RS D 0040 전자부품용 Fe-Si-B 계 비정질스트립코아 RS D 0040 : 2005 신뢰성전문위원회심의 2005년 1 월 5 일제정산업자원부기술표준원발행
신뢰성전문위원회명단 성명 소속 직위 ( 위원장 ) 이순복 KAIST 교수 ( 위원 ) 기술표준원 당연직 고문수권수호권일수김재곤김정규김희진박동호서문호유동수이덕근이종희이중휘최희천 산업자원부자동차공업협동조합 ( 주 ) 케이제이테크수출보험공사한양대학교학연산클러스터사업단한양대학교 ( 주 ) 광명전기한림대학교건국대학교삼성전자 ( 주 ) 한국부품소재사업진흥원항공우주연구원산업기술시험원 EPRI 당연직전무대표본부장교수교수상무교수교수상무본부장센터장연구위원소장 ( 간사 ) 기술표준원 당연직 기술위원회명단 성명 소속 직위 ( 위원장 ) 강정윤 부산대학교재료공학부 교수 당연직당연직당연직윤원영이종수전치혁이준희 산업자원부자본재산업총괄과산업자원부기초소재산업과기술표준원기술정보신뢰성과부산대학교포항공과대학교포항공과대학교동아대학교 과장과장과장교수교수교수교수 ( 위원 ) 남원종국민대학교교수차상원수원대학교교수 정원욱박종경박창남구명회박상득반덕영정우현 현대자동차 ( 주 ) ( 주 ) 포스코 FAG베어링코리아 ( 유 ) 창원특수강 ( 주 ) 삼성전자 ( 주 ) 고려제강 ( 주 ) 고려용접봉 ( 주 ) 수석그룹장소장소장부장소장소장 ( 간사 ) 이중주 포항산업과학연구원 센터장 제정자 : 산업자원부기술표준원장개정 : 원안작성협력자 : 포항산업과학연구원심의위원회 : 신뢰성전문위원회 제정 : 2005년 1월 5일산업자원부공고제2004-283호 - 2 -
신뢰성평가기준 RS 전자부품용 Fe-Si-B 계비정질스트립코아 D 0040 : 2004 Fe-Si-B Based Amorphous Strip Core for Electronic Part 서문 (Introduction) 이 기준을 적용하기위해서는 이 기준서에 인용되고 있는 모든 기준도 동시에 참 고하여야 한다. 본 기준은 전자부품용 소재로 사용되는 Fe-Si-B 계 비정질 스트립 코아의신뢰성향 상을 위해 제정되었다. 시험 평가별로 KS 와 국제규격 (ISO) 을 적용시켰으며 필요시 국제적으로 인정되 는 특정국의규격을 참고하였다. 1. 적용범위 (Scope) 본 기준은 코아손실이 작고 포화자속밀도와 투자율이 높아 전자 부품용 기본재 로 사용되는 Fe-Si-B 계 비정질 스트립 코아에 대한 신뢰성 평가기준으로, 합금조성은 F e 78 B 13 Si 9 조 성을 기본으로 하며 여기에 소량 원소를 변화시킨 Fe-Si-B계 비정질 합금 조성도 포함한다. 본 기준에서 코아는 비정질 스트립을 권취하여 제조한 스트립 코아에 한정하고 형상 제어 및 열처리 등을 포함한 후가공 제조 방법에는 제한을 받지 않으며, 열처리가 완료된 비정질 코어를 기준으로 규정되었다. 2. 인용규격 (Normative reference) 다음에 나타내는 규격은 본 기준에 인용됨으로써 본 기준의 규정 일부를 구성한다. 이러한 인용 규격은 그 최신판을 적용한다. KS D 0068 비정질 금속 용어 KS D 0069 비정질 금속의 결정화 온도 측정 방법 KS D 0071 비정질 금속 자심의 고주파 자심 손실 시험 방법 KS D 0070 비정질 금속 단판 자기 특성 시험 방법 KS C 3110 포말동선 KS C 0244 환경 시험 방법 ( 전기, 전자 ) : 자연 낙하 시험 방법 AS EM A 9 01-03 Standard specification for amorphous magnetic core alloys, semi-processed types