로다양한측정환경에대응할수있습니다. ( 타사프로브에맞게설계변경제작도가능 ) 정확한롱스트록 정확하고크게작동가능 정확하고컴팩트한디자인 저비용고성능 모델 : M60 모델 : M40 모델 : M30 모델 : M20 고정 : 마그네틱또는스크류타입 베이스 ( 온 / 오프레버 ) 스트록 : X,Y,Z ±6.5 mm Theta: 360 deg 선형성 (Linearity): 1 um 트래블 (Travel) 거리 : 0.5 mm/rev 고정 : 마그네틱또는진공베이스 ( 온 / 오프레버 ) 스트록 : X,Y,Z ±6.5 mm 선형성 (Linearity): 1 um 트래블 (Travel) 거리 : 0.5 mm/rev 마이크로미터 : 10 um 고정 : 마그네틱또는진공베이스 ( 온 / 오프레버 ) 스트록 : X,Y,Z ±3.2 mm 선형성 (Linearity): 1 um 트래블 (Travel) 거리 : 0.5 mm/rev 마이크로미터 : 10 um 고정 : 마그네틱고무베이스 스트록 : X,Y,Z ±5 mm 선형성 (Linearity): 30 um 트래블 (Travel) 거리 : 0.5 mm/rev 마이크로미터제외 동축프로브캘빈동축프로브 3 축 (Triaxial) 프로브암 Probe Solution Apollowave 커넥터 : SMA 팁재료 : W (ReW, BeCu 옵션 ) 팁구경 : 5 to 40 um 포지셔너 광학계 프로브 척 프로브카드어뎁터 α1100 α150 α200 α300 α200/300cs M20 M30 M40 M60 (RF 프로브 ) 최대 4 개 ( 동서남북배치 ) 실체현미경 금속현미경 레이저시스템 줌 CCD 트라이축프로브 트라이축캘빈프로브 동축프로브 L 자형암 동축캘빈프로브 고전압 / 고전류프로브 상온척 핫척 (Hot Chuck) 써모척 (Thermo Chuck, 칠러 ) 써모척 (Thermo Chuck, 펠티에 ) 4.5 인치용 8 인치일괄컨텍트용 12 인치일괄컨텍트용 커넥터 : SSMC 팁구경 : 1 to 40 um 매뉴얼 (Manual) 프로브주변기기대응표 커넥터 : TXA (P) 와이어길이 : ~3m 팁구경 : 1, 2, 5, 10, 30 um ( 텅스텐직선바늘 ) M20/M30/M40 에서조절가능 YGA 레이저

29 III. 테스트솔루션 TEST SOLUTION ( 주 ) 누비콤은각종전자 / 통신그리고반도체부품등의연구개발에서부터제조생산에이르기까지필요한계측및시험분석, 그리고측정자동화시스템등을지원하는종합솔루션전문회사입니다. II. 테스트솔루션부문에서는반도체소자시험장비, TDR/PCB 테스트솔루션장비및 RF 테스트솔루션장비를소개합니다. 누비콤은텍트로닉스, 키슬리, 에어로플렉스와공식채널파트너계약을맺고있으며, 키사이트의제품도공급합니다. 특히, 예산절감이절실한시기에비용만족시켜드리는리퍼버시장비도함께소개하였습니다. 반도체소자시험장비 Keysight 제품 3458A 8.5 디지트디지털멀티미터 4155C/56C 반도체파라미터분석기 B1500A 반도체디바이스분석기 Tektronix 및 Keithley 제품 370A 반도체특성곡선시험분석기 (Curve Trace) 4200-SCS 파라미터분석기 2600B 시스템소스미터 SMU 계측기 디지트그래픽샘플링멀티미터 TDR/PCB 테스트솔루션 Tektronix 제품 DSA8300 디지털샘플링오실로스코프 Keysight 제품 86100D 인피니엄 DCA-X 광대역폭오실로스코프 RF 테스트솔루션 Keysight 제품 E5071C ENA 네트워크분석기 N9020A MXA 신호분석기 N5182A MXG RF 벡터신호발생기 Aeroflex 제품 PXI3000 RF 모듈형측정시스템

30 A 8.5 디지트디지털멀티미터 분해능 : 8.5 디지트 측정속도 : /sec. (4.5 디지트에서 ) 기본 DCV 정확도 : % 측정 : DCV, ACV, DCI, ACI, 2 및 4 와이어저항, 주파수, 2 채널스캐닝, 온도 연결성 : GPIB, RS-232, Intuilink 소프트웨어 모델 3458A는키사이트테크놀로지스에서생산되는가장빠르고정확한디지털멀티미터입니다. 최대테스트처리량은초당 100,000번의판독속도 (4.5 디지트에서 ) 나되며, 최대 8.5 디지트의분해능으로일천만분의 1의정확도를자랑합니다. 또한쉽고편하게사용할수있도록디자인되었으며, 제품테스트현장뿐만아니라 R&D 및교정실험실등에서어떠한까다로운응용분야에도고성능의속도와정확도를잘발휘해줍니다. 성능요약 DC volts 5 ranges: 0.1 V to 1000 V 8.5 to 4.5 디지트분해능 100,000 회판독속도 / 초 (4.5 디지트 ) 최대 Sensitivity: 10 nv 0.6 ppm 24 시간정확도 8 ppm (4 ppm 옵션 )/ 년 voltage reference stability 5 ranges: 100 μa to 1 A 10 Hz ~ 100 khz 대역폭 50 판독속도 / 초 500 ppm 24 시간정확도주파수및주기 전압및전류범위 주파수 : 1 Hz ~ 10 MHz 주기 : 100 ns ~ 1 sec 0.01% 정확도 AC 또는 DC coupled AC current Test Solution Ohms 9 ranges: 10 Ω to 1 GΩ 2 및 4 와이어오옴 (with offset compensation) 50,000 판독속도 / 초 (5.5 디지트 ) 최대 Sensitivity: 10 μω 2.2 ppm 24 시간정확도 AC volts 6 ranges: 10 mv ~ 1000 V 1 Hz ~ 10 MHz 대역폭 50 readings/ 초 (all readings to specified accuracy) Choice of Sampling 또는 Analog true rms techniques 100 ppm best accuracy DC current 8 ranges: 100 na ~ 1 A 1,350 판독속도 / 초 (5.5 디지트 ) 최대 Sensitivity: 1 pa 14 ppm 24 시간정확도 최대속도 100,000 readings/ 초 (4.5 디지트에서 ) (16 비트 ) 50,000 readings/ 초 (5.5 디지트에서 ) 6,000 readings/ 초 (6.5 디지트에서 ) 60 readings/ 초 (7.5 디지트에서 ) 6 readings/ 초 (8.5 디지트에서 ) 측정셋업속도 100,000 readings/ 초 (GPIB 또는내장메모리 ) 110 오토레인지 / 초 340 기능또는 Range Changes/ 초 Post-processed math from internal memory 반도체소자시험장비 응용및사용분야 고효율테스트시스템처리량정밀교정실고분해능디지타이징 더빠른테스팅 100,000 판독속도 / 초 내장테스트셋업기능 > 340/ 초 프로그램가능통합시간 : 500ns ~ 1sec 더효율적인테스트양산 More accuracy for tighter test margins 8.5 디지트해상도 2 소스 (10 V,10 kω) 교정, AC 포함 자체조정, 자체검증및자동교정 ( 전기능및범위, AC 포함 ) 최상의전송측정 8.5 디지트해상도 0.1 ppm DC volts linearity 0.1 ppm DC volts transfer capability 0.01 ppm rms internal noise 극도의정밀성 0.6 ppm (24 시간, DC volts) 2.2 ppm (24 시간, ohms) 100 ppm mid-band AC volts 8 ppm (4 ppm 옵션 )/ 년 voltage reference stability 더뛰어난파형분해능및정확도 16 ~ 24 비트해상도 100,000 ~ 0.2 샘플링 / 초 12 MHz 대역폭 Timing resolution to 10 ns 100 ps 이하타임지터 75,000 reading internal memory

31 C / 4156C 반도체파라미터및디바이스분석기 리퍼버시제품 SMU Measurement Range SMU Measurement Resolution SMU Measurement Accuracy VMU VMU (differential) Dual High Voltage Pulse Generator 4155C 4156C Voltage 2 µv/200 V 2 µv/200 V Current 10 fa/1 A 1 fa/1 A Voltage 2 µv 2 µv Current 10 fa 1 fa Voltage 700 µv 200 µv Current 3 pa 20 fa SMU pulse width 500 µs/100 ms 500 µs/100 ms Resolution 2 µv 2 µv Accuracy 200 µv 200 µv Resolution 0.2 µv 0.2 µv Accuracy 10 µv 10 µv Voltage range ±40V ±40V Voltage range ±200 ma ±200 ma Min. pulse width 1 µs 1 µs Min. pulse period 2 µs 2 µs 주요특징및사양 키사이트 4155C 키사이트 4156C General: Cost-effective, Accurate Laboratory Bench-top Parameter Analyzer 4 x Medium-power SMU, 2 x VSU and 2 x VMU Fill-in-the Blanks Front Panel Operation Includes Desktop EasyEXPERT S/W for PC-based GUI Instrument Control Measurement Capabilities: 10 Femto-amp and 0.2 μv Measurement Resolution QSCV, Stress Mode, Knob-sweep, and Stand-by Functions ±200 Volts and ±1 Amp High-Power SMU, Pulse Generator Capabilities available by optional 41501B Desktop EasyEXPERT S/W Capabilities: Drivers for all Popular Semiauto Wafer Probers Intuitive GUI-based Switching Matrix Control for the B2200A, B2201A, and E5250A Test Sequencer for Auto Testing Across an Entire Wafer Post-test Graphical Analysis and Wafer Mapping Capability General: Highly Accurate Laboratory Bench-top Parameter Analyzer for Advanced Device Characterization 4 x High-resolution SMU, 2 x VSU and 2 x VMU Fill-in-the Blanks Front Panel Operation Includes I/CV 3.0 Lite S/W for PC-based GUI Instrument Control Measurement Capabilities: 1 Femto-amp and 0.2 μv Measurement Resolution Full Kelvin; Force, Sense and Guard Connection for each SMU QSCV, Stress Mode, Knob-sweep, Stand-by Function ±200 Volts and ±1 Amp High-Power SMU, Pulse Generator capabilities available by opt B I/CV 3.0 Lite Software Capabilities: Drivers for all of Popular Semiauto Wafer Probers Intuitive GUI-based Switching Matrix Control for the B2200A, B2201A, and E5250A Test Sequencer for Automating Testing across Entire Wafer Post-test Graphical Analysis and Wafer Mapping Capability Test Solution B2200A: fa Leakage Switch Mainframe B2201A: 14 ch Low Leakage Switch Mainframe E5250A: Low-leakage Switch Mainframe 반도체소자시험장비

