USP <232>/<233> 및 ICH Q3D 금속불순물분석 : 애질런트 ICP-OES 솔루션 백서 금속불순물의새로운분석요건 전세계의규제기관들은의약품의효력과안전성을보장할책임이있습니다. 이책임을완수하기위해서는금속불순물등잠재적독성의위험성을가지고있는오염물을식별하고최대노출허용기준을설정해야합니다. 2017 년 2 월에의약품및의약품원재료의금속 ( 무기 ) 불순물분석에대한새로운절차가완성되었습니다. 기존습식화학분석법과비색분석법 ( 유럽약전 (EP: European Pharmacopoeia) 중금속시험법 (2.4.8), 미국약전 (USP: United States Pharmacopeial Convention) 일반시험법 <231>) 은의약품및의약품원재료의각금속불순물을정확하게정량화할수있는기기분석법으로대체됩니다.
USP 는국제의약품규제조화위원회 (ICH: International Council for Harmonisation of Technical Requirements for Pharmaceuticals for Human Use) 의규정에따라의약품및의약품원재료의금속불순물측정에대한새로운기준을발표했습니다. 새로운 USP 일반시험법 USP<232>( 금속불순물 - 허용기준 )[1] 와 <233>( 금속불순물 - 절차 )[2] 는 2018 년 1 월부터발효될예정입니다. 금속불순물가이드라인 (Q3D) 에규정된동급 ICH 분석법 [3] 은현재 5 단계 ( 발효 ) 에들어섰습니다. ICH-Q3D 는 2016 년 6 월부터새로운시판허가신청서 (MAA) 를적용하기시작했으며, 기존의허가된의약품에대한유효기간은 2017 년 12 월에종료됩니다. 새로운 ICH Q3D 및 USP<232> 시험법에는촉매원소와원재료, 제조과정, 환경, 포장, 용기마개시스템 (CCS) 등을통해의약품에유입될수있는기타무기오염물이포함되어있습니다. USP<231> 의기존황화물침전비색측정법과마찬가지로, 1 일노출허용량 (PDE) 은분석법의특성을따르는것이아니라각불순물의독성과노출경로를고려해설정됩니다. 물 생산장비 용기마개시스템 (CCS) 원료의약품 (API) 부형제 그림 1. 의약품중금속불순물의잠재적인유입처 의약품중금속불순물 USP<233> 은 USP<231> 에서사용된비색측정법대신현대적인기기분석법 ( 유도결합플라즈마분광분석법 (ICP-OES) 또는유도결합플라즈마 - 질량분석법 (ICP- MS)) 의사용을권장하고있습니다. 시험법에정의된요건을만족시킬수있다는전제하에다른절차를따를수도있습니다. USP<233> 는또한수은과같은휘발성원소를포함한규제대상분석물의정량적회수를위해, 고체시료에대해밀폐용기를이용한시료전처리법 (closed vessel sample digestion) 을채택할것을권장합니다. 금속불순물허용기준 ICH 및 USP 에따른경구, 비경구, 흡입투여경로의약품중금속불순물의 1 일노출허용량 (PDE: Permitted Daily Exposure) 은표 1 에나열되어있습니다. 금속불순물의잠재적독성은노출경로에따라서달라집니다. 제품의위험성분석을진행할때, 완제의약품의정해진투여경로에따라금속불순물을고려해야합니다. 원소가자연적으로존재할가능성 ( 예를들어원소가미네랄기반의원재료와관련된경우 ) 또는의도적 / 비의도적으로첨가될가능성 ( 예를들어화학반응의촉매나기기를거치는과정에서유입되는오염물의경우 ) 도함께고려되어야합니다. 모든의약품의위험성분석에는독성이가장강하고흔하게발견되는 Class 1 원소 (Cd, Pb, As, Hg) 에대한평가가포함되어야합니다. Class 3 의불순물과같은기타원소들은의약품이비경구또는흡입을통해섭취되는경우에만분석대상으로포함되기도합니다. 