AS TM A 3 8 4-8 4 Standard test method for permeability of feebly magnetic materials AS TM A 3 8 4-8 4 Standard test method for alternating-current magnetic properties of materials using the wattmeter-ammeter-voltmeter method, 100 to 10,000 Hz an d 25 cm epstein frame JIS Z 2371 Methods of salt spray testing JIS C 0021 Basic environmental testing procedures part 2 : tests, test B : dry heat (IEC 68-2-2) JIS C 0022 Basic environmental testing procedures part 2 : tests, test Ca: damp heat, steady state JIS C 0022 Basic environmental testing procedures Part 2 : tests, test N: change of temperature 3. 용어의정의 (Definition of terms) a) 비정질금속 (amorphous metals) 결정화되어있지않은금속, 즉원자가몇원자이상으로
광범위에 걸쳐 규칙적으로 배열되어 있지 않은 금속 b) 비정질 스트립 (amorphous strip) 나비에 비하여 충분히 길고, 두께가 수백 μm 이하인 비정 질 박대 c) 비정질 코아 (amorphous core) 비정질 금속 스트립으로 구성되며 전자부품의 기본재로 사용되 는 자성 코아 d) 유리 전이 (glass transition) 비정질 상태의 물질을 가열한 경우 또는 과랭각 액체를 다시 냉각 시켰을 때, 비열이나 열팽창률 등이 급변하여 각각 과랭각 액체 또는 비정질 고체로 변화하는 현 상 e) 결정화 (crystallization) 비정질 상태의 구성 금속 원자가 몇 개 원자 이상의 광범위에 걸쳐 규 칙적으로 배열하는 것 f) 유리 전이 온도 (glass transition temperature) 유리 전이가 생기는 온도 g) 결정화 온도 (crystallization temperature) 결정화가 시작되는 온도 h ) 고장 : 제품의 성능이 규정된 규격을 벗어나 기대된 기능을 발휘할 수 없는 상태 i) 와이블 (Weibull) 분포 일반적인 수명분포를 나타내는데 편리하게 고안된 것으로 형상모수 (shape parameter) 에 따라 여러 가지 형태의 고장확률 밀도함수를 나타낼 수 있다. j) MTTF ( m e a n t i m e t o f a i l u r e ) : 평균고장시간 즉 평균수명 k) B 10 수명 : 전체 제품 중 10% 가 고장을 일으킨 시점 l) 신뢰수준 (confidence level) 추정구간에 신뢰성 특성치 ( 예 :B 10 ) 의 참값이 존재할 확률 즉 불합격 신뢰도수준의 제품들이 신뢰성 시험에서 실제로 불합격 될 확률로 다음과 같은 관계로 나타낼 수 있다. 신뢰수준 = 1 - 소비자 위험률 (β) m) 가속수명시험 (ALT: accelerated life test) 실제 사용조건보다 가혹한 환경에서 수명을 평가하 는 시험 그 외 이 규격에서 사용되는 다른 주된 용어의 정의는 K S D 006 8 에 따른다. 4. 종류전자부품용자성소재로현재까지주로사용되고있는 Fe-Si-B 계비정질합금조성, 특성, 주요응용분야의대표적예를표 1 에나타낸다. 