32 32 32 B1500A 반도체디바이스분석기 CV 및 IV 파라미터특성분석솔루션윈도우기반, 터치스크린 PC 기반 - 윈도우 XP 프로페셔널 OS 및 EasyEXPERT 소프트웨어 전류 - 전압 (IV), 캐패시턴스 - 전압 (CV), 펄스발생, 빠른 IV 및시간도메인측정을 위한원 - 박스형 SMU( 소스모니터유닛 ) 및모듈형 (10 개슬롯 ) 데스크탑 EasyEXPERT 소프트웨어로오프라인데이터분석및어플리케이션 테스트개발 측정성능 0.1 fa 및 0.5 µv 까지전류 - 전압 (IV) 측정 준정적및중간주파수캐패시턴스 - 전압 (CV) 측정 펄스 IV, NBTI 및 RTS 노이즈측정과등, 여러테스트에서신속정확한 IV 및시간도메인측정 고전력및메모리디바이스테스트에적합하도록최대 ±40 V 의고전압펄스발생 특장점 Test Solution IV 측정성능탁월 : 0.1 fz/0.5 µv 측정분해능 측정기능으로는단일및멀티채널스위프, 시간샘플링, 리스트스위프, 준정적 CV(SMU 사용 ), 직접제어및 HV-SPGU 를위한 ALWG GUI 통합캐패시턴스모듈을통해최대 5 MHz 의 CV 측정 ( 옵션 ) 0.5 µv 전압측정분해능과 10 fa, 1 fa 또는 0.1 fa 전류측정분해능으로포지셔너기반의 CV-IV 스위칭솔루션 ( 옵션 ) 내장된반자동웨이퍼프로버와테스트순차를이용하여테스트를자동화 10 ns 프로그램가능펄스폭과 ±40 V(80 V 피크투피크 ) 출력으로고전압반도체펄스발생기장치이용 ( 옵션 : HV-SPGU) ALWG 및빠른전류또는전압측정기능으로 WGFMU 이용 ( 옵션 ) 고유전율게이트유전체및 SOI 트랜지스터의특성분석을위해 10 ns 펄스 IV 솔루션이용 윈도우 GUI 기능사용자인터페이스강화및기존의표준테스트모드이용 * WGFMU : Waveform Generator Fast Measurement Unit * ALWG : Arbitrary Linear Waveform Generation * SOI : Silicon-On-Insulator 모듈선택가이드 반도체소자시험장비 B1510A HPSMU B1511A MPSMU B1517A HRSMU E5288A ASU 필요한슬롯수 ㅡ 1 최대전압 ±200 V ±100 V ±100 V ±100 V ㅡ 최대전류 ±1 A ±100 ma ±100 ma ±100 ma ㅡ 전압측정분해능 2 μv 0.5 μv 0.5 μv 0.5 μv ㅡ 전류측정분해능 10 fa 10 fa 1 fa 0.1 fa ㅡ B1520A MFCMU 최소 / 최대정전용량측정주파수ㅡㅡㅡㅡ 1 khz ~ 5 MHz 최대정전용량 dc Bias Capability ㅡㅡㅡㅡ ±100 V* * used with SCUU and SMU B1525A (HV-SPGU) 슬롯수 1 최대전압레벨 ±40 V (80Vp-p) 최소전이시간 20 ns 최소펄스폭 12/5 ns 기타 3 레벨펄스, ALWG B1530A (WGFMU) 슬롯수 1 최소펄스폭 50 ns 피크대피크출력 10 V 전류 / 전압측정샘플속도 5ns

33 33 33 키사이트 B1500A 와키사이트 4155C/56C 의측정성능비교표 Keysight B1500A 1-10 SMUs 4-6 SMUs *1 Keysight 4155C/56C 1-4 HPSMUs 1 HPSMU *2 Module Coniguration 1 GDNU (4.2 A) 1 GDNU (1.6A) *2 No VSVMUs *3 2 VSUs and 2 VMUs 1 MFCMU Not available Measurement Resolution Current Voltage 1-5 (1-10 channels) HV-SPGUs *4 2 PGUs2 1-5 (1-10 channels) WGFMUs *4 Not available 1 fa (HRSMU) 1 fa (4156C) 0.1 fa (HRSMU + ASU) 2 μv (SMU) 0.5 μv (MPSMU & HRSMU) 0.2 μv (VMU) Measurment Aaccurcay (Offset) Current 15 fa (10 pa range HRSMU) 20 fa (10 pa range) Voltage 120 μv (0.5 V range MPSMU & HRSMU) 200 μv (2 V range SMU) 10 μv (0.2 V range VMU Standby Mode Available Available Current Offset Cancel Available Multi channel measurment Available Single channel measurement Specialized Measurment Functions High Speed Sampling 100 μsec. minimum interval 60 μsec. minimum interval 20,000 counts of full scale resolution (SMU) 1,000 counts of full scale resolution (SMU) Multi channel measurement, 5 ns minimun interval (WGFMU) Pulsed Sweep Multi channel measurement (SMU or WGFMU) Single channel measurement QSCV Available Available IV knob Sweep Available Available Pulse Generator Frequency Range 1 Hz - 33 MHz (HV-SPGU) 0.1 Hz khz (PGU) Switching between IV and Measurements * WGFMU : Waveform Generator Fast Measurement Unit * ALWG : Arbitrary Linear Waveform Generation * SOI : Silicon-On-Insulator SCUU, ASU or B2200A/B2201A/E5250A E5250A Test Solution 반도체소자시험장비

34 A/371A 고분해능커버트레이서 (Curve Trace) 리퍼버시제품 커서와하드카피로완전한프로그램가능 고 - 분해능 DC 파라미터측정 (370A) 고전압및전류소싱 (371A) 매트릭스소프트웨어및랩뷰 (LabView) CE 인증 텍트로닉스의 370A 고분해능커버트레이서는트랜지스터, 사이리스터 (thyristors), 다이오드, SCRs, MOSFETs, 광전자부품, 태양광전지, 반도체이용디스플레이그리고기타반도체디바이스의 DC 파라미터특성분석을하기위한장비입니다. 370A는 1 pa, 50V 측정분해능그리고 20A/2000V의소싱성능으로수많은분야의연구 / 실험실및제조 / 생산시설에서워크호스 (workhorse) 역할을하는장비입니다. 이장비는처음의테스트에서다음의테스트로쉽게변환할수있게해주는푸시버튼소스 (push button source) 및측정구조를갖춘뛰어난장비입니다. 주요특징 응용분야 Test Solution Automatic Test Sequence GPIB Programmable Storage Non-Volatile Storage via GPIN Interface Waveform Comparison Dot Cursor Windowing Auxiliary Supply On Screen Readout Envelope Display Digital Storage Display and Non-Storage Mode Waveform Averaging Manual or Automated High Resolution DC Parametric Characterization of Semiconductors Incoming Inspection Manufacturing Test Process Monitoring and Quality Control Data Sheet Generation Component Matching Failure Analysis Engineering 커버트레이서 (Curve Trace) 선택가이드 370A 371A High Power Medium Power Medium Power Low Cost 3000 Watts 220 Watts 100 Watts 100 Watts 3000 V or 400 A 2000 V or 10 A 1600 V or 20 A 100 V or 2 A 반도체소자시험장비 GPIB Programmable GPIB Programmable Front Pannel Control Front Pannel Control Front Pannel Control Front Pannel Control Third Bias Supply Third Bias Supply Store 16 Setup & 16 Display in Memory Display Storage Option Memory Storage of 12 Setups and 1 Display Storage Option

35 SCS 시스템 반도체파라미터분석기 사용하기쉬운모델 4200-SCS는연구소수준의 DC 그리고펄스디바이스분석, 실시간플로팅및고정밀, 펨토암페어이하의분해능을가지고있습니다. 윈도우가내장된 PC 와대용량저장장치를포함한통합특성분석시스템안에최첨단기능들이구비되어있습니다. 자체문서기능, 클릭만으로수행되는빠른인터페이스와데이터취득절차의단순화로인하여사용자는측정결과분석을신속하게할수있습니다. 모델별기본성능 Model Total # of SMUs Current range & Resolution Voltage range & resolution C - V Module Ultra-Fast I-V 4200-SCS Up to 9 high or medium power 1 A / 0.1 fa ± 210 V / 1 μv Optional Optional 4200-SCS-PK1 2 medium power 100 ma / 0.1 fa 210 V / 1μV No No 4200-SCS-PK2 2 medium power 100 ma / 0.1 fa 210 V / 1μV Yes No 4200-SCS-PK3 2 medium power 2 high power 1 A / 0.1 fa ± 210 V / 1 μv Yes No 주요특징 Instrument Modules Modular architecture - configurable and scalable to test needs 0.1fA and 1μV SMU/PA measure resolution Multi-frequency, Quasistatic and VLF C-V measurement capabilities Two-channel, Ultra-Fast Pulse I-V module for transient & self-heating analysis Includes software drivers for leading analytical probers 4210-CVU 4225-PMU 4225-RPM 4220-PGU 4200-SMU 4210-SMU 4200-PA 4210-MMPC/X C-V Instrument Ultra-Fast I-V Module Remote Amplifer/Switch High Voltage Pulse Generator Medium Power Source Measure Unit High Power Source Measure Unit Remote PreAmp Option for 4200-SMU and 4210-SMU Multi-measurement Performance Cables Test Solution 파라메트릭커버트레이서구성 키슬리의파라메트릭커브트레이서구성은고품질의장비, 케이블, 테스트픽스처및파워디바이스특성분석을위해다양한소프트웨어로구성된완벽한솔루션입니다. 키슬리의이빌딩블록방식은장비의업그레이드를쉽게해주고, 변화하는테스트요구에맞춰장비구성을쉽게바꿀수있는이점을제공합니다. Model Type Collector/Drain Supply High Voltage Mode Collector/Drain Supply High Current Mode Step Generator Base/ Gate Supply 2600-PCT-1 Low Power 200 V/10 A 200 V/10 A 200 V/10 A 2600-PCT-2 High Current 200 V/10 A 40 V/50 A 200 V/10 A 4200-PCT-2 High Current 200 V/1 A 40 V/50 A 200 V/1 A 2600-PCT-3 High Voltage 3 kv/120 ma 200 V/10 A 200 V/10 A 반도체소자시험장비 4200-PCT-3 High Voltage 3 kv/120 ma 200 V/1 A 200 V/1 A 2600-PCT-4 High Current / High Voltage 3 kv/120 ma 40 V/50 A 200 V/10 A 4200-PCT-4 High Current / High Voltage 3 kv/120 ma 40 V/50 A 200 V/1 A