이 3 개의등급은원소의독성및의약품의정해진각투여경로에서생성될가능성을모두고려해결정되었습니다. USP 일반시험법 <232> 은의약품제조업체가어떻게모든종류의의약품에대해규제허용기준을준수하는위험성분석을수행할수있는지를안내하고있습니다. 구체적인방안에는완제의약품제제의직접적인연구, 약품에쓰인각원재료의불순물농도측정, 자격을획득한원재료공급업체에서제공한실험데이터또는위험성분석자료의검토등이포함됩니다. 위험성분석을수행할경우에는표 1 에요약된 USP<232> 의가이드라인을따라야합니다. 2
표 1. 투여경로에따른의약품의금속불순물 1 일노출허용량 (PDE). 표에서음영으로표시된원소는제품위험성분석에서고려되어야하는원소들입니다. 자연적으로존재하는경우이든의도적으로첨가된경우이든, 위험성분석에나열된모든원소를포함시켜야합니다. ICH/USP Class 원소 경구 PDE (µg/ 일 ) 비경구 PDE (µg/ 일 ) Class 1 Cd - 카드뮴 5 2 2 Pb - 납 5 5 5 As - 비소 ( 무기물 ) 15 15 2 Hg - 수은 ( 무기물 ) 30 3 1 Class 2A Co - 코발트 50 5 3 V - 바나듐 100 10 1 Ni - 니켈 200 20 5 Class 2B Tl - 탈륨 8 8 8 Au - 금 100 100 1 Pd - 팔라듐 100 10 1 Ir - 이리듐 100 10 1 Os - 오스뮴 100 10 1 Rh - 로듐 100 10 1 Ru - 루테늄 100 10 1 Se - 셀레늄 150 80 130 Ag - 은 150 10 7 Pt - 백금 100 10 1 Class 3 Li - 리튬 550 250 25 Sb - 안티몬 1200 90 20 Ba - 바륨 1400 700 300 Mo - 몰리브덴 3000 1500 10 Cu - 구리 3000 300 30 Sn - 주석 6000 600 60 Cr - 크롬 11000 1100 3 흡입 PDE (µg/ 일 ) J- 값 완제의약품중금속불순물의최대허용기준은최대 1 일노출허용량 (PDE) 으로표현됩니다. 이허용기준은의약품중금속불순물의농도와해당의약품의임상최대투여량 (MRDD: Maximum Recommended Daily Dose) 을고려해설정되었습니다. 분석전용매로분해또는희석하는과정을거쳐야하는물질의경우, PDE 허용기준 (µg/ 일 ) 은반드시사용된장비의분석범위와 1 일최대투여량을고려한희석배수를반영하고, 측정준비된시료의농도기준 (µg/l) 으로변환해주어야합니다. 전처리를거친시료의목표농도값 (Target Concentration value) 을 "J- 값 " 이라부릅니다. J- 값은시료중분석물의최대허용농도기준으로정의합니다. 계산공식은다음과같습니다 : J = PDE Total Dilution x Max Daily Dose Class 1 에해당하는원소인 Cd, Pb, As, Hg 의최대투여량을 1g/1 일로, 희석배수를 10 x( 예, 5g/50mL) 및 50 x( 예, 2g/100mL) 로가정하여계산한 J- 값이표 2 에나와있습니다. 또한비교를용이하게하기위해 Agilent 5100 ICP-OES 의일반적인기기검출한계 (IDL) 도표시되어있습니다. 3
