정부출연연구기관 KBSI KOREA BASIC SCIENCE INSTITUTE DAEGU CENTER OPEN KBSI! WITH KBSI! GREAT KBSI! 한국기초과학지원연구원대구센터 KOREA BASIC SCIENCE INSTITUT

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정훈 범
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1 정부출연연구기관 KBSI KOREA BASIC SCIENCE INSTITUTE DAEGU CENTER OPEN KBSI! WITH KBSI! GREAT KBSI! 한국기초과학지원연구원대구센터 KOREA BASIC SCIENCE INSTITUTE DAEGU CENTER

2 Korea Basic Science Institute Daegu Center X- 선회절분야 X-Ray Diffractometer - PHILIPS, X'Pert-APD High Resolution X-Ray Diffractometer - PHILIPS, X'Pert PRO-MRD Multi-Purpose X-Ray Diffractometer - PANalytical, X'Pert PRO-MPD/MRD Multi-Function X-Ray Diffractometer - PANalytical, EMPYREAN High Resolution 2-Dimensional X-Ray Diffractometer - Bruker, D8 DISCOVER 질량분석연구분야 High Resolution Mass Spectrometer(A) - Jeol, JMS 700 High Resolution Mass Spectrometer(B) - Jeol, JMS 700 High Resolution Mass Spectrometer - Thermo Scientific, DFS 나노융합이미징연구분야 Transmission Electron Microscope(125KV) - HITACHI, H-7100 Field Emission Scanning Electron Microscope - HITACHI, S-4200 Ultra High Resolution Field Emission Scanning Electron Microscope - HITACHI, S-4800 Analytical High Resolution Scanning Electron Microscope - Carl Zeiss, SUPRA 55VP Field Emission Transmission Electron Microscope(200KV) - Jeol, JEM-2100F Focused Ion Beam System - FEI, Scios 분광영상연구분야 Optical Spectrometer(UV/Vis/NIR Spectrophotometer) - Varian, CARY 5G FT-UV-Vis-IR Spectroscopic Imaging Microscope - Bruker Optics, Hyperion-3000 Time-Resolved Fluorescence Confocal Microscope - PicoQuant, Micro Time-200 Super-Resolution Real-Time Fluorescence Lifetime Imaging Microscope( 신규도입예정 ) 생체성분분석연구분야 OCSAS (Organism Component Separation Analysis System) - THERMO FISHER/MembraPure, ICS-3000/ARACUS 원소분석연구분야 Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer - Bruker, S8 TIGER Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer - Agilent, 7700

3 Open World-class Research Platform, KBSI 한국기초과학지원연구원대구센터 KOREA BASIC SCIENCE INSTITUTE DAEGU CENTER

$연혁 History 7 장비소개 List of Instruments X-Ray Diffractometry$ Research X- 선회절분야 9 Mass Spectrometry Research 질량분석연구분야 14 Nano

Research 분광영상연구분야 22 Contents Organism Component Analysis Research

4 KBSI 목차 Contents 4 비전 역점목표 Vision & Main Purpose 5 인사말 Greeting 6 연혁 History 7 장비소개 List of Instruments X-Ray Diffractometry Research X- 선회절분야 9 Mass Spectrometry Research 질량분석연구분야 14 Nano Fusion Imaging Research 나노융합이미징연구분야 16 Optical Spectrometry Research 분광영상연구분야 22 Contents Organism Component Analysis Research Element Analysis Research 연구지원안내 29 중소기업지원프로그램 30 찾아오시는길 31 생체성분분석연구분야 원소분석연구분야 26 27

KOREA BASIC SCIENCE INSTITUTE DAEGU CENTER Vision & Main Purpose 임무 국가과학기술발전에기반이되는기초과학진흥을위한연구시설장비및분석과학기술관련연구개발, 연구지원및공동연구수행 비전 연구시설 장비혁식을선도하는세계일류의기초연구인프라기관 주요기능추진전략 (KBSI 핵심가치 )

5 KOREA BASIC SCIENCE INSTITUTE DAEGU CENTER Vision & Main Purpose 임무 국가과학기술발전에기반이되는기초과학진흥을위한연구시설장비및분석과학기술관련연구개발, 연구지원및공동연구수행 비전 연구시설 장비혁식을선도하는세계일류의기초연구인프라기관 주요기능추진전략 (KBSI 핵심가치 ) 첨단대형연구장비의구축 운영을통한연구지원및공동연구 4 대기능 분석과학연구를통한분석기술 장비개발 연구시설 장비혁식을선도하는세계일류의기초연구인프라기관 Key roles 기초연구진흥 Benefit to customer 고객가치실현 Superexellence 우수성과창출 국가연구시설 장비총괄관리전담 연구장비전문인력및창의적미래인재양성 Innovation 연구기반혁신