36 B 시스템소스미터 SMU 계측기 2600B 소스미터계측기는업계에서가장강력하며, 가장빠르고, 최고의고해상도를자랑하는 SMU 계측기입니다. 하나의컴팩트한패키지안에파워서플라이, 디지털멀티미터, 임의파형발생기, 전압또는전류펄스발생기, 전자부하, 트리커컨트롤러가결합되어있습니다. 업계에서가장넓은다이내믹범위를가진게측기입니다. 10A pulse 에서 0.1fA 그리고 200V 에서 100nV.0 모델별기본성능 Model Current Max / Min Voltage Max / Min Max readings / sec No. of Channels 2601B 3A DC, 10A pulse/100 fa 40V/100nV 20, B 3A DC, 10A pulse/100 fa 40V/100nV 20, B 3A DC, 10A pulse/100 fa 40V/100nV 20, B 1.5A DC, 10A pulse/103 fa 200V/100nV 20, B 1.5A DC, 10A pulse/103 fa 200V/100nV 20, B 1.5A DC, 10A pulse/103 fa 200V/100nV 20, B 1.5A DC, 10A pulse/1fa 200V/100nV 20, B 1.5A DC, 10A pulse/0.1 fa 200V/100nV 20, B 1.5A DC, 10A pulse/0.1 fa 200V/100nV 20,000 2 Test Solution 주요특징 4-quadrant design simultaneously measures voltage, current, and resistance TSP (embedded Test Script Processor) architecture enables industry-best system-level speed Arbitrary waveform generation with 1% to 100% duty cycle Built-in software for quick and easy I-V test through web browser GPIB, LAN (LXI), USB and RS-232 기본액세서리 반도체소자시험장비 Operators and Programming Manuals 2600-ALG-2: Low Noise Triax Cable with Alligator 2600-Kit:Clips, 2m (6.6 ft.) (two supplied with 2634B and 2636B, one with 2635B) Mating Screw Terminal Connectors (with strain relief and covers (2601B/2602B/2604B/2611B/2612B/2614B) CA-180-3A: TSP-Link/Ethernet Cable (two per unit) TSP Express Software Tool (embedded) Test Script Builder Software (downloadable) LabVIEW Driver (downloadable) ACS Basic Edition Software (optional) 추천액세서리 2600-BAN Std-Res Banana Test Leads Adapter Probe Kit for 2600-BAN Calibration Standard 1G ohm Resistor

37 디지트그래픽샘플링멀티미터 DMM7510은정밀디지털멀티미터, 그래픽터치스크린디스플레이, 고속고분해능디지타이저의모든장점을결합한업계최초의그래픽샘플링멀티미터입니다. 디지타이저는모델 DMM7510에전례없는신호분석유연성을제공하며, 5인치고해상도터치스크린디스플레이는간편한 선택및확대 / 축소 로손쉽게측정치를관찰하고상호작용하고탐색할수있게해줍니다. 고성능과높은사용편의성의조합은테스트결과에대한최상의조건을제공합니다. 모델별기본성능 Model 설명분해능 DC Volt AC Volt DC Current AC Current 인터페이스 DMM7510 7½ 10 nv ~ 1010 V 100 nv ~ 707 VRMS 1 pa ~ 10.1 A 1 na ~ 10.1 A DMM7510-NFP 프론트판넬없음 7½ 10 nv ~ 1010 V 100 nv ~ 707 VRMS 1 pa ~ 10.1 A 1 na ~ 10.1 A DMM7510- RACK DMM7510-NFP- RACK 랙마운트 7½ 10 nv ~ 1010 V 100 nv ~ 707 VRMS 1 pa ~ 10.1 A 1 na ~ 10.1 A 랙 + 프론트판넬없음 7½ 10 nv ~ 1010 V 100 nv ~ 707 VRMS 1 pa ~ 10.1 A 1 na ~ 10.1 A GPIB, USB, LAN/ LXI GPIB, USB, LAN/ LXI GPIB, USB, LAN/ LXI GPIB, USB, LAN/ LXI 주요특징 3½ ~ 7½-Digit 분해능의정밀멀티미터 14 PPM 기본 1 년 DCV 정밀도 100 mv, 1 Ω 및 10 μa 범위로저준위신호측정에필요한감도제공 정확한저저항측정을위한오프셋보상기능, Kelvin Sensing ( 4-Wire ) 기능, 건식회로기능지원 1 MS/sec Digitizer 기능으로파형또는이상현상캡처및표시 표준모드에서 1,100,000 개, 또는컴팩트모드에서 2,750,000 개의측정데이터를저장할수있는대용량내부메모리버퍼 자동교정기능으로온도및시간드리프트를최소화함으로써정밀도및안정성개선 5 인치고해상도터치스크린인터페이스로더많은정보표시 전면부 USB 메모리포트를통해신속하게측정데이터및화면이미지저장가능 다양한인터페이스 : GPIB, USB 및 LAN ( LXI-compiant ) 2 년사양으로더길어진교정주기 Test Solution 주요어플리케이션 디바이스특성화, 디버깅및분석 양산테스트 / ATE 연구실및대학응용분야 내장된그래픽유틸리티 반도체소자시험장비 고속디지타이징기능 첨단트리거링옵션

38 38 38 DSA8300 시리즈 디지털샘플링오실로스코프 까다로운고속의신호특성테스트시최상의신호충실도제공 고도로정확한장치특성화를위한업계선도적인 100 fs 미만의고유지터를포함하고있는 DSA8300 디지털샘플링오실로스코프는광통신표준, 시간도메인반사계및 S 매개변수에대한포괄적인지원을합니다. DSA8300 디지털샘플링오실로스코프는 155 Mb/sec에서 100 G 범위의데이터통신을위한완전한고속물리 (PHY) 계층테스트플랫폼입니다. DSA8300 기본스펙 아날로그대역폭샘플속도레코드길이아날로그채널기본가격 ( 원 ) DC - 80 GHz 최대 300kS/s 50 포인트 ~16,000 포인트 (IConnect 에서 1M 포인트, 80SJNB 의경우 10M 포인트 ) 사용된샘플링모듈에따라결정 ( 최대 8 개채널 ) 44,500,000 Test Solution DSA8300 특장점주요특징전기모듈신호측정정확도 : 초저시스템지터 (<100fs, 편의사양 ) > 70GHz 주요장점 100fs 미만의고유지터를통해테스트장비에서사용중인, 5% 미만의신호단위간격을가진일반적으로높은비트속도 (40 및 100(4 25)Gb/s) 장치를특성화할수있음. 70GHz 대역폭을통해높은비트속도의신호를완전히특성화할수있음 모든대역폭에서업계최저시스템노이즈발생 : 최대 600µV (450µV, 편의사양 최대 380µV (280µV, 편의사양 높은비트속도, 낮은진폭신호획득시장비노이즈를최소화하여, 추가지터및아이닫힘으로보일수있는추가노이즈제거 단일메인프레임의 100fs 미만지터에서최대 6 개의채널동시에획득 여러디퍼런셜채널에대해높은충실도의획득이가능하여, 교차채널손상을테스트할수있으며, 여러고속시리얼채널을포함한시스템의테스트처리량향상 TDR/PCB 테스트솔루션 광모듈에서 155Mb/s - 100Gb/s(4x25) 이더넷의모든표준속도에대해옵틱컴플라이언스테스트지원 최대 300kS/s 까지의샘플링속도로뛰어난획득처리량 DUT( 테스트대상장치 ) 에인접하여샘플러배치 독립적인교정된채널지연시간보정지원 850, 1310 및 1550nm 의경우 155Mb/s (OC3/STM1) 에서시작하여 40 Gb/s (SONET/SDH 및 40 GBase 이더넷 ) 와 100 Gb/s 이더넷 (100GBase-SR4, -LR4 및 ER4) 에이르기까지단일및다중모드광학표준에대해비용효율적이고기능이다양한광학테스트시스템을제공 뛰어난시스템처리량으로제조또는장치특성화관련테스트시간이 4 배단축 원격샘플링헤드가 DUT 에서장비까지의케이블연결및고정으로인한신호저하를최소화하고테스트시스템제외를간소화 듀얼채널모듈에서채널지연시간보정이통합, 교정되어스큐를제거함으로써여러채널측정시신호충실도가개선

39 39 39 광샘플링모듈 Module Application Channel Bandwidth Effective Wavelength Range Calibrated Wavelength 80C07B Tributary single-, multi-mode Datacom/Telecom GHz 광대역폭 700 nm to 1650 nm 780nm, 850nm, 1310nm, 1550nm (±20nm) 80C08D 10Gb/s single-, multi-mode Datacom/Telecom 1 12 GHz 광대역폭 700 nm to 1650 nm 780nm, 850nm, 1310nm, 1550nm (±20 nm) 80C10C 100Gb/s, 40Gb/s, 25Gb/s single-mode Telecom and Datacom 1 80 GHz 광대역폭 1310 nm and 1550 nm 1310 nm, 1550 nm (±20 nm) 80C11B 10 Gb/s single-mode Datacom/Telecom 1 28 GHz 광대역폭 1100 nm to 1650 nm 1310 nm, 1550 nm (±20 nm) 80C12B 10 Gb/s single-mode Datacom/Telecom 1 12 GHz 광대역폭 700 nm to 1650 nm 850 nm, 1310 nm, 1550 nm (±20 nm) 80C14 8.5~14 Gb/s single-, multi-mode Datacom/Telecom 1 14 GHz 광대역폭 700 nm to 1650 nm 850 nm, 1310 nm, 1550 nm (±20 nm) 80C15 8.5~14Gb/s single-, multi-mode Datacom/Telecom 1 32 GHz 광대역폭 700 nm to 1650 nm 850 nm, 1310 nm, 1550 nm (±20 nm) 전기샘플링모듈 Module Application Channel Bandwidth Input impedance Input connector 80E03 Device characterization 2 20 GHz 50 ±1.0 Ω 3.5 mm female 80E04 TDR impedance and crosstalk characterization 2 20 GHz 50 ±1.0 Ω 3.5 mm female 80E07B Optimal noise/performance trade-off for jitter characterization 2 30 GHz 50 ±1.0 Ω 2.92 mm female 80E08B True differential TDR, S-parameters 2 30 GHz 50 ±1.0 Ω 2.92 mm female 80E09B High-frequency, low-noise signal Acq. & Jitter characterization 2 60 GHz 50 ±1.0 Ω 1.85 mm female 80E10B True differential TDR, S-parameters, & fault isolation 2 50 GHz 50 ±1.0 Ω 1.85 mm female 80E11 High-frequency, low-noise, signal 2 70 GHz 50 ±1.0 Ω 1.85 mm female 80E11x1 acquisition & jitter haracterization 1 70 GHz 50 ±1.0 Ω 1.85 mm female 전기클럭복구모듈 Module Application Type Descriptions 80A02 - Serial Data Link, Device haracterization 25 GHz, 싱글채널, 텍트로닉스전기샘플링모듈의전기정적분리를위한 EOS/ESD 보호모듈 80A03 - Compliance Testing of Electrical Signaling - High-speed Optical Comm. Testing TEKCONNECT 프로브인터페이스모듈 80A05 - Jitter, Noise, BER, Signal Impairment Analysis Bit Rates: 50 Mb/s and 12.6 Gb/s Test Solution 위상기준모듈 Module Application Freq. Range Input impedance Jitter 82A04B Design, Verification, and Mfg. of PC, Telecom, and Datacom Operating at 10 Gb/s 2 GHz - 60 GHz 50 Ω ±0.5 Ω AC Extremely low jitter <100 fsrms TDR/PCB 테스트솔루션