본기준에서전자부품용비정질스트립코어의합금성분은표 1 에나타낸합금외에도 F e 78 B 13 Si 9 합금을기본으로소량성분의변화가있는 Fe-Si-B 계여러비정질합금이사용될수있으며, 응용을위한코아후열처리제조방법에도제한을받지않는다. 표 1. 전자부품용 Fe-Si-B 계대표적비정질스트립코아성분및주요응용분야합금성분특성주요응용분야 낮은코아손실, Fe 78 B 13 Si 9 높은투자율 Fe 76.5 Cr 2 B 16 Si 5 C 0. 5 높은고주파투자율 인덕터 코아, 파워 트랜스포머 코아, 모터 코아 고주파 코아, 전류 트랜스포머 코아 5. 샘플링방법최근 2 개월이내에제작된제품중 100 개를무작위로샘플링하여선정하여외관품질및치수검사를실시하고, 그결과불량이없을때이중 45 개를발췌한다. - 2 -
5.1 제조방법의범위시험편은모든제조및용도에따른열처리공정을완료한후시험에의해평가된다. 비정질스트립을권취하여제조한비정질코어를기본으로하며형상제어및열처리공정을포함한후가공제조방법은제한하지않는다. 5.2 형상및치수본기준안에서코아의기준샘플형태및치수는내경 13. 8 mm, 외경 28.4 m m, 높이 12. 2 의토로이달형상으로한다. 그러나꼭상기기준코아샘플형태및치수에한정하지는않으며일반적으로전자부품용비정질코아로사용되는내경 5-3 0 m m, 외경 10-100 m m, 높이 4-50 mm의주범위에서사용자와공급자가협의에의해형상과치수를결정할수있다. 5.3 성분전자제품자성용부품의기본재로사용되는 Fe-Si-B 계비정질금속에한한다. 표 2. 시편채취수량 시편채취방법 5.1-5.3 항에따른다. 시편 개수 성분 분석용 : 각 3 개 결정화 온도 측정용 : 각 2 개 ( 상기 성분 분석 및 결정화 온도 측정은 필요에 따라서 생략할 수 있음 ) 인덕턴스 투자율 측정시험용 : 전수 검사 (40 개 ) 코아 손실 측정 시험용 : 전수 검사 (40 개 ) 내열성 시험용 : 각 5 개 내한성 시험용 : 각 5 개 습도 환경 방치 시험용 : 각 5 개 열충격 시험용 : 각 5 개 염수 분무 시험용 : 각 5 개 내충격 시험용 : 각 5 개 가속 수명 시험용 : 10 개 * 특별히치수가크거나제조가격이높은코아시편의경우에는사용자와공급자의합의에의해서내구성시험 ( 내열성, 내한성, 습도환경방치, 열충격, 염수분무, 내충격시험 ) 시필요한시편의개수를각 3개로줄일수있다. 6. 시험방법및기준 6. 1. 일반검사 6.1.1 외관품질검사비정질코아시편의표면검사는원칙적으로확산주광아래에서시행하며표면에얼룩이나찍힘, 긁힘, 뜯김등이없어야하고, 가스, 오염, 왜곡, 이물, 접착등의외관상불량사항이없어야하며, 특수한표면품질의경우사용자와공급자간의협의에의해결정한다. 인공조명아래에서할경우, 조도는 300 lx 이상으로하되광원은 ISO 10526(CIE Standard illuminates for Colorimetry) 에규정하는 D65 표준광원으로 KS A 3325 ( 형광램프의광원색및연색성에따른구분 ) 에규정하는연색 AAA 램프를사용한다. 배경은무광택의흑색, 회색등무채색인것이바람직하다. 6.1.2. 치수치수측정은열처리등후가공공정이완료된비정질스트립코아에대하여실시하고, 측정항목및그에따른허용공차는 ±0.2 mm 이내로하되보다자세한공차는사용자와공급자간의협의에 - 3 -