COMPANY OVERVIEW 과학으로지키는국민행복! KBSI 와함께! Greeting 한국기초과학지원연구원은대학및연구기관등에서독자적으로확보하기어려운고가의첨단기기및대형공동연구시설을대덕본원, 오창센터및 7개지역센터 ( 서울센터, 부산센터, 대구센터, 광주센터, 전주센터, 춘천센터, 서울서부센터 ) 에설치하여연구지원및공동연구를수행하고있습니다.

6 COMPANY OVERVIEW 과학으로지키는국민행복! KBSI 와함께! Greeting 한국기초과학지원연구원은대학및연구기관등에서독자적으로확보하기어려운고가의첨단기기및대형공동연구시설을대덕본원, 오창센터및 7개지역센터 ( 서울센터, 부산센터, 대구센터, 광주센터, 전주센터, 춘천센터, 서울서부센터 ) 에설치하여연구지원및공동연구를수행하고있습니다. Korea Basic Science Institute(KBSI) was established in August 1988 as the first national center to house various user facilities to help researchers across the nation carry out basic science research. By operating most advanced state-of-the-art research equipment and facilities which are typically too expensive for university or institutes to acquire individually. The facilities are utilized efficiently and joint collaborative research are conducted at the Daedeok headquarter and seven regional centers.

KOREA BASIC SCIENCE INSTITUTE DAEGU CENTER History 1980~1999 2000~현재 1988. 8.

기초과학연구지원센터 대구분소 개소 초대 분소장 이상윤 교수 취임 2001. 9. 제3대 분소장 강신성 교수 취임 1993. 6.

4. 기초과학지원연구소 대구분소로 명칭변경 2009. 9. 제5대 소장 이상학 교수 취임 1999. 6. 기초과학지원연구소 독립 2011. 9. 제6대 소장 허태린 교수 취임 1999.

7 KOREA BASIC SCIENCE INSTITUTE DAEGU CENTER History 1980~ ~현재 한국과학재단 부설 기초과학연구지원센터 설립 한국기초과학지원연구원 대구센터로 명칭 변경 기초과학연구지원센터 대구분소 개소 초대 분소장 이상윤 교수 취임 제3대 분소장 강신성 교수 취임 기기장비도입설치 (IBRD차관 140만달러) 제4대 소장 김우영 교수 취임 대구분소 서비스지원 업무개시 첨단기능소재 연구분야 전문 지원 기초과학지원연구소 대구분소로 명칭변경 제5대 소장 이상학 교수 취임 기초과학지원연구소 독립 제6대 소장 허태린 교수 취임 제2대 분소장 박태 교수 취임 대구ㆍ경북 중소기업지원센터 설치 한국기초과학지원연구원 대구센터로 명칭 변경 HR-2D XRD를 포함한 총 20종의 첨단장비 분석지원 Field Emission Transmission Electron Microscope(200KV) X-Ray Metrology Lab Time-Resolved Fluorescence Confocal Microscope

$생체성분분석연구분야 X- 선회절분야 X-Ray Diffractometer High Resolution X-Ray Diffractometer Multi-Purpose X-Ray Diffractometer Multi-Function X-Ray Diffractometer High Resolution 2-Dimensional X-Ray Diffractometer$

8 세계인류를지향하는기초과학연구기관 KBSI- 미래를향한희망을열어드립니다 KOREA BASIC SCIENCE INSTITUTE DAEGU CENTER 원소분석연구분야 Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer ICP-MS(Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer) 생체성분분석연구분야 X- 선회절분야 X-Ray Diffractometer High Resolution X-Ray Diffractometer Multi-Purpose X-Ray Diffractometer Multi-Function X-Ray Diffractometer High Resolution 2-Dimensional X-Ray Diffractometer 질량분석연구분야 High Resolution Mass Spectrometer(A) High Resolution Mass Spectrometer(B) High Resolution Mass Spectrometer OCSAS (Organism Component Separation Analysis System) - Bio LC - Amino Acid Analyzer 나노융합이미징연구분야 분광영상연구분야 Optical Spectrometer(UV/Vis/NIR Spectrophotometer) FT-UV-Vis-IR Spectroscopic Imaging Microscope Time-Resolved Fluorescence Confocal Microscope Super-Resolution Real-Time Fuorescence Lifetime Imaging Microscope ( 신규도입예정 ) Transmission Electron Microscope(125KV) Field Emission Scanning Electron Microscope Ultra High Resolution Field Emission Scanning Electron Microscope Analytical High Resolution Scanning Electron Microscope Field Emission Transmission Electron Microscope(200KV) Focused Ion Beam System