40 D 인피니엄 DCA-X 광대역오실로스코프 키사이트의 86100D DCA-X 광대역오실로스코프는 50 Mb/s ~ 80 Gb/s 대에서고속디지털설계를정확하고정밀하게측정할수있는모듈형장비입니다. 사용자는고정밀도의 TDR, TDT, S-파라미터및전기, 광학측정을할수있으며, 다양하게구비된모듈을사용하여메인프레임을구성합니다. 각자필요한측정에맞는대역폭, 필터링, 감도등을위하여구비된모듈을선택하면됩니다. 주요특징 뛰어난신호무결성측정 고밀도 ASIC/FPGA 테스트및병렬설계를위해최대 16 채널 무작위 / 정기적지터및노이즈발생기포함파형시뮬레이터 최대 64 개측정결과동시표시 디임베딩및임베딩기능통합 필터링, FFT, 차동및통합기능등고급신호처리 DDPWS, UJ, J2, J9 등, 새로운측정기능 W 모든채널과기능에할당가능한수직게인및오프셋컨트롤 * DDPWS: Data Dependent Pulse Width Shrinkage * UJ: uncorrelated jitter 4 가지모드통합 오실로스코프모드 지터모드 아이 / 마스크모드 TDR/TDT 모드 응용분야 송수신기설계및제조생산 ASIC / FPGA / IC 설계및특성분석 TDR/TDT/S- 파라미터 : 시리얼버스설계 케이블및 PCB 신호무결성측정 Test Solution 메인프레임기본스펙 수평시스템 (time base) Scale factor 지연 시간간격정확도 최소최대최소최대 2 ps/div (with 86107A or 86100D-PTB: 500 fs/div, 500fs/div) 1 s/div 24 ns 1000 screen diameters or 10 s 1 ps + 1.0% of Δ time reading or 8 ps 지터모드작동 Time interval accuracy - jitter mode operation 1 ps 시간간격해상도 (screen diameter)/(record length) or 62.5 fs 디스플레이유닛 Bits or time (TDR mode-meters) 채널수 16 ( 전채널동시획득 ) TDR/PCB 테스트솔루션 수직시스템 ( 채널 ) 트리거모드 조정 Scale, offset, activate filter, sampler bandwidth, attenuation factor, transducer conversion factors Legacy UI: 16 to 16K samples 레코드길이 FlexDCA without pattern lock: 16 ~ 64K 샘플 FlexDCA with pattern lock: 16 ~ 34M 샘플 옵션 STR ( 표준트리거 ) 옵션 ETR ( 상향트리거 ) Limited 대역폭 DC to 100 MHz DC to 100 MHz 풀대역폭 DC to 3.2 GHz DC to 3.2 GHz 외부트리거 N/A 3 GHz to 13 GHz (15 GHz, 32 GHz with option PTB) PatternLock N/A 50 MHz to 13 GHz (50 MHz ~ 15 GHz) 민감도 200 mvpp ( 사인파입력 or 200 ps 최소펄스폭 ) 200 mvpp 사인파입력 : 50 MHz ~ 13 GHz 임피던스 50 Ω, <10% for 100 ps rise time 최대트리거신호 2 V peak-to-peak 지터 Characteristic < 1.0 ps RMS + 5*10E-5 of delay setting 1.2 ps ~ 1.7 ps RMS Maximum 1.5 ps RMS + 5*10E-5 of delay setting 1.2 ps (50 MHz to 32 GHz) in PTB mode8

41 41 41 모듈선택가이드 모듈 옵션 광학채널수 전기채절수 TDR/TDT/S 파라미터 프로브파워 파형길이범위 (nm) 비여과광학대역폭 대역폭 (GHz) 파이버입력 (μm) 마스크테스트민감도 (dbm) / / 필터된데이터속도 (Mb/s) C D D D D C C A A B 86112A LBW HBW HBW A A N1045A 02F/02M N1045A 04F/04M N1055A 32F/32M N1055A 34F/34M N1055A 52F/52M N1055A 54F/54M 옵션및액세서리 86100D-090 탈착형하드드라이브 86100D-092 내장하드드라이브 (default option) 86100D-200 지터분석소프트웨어, Fixed Perpetual License 86100D-201 첨단파형분석소프트웨어 86100D-202 임피던스및 S-파라미터소프트웨어, Fixed Perpetual License 86100D-300 강화된진폭분석 /Rin/Q-Factor, Fixed Perpetual License 86100D-401 아이 (Eye) 분석소프트웨어, Fixed Perpetual License 86100D-500 Productivity Package, Fixed Perpetual License 86100D-AFP 모듈슬롯필러 (filler) 판넬 86100D-AX4 랙마운트키트 ( 핸들없음 ) 86100D-AXE 핸들달린랙마운트키트 86100D-ETR 고급트리거, 13 GHz BW, 패턴및모듈트리거 86100D-GPI GPID 카드인터페이스 - Installed 86100D-GPN GPIB 카드인터페이스없음 86100D-PTB 내장정밀타임베이스 86100D-SIM InfiniiSim-DCA 파형변환소프트웨어, Fixed Perpetual License 86100D-STR 표준트리거 3.2 GHz BW (default option) 86100D-UK6 테스트데이터포함 Commercial 교정인증 86100DT-200 강화된지터분석, Transportable License 86100DT-201 고급파형분석, Transportable License 86100DT-202 강화된임피던스및 S-파라미터소프트웨어, Transportable License 86100DT-300 고급 Amplitude Analysis/RIN/Q-Factor, Transportable License 86100DT-401 고급아이 (Eye) 분석, Transportable License 86100DT-500 Productivity Package, Transportable License 86100DT-SIM nfiniisim-dca Waveform Transformation SW, Transportable License N5477A 샘플링스코프어댑터 Test Solution TDR/PCB 테스트솔루션

42 42 42 N9020A MAX 신호분석기 N9020A는각분야의사용목적에맞게다양한옵션을갖추고필요에맞는어플리케이션을유연하게구성할수있도록설계된장비입니다. 또한다양한소프트웨어로비즈니스및기술요구사항을모두충족시킬수있는유연성을갖춘장비입니다. 계속해서복잡해지고있는디지털신호환경에대처할수있도록업그레이드가용이합니다. 주요성능 주파수범위 : - 10 Hz ~ 3.6, 8.4, 13.6, 26.5 GHz 지원 GHz 및 1.1 THz 확장가능 ( 키사이트및타사믹서사용 ) 분석대역폭 : 25 MHz( 기본 ), 40 MHz, 85 MHz, 125 MHz 또는 160 MHz 실시간스펙트럼분석 : 지속시간이 3.57 µs 의신호에대해 100% POI 보장 절대진폭정확도 : ±0.23 db 위상노이즈 (10 khz 오프셋에서 ): -114 dbc/hz, +20 dbm TOI DANL(Displayed Average Noise Level) - 프리앰프사용 : -166 dbm - NFE 옵션사용 : 최대 10dB 개선 측정어플리케이션및소프트웨어 Test Solution 25 가지이상측정어플리케이션 : 셀룰라통신, 무선연결, 디지털비디오및범용등 75 가지이상의고급신호분석 : VSA 소프트웨어로 N9020A 에서실행 MATLAB 데이터분석소프트웨어 : 범용데이터분석, 시각화및측정자동화 PowerSuite 원 - 버튼전력측정 ( 기본제공 ) 자동화및통신인터페이스 LXI 호환, SCPI 및 IVI-COM USB 2.0, 1000Base-T LAN, GPIB PSA, 8566/68 및 856x와의원격언어호환성프로그래밍 공통 X-시리즈사용자인터페이스 / 개방형 Windows 7 운영체제 ( 기본 ) - 기존 MXA를 Windows XP에서 Windows 7로마이그레이션 주요스펙 RF 테스트솔루션 Frequency Range, Min-Max Analysis Bandwidth Overall amplitude accuracy (95%) Dynamic Range, Max Third Order at 1 GHz Displayed Average Noise Level (DANL) Third Order Intercept 1 GHz Standard RF Optional RF Optional 1 4 GHz 10 Hz to 26.5 GHz 25 MHz 40, 85, 125, 160 MHz 25, 40 MHz ± 0.23 db 116 db -166 dbm -166 dbm 20 dbm Phase 1 GHz Standard Attenuator Range/Step Resolution Bandwidth 10 khz offset -114 dbc/hz 1 MHz offset -136 dbc/hz 70 db/2 db 1 Hz to 8 MHz

43 43 43 N9020A 표준구성 N9020A MXA 신호분석기 - Enhanced phase noise performance - English localization - Windows 7 Documentation - Return to Keysight Warranty - 3년 (1 ea.) N9020A-503 주파수범위, 10 Hz ~ 3.6 GHz N9020A-B25 분석대역폭, 25 MHz N9020A-W7X 오퍼레이팅시스템, 윈도우임베디드표준 7 (1 ea.) (1 ea.) (1 ea.) N9020A 주요옵션 Frequency Range N9020A-503 N9020A-508 N9020A-513 N9020A-526 Preamplifier N9020A-P03 N9020A-P08 N9020A-P13 N9020A-P26 Attenuator Standard N9020A-EA3 Analysis Bandwidth Standard Frequency range, 10 Hz to 3.6 GHz Frequency range, 10 Hz to 8.4 GHz Frequency range, 10 Hz to 13.6 GHz Frequency range, 10 Hz to 26.5 GHz Preamplifier, 100 khz to 3.6 GHz Preamplifier, 100 khz to 8.4 GHz Preamplifier, 100 khz to 13.6 GHz Preamplifier, 100 khz to 26.5 GHz Mechanical attenuator, 2 db steps, 0 to 70 db Electronic attenuator up to 3.6 GHz 10 MHz/25 MHz analysis bandwidth N9020A-B40 N9020A-B85 N9020A-B1A N9020A-B1X N9020A-MPB Performance Options Standard 40 MHz analysis bandwidth 85 MHz analysis bandwidth 125 MHz analysis bandwidth 160 MHz analysis bandwidth Microwave preselector bypass Enhanced phase noise Test Solution N9020A-DP2 N9020A-BBA N9020A-EXM N9020A-FP2 N9020A-NFE N9020A-TDS Real-time Spectrum Analysis N9020A-RT1 Digital processor with 2 GB capture memory I/Q baseband inputs, analog External mixing Fast power Noise floor extension Time domain scan Real-time analysis up to 160 MHz BW, basic detection N9020A-RT2 N9020A-RTR Optional Features N9020A-EDP N9020A-EMC N9020A-ESC Rear Panel Output N9020A-CR3 Real-time analysis up to 160 MHz BW, optimum detection Real-time spectrum recorder and analyzer application Enhanced display package Basic EMI precompliance External source control Second IF output RF 테스트솔루션 N9020A-CRP N9020A-YAS Arbitrary IF output Y-axis screen video output