표 2. J 값계산의예, 기기검출한계 (IDL) 의비교 원소 경구투여량 PDE (µg/ 일 *) J-value @ 10x Dil. (µg/l) J-value @ 50x Dil. (µg/l) Agilent 5110 ICP-OES IDLs*** (µg/l) Cd 5 50 10 0.1 Pb 5 50 10 2.2 As** 15 150 30 3.7 Hg** 30 300 60 1.0 * 이값은 1 일투여량이 10g 인경구투여약품에적용됨. ** 무기물형태 *** Axial 관측 J- 값은검량농도수준과 QC 농도를결정하는데에도사용됩니다. 예를들어, 검량은 0.5J ~ 1.5J 의농도범위에서수행되어야하며, 검출능력 ( 검출한계측정절차 ) 은 J 값의 80%(0.8J) 로첨가한농도에대한회수율평가로검증하거나, J 값의 50%~150%(0.5J~1.5J) 사이의농도범위에서수행되어야합니다. 금속불순물시험역량향상을위한애질런트의완성된워크플로 시료전처리 USP<233> 에는 ICP-MS 및 ICP-OES 약전절차에따른분석의시료전처리방법이기술되어있습니다. 다음과같은방법이포함됩니다 : 직접분석 물또는희석산과같은적절한수용액에서희석 / 용해 적합한유기용매 (2- 부톡시에탄올 : 물 (25:75), DMSO 또는 DGME 등 ) 에서의희석 / 용해 간접적솔루션, 강산을이용한밀폐형마이크로웨이브전처리법 (closed-vessel microwave digestion) 이권장됨 대부분의고형의약품성분은질산및염산을이용한밀폐형마이크로웨이브전처리법으로분해될수있습니다. 분해된시료내의모든규제대상원소는 용액내에서안정화되어적절한희석후 ICP-OES 또는 ICP-MS 로직접분석할수있게됩니다. 애질런트는전세계의모든선도적마이크로웨이브장비공급업체들과긴밀한협업관계를맺고있으므로, 제약실험실은각자의필요와지역마이크로웨이브장비공급업체의사정에맞는가장적합한제품을선택, 설치할수있습니다. 애질런트 ICP-OES 는모든일반산과유기용매매트릭스와고형용존물이높은복잡한매질에서도내성이뛰어납니다. 이러한방식은많은희석과정없이도일반적으로측정이가능합니다. 애질런트 ICP-OES 시스템은또한안정적인수직형플라즈마방식을사용하며, 모든분석물에대해뛰어난안정성과높은감도를보장합니다. 애질런트 ICP-OES 의시료도입기본구성은다양한수용성및산에대해서안정적이며, 최대 25% 용존고형물 (TDS) 까지도입할수있습니다. 이처럼, 불산 (HF) 를사용하여완전분해를요구하는시료분석에서는비활성시료주입시스템이필요합니다. 이와같은시료는대부분의제약실험실에서흔치않으나, 일부미네랄기반부형제를다룰때에는필요하게될수있습니다. 기기의성능및적합성파악 USP 일반시험법 <233>( 금속불순물 - 절차 ) 은의약품및의약품원재료의금속불순물농도측정에 ICP-OES 또는 ICP-MS 를사용할것을권장합니다. 허용기준을만족하고검증이된경우불꽃원자흡수분광법 (FAAS) 과같은대체기술을사용할수도있습니다. FAAS 는의약품원재료의일부고농도원소를규명하는데적합할수있으나, 식별대상분석물이매우낮은농도로함유된완제의약품의테스트에서는정확한결과를산출하기어려워사용이적합하지않습니다. 각실험실의특별요건에맞게가장적합한금속불순물측정방법을선택해야하며, 가장우선적으로고려해야할사항은해당분석을자격을갖춘위탁실험실 (contract laboratory) 에맡길지, 아니면실험실내부에서수행할지에대한것입니다. 만약처음이러한 4