$X- 선회절연구분야 X-Ray Diffractometry Research X-Ray Diffractometer 제작사 PHILIPS$ Purpose Sample Stage Powder(bulk) : FDS, FRS, FASS, Curved graphite crystal

Purpose Sample Stage Powder(bulk) : FDS, FRS, FASS, Curved graphite crystal

9 X- 선회절연구분야 X-Ray Diffractometry Research X-Ray Diffractometer 제작사 PHILIPS (Netherlands) 모델명 X'Pert - APD 구성 X-Ray generator : 3KW LFF Cu anode Multi Purpose Sample Stage Powder(bulk) : FDS, FRS, FASS, Curved graphite crystal Thin film attachment : Flat graphite crystal, collimator 도 물질의결정구조분석 결정상의정성및정량분석

$X- 선회절연구분야 X-Ray Diffractometry Research High$ (Netherlands) 모델명 X' Pert PRO - MRD 구성 X-Ray

cradle( 2θ,Omega, Psi, Phi, X, Y, Z) 4-bounce

-Ge(220) X-Ray mirror and hybrid (mirror + Ge(220)

Mono-capillary : 100μm, 500μm X-Ray Lens Thin film

10 X- 선회절연구분야 X-Ray Diffractometry Research High Resolution X-Ray Diffractometer 제작사 PHILIPS (Netherlands) 모델명 X' Pert PRO - MRD 구성 X-Ray generator : 3KW Special LFF-Cu anode Eulerian cradle( 2θ,Omega, Psi, Phi, X, Y, Z) 4-bounce crystal Ge(220), Ge(440), Asym.-Ge(220) X-Ray mirror and hybrid (mirror + Ge(220) 4-bounce) Analyzer crystal : 3-bounce Ge(220) Mono-capillary : 100μm, 500μm X-Ray Lens Thin film attachment 도 단결정및 Epitaxial layer 의결정구조및결정성해석 미소영역결정구조측정 Texture 및 Residual Stress 측정 다층박막의두께, 거칠기및밀도측정 (XRR) 10 11

$X- 선회절연구분야 X-Ray Diffractometry Research Multi-Purpose X-Ray Diffractometer 제작사 PANalytical (Netherlands) 모델명 X'Pert PRO-MRD$ Ge(220)) Eulerian cradle (2θ, Omega, Psi, Phi, X, Y, Z) DHS (Domed Hot Stage) : R.

Ge(220)) Eulerian cradle (2θ, Omega, Psi, Phi, X, Y, Z) DHS (Domed Hot Stage) : R.

Detector 도 고분해능 X- 선회절에의한반도체및산화물박막에대한구조특성측정및해석 Epitaxy 의 mismatch, composition, thickness Super lattice 박막 역격자공간산란분포 (RSM) 측정

11 X- 선회절연구분야 X-Ray Diffractometry Research Multi-Purpose X-Ray Diffractometer 제작사 PANalytical (Netherlands) 모델명 X'Pert PRO-MRD / X'Pert PRO-MPD 구성 X-Ray generator : 3KW Special LFF Cu anode 4-bounce crystal (Ge(220), Ge(440) Analyzer Crystal (3-bounce Ge(220)) Eulerian cradle (2θ, Omega, Psi, Phi, X, Y, Z) DHS (Domed Hot Stage) : R.T - 900, Non-ambient Sample Spinner/Capillary Spinner Thin Film attachment PDS/PRS/PASS X'celerator Detector & Proportional Detector 도 고분해능 X- 선회절에의한반도체및산화물박막에대한구조특성측정및해석 Epitaxy 의 mismatch, composition, thickness Super lattice 박막 역격자공간산란분포 (RSM) 측정 /In-plane 측정 (GID) X- 선반사를이한박막의두께, 거칠기및밀도측정 분말및 bulk 시료의초고속결정구조측정 Huge cell 측정 (Hybrid, Mirror + Mirror optics) X- 선산란측정을통한 Nano particle 분포분석 X'Pert PRO-MPD X'Pert PRO-MRD

$X- 선회절연구분야 X-Ray Diffractometry Research Multi-Function X-Ray Diffractometer 제작사 PANalytical (Netherlands) 모델명 EMPYREAN 구성 3KW X-Ray generator Special Ceramic LFF$ Reflection/Transmission stage CT rotation stage 1D detector & 2D(PIXcel) detector Temp.