의해 결정한다. 측정기기의 종류에 대한 제약은 없으나 반드시 국가 공인기관의 검교정을 마친 측 정기기를 사용하여야 하며 측정기기에 대한 충분한 교육을 받은 작업자에 의해서 측정되어야 한 다. 6.1.3 성분 분석 화학성분 분석은 ASTM E34 에 의해서 이루어져야 한다. 성분분석 기기의 종류 및 시험법에 대 한 제약은 없으나 국가공인기관이 아닌 사내검사의 경우 반드시 검교정이 된 기기를 사용해야 한 다. 시료의 경우 표면의 이물질을 검사 전에 제거해야 한다. 성분검사를 위한 시편채취는 ASTM E 55 의 규정을 따른다. 6.1.4 결정화 온도 측정 비정질 코어 소재의 시차 주사 열량 측정 (DSC) 또는 시차열 분석 (DTA) 에 의한 결정화 온도 측정 방법은 KS D 0068 규격을 따른다. 측정 기기의 가열속도 정밀도는 ±0.5 o C/min. 이내인 것을 사용해야 하며 국가공인기관의 검교정을 마친 측정기기를 사용해야 한다. 표준 물질은 미국 국립표준기술연구소의 표준물질 GM-754, 757, 758 에 준하는 것으로 한다. 상기 6.1 의 일반 검사 항목 중에 필요에 따라서 사용자와 공급자간의 협의에 의해서 6.1.3 성분분 석과 6.1.4 결정화 온도 측정 시험은 생략할 수 있다. 6.2 자성 특성 측정 시험 6.2.1 인덕턴스 투자율 측정 시험 이 측정방법은 임피던스 측정기를 이용한 비정질 스트립 코아의 교류자기특성 중 인덕턴스 투자 율 측정법에 대한 것이다. 6.2.1.1 측정장치 본 측정법에 적용되는 측정장치는 2% 이상의 높은 정밀도를 갖는 임피던스 측 정기와 자속전압계를 이용한다. 임피던스 측정기의 전압은 자유로이 조정할 수 있어야 하고 측정 장치는 사전에 교정되어 충분한 정밀도를 유지해야 한다. 6.2.1.2 시험편 사용자와 공급자의 합의에 의해 제조된 시험편으로 한다. 6.2.1.3 시험방법 ( 1) 시험전 측정에 사용되는 시험기 및 장치는 미리 교정하여야 하고 그 정밀도를 유지할 수 있도록 안정되어야 한다. ( 2) 탈자 시험편의 상태를 시험전 B-H 루프상의 원점 ( 즉, 잔류자속밀도를 0으로 ) 상태로 탈자하여야 한다. 탈자 는 시험편의 포화자속밀도까지 정현파 전류를 가한 다음 연속적으로 전류가 0이 되도록 반복한다. ( 3 ) 권선 (a) 권선의 종류는 KS C 3110 ( 포말동선 ) 에 따라 직경이 0.26 m mφ 인 절연 피복선으로 한다. (b) 1차 권선은 임피던스 측정 장치에 연결하고 2차 권선은 자속전압계에 연결한다. (c) 권선수는 특별히 규정하지 않으나 1차 권선의 경우 시험편에 자장이 유기될 수 있을 정도로 작고 균일하게 권선한다. 2차 권선은 시험편에 유기되는 작은 전압을 감지할 수 있을 정도로 많이 권선한다. ( 4) 측정 (a) 시험편의 최대자기유도값 (B m ) 이 측정하고자 하는 주파수 범위에서 항상 일정한 값이 유지되도록 임 피던스 측정기의 전압을 조절하면서 설정 주파수에서 인덕턴스 값을 측정한다. 이때 2차 권선에 유기되 는 전압의 파형은 왜곡이 2% 이내인 정현파에서 측정되어야 한다. (b) 시험편의 최대자기유도값은 다음 식에 의해 선정된다. - 4 -
E f = 4. 44 f N 2 A e B m E f = 2차권선에연결된자속전압계에나타난전압 (V) f = 주파수 (Hz) N 2 = 2차권선수 A e = 시험편의유효단면적 (mm 2 ) B m = 최대유도자기 (T) 최대 자기유도값은 측정장치, 권선, 시험편의 치수정도에 따라 설정될 수 있으므로 사용자와 공급자 당 사자간의 협정에 따라 따로 정한다. (c) 측정 시 주파수는 전자부품용 코아에서 널리 사용되는 1 khz 를 사용할 수 있으나, 원칙적으로 코아 용도에 따라 사용자와 공급자의 합의에 의해 결정된 주파수를 사용하는 것을 기본으로 한다. (d) 필요에 의해 주파수가 증가함에 따라 1차 