44 44 44 E5071C ENA 고성능 RF 벡터네트워크분석기 다양한테스트세트선택가능 : - 9 khz ~ 4.5 or 6.5 or 8.5 GHz khz ~ 4.5 or 6.5 or 8.5 GHz ( 바이어스티포함 ) khz ~ 14 or 20 GHz ( 바이어스티포함 ) 2 또는 4 포트, 최대 22 멀티포트가능 (E5092A) 낮은트레이스노이즈 : 70 khz IFBW에서 db rms 넓은동적범위 : 130dB ( 기본 ) 높은측정속도 : 전체 2포트교정, 401 포인트에서 9 msec 고온안정성 : 0.005dB/ C E5071C는무선통신, 자동차, 반도체, 의학등, R&D 및제조에서 RF 부품, 멀티포트모듈, 재료 (Material) 및신호무결성등을테스트및측정하고평가하는데사용됩니다. 각분야의사용목적에맞게포트수, 주파수, 바이어스티등을유연하게선택하여장비를구성할수있습니다. 주요옵션 주요스펙 Test Solution E5071C 포트 *, 9 khz ~ 4.5 GHz E5071C 포트 **, 100kHz ~ 4.5GHz E5071C 포트 *, 9 khz ~ 4.5 GHz E5071C 포트 **, 100kHz ~ 4.5GHz E5071C 포트 *, 9 khz ~ 6.5 GHz E5071C 포트 **, 100kHz ~ 6.5GHz E5071C 포트 *, 9 khz ~ 6.5 GHz E5071C 포트 **, 100kHz ~ 6.5GHz E5071C 포트 *, 9 khz ~ 8.5 GHz E5071C 포트 **, 100kHz ~ 8.5GHz E5071C 포트 *, 9 khz ~ 8.5 GHz E5071C 포트 **, 100kHz ~ 8.5 GHz E5071C-2D5 2 포트 **, 300kHz ~ 14GHz E5071C-4D5 4 포트 **, 300 khz ~ 14GHz E5071C-2K5 2 포트 **, 300kHz ~ 20GHz E5071C-4K5 4 포트 **, 300kHz ~ 20GHz ** 바이어스티포함 * 바이어스티제외 E5071C-008 주파수오프셋모드 E5071C-TDR 향상된시간도메인분석 E5071C-010 시간도메인분석 E5071C-790 Measurement Wizard Assistant 소프트웨어 E5071C-1E5 높은안정성타임베이스 E5071C-017 착탈식하드디스크드라이브 E5071C 옵션 테스트주파수전원 E5071C 240/245/ 440/445 9 또는 100 khz ~ 4.5 GHz E5071C 260/265/ 460/465 9 또는 100 khz ~ 6.5 GHz E5071C 280/285/ 480/485 9 또는 100 khz ~ 8.5 GHz E5071C 2D5/4D5 300 khz ~ 14 GHz 공급범위 -55 dbm ~ +10 dbm -85 dbm ~ +10 dbm 동적범위 트레이스노이즈 측정속도 안정성 인터페이스 테스트포트 123 db 초과 dbrms 미만 41 ms db/ C GPIB/LAN/USB 2 또는 4 포트 최대포인트수 20,001 최대채널수 160 교정 웹지원제어 픽스처시뮬레이터 SOLT, TRL, 어댑터제거 / 삽입, 알수없는 thru, ECal, 사용자특성분석 ECal, SMC, VMC 예 예 E5071C 2K5/4K5 300 khz ~ 20 GHz RF 테스트솔루션 E5092A GHz, 최대 22포트구성가능멀티포트테스트세트 내장프로그래밍 향후기능및업그레이드가능 필터튜닝한계선 내장바이어스티 프로브전력 DC 측정 VBA 예예예예예 주파수오프셋모드예 ( 옵션 ) 시간도메인예 ( 옵션 )

45 45 45 N5182A MXG RF 벡터신호발생기 주요특징 Electronic attenuator: 6 GHz Synchronize multiple MXG s for MIMO Tunable reference input: 1 ~ 50 MHz I/Q Modulation Bandwidth: 160 MHz Baseband Generator Bandwidth: 100 MHz Embedded help system Differential and single-ended I/Q outputs Suite of I/Q adjustments: gain, offsets, quadrature skew, I/Q skew, I/Q delay Save and recall instrument settings 100BaseT LAN with LXI class-c compliance, USB 2.0, GPIB interfaces 주요스펙 주요옵션 주파수범위 - 옵션 503: 100 khz to 3 GHz - 옵션 506: 100 khz to 6 GHz 분해능 : 0.01 Hz 출력파워 : +13 ~ -127 dbm 레벨정확도 : ±0.6 ~ 1.7 db SSB 위상잡음 : -121 dbc/hz (at 1 GHz) (20 khz 오프셋에서 ) 하모니 (Harmonics): <-30 dbc Spurious: <-42 to <-61 dbc 스위칭속도 : <1.2 ms 지터 : 47 μui (@622 MHz, 5 MHz BW) 신호소스소프트웨어 3GPP W-CDMA HSPA LTE 3GPP2 CDMA IS-95 and cdma2000 TD-SCDMA EDGE/GSM Custom digital modulation Multitone AWGN WiMAX WLAN a/b/g WLAN DVB-T/H/C/S 125 MSa/s Baseband Generator ATSC ISDB-T DTMB NADC/PDC PHS DECT TETRA Pulse M/AM/FM T-DMB Enhanced multitone Noise power ratio Generate wide bandwidth signals up to 100 MHz 64 MSa of memory for waveform playback 16-bit DACs for excellent dynamic range Hardware resampling technology eliminates need for multiple reconstruction filters Frequency 503 Frequency range from 100 khz to 3 GHz 506 Frequency range from 100 khz to 6 GHz Performance enhancements UNZ Fast switching 1EA High output power 1EQ Low power (< -110 dbm) UNU Pulse modulation UNW Narrow pulse modulation 320 Pulse train generator 006 Instrument security 1ER Flexible reference input (1-50 MHz) 1EM Move RF output to rear panel UK6 Commercial calibration certificate with test data 099 Expanded license key upgradeability 012 LO in/out for phase coherency Vector specific options 651 Internal baseband generator (30 MSa/s, 8 MSa) 652 Internal baseband generator (60 MSa/s, 8 MSa) 654 Internal baseband generator (125 MSa/s, 8 MSa) 019 Increase baseband generator memory to 64 Msa 1EL Differential I/Q outputs 403 Calibrated AWGN UNV Enhanced dynamic range 430 Multitone and two-tone 431 Custom digital modulation 432 Phase noise impairments Waveform license 5-packs 1 to Waveform license 50-packs 1 to 10 Signal Studio software N7600B Signal Studio for 3GPP W-CDMA with HSDPA/HSUPA N7601B Signal Studio for 3GPP2 CDMA N7602B Signal Studio for GSM/EDGE N7606B Signal Studio for Bluetooth N7611B Signal Studio for broadcast radio N7612B Signal Studio for TD-SCDMA N7613B Signal Studio for (WiMAX) N7615B Signal Studio for WiMAX N7616B Signal Studio for T-DMB N7617B Signal Studio for WLAN N7621B Signal Studio for multitone distortion test N7622B Signal Studio toolkit N7623B Signal Studio for digital video N7624B Signal Studio for 3GPP LTE N7625B Signal Studio for 3GPP LTE TDD Test Solution RF 테스트솔루션

46 46 46 PXI3000 RF 모듈형측정시스템 PXI 시스템 에어로플렉스의 PXI 3000 시리즈는 PXI의속도및모듈성을범용무선테스트영역으로확장시켰습니다. 하나의박스솔루션내에서다중-표준테스트가기존의성능을유지하면서도원하는테스트성능을만족시킵니다. PXI의유연성은 3000 시리즈가다양한테스트영역들을지원하게합니다. 이는최신의셀룰러및무선데이터커뮤니케이션및대용량의제조환경에서중요테스트에특히탁월합니다. 각모듈의기능들은신호발생, 제어, 분석으로분류되며, 이들은이후빠르고정확한테스트솔루션및테스트소프트웨어와결합되어경쟁력과비용모두를만족시켜드립니다 시리즈 PXI RF 컴바이너 다용도 3060 시리즈 RF 컴바이너들은테스트설비에서외부로부터의 RF 신호제어에대한필요를제거하여테스트시스템디자인및보정을단순화합니다. 이모듈들은 3020 시리즈디지털 RF 신호발생기와 3030 시리즈 RF 디지타이저들과연결되어 RF 테스트시스템에서사용됩니다. 이러한모듈과함께컴팩트한고성능저비용 RF 테스트시스템들이개발가능합니다. Test Solution RF 테스트솔루션 A 3066 Version RF 컴바이너 RF 컴바이너 with switched outputs RF 컴바이너 RF Low Loss 컴바이너 Multi-Way 액티브 RF 컴바이너 Freq. Range 250 MHz ~ 6 GHz 250 MHz ~ 6 GHz 250 MHz ~ 6 GHz 250 MHz ~ 6 GHz 250 MHz ~ 6 GHz Return Loss >20 db >20 db (up to 2.7 GHz) >9 db (above 2.7 GHz) >20 db (up to 2.7 GHz) typ 20 db (above 2.7 GHz) >20 db (up to 2.7 GHz) typ 17 db (above 2.7 GHz) >14 ( 3 GHz) >10, typ 14 (>3 GHz) Repeatabiliy Better than ±0.05 db Better than ±0.1 db Better than ±0.05 db Better than ±0.05 db <±0.1 db Freq. Response Max. Power Typically <2 db +27 dbm, 3 VDC continuous 250 MHz to 2.7 GHz typ <2 db 2.7 GHz to 6 GHz typ <6 db +30 dbm, 40 VDC continuous +33 dbm MS* 1:1 where M<0.5 ms 250 MHz to 2.7 GHz typ <2.5 db 2.7 GHz to 6 GHz typ <3.5 db +27 dbm, 3 VDC continuous +30 dbm MS* 1:8 where M <0.5 ms 250 MHz to 2.7 GHz typ <2.5 db 2.7 GHz to 6 GHz typ <3.5 db +30 dbm, 3 VDC continuous +33 dbm MS* 1:8 where M <0.5 ms Dimensions Single width 3U PXI module Single width 3U PXI module Single width 3U PXI module Single width 3U PXI module 3020 시리즈 PXI 디지털 RF 신호발생기 Typ.<1 db across any 200 MHz Typ.<0.1 db across any 10 MHz 25 dbm (RF Input) 17 dbm (RF Output) 2-slot wide x 3U PXI-Hybrid slot 고성능 3020 시리즈신호제너레이터모듈은 120 dbm에서 +17 dbm 범위의 RF 출력을내며, 6 GHz 연속파 (CW) 및디지털신호를발생시킬수있습니다. IQCreator 신호생성소프트웨어는디지털변조및기타복잡한파형들을설계할수있습니다. 또한아날로그 AM/FM, 디지털및 IQ 벡터변조모드들을포함하는포괄적인변조기능이제공됩니다 C 3025C 3021C 3026C 주파수범위 1 MHz ~ 3 GHz 100 MHz ~ 6 GHz 1 MHz ~ 3 GHz 1 MHz ~ 6 GHz 100 khz ~ 3GHz 1 MHz ~ 6 GHz 주파수해상도 1 Hz, (2 Hz above 3 GHz) 출력레벨 (min.) -120 dbm 출력레벨 (max. <3 GHz) +5 dbm +5 dbm +6 dbm +6 dbm +17 dbm 출력레벨 (max. >3 GHz) NA 0 dbm NA +1 dbm +17 dbm 레벨해상도 0.01 db 레벨정확도 0.3 db typ, 1.0 db above 3 GHz 설정시간 ( 주파수 ) <250 μs <250 μs, <85 μs below 85 MHz 설정시간 ( 레벨 ) <250 μs <250 μs, <85 μs below 85 MHz 위상잡음 (<50 khz 오프셋 NA -143 dbc/hz 위상잡음 (2 khz 오프셋 -115dBc/Hz 위상잡음 (5 khz 오프셋 NA -108 dbc/hz NA -108 dbc/hz NA -108 dbc/hz 모듈레이션 CW / AM / FM / I&Q / Digital 신호대역폭 28 MHz up to 90 MHz AWG 샘플링속도 66 MSa/s 200 MSa/s AWG 샘플링해상도 16 bit AWG 샘플메모리 32 Mbyte up to 2 Gbyte 아날로그 I&Q 출력 Yes (optional, single ended/differential) I&Q 벡터모듈레이션입력 Yes 트리거링 TTL, Data I/O, Star Trigger, Trigger Bus, Local Bus, Software 실시간디지털 IQ 인터페이스 Yes (LVDS) 슬롯수 2 3 슬롯타입 PXI1 PXI Hybrid slot compatible