Reflection/Transmission stage CT rotation stage 1D detector & 2D(PIXcel) detector Temp.

12 X- 선회절연구분야 X-Ray Diffractometry Research Multi-Function X-Ray Diffractometer 제작사 PANalytical (Netherlands) 모델명 EMPYREAN 구성 3KW X-Ray generator Special Ceramic LFF Cu anode Focusing & parallel mirror Hybrid monochromator & Analyzer crystal PDS, PASS, PRS, Collimators for Thin Film 5-axis stage (X-Y-Z-Tilt-Phi) Reflection/Transmission stage CT rotation stage 1D detector & 2D(PIXcel) detector Temp. & Humidity control system( 투과형, 95%) 도 반사 / 투과모드에의한초고속분석 고 ( 중간 ) 분해능및단 다층구조박막특성분석 X- 선반사측정 ( 박막두께, 밀도, 거칠기분석 ) X- 선저각산란측정 (SAXS) Focusing Mirror 를활한집속및미소영역특성분석 습도제어분석 ( 투과형 ) Computed Tomography 및 Topography 측정 Multi-Function X-Ray Diffractometer 12 13

$X- 선회절연구분야 X-Ray Diffractometry Research High Resolution 2-Dimensional X-Ray Diffractometer 제작사$ Montel Mirror(Focusing) Ge(022) 2X Asymmetric, Ge(022) 4X Symmetric UBC(Micro-collimator)_0.1, 0.3, 0.5, 1.

Montel Mirror(Focusing) Ge(022) 2X Asymmetric, Ge(022) 4X Symmetric UBC(Micro-collimator)_0.1, 0.3, 0.5, 1.

Rocking curves, RSM, Wafer Map GI-XRD 분석 Goebel Mirror(Parallel), Montel Mirror(Focusing) Residual stress

13 X- 선회절연구분야 X-Ray Diffractometry Research High Resolution 2-Dimensional X-Ray Diffractometer 제작사 Burker(Germany) 모델명 D8 DISCOVER 구성 X-Ray generator : 3kW Special LFF Cu anode Goebel Mirror(Parallel), Montel Mirror(Focusing) Ge(022) 2X Asymmetric, Ge(022) 4X Symmetric UBC(Micro-collimator)_0.1, 0.3, 0.5, 1.0, 2.0mm Triple bounce Analyzer_Ge(022) 3X PPC, RS, ASS, Detector Slit Scintillator, Lynxeye, VANTEC-500 도 Rocking curves, RSM, Wafer Map GI-XRD 분석 Goebel Mirror(Parallel), Montel Mirror(Focusing) Residual stress 측정및 Texture 분석 X 선반사측정 ( 박막두께, 밀도, 거칠기분석 ) In-plane(GID) 측정 미소영역 (100 μm급 ) 분석 2D-Application SAXS, GI-SAXS ( 시료형태에따른반사및투과측정 )

(Q : Q-Pole lens, H : Magenetic analyzer, C : Electric analyzer) GC, LC Interface Linked scan Library : Wiley &

14 질량분석연구분야 Mass Spectrometry Research High Resolution Mass Spectrometer A, B 제작사 Jeol (Japan) 모델명 JMS 700 구 성 Ion source : EI, FAB Resolution : 60,000 Mass range : 2-2,400 (Acceleration voltage 10KV) Mass analyzer : QQHQC Type (Q : Q-Pole lens, H : Magenetic analyzer, C : Electric analyzer) GC, LC Interface Linked scan Library : Wiley & NIST, 275,000 Spectra 도 High resolution mass ( 분자량, 분자식결정 ) 환경유해물질 ( 농약, 페놀류, PCBs 등 ) 분석 유기합성물분석 유기금속착물, 고분자등의분자량결정 14 15

질량분석연구분야 Mass Spectrometry Research High Resolution Mass Spectrometer 제작사 Thermo

measured at m/z 142 Mass range : up to 1200 Da at full acceleration voltage up to 5000

double focusing (BE) magnetic mass spectrometer system with mounted gas chromatographs

2 to 10000 seconds/decade (continuous variable) Mass Accuracy : < 5 ppm Sensitivity : 30