분석을위해새기기를구입하고시험중이라면, 해당분석법의요구사항과관련된기기의성능을파악하는것이중요합니다. 그외에실험실연구원의기술과경험, 예산등도의사결정요인이될수있습니다. 그림 2. Agilent 7800 ICP-MS 그림 3. Agilent 5110 ICP-OES ICP-OES 또는 ICP-MS? ICP-OES 와 ICP-MS 의주요기능차이는다음과같습니다. 검출한계 ICP-MS는대부분의원소에대해 ICP-OES보다약 1/1,000 수준으로낮은농도까지검출하므로검출한계 (DL) 면에서훨씬우수합니다. 반면 ICP-OES는 ICP- MS보다 10배이상의고매질시료에서도안정적이기때문에분석전희석없이측정이가능하기도합니다. ICP-OES의검출한계는벌크원재료 ( 필러 (filler), 바인더 (binder) 등 ) 나경구투여약물같이 PDE가상대적으로높은물질을분석할때는충분할수도있습니다. ICP-MS 기기는 ppt(parts-per-trillion) 의낮은검출 한계를제공합니다. 이성능은경구투여의경우보다 10 배에서 100 배가량낮은 PDE 를나타내는비경구또는흡입투여경로를포함한모든제형약품의모든규제대상원소를정확히측정하기에충분한검출성능입니다. 다양한제품을생산하는제약업체에서는 ICP-MS 의뛰어난유연성과검출한계를이용하여모든시료유형의모든규제대상원소를분석할수있습니다. 희석시료전처리과정에적용되는희석농도도고려되어야합니다. 만약시료가고농도의용존고형물 ( 예, 탄산나트륨 ) 을포함하고있거나사용가능한시료가워낙소량이라많은희석을해야한다면, 최종희석용액중의모든금속불순물을검출하기위해 ICP-MS의높은감도가필요할수있습니다. 용존고형물을함유한시료를처리하는능력 ICP-OES 기기의용존고형물에대한안정도는 ICP-MS보다뛰어나며, Agilent 5110 ICP-OES는총용존고형물이 25% 에달하는시료를분석할수있으므로, 상대적으로높은 PDE 허용기준이적용되는경구투여약품에쓰일벌크원재료분석을담당하는실험실에서는유용한선택이될수있습니다. 애질런트 ICP-MS 시스템은 2% 이하의총용존고형물 (TDS) 을함유한시료를처리할수있으며, 이는일반적으로약 0.2% 수준의매트릭스에제한적인타사 ICP-MS 시스템보다약 10배높은수치입니다. 만약높은 PDE 허용기준에서고농도용존고형물을포함한시료의금속불순물을정량해야한다면 ICP- OES 가옳은선택일수있습니다. 그러나만약고농도시료내에존재하는저농도금속불순물를측정하기위해 ( 예, 건조분말흡입제에사용되는젖산중의크롬 ) 고형물농도를낮추는시료희석을해야하는경우라면, ICP-MS 사용이더나을수있습니다. 종분리 (Speciation) 일부원소의경우, 원소의생체이용률과독성은화학적형태 ( 산화여부, 유기금속복합체여부등 ) 에따라크게달라질수있습니다. ICH/USP 규정에기재된분석물중비소와수은은다른원소에비해특히이런면에서주의대상으로꼽히며, 모든의약품에서꼭분석해야하는원소들입니다. 무기비소는가장독성이강한 5
화학적형태이며, 무기수은은의약품내에서가장흔히존재하는화학적형태이므로이두원소의 PDE 허용값은무기물형태일때를기준으로합니다. 비소의농도 ( 모든형태의총농도 ) 가목표농도값을초과할경우, USP<232> 에서는무기물형태비소의농도를측정하기위한종분리 (speciation) 분석을시행하도록권고하고있습니다. 모든화학적형태의비소를포함한총비소농도가허용기준을넘더라도무기비소의농도가허용기준이하로검출되면재료는규제를준수하는것으로판단됩니다. 시험대상물질에독성이강한메틸수은 ( 일반적으로생선, 해초등해양산물에서유입됨 ) 이포함되어있다고의심될경우수은종분리분석을진행해야합니다. 그렇지않은경우에는수은의총농도 ( 주로무기형태 (2 + ) 로존재함 ) 를측정하여규제요건에부합하는지확인합니다. 분석속도 ICP-OES는동일한시간내에 ICP-MS의 2배되는시료를처리할수있습니다. ICP-MS는 24시간당최대약 1000 개의시료를처리하는데반해, ICP-OES는 24시간당최고 2500개의시료를처리할수있습니다. 