47 시리즈 PXI RF 디지타이저 다용도 3060 시리즈 RF 컴바이너들은테스트설비에서외부로부터의 RF 신호제어에대한필요를제거하여테스트시스템디자인및보정을단순화합니다. 이모듈들은 3020 시리즈디지털 RF 신호발생기와 3030 시리즈 RF 디지타이저들과연결되어 RF 테스트시스템에서사용됩니다. 이러한모듈과함께컴팩트한고성능저비용 RF 테스트시스템들이개발가능합니다. 3030C C 3035C A 입력주파수 (min.) 350 khz 330 MHz 250 khz 입력주파수 (max.) 3 GHz 6 GHz 3 GHz 6 GHz 13 GHz 6 GHz 주파수해상도 1Hz~3GHz, 2Hz~6GHz, 4Hz~9GHz, 8Hz~12GHz 주파수설정시간 <250 μs <500MHz 2ms, >500MHz 325μs 입력레벨 (max.) +22dBm (8dB RF atten) +30 dbm (10 db RF atten) RF 입력감쇠 0 ~ 28dB (step 4dB) 0 to 31 db (step 1 db) 레벨정확도 <3 GHz, 0.6 db, 0.3 db typ >3 GHz 1.0 db <500 MHz <1.0 db, 0.5 db typ <3 GHz 0.7 db, 0.3 db typ <6 GHz 1.0 db >6 GHz 2.0 db 반사손실 16 db 15 db 감도 (Sensitivity) -145 dbm/hz typ GHz-150 typ -140 dbm/hz typ Typ 148 dbm <500 MHz <-147 dbm/hz typ 500 MHz <140 dbm/hz, -149 dbm/hz typ >6 GHz Residual Spurious -100 dbm typ Spurious Response -75 dbc -70 dbc LO 위상잡음 (2GHz) -116 dbc/hz@20 khz offset, -138 dbc/hz@10 MHz offset -127 dbc 상호변조 -75 dbc (2 tone at 0 dbm) Instantaneous Bandwidth (-1 db) 36 MHz <500 MHz 20 MHz, <1 GHz 35 MHz, 1 GHz 90 MHz 160 MHz Amplitude Flatness <0.1dB over 5 MHz <0.25 db across 30 MHz <0.1dB over 5 MHz <0.25 db across 33 MHz (<2.9 GHz) <0.4 db across 33 MHz (>2.9 GHz) 0.1dB across 5 MHz 0.25 db across 15 MHz <500 MHz 0.25 db across 33 MHz >1 GHz 0.25 db across 67 MHz <1 GHz 최대샘플링속도 85 MSa/s 250 MSa/s 400 MSa/s 샘플해상도 16 or 32 bit ADC 클럭속도 MHz 250 MHz ADC 해상도 14 bit 13 bit 14 bit 샘플메모리 256 Mbyte 512 Mbyte 2 G 실시간데이터출력 LVDS up to 90 MSa/s 트리거링 TTL, Data I/O, Star Trigger, Trigger Bus, Local Bus, S/W Test Solution 슬롯수 2 3 슬롯타입 PXI1 PXIe Hybrid slot compatible 3010 시리즈 PXI RF 디지타이저 3010/3011 RF 합성기모듈은고성능주파수합성기입니다. 에러로플렉스의특허기술을이용하여, 모듈은모두하나의 3U 모듈내에서뛰어난위상노이즈성능및주파수기민성과결합된 1 Hz 주파수정확도를제공합니다. PXI 스튜디오소프트웨어는 3000 시리즈에서 GSM/EDGE, UMTS/HSUPA, LTE (FDD), CDMA 2000 및 1xEV-DO, WiMAX, WLAN 및블루투스장치테스트를지원합니다. Version RF Synthesized Signal Generator RF Synthesized Signal Generator w/ocxo high stability 10 MHz reference Frequency Range 1.5 GHz to 3.0 GHz 1.5 GHz to 3.0 GHz Resolution 1 Hz 1 Hz Phase Noise typically -116 dbc/hz at 20 khz offset typically -116 dbc/hz at 20 khz offset Phase agile 250 μs settling time 250 μs settling time RF 테스트솔루션 Out power Fixed level in the range -4 dbm to +3 dbm Fixed level in the range -4 dbm to +3 dbm Out impedance 50 Ω Nominal 50 Ω Nominal VSWR <2:1 <2:1 Dimensions Single width, 3U Single width, 3U

48 A 시리즈 PXI 저노이저 RF 신호발생기 Frequency Range: 100 khz ~ 3 GHz or 6 GHz Output Level: -120 ~ +10 dbm or +20 dbm 200 MHz IQ Vector Modulation Bandwidth 70 db ACLR (WCDMA test model 1) Fast Frequency / Level Switching Time: typically 100 μs List Mode Operation Low SSB phase noise: < khz offset, 1 GHz carrier <-152 >10 MHz offset Phase coherent LO output FM/Phase modulation Up to 4 GByte AWG memory Internal OCXO 10 MHz frequency reference PXI Studio and IQCreator software tools 3320 시리즈 PXI 16 비트듀얼채널임의파형발생기 (AWG) Test Solution Frequency Range: 100 khz ~ 3 GHz or 6 GHz Output Level: -120 ~ +10 dbm or +20 dbm 200 MHz IQ Vector Modulation Bandwidth 70 db ACLR (WCDMA test model 1) Fast Frequency / Level Switching Time: typically 100 μs List Mode Operation Low SSB Phase Noise: < khz offset, 1 GHz carrier <-152 >10 MHz offset Phase Coherent LO output FM/Phase Modulation Up to 4 GByte AWG Memory Internal OCXO 10 MHz Frequency Reference PXI Studio and IQCreator Software Tools 3070A 시리즈 PXI 고성능 RF 디지타이저 RF 테스트솔루션 Frequency Range: 250 MHz to 3 GHz or 6 GHz Input levels to +30 dbm with 1 db RF step attenuation to 51 db ADC Sample rate 400 MSa/s with 14 bit resolution 80 MHz or 160 MHz instantaneous bandwidth (-1 db) 2 Gbyte sample memory Fast Frequency and Level Settling Times: <150 μs with List Mode operation Low SSB Phase Noise: -127 khz offset from 1 GHz Displayed Average Noise Level (DANL): -160 dbm/hz Compact 3-slot wide x 3U PXI Hybrid slot compatible module Internal high stability OCXO 10 MHz Frequency Reference Supplied software: - VISA pnp Driver - C /.NET for Windows 7/XP/ PXI Studio w/ general purpose FFT spectrum analysis & opt. for WLAN a,b,g,n,ac

49 시리즈 PXI RF 디지타이저 다용도 3060 시리즈 RF 컴바이너들은테스트설비에서외부로부터의 RF 신호제어에대한필요를제거하여테스트시스템디자인및보정을단순화합니다. 이모듈들은 3020 시리즈디지털 RF 신호발생기와 3030 시리즈 RF 디지타이저들과연결되어 RF 테스트시스템에서사용됩니다. 이러한모듈과함께컴팩트한고성능저비용 RF 테스트시스템들이개발가능합니다. 3030C C 3035C A 입력주파수 (min.) 350 khz 330 MHz 250 khz 입력주파수 (max.) 3 GHz 6 GHz 3 GHz 6 GHz 13 GHz 6 GHz 주파수해상도 1Hz~3GHz, 2Hz~6GHz, 4Hz~9GHz, 8Hz~12GHz 주파수설정시간 <250 μs <500MHz 2ms, >500MHz 325μs 입력레벨 (max.) +22dBm (8dB RF atten) +30 dbm (10 db RF atten) RF 입력감쇠 0 ~ 28dB (step 4dB) 0 to 31 db (step 1 db) 레벨정확도 <3 GHz, 0.6 db, 0.3 db typ >3 GHz 1.0 db <500 MHz <1.0 db, 0.5 db typ <3 GHz 0.7 db, 0.3 db typ <6 GHz 1.0 db >6 GHz 2.0 db 반사손실 16 db 15 db 감도 (Sensitivity) -145 dbm/hz typ GHz-150 typ -140 dbm/hz typ Typ 148 dbm <500 MHz <-147 dbm/hz typ 500 MHz <140 dbm/hz, -149 dbm/hz typ >6 GHz Residual Spurious -100 dbm typ Spurious Response -75 dbc -70 dbc LO 위상잡음 (2GHz) -116 dbc/hz@20 khz offset, -138 dbc/hz@10 MHz offset -127 dbc 상호변조 -75 dbc (2 tone at 0 dbm) Instantaneous Bandwidth (-1 db) 36 MHz <500 MHz 20 MHz, <1 GHz 35 MHz, 1 GHz 90 MHz 160 MHz Amplitude Flatness <0.1dB over 5 MHz <0.25 db across 30 MHz <0.1dB over 5 MHz <0.25 db across 33 MHz (<2.9 GHz) <0.4 db across 33 MHz (>2.9 GHz) 0.1dB across 5 MHz 0.25 db across 15 MHz <500 MHz 0.25 db across 33 MHz >1 GHz 0.25 db across 67 MHz <1 GHz 최대샘플링속도 85 MSa/s 250 MSa/s 400 MSa/s 샘플해상도 16 or 32 bit ADC 클럭속도 MHz 250 MHz ADC 해상도 14 bit 13 bit 14 bit 샘플메모리 256 Mbyte 512 Mbyte 2 G 실시간데이터출력 LVDS up to 90 MSa/s 트리거링 TTL, Data I/O, Star Trigger, Trigger Bus, Local Bus, S/W Test Solution 슬롯수 2 3 슬롯타입 PXI1 PXIe Hybrid slot compatible 3010 시리즈 PXI RF 디지타이저 3010/3011 RF 합성기모듈은고성능주파수합성기입니다. 에러로플렉스의특허기술을이용하여, 모듈은모두하나의 3U 모듈내에서뛰어난위상노이즈성능및주파수기민성과결합된 1 Hz 주파수정확도를제공합니다. PXI 스튜디오소프트웨어는 3000 시리즈에서 GSM/EDGE, UMTS/HSUPA, LTE (FDD), CDMA 2000 및 1xEV-DO, WiMAX, WLAN 및블루투스장치테스트를지원합니다. Version RF Synthesized Signal Generator RF Synthesized Signal Generator w/ocxo high stability 10 MHz reference Frequency Range 1.5 GHz to 3.0 GHz 1.5 GHz to 3.0 GHz Resolution 1 Hz 1 Hz Phase Noise typically -116 dbc/hz at 20 khz offset typically -116 dbc/hz at 20 khz offset Phase agile 250 μs settling time 250 μs settling time RF 테스트솔루션 Out power Fixed level in the range -4 dbm to +3 dbm Fixed level in the range -4 dbm to +3 dbm Out impedance 50 Ω Nominal 50 Ω Nominal VSWR <2:1 <2:1 Dimensions Single width, 3U Single width, 3U