15 질량분석연구분야 Mass Spectrometry Research High Resolution Mass Spectrometer 제작사 Thermo Scientific (U.S.A) 모델명 DFS 구성 Ion source : EI, FAB Resolution : > 60,000(10% valley) measured at m/z 142 Mass range : up to 1200 Da at full acceleration voltage up to 5000 Da at reduced acceleration voltage Mass analyzer : computer controlled high resolution double focusing (BE) magnetic mass spectrometer system with mounted gas chromatographs Mass Scan rate : 0.2 to seconds/decade (continuous variable) Mass Accuracy : < 5 ppm Sensitivity : 30 fg 2,3,7,8 TCDD S/N ratio > 30:1 Vacuum system : turbo molecular pumps Tuning system : full auto tuning 도 신물질탐색및합성물질구조분석 잔류성유해유기물질정량및정성분석 의약품분석, 약물대사체구조분석을통한신약개발 유기분자의구조결정

45nm (particle image) Magnification : 50 ~ 600,000X (30steps) 부대장비 Energy Dispersive X-Ray Spectrophotometer (EDS

16 나노융합이미징연구분야 Nano Fusion Imaging Research Transmission Electron Microscope (125KV) 제작사 HITACHI (Japan) 모델명 H-7100 구성 Accelerating voltage : 10, 25, 50, 75, 100, 125 KV (6 steps) Resolution : 0.204nm (lattice image), 0.45nm (particle image) Magnification : 50 ~ 600,000X (30steps) 부대장비 Energy Dispersive X-Ray Spectrophotometer (EDS : HORIBA, Japan) 도 동식물의내부미세구조관찰 미생물의내부및형태관찰 단백질, 핵산의구조관찰 Polymer 구조관찰 액 ( 매 ) 속의분산입자관찰 Transmission Electron Microscope 16 17

나노융합이미징연구분야 Nano Fusion Imaging Research Field Emission Scanning Electron Microscope

: 20 ~ 500,000 X Accelerating voltage : 0.5 ~ 30KV (100V/steps) Resolution : 1.

(ICS) 장비구축 도 시료의표면구조를관찰, 촬영, 분석 물리, 생물, 지질, 금속, 전자 ( 특히반도체 ), 섬유등의분야 EDS 의장착으로시료의정성,

17 나노융합이미징연구분야 Nano Fusion Imaging Research Field Emission Scanning Electron Microscope (EDS) 제작사 HITACHI (Japan) 모델명 S-4200 구성 Electron gun type : Cold gun type Magnification : 20 ~ 500,000 X Accelerating voltage : 0.5 ~ 30KV (100V/steps) Resolution : 1.2nm(30KV) 부대장비 Energy Dispersive X-Ray Spectrophotometer (EDS : HORIBA, Japan) 원격공동실험 (ICS) 장비구축 도 시료의표면구조를관찰, 촬영, 분석 물리, 생물, 지질, 금속, 전자 ( 특히반도체 ), 섬유등의분야 EDS 의장착으로시료의정성, 정량분석및화상분석 원격공동실험 (ICS) 장비구축으로 SEM 화상을인터넷으로실시간원거리실험수행 Field Emission Scanning Electron Microscope (EDS)

나노융합이미징연구분야 Nano Fusion Imaging Research Ultra High Resolution Field

type : Cold Gun Magnification : Low Mag. Mode x100 ~ x2,000 High Mag.

5 ~ 30KV (100V/steps) Resolution : 1.0nm @ 30KV 2.0nm @ 1KV 1.

BSE detector Low Angle BSE detector / High Angle BSE detector Optional

미세입자등 ) 의표면구조관찰 유기물시료 ( 건조된생체조직, 목재, 식물등 ) 의표면구조관찰 초미세가공샘플의구조관측및평가 박막,

18 나노융합이미징연구분야 Nano Fusion Imaging Research Ultra High Resolution Field Emission Scanning Electron Microscope 제작사 HITACHI 모델명 S-4800 구성 Electron gun type : Cold Gun Magnification : Low Mag. Mode x100 ~ x2,000 High Mag. Mode x100 ~ x800,000 Accelerating voltage : 0.5 ~ 30KV (100V/steps) Resolution : 30KV 1KV 1KV with Beam Deceleration Detectors : Lower SE detector / Upper Angle BSE detector Low Angle BSE detector / High Angle BSE detector Optional YAGBSE detector / Optional YAGBSE detector 도 표면관찰 무기물시료 ( 금속, 반도체, 절연체, 미세입자등 ) 의표면구조관찰 유기물시료 ( 건조된생체조직, 목재, 식물등 ) 의표면구조관찰 초미세가공샘플의구조관측및평가 박막, 다층막등의단면관측을통한두께결정과구조관찰 저가속전압에서무코팅재료의고분해능표면관측가능 EDX 분석 고체시료를구성하는원소의정성분석과조성에따른표면 mapping Transmission detector 나노 power, 나노튜브등의투과상관찰 생물시료의투과상관찰 18 19