따라서 ICP-OES는높은수준의희석이불필요한경구투여약품시료를대량으로측정해야하는실험실에가장적합한시스템입니다. 왜애질런트의 ICP-OES 를선택해야하는가? Agilent 5110 ICP-OES 기기는 USP 와 ICH 분석법을이용한의약품시료분석에적합하며, 다음과같은기능및성능을갖추고있습니다. 넓은범위의시료매트릭스와총매트릭스부하 ( 최대 25% 의총용존고형물농도 ) 가높은시료를처리할수있습니다. 이는전처리과정이필요한대량의시료에적은희석처리를하더라도 ICH/USP 규제요건에부합하는정확도와정밀도를충족합니다. USP <233> 의재현성요건에맞는우수한장시간에걸친연속분석안정성을제공합니다. 각원소농도의 "In method" 확인을제공함으로써신뢰성있는결과를보장합니다. 분석대상물질의특이성. 그림 4. 종분리분석에사용되는완벽통합 Agilent LC-ICP-MS 시스템 종분리분석은액체크로마토그래피와같은크로마토그래피분리법과 ICP-MS 를결합하는방식으로이루어집니다. Agilent LC-ICP-MS 시스템은광범위하게사용되는완벽통합시스템으로, 의약품원재료중비소및수은의종분리분석을수행하는간단하고믿음직한선택입니다. 까다로운시료측정을위한수직형토치 5110 토치는빠르고재현성있게장착할수있도록설계되었습니다. 수직방향의토치는결정형입자가주입기에침적되는속도를낮추어줍니다. 이러한침적현상은수평형토치를이용해복잡한혼합물시료를분석하는경우흔하게발생하며, 이는기기감도를급속히떨어뜨립니다. 5110 수직형토치는복잡한혼합물시료에대해높은내성을갖추고있어단기적인정밀도와장기적인안정성이뛰어나며, 세척횟수도크게줄일수있습니다. 6
정확한결과를제공하는옵틱디자인 Agilent 5110 ICP-OES의 Vista Chip II Charge Couple Device 고체상검출기에는 echelle 광학장치가내장되어있습니다. 이검출기는단번에 167 ~ 785nm 범위의파장 98% 이상을판독합니다. 이를통해각원소에여러교차되는파장을적용하여, 원소의측정농도가간섭의영향을받지않는 "in method" 확인을사용할수있습니다. 이과정은검출기가이미수집한데이터를사용해이루어지며, 분석결과의정확도에대한신뢰를높여줍니다. 그림 5. 수평형토치로용존고형물농도가높은시료를분석할때침적현상이자주발생하므로, 이러한시료를분석할때 5110 수직형토치가이상적인구성입니다. 그림 7. 검출기는밀폐되어있으므로 UV 파장측정시아르곤퍼지는불필요합니다. 밀폐상태는검출기수명을연장합니다. 그림 6. 5110 수직형토치는장기간에걸쳐매우안정적인신호를제공합니다. 이는토치세척때문에시료분석을중단할필요가없음을뜻합니다. 위의분석결과는 25% 염화나트륨매트릭스내 4 개원소의 250ppb 스파이크를나타냅니다. 4 시간에걸쳐 3% 이하의재현성 (RSD) 결과를얻었습니다. 그림 8. 5110 검출기의넓은파장영역은측정된각원소의농도를다른방출선으로검증할수있도록합니다. 이는추가시간을들이지않고분석과정에서실행됩니다. 위의그래프는 226.502nm 방출선으로용액내의극미량카드뮴 (Cd) 을세번측정한후 214.439nm 방출선으로그결과를검증하였습니다. 7