50 누비콤의솔루션 Contents 비용절감솔루션최신제품공급솔루션교정및수리솔루션고객교육및측정자동화솔루션

51 It s all about integrity 2017 The Global Leading Distributor 고속인터페이스표준 PCI Express DDR4 USB SAS/SATA DPO70000SX 오실로스코프 BERT 스코프 TLA 로직분석기 TekExpress 소프트웨어 누비콤에는 10 배많은것이있습니다. T&M 솔루션 텍트로닉스코범 키슬리 레드우드컴 Comm RF& 마이크로웨이브 프로빙솔루션 아폴로웨이브 부대용품 WILDER TECHNOLOGIES 히오키 LCR 리서치 플루크취리히인스트루먼트 로데슈바르츠 라디알 텍트로닉스 코범 기가프로브티플러스 와일더테크놀로지 비하이브 메트켈 에스케이지 중고 / 렌탈 Selling 서비스 / 솔루션 Repair 환경계측기 IT 솔루션 판매 수리 테스토 후지쯔 Rent Calibration 렌탈 교정 플루크 시스코 Acquisition(Buy) NTS 매입 측정자동화 히오키 쥬니퍼

52 52 누비콤의비용절감솔루션 누비콤의비용절감솔루션 중고계측기 마이크로웨이브및 RF: Products: Network Analyzer, Spectrum Analyzer, Signal Analyzer, Signal Generator, Power Meter, S-Parameter Test Set, Noise Measurement, Level Meter Brands: Keysight(Agilent), Aeroflex, Anritsu, Anite, Advantest, R&S, Keithley 무선랜 / 블루투스 /GPS: Products: MIMO/Multi-port Adapter, Wireless Connectivity Test Set, GPS Constellation Simulation, GPS Tester, Field Test Multi-channel Simulator Brands: Aeroflex, Keysight(Agilent) 무선통신 : Products: Wireless Test Set, Power Source, Spectrum Analyzer, Signal Analyzer, Signal Generator, Modulation Analyzer, Audio Analyzer Brands: Keysight(Agilent), Aeroflex, Anritsu, Anite, Advantest, R&S, Keithley EMI/EMC/ 교정 : Products: Calibrator, Spectrum Analyzer, Accessories Brands: Fluke, Keysight(Agilent), Tektronix, Aeroflex, R&S 부품측정 : Products: RF LCR Meter, RF Impedance, Material Analyzer, VCO/PLL Signal Analyzer, Accessories Brands: Keysight(Agilent), R&S 범용계측기 : Products: Oscilloscope, Logic Analyzer, Power Supply, DMM, Pulse Generator, Data Acquisition System, Electronic Load, Recorder, Counter, Accessories Brands: Tektronix, Keysight(Agilent), Aeroflex, R&S, Keithley 누비콤의비용절감솔루션 광 / 데이터통신 : Products: Protocol Analyzer, OTDR, SONET SDH, LAN WAN ATM, Power Meter & Sensor, Optical Spectrum Analyzer, Pulse Patter & Generator Brands: Keysight(Agilent), Aeroflex, Anritsu, Advantest, R&S, Keithley 휴대형 / 현장테스트 : Products: Portable Spectrum Analyzer, Site Master, Antenna Analyzer Brands: Aeroflex, Keysight(Agilent), R&S DC/AC 측정 : Products: Source Meter, Digital Multimeter, Power Supply System, Signal Waveform Generator, Audio Analyzer Brands: Keithley, Tektronix, Keithley (Agilent) 스위치시스템 : Products: Semiconductor Switch Matrix Mainframe, Integrated DMM & Switch Instrument, Multi-purpose Switch System, RF Microwave & Signal Generator System Brands: Keithley, Tektronix 데이터수집 : Products: Data Logger, Multifunction D/A System Brands: Keithley NUBICOM 반도체테스트 : Products: Semiconductor Switching, Parametric Test System, High Power Curve Trace, Integrated Test System Brands: Keithley

53 53 Test & Measurement 판매및렌탈 누비콤의장점과제안 설명장점 ( 주 ) 누비콤만의경쟁력 & 제안 단기 Rental 정해진기간동안일정금액으로장비를사용 - 초기투자비용없음 - 필요한시기만장비사용가능 - 임대금액이비용으로인정 - 저렴한 Rental 비용 - 유연한렌탈기간조정 - 장기렌탈시파격적 D/C 적용 Lease 형매각 장비가격을일정기간분할하여상환 - 초기투자비용저렴 - 추후장비사용및반납결정가능 - Lease 금액기비용으로인정 - 중고장비의 Lease형매각 - 저렴한보증금및월리스료 중고장비판매 필요한장비를신장비가격대비약 40% 가격으로판매하는형태 - 구매가격최소화 - 다른장비의매입기회제공 - 미국 / 일본지사및국내외 300개이상유통채널을통해가장낮은판매가로 Offer 중고장비매입 불필요한잉여장비를현금화시킴 - 회사내현금유동성확보 - 불필요한재고관리비용최소화 - 다양한유통채널을통한매각으로최대보상가제공 Trade-In 불필요한잉여장비를매각하고필요장비를매입하는형태 - 잉여장비의매각대금으로필요장비를매입 - 고객의이익극대화 - 재고관리비용절감 System Integration 기존장비들을통합및제어하는 Program의개발 - 통합제아가용이하지않은제품군을하나의 System으로제어가능하게함 - 자동화측정관련된유 무선동신뷴야의전반적토탈솔루션 - 맞춤형시스템개발가능 관련업계유일의토탈솔루션시스템 수리및점검서비스 리퍼버시 ( 중고 ) 제품 - 저렴한비용 - 최단기일납품 - 유명메이커전제품소싱 ( 세계적네트워크구축 ) 교정서비스 (Calibration) 토탈솔루션 적기납품! 고객만족달성! 누비콤의비용절감솔루션 - 자체기술력 - 유명메이커전제품 - 저렴한비용 - 메이커단종장비포함 - 자체기술시스템 - 45 년전통 MPC 와협약 - 자체교정서비스실시 NUBICOM 수리서비스교정서비스미세조정서비스 ( 무료 ) On-Site 교정

54 54 누비콤의최신제품공급솔루션 누비콤의최신제품공급솔루션 솔루션별신품 전기 / 전자통신측정솔루션 텍트로닉스 (Tektronix) 오실로스코프, 혼합도메인오실로스코프, 샘플링스코프, 로직분석기, 프로토콜분석기, 비트왜율분석기 (BERT), 임의파형발생기, 임의함수발생기, RF 벡터신호발생기, USB 스펙트럼분석기, 실시간스펙트럼분석기, 코히런트광학솔루션, 디지털멀티미터, DC 전원공급기, 주파수카운터 / 타이머, 프로브, 파워미터 키슬리 (Keithley) 디지털멀티미터, 소스미트, DC 전원공급시스템, 반도체테스트시스템, 스위칭시스템, DC/AC 계측및시스템, 데이터수집시스템, 배터리측정및시뮬레이터 로데슈바르츠 (Rohde & Schwarz) 광대역무선통신테스터 (CMW500 등 ), 모바일네트워크테스터, RF 신호발생기, 스펙트럼분석기, 네트워크분석기, EMC 측정기, 등 취리히인스트루먼츠 (Zurich Instruments) UHFLI 락 - 인앰플리파이어, UHF 이미파형발생기, UHF Boxcar, UHF 디지타이저, HF2LI 락 - 인앰플리파이어, HF2PLL Phase-locked Loop, HF2IS 임피던스스펙트로스코프, MFLI 락 - 인앰플리파이어, MFIA 임피던스분석기 코범 (Cobham) 항공전자테스터, GPS 시뮬레이터, 랜드모바일테스트, PXI 시스템, 무선테스트, 신호소스, 신호분석기 누비콤의최신제품공급솔루션 플루크 (Fluke) 디지털멀티미터, 클램프미터, 레이저거리측정기, 접지테스터, 전기테스터, 전력품질분석기, 스코프미터, 열화상카메라, 온도계, 절연저항테스터, 비쥬얼적외선온도계, 진동계, CNX 무선측정장비, 실내공기테스터 히오키 (Hioki) LCR 미터, 배터리테스터, 전력계, 데이터로거, 회로소자측정기, 안전규격측정기, DMM/ 신호발생기, 환경측정기 레드우드컴 (Redwoodcomm) NFC 테스터, DAB/DRM/RDS 테스터 LCR 리서치 (LCR Research) 핀셋형 0.1% LCR 미터프로 -1, 핀셋형 0.5% LCR 미터엘리트 -1 프로빙솔루션 아폴로웨이브 (Apollowave) 세미오토메틱프로브스테이션, 진공프로브스테이션, 저전류및고주파수프로브스테이션, 하이파워프로브스테이션, 고저온미소전류프로브스테이션, RF 프로브스테이션, WLR 프로브스테이션, LED 프로브스테이션, 고출력프로브스테이션, 매니퓰레이터, 포지셔너 기가프로브 (Giga Probe) 30 GHz 파인피치용 TDR 프로브키트, 40 GHz 디퍼런셜멀티모드 TDR 및 S- 파라미터프로브키트 NUBICOM 티플러스 (T-Plus) 싱글 RF 프로브헤드, 듀얼및디퍼런셜 RF 프로브헤드, 멸티포트프로브헤드, DC+RF 프로브헤드, DC 프로브헤드