나노융합이미징연구분야 Nano Fusion Imaging Research Analytical High Resolution Scanning Electron Microscope 제작사 Carl Zeiss 모델명 SUPRA 55VP 구성 Electron Gun Type : Thermal field emission type Magnification : x12 ~

19 나노융합이미징연구분야 Nano Fusion Imaging Research Analytical High Resolution Scanning Electron Microscope 제작사 Carl Zeiss 모델명 SUPRA 55VP 구성 Electron Gun Type : Thermal field emission type Magnification : x12 ~ x900,000 Accelerating Voltage : 0.1 ~ 20KV VP Mode : 2 ~ 133 Pa, adjustable in steps of 1 Pa Resolution : 0.8nm@15KV 1.0nm@1KV 2.0nm@30KV(VP mode) Detector : Transmission detector High efficiency Inlens detector Everhart Thornley Secondary Electron Detector VPSE Detector 도 표면관찰 무기물시료 ( 반도체, 섬유, 나노입자등 ) 의표면관찰 유기물시료 ( 동식물, 미생물등 ) 의형태분석 박막시료의단면상관찰 VP Mode 에서의비전도성시료관찰 (Non coating) Transmission detector 이한투과전자상관찰

나노융합이미징연구분야 Nano Fusion Imaging Research Focused Ion Beam System 제작사 FEI (USA) 모델명 Scios 구성 FE-SEM Column -

0nm @15KeV Ion-Column - Accelerating voltage : 500V-30KV - Probe current : 1.5pA-65nA - Resolution : 5.

Etching) 3D Fabrication Nano Manipulation 형상, 표면구조관찰및원소분석 원리와특징 고속으로가속된 Ga 이온을시료표면에충돌시켜시료를정밀가공하거나, 충돌시발생되는전자또는 2

20 나노융합이미징연구분야 Nano Fusion Imaging Research Focused Ion Beam System 제작사 FEI (USA) 모델명 Scios 구성 FE-SEM Column - Accelerating voltage : 200V-30KV - Beam current : 1pA-250nA - Resolution : Ion-Column - Accelerating voltage : 500V-30KV - Probe current : 1.5pA-65nA - Resolution : GIS System : Pt, C Detector : SE, BSD, IR-CCD, EDS 3D Tomography software 도 TEM 측정시편제조 소자제작 (Deposition 및 Etching) 3D Fabrication Nano Manipulation 형상, 표면구조관찰및원소분석 원리와특징 고속으로가속된 Ga 이온을시료표면에충돌시켜시료를정밀가공하거나, 충돌시발생되는전자또는 2 차이온등을이하여시료의표면을관찰하는장비 전자총에서가속된전자를이하여시료의표면을관찰하거나전자가물질에충돌할때발생하는특성 X- 선을이하여물질의원소분석활 Silicon Wafer Cross Section Galvanized Steel Sample Preparation Arrays of Nickel Nanowires Focused Ion Beam System 20 21

나노융합이미징연구분야 Nano Fusion Imaging Research Field Emission Transmission

시편지지장치 : Single tilt holder, Double tilt holder, High Temp Holder,

TEM-STEM Tomography 를이한 3 차원분석 기초과학연구 : 물리학, 화학, 생물학, 지구과학등기초기술연구 응과학연구

21 나노융합이미징연구분야 Nano Fusion Imaging Research Field Emission Transmission Electron Microscope 제작사 JEOL (Japan) 모델명 JEM-2100F 구성가속전압 : 200KeV 분해능 (point) : 0.25nm 배율 (TEM) : 1,200K 시편경사각 : ±42 /±30 검출장치 : CCD, STEM(BF,HAADF), EDS 시편지지장치 : Single tilt holder, Double tilt holder, High Temp Holder, Cryo-Holder, Tomography 도 유 무기시료의투과이미지관찰및화학성분분석 초미세영역의회절도형을이한구조분석 TEM-STEM Tomography 를이한 3 차원분석 기초과학연구 : 물리학, 화학, 생물학, 지구과학등기초기술연구 응과학연구 : 나노, 반도체, 광통신, 디스플레이소재, 박막소재, 천연물, 의학, 약학 원리와 집속된전자빔을시료에투과시켜초미세영역에대한이미지관찰, 특 징 성분및구조를분석하는장비 물리학, 화학, 생물학, 지구과학등기초과학및공학, 농학, 의학등응과학에광범위하게활되는장비

reflectance Absolute specular reflectance Polarizer & Depolarizer Fiber optics coupler Multi-cell block (Temp.