극대화된기기가동시간 5110을제어하는 ICP Expert 소프트웨어는간단하면서도직관적인대시보드디스플레이및자동화된성능확인기능을갖추고있습니다. 이는기기상태에대한실시간정보를제공하여기기가사양에따라제대로작동되고있는지를확인할수있게해줍니다. 현재판매중인 Agilent ICP Expert 21 CRF 11 소프트웨어키트에는 Agilent ICP-OES 시스템을제어하는 ICP Expert 소프트웨어, Agilent Spectroscopy Database Administrator(SDA), Agilent Spectroscopy Configuration Manager (SCM) 소프트웨어가포함되어있습니다. 이키트는애질런트에의해다음요구사항을준수하는것으로증명되었습니다. 21 CFR 58( 우수실험실운영기준 ) 21 CFR 210( 우수의약품제조관리기준 ) 또는 21 CFR 211( 현행우수완제의약품제조관리기준 ) 그림 10 를참조하십시오. 그림 9. 기기가제대로작동되고있는지를한눈에보여주는중요한기기파라미터가표시된, ICP Expert 소프트웨어의실시간디스플레이 의약품원재료공급업체평가 (Vendor Qualification) ICP 기기성능에대한이해와평가후, 각실험실의목적에맞는적합한시스템을선택하는것은해당조직이원소분석능력을갖추게되는과정에서매우중요한단계입니다. 이과정의일부로써일반적으로의약품원재료공급업체평가 (Vendor Qualification) 가이루어집니다. 여기에는원재료공급업체의주요성과와경력에대한검토, 공급업체가적합한품질관리시스템 (QMS) 을적재적소에배치하고있는지에대한확인등의절차가포함되어야합니다. 품질관리시스템 (QMS) 은제품의설계부터노후화 / 소모단계까지제품의품질을관리하는시스템입니다. 애질런트는수십년간제약업계의신뢰할수있는공급업체로자리매김해왔습니다. 당사의품질관리시스템은높이평가되고있으며, 제품수명주기 (PLC) 및 ISO 품질관리시스템과관련된절차및기록은당사의제품이일관된고품질과고성능을유지할수있도록보장합니다. 그림 10. ICP Expert 21 CFR Part 11 소프트웨어키트와함께배달되는제품검증신고서 (Declaration of Product. Validation) 의예 설치및운영적격성평가 공급업체와기기선정이새로운분석능력을갖추는과정의첫번째단계라면, 공급업체의배송, 설치, 시운전역시무난한과정을위해핵심적인부분입니다. 적격성평가서비스 ( 설치적격성평가 (IQ) 및운영적격성평가 (OQ)), 사용자교육등은규제대상조직에서분석역량을새로갖추는데매우중요한 8
과정들입니다. 새로운기기가시운전을완료한후, 애질런트의풍부한문서자료와응용분석전문지식을활용해귀하의새로운기기가생산에최대한빠르게투입되어그효과를발휘할수있도록도와드립니다. 적격성평가서비스애질런트는제약실험실이금속불순물시험능력을갖추는준비단계에서종합적인지원서비스를제공합니다. 당사의높은생산품질관리수준과전세계에분포된공장교육을이수한지원엔지니어가있어, 신속한기기설치와일관되고신뢰성있는기기성능을보장해드립니다. 기기설치가완료되면 Agilent CrossLAB Automated Compliance Engine(ACE) 을통해기기적격성평가서비스 (IQ/OQ) 를제공하고종이없는분석기기적격성평가 (AIQ) 절차를자동으로진행합니다. 금속불순물분석법템플릿 Agilent 5110 은 ICH-Q3D 및 USP<232>/<233> 의요구사항을준수하는의약품시료내금속불순물분석을위한기존설정분석법을함께제공합니다. 한번의클릭으로시료정보가포함된분석법이로딩되고분석이수행됩니다. 기존설정분석법에는플라즈마상태, 원소방출파장, 적분시간, 내부표준물질등의파라미터설정이포함되어있습니다. 이는분석부터출력단계에이르는시간을단축해줍니다. 이분석법템플릿은실험실의특정요건에맞게편집가능하며새로운맞춤형분석법템플릿으로저장할수있습니다. ACE 는온전한추적과감사가가능한인증서류와장비적격성평가보고서 (EQR) 를제공함으로써, 규제위반의위험성을낮춥니다. 그림 12. Agilent 5110 와함께제공되는, USP <233> 에따른금속불순물분석에적합한분석법템플릿 그림 11. Agilent CrossLab 적격성평가 (OQ) 서비스서류 9