권선의 인가전압을 조절하는데 있어서 측정장치의 용량이 부족하여 더 이상 조절이 불가능 할 경우에는 2차 권선의 권선수를 감소시켜 조절한 후 측정할 수도 있다. ( 5) 투자율 산출 인덕턴스투자율은다음식으로계산된다. μ L = 1 μ o Ll m AN 2 1 μ o = 진공에서의투자율 (4 10-7 H/m) L = 인덕턴스 (H) l m = 유효자기행로 (m) A = 시험편의자기단면적 (mm 2 ) N 1 = 1 차권선수 6.2.1.4 평가기준사용자와공급자당사자간의합의에따른다. 6.2.2 코아손실 측정 시험 이 측정방법은 비정질 스트립 코아의 교류자기특성 중 코아손실 측정법에 대한 것이다. 6.2.2.1 측정장치 본 측정법에 적용하는 측정장치는 발진기, 증폭기, 전류검출장치 및 각종 연산 제어 장치로 구성된 장치로 정현파 유도 파형율이 2% 이내의 정밀도를 가져야 한다. 측정장치는 사전에 교정되어야 하고 충분한 정밀도를 유지해야 한다. 6.2.2.2 시험편 사용자와 공급자의 합의에 의해 제조된 시험편으로 한다. 6.2.2.3 시험방법 ( 1) 시험전 측정에 사용되는 시험기 및 장치는 미리 교정하여야 하고 충분한 정밀도를 유지할 수 있도록 안정되어 야 한다. ( 2) 탈자 시험편의 상태를 시험전 B-H 루프상의 원점 ( 즉, 잔류자속밀도를 0으로 ) 상태로 탈자하여야 한다. 탈자 는 시험편의 포화자속밀도까지 정현파 전류를 가한 다음 연속적으로 전류가 0이 되도록 반복한다. ( 3 ) 권선 (a) 권선수는 다음 식에 따라 1, 2 차 권선수를 동일하게 5회로 하고 권선 방법은 1차 권선과 2차 권선 사이를 균일하게 한다. 단 실용 시험편을 측정할 경우에는 사용자와 공급자의 협의에 의해 권선수를 따 - 5 -
로정할수있다. V peak = 2 fn 1 A e B max V peak = 시험기 용량에 의한 최대전압 (V) f = 측정주파수 (Hz) N 1 = 권선수 A e = 시험편 평균 단면적 (m 2 ) B max = 최대자기유도값 (T) (b) 사용자와공급자의협의에의해실용시험편측정하고자할경우 1차권선수는다음식에따른다. 2차권선은측정장치용량에따라적절히선정한다. N 1 = H max l I max, l =( D i - D o 2 ) N 1 = 1차권선수 ( 회 ) I max = 최대가능자화전류 (A) H max = 최대포화자계 (A/m) l = 시료평균자로장길이 (m) (c) 시험편의평균단면적은다음식으로구한다. A e =( D i - D o 2 )t A e = 시험편 평균 단면적 (m 2 ) D o = 시험편 외경 (m) D i = 시험편 내경 (m) t = 시험편 두께 (m) (d) 권선의 종류는 KS C 3110 ( 포말동선 ) 에 따라 직경이 0.26 mmφ 인 절연 피복선이나 직경이 0.1 mmφ 이하의 에나멜 피복된 전선을 여러 가닥으로 복선화한 복수권선을 사용한다. (e) 측정 시 주파수는 전자부품용 코아에서 널리 사용되는 1 khz 를 사용할 수 있으나, 원칙적으로 코아 용도에 따라 사용자와 공급자의 합의에 의해 결정된 주파수를 사용하는 것을 기본으로 한다. ( 4) 코아손실 산출 (a) 코아손실은 전력손실 (W) 로부터 직접 전류와 전압의 곱으로 구해지며 다음 식과 같다. W c = 1 T 0 T I 1 (t) V 2 (t) dt = 1 T 0 T l e N 1 H(t) N 2 A e db(t) dt dt T = 주기 (s) = f N 2 N 1 l e A e H( t)db( t) - 6 -