22 분광영상연구분야 Optical Spectrometry Research UV-Vis-NIR Spectrophotometer 제작사 Varian (Australia) 모델명 CARY 5G 구성 Monochrometer : Double littrow Double beam Detector : PMT & Cooled PbS Wavelength range : 175 ~ 3,300nm Diffuse reflectance Variable angle specular reflectance Absolute specular reflectance Polarizer & Depolarizer Fiber optics coupler Multi-cell block (Temp. control : 0 ~ 100 ) 도 선 - 가시광선 - 근적외선영역에서단색화된광을이하여물질의투과및반사율을측정하여광학상수평가 물질의흡수스펙트라측정으로물질의확인및농도결정 Kinetic 측정 ( 시간및온도변화에따른반응속도 ) UV-Vis-NIR Spectrophotometer 22 23

분광영상연구분야 Optical Spectrometry Research FT-UV-Vis-IR Spectroscopic Imaging Microscope 제작사 Bruker Optics 모델명 Hyperion-3000 구성 FT-UV-Vis-IR Spectrometer [VERTEX 80] - Spectral ranges : 50,000 to 500cm

1% T Signal to Noise(S/N) : 5 sec sample : 10,000 : 1, peak-to-peak at 4cm -1, DLATGS, KBr/Ge BmS 1 min sample : 50,000 : 1, peak-to-peak or more Chemical Image Microscope [HYPERION 3000] - Spectral

23 분광영상연구분야 Optical Spectrometry Research FT-UV-Vis-IR Spectroscopic Imaging Microscope 제작사 Bruker Optics 모델명 Hyperion-3000 구성 FT-UV-Vis-IR Spectrometer [VERTEX 80] - Spectral ranges : 50,000 to 500cm -1 - Resolution : Better than 0.06cm -1 - Wavenumber : Better than 0.01cm -1 Photometric accuracy : 0.1% T Signal to Noise(S/N) : 5 sec sample : 10,000 : 1, peak-to-peak at 4cm -1, DLATGS, KBr/Ge BmS 1 min sample : 50,000 : 1, peak-to-peak or more Chemical Image Microscope [HYPERION 3000] - Spectral range : 50, cm -1 - Measurement spot size : 7μm - Adjustment accuracy : -/+1μm - X-Y stage : 50 75mm(standard) - Detector : Dual auto changeable detectors for extendable range pixels (4096 pixels) 도 유기 무기시료의성분및구조분석과 Single spot 전자전이 진동스펙트럼분석과영상분석동시수행 영동지역의해양생물 천연물시료의정량정성분석 비파괴적세포영상분석연구, 세포내약물전달규명등 실리콘웨이퍼상의불순물을분석및반도체에피텍시적충분석 마이크로전자소자, 종이, 섬유조직, 오염저감석탄재활, 석유, 폴리머변형 코팅분석 FT-UV-Vis-IR Spectroscopic Imaging Microscope

분광영상연구분야 Optical Spectrometry Research Time-Resolved Fluorescence Confocal Microscope 제작사

Forster Resonance Energy Transfer (FRET) & PIE-FRET measurements Time-Correlated Single Photon

Lifetime Correlation Spectroscopy (FLCS) Burstwise anisotropy analysis On/Off time analysis

& pulsed interleaved excitation Picosecond pulsed lasers : 375nm (FWHM-240ps) & 470nm

24 분광영상연구분야 Optical Spectrometry Research Time-Resolved Fluorescence Confocal Microscope 제작사 PicoQuant 모델명 MicroTime-200 구성 Fluorescence Lifetime Imaging (FLIM) & lifetime histogramming Forster Resonance Energy Transfer (FRET) & PIE-FRET measurements Time-Correlated Single Photon Counting (TCSPC) Histogramming Fluorescence Correlation Spectroscopy (FCS) & Fluorescence Lifetime Correlation Spectroscopy (FLCS) Burstwise anisotropy analysis On/Off time analysis with histogram Standard scanning area of 80 80μm Single-color as well as multi-color excitation & pulsed interleaved excitation Picosecond pulsed lasers : 375nm (FWHM-240ps) & 470nm (FWHM-96ps) 도 단분자또는단일나노입자의분광학연구 양자점 / 양자선등의초고속분광물성연구 단분자수준의분자감지연구 분자간상호작및구조변화연구 세포및마이크로생물시료의형광영상분석 단백질및 DNA 구조및동력학연구 24 25