추적가능한인증표준품으로데이터품질확보 분석결과품질의검증은 GMP 의매우중요한요구사항입니다. 분석장비의검량과시스템적합성테스트를통한기기성능의확인에사용되는표준품과참조물질의품질에기반하여데이터품질을입증합니다. 애질런트의 ICH/USP 인증표준물질 (CRM) 은 ICH/USP 분석법에서정의한경구투여 PDE 허용기준에합당한농도로사전혼합된원소혼합물입니다 ( 경구투여외다른노출경로의 PDE 수치에사용할수있는 CRM 은현재개발중 ). CRM 은 NIST 표준물질에서추적가능해애질런트 ICP-MS 에의해생성된정량적결과의신뢰성을더한층높여줍니다. 따라서단일원소표준용액을이용해직접표준용액을준비할필요가없습니다. 표 3. 경구투여의약품용애질런트 CRM 표준용액내원소농도 ICH/USP Class 원소 경구 PDE (µg/ 일 ) 원액중농도 (µg/ml) Class 1 Cd 5 5 Pb 5 5 As( 무기물 ) 15 15 Hg( 무기물 ) 30 30 Class 2A Co 50 50 V 100 100 Ni 200 200 Class 2B Tl 8 8 Au 100 100 Pd 100 100 Ir 100 100 Os 100 100 Rh 100 100 Ru 100 100 Se 150 150 Ag 150 150 Pt 100 100 Class 3 Li 550 550 Sb 1200 1200 Ba 1400 1400 Mo 3000 3000 Cu 3000 3000 Sn 6000 6000 Cr 11000 11000 ICH/USP 분석대상원소표준용액 A ICH/USP 분석대상원소표준용액 B ICH/USP 분석대상원소표준용액 C ICH/USP 분석대상원소표준용액 D 그림 13. 모든규제대상원소표준용액을포함하고있는애질런트키트 애질런트의금속불순물분석용 CRM 은모든규제대상원소를포함하는 5 개의개별표준용액으로구성된키트 (1 개의내부표준용액포함 ) 로이용가능합니다. 각 5 개의솔루션은상황에따라 ( 예를들어 Class 1 의원소만을분석하는경우 ) 개별구입도가능합니다. 표준품은 ISO Guide 34 를준수하는시설에서생산되며, ISO/IEC 17025 시험실험실에서인증을받았습니다. 10
전자기록및전자서명 (ERES) 규제준수 미국 FDA 는전자기록의보안, 무결성, 추적가능여부에대한규정을시행중이며, 전자기록과전자서명이실제서류기록및직접적인자필서명과동일하게수용가능한지를결정하는요인들에대한가이드라인을제공합니다. 이규정은미국연방규정집 (21 CFR Part 11) Title 21 의 Part 11 에기술되어있습니다. 유럽연합집행위원회 (EC) 의 Annex 11: 우수의약품제조관리기준 (GMP: Good Manufacturing Practice) 의전산시스템규정에도유사한규정이기술되어있습니다. 다른관할구역에서적용되는동등한수준의규정으로는의약품심사상호실사기구 PIC/S (The Pharmaceutical Inspection Convention/ Pharmaceutical Inspection Co-operation Scheme) GMP, 중국 GMP 를비롯해브라질 GMP 의전산시스템관련조항의규정등이있습니다. 애질런트는실험실이 Part 11/Annex 11 의규정을준수할수있도록다양한소프트웨어솔루션을제공합니다. 