I 1(t) = 1차 코일에 흐르는 전류 (A) V 2 (t) = 2차 코일에 유도되는 기전력 (W) H(t) = 자화력 (A/m) B(t) = 자기유도 (T) N 1 = 1차 코일의 권선수 N 2 = 2차 코일의 권선수 l e = 유효자기행로 (m) A e = 시편의 유효단면적 (m 2 ) (b) 당사자간의협의에따라단위무게당코아손실및단위부피당코아손실을산출하고자할경우에는실측값을 1/100 까지측정하여계산한다. (c) 시험편의밀도를이용하여산출할경우에는당사자간의협정에따라이론밀도나실측밀도를모두사용할수있다. 6.2.2.4 평가기준사용자와공급자당사자간의합의에따른다. 6.3 신뢰성시험 6.3.1 내열성시험 (Resistance to the high temperature) 6.3.1.1 기준고온방치시험후코아손실의변화가 10% 이하, 인덕턴스의변화가 5% 이하이어야한다. 또한외관품질에이상이없어야한다. 6.3.1.2 시험편사용자와공급자의합의에의해제조된시험편으로한다. 6.3.1.3 시험방법 120 o C에서 96 시간방치하고상온, 상습중에 1시간방치후코어손실및인덕턴스의변화를측정한다. 고온방치에관한구체적인방법은 JIS C 0021, IEC 68-2-2 ( 고온시험방법 ) 을따른다. 비정질스트립코어의코어손실및인덕턴스의측정방법은상기의 6.2.1 과 6.2.2 의시험법을따른다. 6.3.2 내한성시험 (Resistance to the low temperature) 6.3.2.1 기준저온방치후코아손실의변화가 10% 이하, 인덕턴스의변화가 5% 이하이어야한다. 또한외관품질에이상이없어야한다. 6.3.2.2 시험편사용자와공급자의합의에의해제조된시험편으로한다. 6.3.2.3 시험방법 -40 o C에서 96 시간방치하고상온, 상습중에 1시간방치후코어손실및인덕턴스의변화를측정한다. 저온방치관한구체적인방법은 JIS C 0020, IEC 68-2-14 ( 저온시험방법 ) 을따른다. 비정질스트립코어의코어손실및인덕턴스의측정방법은상기의 6.2.1 과 6.2.2 의시험법을따른다. 6.3.3 습도환경방치시험 (Resistance to the humidity) 6.3.3.1 기준습도환경방치후코아손실의변화가 10% 이하, 인덕턴스의변화가 5% 이하이어야한다. 이와함께외관품질에이상이없어야한다. 6.3.3.2 시험편사용자와공급자의합의에의해제조된시험편으로한다. - 7 -
6.3.3.3 시험방법온도 40±2 o C, 상대습도 95%±2%, 96 시간유지하고상온상습중에 1 시간방치후코아손실및인덕턴스의변화를측정한다. 습도환경방치에관한구체적인방법은 JIS C 0022, IEC 68-2-3 ( 기초환경적실험 ) 을따른다. 비정질스트립코어의코어손실및인덕턴스의측정방법은상기의 6.2.1 과 6.2.2 의시험법을따른다. 6.3.4 열충격시험 (Resistance to the thermal shock) 6.3.4.1 기준열충격을가한후코아손실의변화가 10% 이하, 인덕턴스의변화가 5% 이하이어야한다. 이와함께외관품질에이상이없어야한다. 6.3.4.2 시험편사용자와공급자의합의에의해제조된시험편으로한다. 6.3.4.3 시험방법 -40 o C에서 30분유지, 5분이내승온, 120 o C에서 30분유지, 5분이내냉각이 1 싸이클. 총 100 회반복하며열충격시험하고상온상습중에 1시간방치후, 코아손실및인덕턴스의변화를측정한다. 그림 1. 열충격시험방법 T A : 저온에서의 온도 -40 o C T B : 고온에서의 온도 120 o C t 1 : 30분 t 2 : 5분 이내 열충격 시험에 대한 구체적인 방법은 JIS C 0025, IEC 68-2-33 ( 온도 변화, 기초 환경적 실험 ) 을 따른다. 