55 55 Test & Measurement 공급라인및제품 RF 및마이크로웨이브측정솔루션 로데슈바르츠 (Rohde-Schwarz) 네트워크분석기 : 고성능네트워크분석기및확장유닛, 중급네트어크분석기및확장유닛, 핸드형및경제형네트워크분석기, 48 멀티포트솔루션신호발생기 : RF 벡터신호발생기, 아날로그신호발생기, 베이스밴드신호발생기스펙트럼분석기 : 고성능스펙트럼분석기, 핸드형스펙트럼분석기, 범용스펙트럼분석기, 변조분석기 텍트로닉스 (Tektronix) 신호발생기 : 2 GHz ~ 6 GHz RF 벡터신호발생기 스펙트럼분석기 : 고성능스펙트럼분석기, 핸드형스펙트럼분석기, 범용스펙트럼분석기, 변조분석기 오실로스코프 : MDO3000 혼합도메인오실로스코프, MDO4000 혼합도메인오실로스코프 RF 파워미터 : 10 MHz~26.5 GHz RF 및마이크로웨이브파워센서 / 미터 코범 (Cobham) 신호발생기 : 아날로그 / 디지털 / 벡터신호발생기, 파워앰플리파이어, RF 컴바이너스펙트럼분석기 : 벡터신호분석기, 핸드형스펙트럼분석기, 범용스펙트럼분석기, 파워앰플리파이어, RF 컴바이너마이크로웨이브 : RF 및마이크로웨이브분석시스템, 파워센서, 액세서리 (scalar detector, fault locator) PXI 및기타 : 저소음 RF 신호발생기, 고성능 RF 디지타이저, RF 컴바이너, RF 신시사이저, RF 쉴드박스 라디알 (Radiall) RF 및마이크로웨이브스위치, RF 케이블, RF 동축커넥터, RF 어뎁터, RF 프로브, RF 및마이크로웨이브터미네이션 / 어테뉴에이터 부대용품및액세서리 와일더테크놀로지스 멀티미디어테스트픽스춰, PCIe 테스트픽스춰, USB 픽스춰, 스토리지픽스춰, 데이터컴픽스춰 메트켈 (Metcal) 고주파납땜인두기, 실납공급기및시스템, 리워크및열풍기, 납연기정화시스템, 디지털정량토출기 누비콤의최신제품공급솔루션 비하이브 (Beehive) EMC 프로브, 프로브어뎁터, EMC 프로브앰프, EMC 프로브케이블, RF 헬름홀츠코일고전력필터 에스케이지 (SKG) 테스트트위저, IR 및 S/DF 테스트트위저, 픽스춰및어뎁터 환경계측기 테스토 (testo) 접촉식및비접촉식온도계, 열화상카메라, 전기측정기, 온습도계및데이터로거, 풍속및다기능측정기, 연소가스분석기, 압력및냉동측정기, 실내환경측정기, ph/tpm/rpm 측정기, 트랜스미터 플루크 (Fluke) 열화상카메라, 전기측정기, 레이저거리측정기, 실내공기질측정기, 적외선온도계, 비쥬얼적외선온도계 NUBICOM 히오키 (Hioki) 적외선온도측정기, 온도하이테스터, 보통소음계, 조도계, 타코하이테스터, 자계측정기

56 56 누비콤의교정및수리솔루션 누비콤의교정및수리솔루션 계측기교정서비스 세계적인교정전문회사 MPC 정밀측정기교정전문 1969 년창립, 48 년역사 최고의 Quality 와서비스로전세계적인교정 LAB. 으로성장 미국, 아시아, 중동등전세계 15 개국 30 개지역에교정 LAB. MICRO PRECISION CALIBRATION KOREA MPC Korea 의장점및경쟁력 상호인정 한국에서 Z540 인증 을받은특별한교정 Lab. MPC Korea는한국의교정업체중에서특별하게 Z540 인증을받은교정 Lab 입니다. Z540 인증은계측기의 제조사에서규정하는 SPEC 을기준 으로 테스트장비의교정결과를 (Pass/Fail) 보증 할수있는시스템을인증받은것을의미합니다. 테스트장비의교정결과를 (Pass/Fail) 보증 할수있는시스템을인증받은것을의미합니다. 제품교정과수리를통합한원-스톱토탈솔루션교정중, 이상부분이발견되면신속히협력사인누비콤에서조정 ( 무료 ) 및수리 ( 유료 ) 서비스를함께제공함으로써고객의시간적비용을줄여드립니다. 필요에따라교정중에대체사용장비제공고객이제품의교정을맡긴기간에사용할수있는장비를무료로대여해드립니다. ( 장비의보유상황에따라무상대여가어려울수도있음 ) 누비콤의교정및 A/S 솔루션 RF/Microwave Electrical DRAFT SCOPE OF ACCREDITATION TO ISO/IEC AND Z540 RF Spectrum Analyzer Signal Generator Communication Tester Network Analyzer Network RF Power Meter Frequency Counter RF Power Sensor Attenuator DC,AC V DC,AC A Oscilloscope Digital Multimeter LCR Meter Resistance Meter Restance 1 khz ~50 GHz -120 db~10 db 300 khz ~26.5 GHz O V~1000 V 0A ~20 A 0 A~1000 A 0 Ω~1 GΩ Function Generator Source Meter Power Supply Electronic Load LCR 100 μh~10 H 0 pf ~1600 μf 0 Ω ~ 10 MΩ Optical Optical Power meter Optical Attenuator Optical Power Sensor Multi Wavelength Meter Optical Power (-6 to -60) db (10 to -110) db Optical Wavelength 700 nm ~1650 nm Thermodynamic Temp.&Humi. Chamber Thermo Meter Recorder Dry Well Temperature -40 ~420 Humidity 20% R.H.~90% R.H. NUBICOM Mechanical Pressure Gauge Torque Wrench Torque Driver Balance & Scale Dimensional Height Gauge Caliper Micrometer Test Indicator ( 주 ) 누비콤은마이크로프리시즌의협력사입니다. Pressure Torque Balance -14 psi~10000 psi 0 N.m~675 N.m 0~200 kg Height, Caliper 0 mm~900 mm Micormeter 0 mm~300 mm Test Indicator 0 mm~100 mm 마이크로프리시즌코리아 MICRO PRECISION CALIBRATION KOREA

57 57 Test & Measurement 계측기수리서비스 전자계측기종합솔루션 ( 신품 / 중고 / 렌탈 / 수리 / 교정 ) 전문업체인누비콤이수리서비스의새로운표준을제시합니다. 이제계측기수리도 1년수리보증을해드리며, 무상교정서비스혜택까지드립니다. 누비콤의서비스 무상수리 1년보증 ( 동일증상 / 고객과실제외 ) 수리후무상교정 (ISO 17025) 50 GHz 주파수대역 / 광장비영역까지지원무상배송 Pick-up 및수리후배송 Cleaning 서비스장비의내부및외부무상 Cleaning 무상점섬서비스모든제조사계측장비 (Litepoint, Spirent, NI 및 Aeroflex의통신계측기포함 ) 대상 : 전고객최종사용자, 렌탈사및딜러또한동일조건고객을배려하는시스템을가장잘갖추고있는곳이가장믿을수있는회사입니다. 누비콤은세계유명전자계측기제조업체에서생산된모든전자제품을전문으로합니다. 고객들이지금당장필요로하는제품을즉시공급가능한시스템을갖추고, 누비콤은어느누구보다도더빨리, 더정확하게, 그리고더저렴하게서비스해드립니다. 누비콤의교정및 A/S 솔루션 수리가능한전자계측기제조업체 NUBICOM

58 58 누비콤의고객교육및측정자동화솔루션 T&M 교육및측정자동화솔루션 고객교육프로그램 누비콤은고객을위한다양한교육과세미나프로그램을실시하고있으며, 또한유명전시회에참가하여최신기술과장비를데모시연과함께고객여러분께소개해드리고있습니다. 누비콤의고객교육및측정자동화솔루션 2017 누비콤고객교육예정 2017 누비콤참가예정전시회 / 워크숍 중급오실로스코프입문 ( 매월, 텍트로닉스 ) 저대역폭오실로스코프기본 ( 매월, 텍트로닉스 ) 비디오테스팅교육 ( 매월, 텍트로닉스 ) 반도체파라메트릭테스팅 ( 연 2회, 키슬리 ) 오실로스코프핸즈-온교육 ( 매월, 누비콤 ) DC 측정의기본및실습교육 ( 매월, 누비콤 ) 2017 누비콤주최세미나예정 오토모티브테스팅엑스포 (3월, 킨텍스 ) 서울모터쇼 (4월, 킨텍스 ) 포토닉스코리아 한국반도체학술대회 전자파측정기술워크숍 RF 회로기술워크숍 항공우주전자심포지움 안테나측정기술워크숍 기타 NUBICOM PCB 특성임피던스설계및측정기술세미나 ( 상 / 하반기 ) NFC 시장동향및측정기술세미나 ( 상 / 하반기 ) RTS 무전기측정기술세미나 ( 상반기 ) 디지털라디오 (DAB, DRM, RDS) 측정기술세미나 ( 상 / 하반기 ) 기타 초청장및교육 / 세미나요청 전화 : 이메일 : marketing@nubicom.co.kr

59 59 Test & Measurement 측정자동화솔루션 (NTS) 누비콤은기존에수작업을통해해오던측정업무를 PC와제어용 S/W로대체하는측정자동화솔루션을개발하였습니다. 제어용 S/W는각종계측기와시험대상장치를자동으로조정하여, 다양한조건의신호를입력하고, 그출력결과를분석및데이터를수집합니다. 누비콤의측정자동화시스템은더빠르고, 더정밀하고, 업무담당자의에러를제거하여전체적공정상의리스크를방지하기위한시스템입니다. 1. 측정자동화시스템개요 GPIB RS232 TCP/IP 시험용계측기계측기통신방식 2. 주요기능 GPIB, RS232, LPT, TCP/IP, UDP 통신지원 디바이스제어를위한프로그래밍함수 선택적시험기능 프로젝트편집기능 시험결과판정 (Pass/Fail) 및알림기능 다양한수학식사용기능 시퀀스제어문사용기능 다양한계측기제품군의측정화면을 PC에저장 반복시험기능및예약시험기능 사용자정의통신프로토콜지원 ( 디바이스로 DLL지원 ) 시험성적서자동생성 (Excel, Multi Sheet 지정가능 ) 측정데이터의 DB 관리및자료분석기능 웹을통한원격검수지원 NTS( 누비콤측정자동화시스템 ) 시험대상물 누비콤의고객교육및측정자동화솔루션 3. NTS( 누비콤측정자동화시스템 ) 효과 시험측정상의현안 NTS 의효과 자동화개발소요시간및유지보수기간의장기화복잡한측정공정및성적서에러최소화및측정시간단축 NTS 의짧은개발기간 (3 개월 3 일 ) 및짧은우지보수기간 (3 주 1 시간 ) TS 로 Human Error Timing Loss 제거 장기간일정한 Interval 을갖는측정에서의 Timing Error 최소화 측정값의신뢰도제고 Pass/Fail 의실시간공유 NTS 의 Aging Test 기능및측정값의실시간 DB 화, Mailing, 공유로 Error 제거및조기대응가능 NTS 의자동화면 Capture 기능 ( 측정값산출시각의화면 Capture) 및 Capture 화면성적서자동반영으로신뢰도제고 NTS 의측정값실시간 DB 화, Mailing, 공유로원격관리기능 분산측정시측정값자동통합 기존의응용프로그램자동제어 Operating( 개발, 편집, 사용 ) Know-How 축적 계측기운용상의현안 계측기메이커의생산전략의존에따른 Risk 존재 계측기메이커및모델의종류에따른다른메뉴방식 NTS 의측정값통합관리 DB 기능으로분산측정값을원격지 DB 에 DUT 별자동통합관리가능 NTS 의 Spy 기능 ( 기존의시험프로그램을재사용 ) 으로통합자동화가능 NTS 의개발및편집의용이성 ( 엑셀형식의편집기, Pull-Down 방식의 Commom Language Reference 구축 ) 으로 Know-How 축적가능 NTS 의효과 계측기메이커의생산전략에대한독립성확보및계측기운용의최적화가능 계측기내부명령어를 Library 로구축한 NTS(CLR 기능 ) 사용으로계측기 Maker, Model 의메뉴방식에상관없이 Control 가능 NUBICOM Human Skill 의존 Risk 측정프로세스에따른측정법및결과값획득은엔지니어의 Human Skill 에따라측정시간및신뢰도가달라짐 NTS 로 Human skill 의존하던 Risk 제거 비숙련엔지니어도 Enter 만으로시험 측정작업가능 LowCost 실현가능, 측정시간단축, 신뢰도제고효과