기기제어 PC 에설치하는것에서부터서버에분산설치하는경우에이르기까지당사의솔루션은다음을제공합니다. ICP-OES 소프트웨어사용자액세스용비밀번호보호 구성가능한소프트웨어기능, 멀티레벨액세스가능 ( 사용자권한에따라결정 ) Agilent ICP-OES 전자기록소프트웨어솔루션에대한더자세한정보는 "Support for 21 CFR Part 11 and Annex 11 Compliance: Agilent ICP Expert software and SDA/SCM"( 발행물번호 5991-8143EN) 을참조하시기바랍니다. 지원서비스 애질런트 ICP-OES 시스템은주요작업, 워크플로, 유지관리작업에대한세부적인사용자교육및문서를포함하고있으며, 우수실험실운영기준 (GLP) 및우수의약품제조관리기준 (GMP) 의요구사항을지원합니다. 시행패키지의일부로특정응용분석에관한사용자교육이추가로제공됩니다. 애질런트사무실및대리점의글로벌네트워크에힘입어, 세계곳곳에퍼져있는의약품원재료제조업체도문제없이지원가능합니다. 애질런트는지원이필요한기기및실험실의많고적음에관계없이, 다음과같은지원서비스를통해문제를신속히해결하고가동시간을늘리고팀의생산성을극대화하도록도와드릴수있습니다. 온사이트유지보수, 수리및규제준수 모든시스템및주변기기에대한서비스계약 전세계전담전문가의네트워크를통한응용교육및컨설팅 사용자로그온 / 로그오프에대한감사추적 - ICP Expert 소프트웨어내에서이루어진사용자작업에대한세부적인정보포함 특정작업에대한전자서명프로토콜 ( 사용자검증및검증사유 ) Agilent Spectroscopy Database Administrator(SDA) 를이용한전자서명보관에보안기능을제공합니다. 이는단일 Agilent ICP-OES 에서수집된데이터를안전하게데이터베이스에저장할수있도록합니다. SDA 는기기워크스테이션 PC 또는네트워크서버에설치될수있습니다. 그림 14. Agilent ICP-OES 시스템은전문적인온라인도움말과일반적인워크플로를단계별로설명하는 efamiliarization 자료를제공합니다. 11
Agilent Service Guarantee 는업계에서가장안전한보증으로인정받고있습니다. 애질런트와서비스계약이체결된기간에수리가필요한경우, 애질런트는수리를보증하거나해당기기를무상으로교체해드립니다. 고객의실험실이최고의생산성을유지하도록이러한서비스보증을실시하는제조사또는서비스제공업체는애질런트뿐입니다. 참조 1. USP Chapter <232> Elemental Impurities- Limits, Pharmacopeial Forum, 42(2), Mar-April 2016. 2. USP Chapter <233> Elemental Impurities- Procedures, USP 38 NF 33, Second Supplement 3. ICH Guideline Q3D on Elemental Impurities, EMA/CHMP/ICH/353369/2013, July 2016. 12
www.agilent.com/chem/pharma 애질런트는이발행물에포함된오류나, 이발행물의제공, 이행또는사용과관련하여발생한부수적인또는결과적인손해에대해책임을지지않습니다. 이발행물의정보, 설명및사양은사전공지없이변경될수있습니다. Agilent Technologies, Inc. 2017 2017 년 5 월 26 일한국에서발행발행물번호 : 5991-8150KO 서울시용산구한남대로 98, 일신빌딩 4층우 )04418 한국애질런트테크놀로지스 ( 주 ) 생명과학 / 화학분석사업부고객지원센터 080-004-5090 www.agilent.co.kr