비정질 스트립 코어의 코어손실 및 인덕턴스의 측정 방법은 상기의 6.2.1 과 6..2.2 의 시 험법을 따른다. 6.3.5 염수분무시험 (Resistance to the salt spraying) 6.3.5.1 기준염수분무후코아손실의변화가 10% 이하, 인덕턴스의변화가 5% 이하이어야한다. 이와함께외관품질에이상이없어야한다. 6.3.5.2 시험편사용자와공급자의합의에의해제조된시험편으로한다. 6.3.5.3 시험방법온도 35±2 o C, 5% NaCl 염수분무환경에서 96 시간유지하고상온상습중에 1 시간방치후코아손실및인덕턴스의변화를측정한다. 염수분무시험에관한구체적인방법은 - 8 -
JIS Z 2371, ISO 9227 ( 염수분무시험방법 ) 을따른다. 염수분무시험후비정질스트립코어의코어손실및인덕턴스의측정방법은상기의 6.2.1 과 6.2.2 의시험법을따른다. 그림 2. 염수분무시험장치예 6.3.6 내충격시험 (Resistance to the Impact) 6.3.6.1 기준자연낙하시험후코아손실의변화가 10% 이하, 인덕턴스의변화가 5% 이하이어야한다. 이와함께외관품질에이상이없어야한다. 6.3.6.2 시험편사용자와공급자의합의에의해제조된시험편으로한다. 6.3.6.3 시험방법 1 m 위로부터낙하시험을수행한후코아손실및인덕턴스의변화를측정한다. 구체적인낙하시험에관한구체적인방법은 KS C 0244( 자연낙하시험방법 ) 을따른다. 낙하시험후비정질스트립코어의코어손실및인덕턴스의측정방법은상기의 6.2.1 과 6.2.2 의시험법을따른다. - 9 -
6.3.7 가속 수명시험 6.3.7.1 시험방법 (a) 시편 수량은 10 개로 한다. (b) 사용자와 공급자의 합의에 의해서 제조된 시험편을 사용하여 250 o C에서 168 시간 방치하고 상 온, 상습 중에 1시간 방치 후 코어 손실의 변화를 측정한다. 고온 방치 관한 구체적인 방법은 JIS C 0021, IEC 68-2-2 ( 고온 시험 방법 ) 을 따른다. 비정질 스트립 코어의 코어손실 측정 방법은 상 기 6.2.2 의 시험법을 따른다 (d) 고온 방치 시험 후 코아손실의 변화가 10% 이하이어야 하며 외관 품질에 이상이 없어야 한 다. 6.3.7.2 수명 보증기준 평가대상 제품과 동일한 공정으로 제조된 시편이 상기 품질, 성능, 환경시험 평가항목을 모두 만 족시키고, 시편 10 개에 대해 실시된 수명 시험 후 표 3과 같은 판정기준을 만족하면, 신뢰수준 90% 로 B 10 수명 20 년을 보장한다. 표 3. 수명시험 후 합격판정 기준 평가항목 250 o C 고온 168시간방치후의코어손실의변화 판정기준 10% 이하 - 10 -
신뢰성평가기준전자부품용 Fe-Si-B 계비정질스트립코아 2005 년 1 월 5 일발행 편집겸기술표준원장 발행인 발행산업자원부기술표준원 427-010 경기도과천시중앙동 2 (02) 509-7232~4 F a x ( 02) 509-7415 http://www.ats.go.kr 인쇄 제본 산업자원부기술표준원 이기준에대한의견또는질문은포항산업과학연구원신뢰성평가센터 ( 054-279-6583) 로 연락하여 주십시오. 또한 신뢰성 평가기준은 부품 소재전문기업등의육성에관한특별 조치법 제25 조의 규정에 따라 신뢰성전문위원회에서 심의되어 확인, 개정 또는 폐지 됩니다
RS D 0040 : 2005 Fe-Si-B Based Amorphous Strip Core for Electronic Part Ministry of Commerce, Industry and Energy Agency for Technology and Standards