분광영상연구분야 Optical Spectrometry Research Super-Resolution Real-Time

Stimulated emission depletion(sted) microscopy 2 실시간 시공간분해영상분석 ( 1 장 / 초 )

Real-time FLIM : 1 frame/sec (1ps) 광대역영상분석 시간분해능 : 1ps 여기에너지 : 400~700mm 400

25 분광영상연구분야 Optical Spectrometry Research Super-Resolution Real-Time Fluorescence Lifetime Imaging Microscope ( 신규도입예정 ) 1 초고분해능 ( 50 nm) 분광영상분석 Stimulated emission depletion(sted) microscopy 2 실시간 시공간분해영상분석 ( 1 장 / 초 ) 유동성개체및실시간변환소재물성관찰 FLIM : Fluorescence lifetime imaging microscope 3 초고속 Real-time FLIM : 1 frame/sec (1ps) 광대역영상분석 시간분해능 : 1ps 여기에너지 : 400~700mm Wavelength (nm) 활분야 분자 / 소재및바이오개체에대한정교한에너지동력화특성평가 에너지변환 / 저장, 디스플레이, 보건 / 의료, 환경분야

생체성분분석연구분야 Organism Component Analysis Research Organism Component Separation Analysis System Amino Acid Analyser

Biotechnical application Bio-LC 제작사 THERMO FISHER 모델명 ICS-3000 구성 High performance anion exchange chromatography

26 생체성분분석연구분야 Organism Component Analysis Research Organism Component Separation Analysis System Amino Acid Analyser 제작사 MembraPure 모델명 ARACUS 구성 MAIN UNIT (pump, 570nm, 470nm microphotometer) ELUENT UNIT (single reagent kit) AUTO-INJECTION UNIT (4x48ea 1.5mL standard vials) 도 동일한 column 과 reagent kit 로유리아미노산과구성아미노산분석 식품, 의약의 Quality Control 발효, Cell media 의 Biotechnical application Bio-LC 제작사 THERMO FISHER 모델명 ICS-3000 구성 High performance anion exchange chromatography (HPAEC) Pulsed amperometric detection (PAD) Strength of an electric current by chemical analysis 도 Separation of Carbohydrates Separation of Neutral and Charged carbohydrates Sensitive 1 to 10 pmole detection limits 26 27

원소분석연구분야 Element Analysis Research Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer 제작사 Agilent 모델명 7700 구성 High Matrix Introduction (HMI) kit Aerosol dilution, Low oxide,

27 원소분석연구분야 Element Analysis Research Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer 제작사 Agilent 모델명 7700 구성 High Matrix Introduction (HMI) kit Aerosol dilution, Low oxide, Robust condition standard Easy maintenance (XYZ Auto Control) Controlled spray chamber 도 환경분야 ( 수질, 토양, 대기, 폐기물 ) 중금속항목에대한분석 농산물수산물및식품규제중금속항목분석 제약, 화장품, 임상, 바이오관련산업분야분석응 ICP-MS

power : 4kW, 60kV, 170mA X-Ray tube window thickness : Be window 75 μm X-Ray tube type : End-window type Rh target Detector - Gas flow

28 원소분석연구분야 Element Analysis Research Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer 제작사 Bruker (Germany) 모델명 S8 TIGER 구성 Generator power/tube Max. power : 4kW, 60kV, 170mA X-Ray tube window thickness : Be window 75 μm X-Ray tube type : End-window type Rh target Detector - Gas flow for Light element - Scintillation Counter for heavy element Analyzing crystal - LIF(200), LiF(220), PET, XS-55 Automatic Sample changer Bead Machine 25ton Press for pellet 도 토양및광물시료의주원소정량분석 금속시료의정성정량분석 석유화학, 내화물, 고분자시료의원소정성분석 미지시료의정성분석, 준정량분석 (Na U) 28 29

분석지원시스템 분석지원시스템 분석지원서비스이절차 www.kbsi.re.kr USE 장비이서비스클릭 지역별센터장비 [ 대구센터 ] 클릭 분서기기목록에서해당장비찾은후, 신청클릭 기기이신청접수 1. 기기담당자와사전연락으로스케쥴조정 2. 홈페이지 (www.use.kbsi.re.kr) 에서회원가입후해당기기사신청 3.

문의 : (053)717-4321 첨단기기공동활우수회원제 1. 지원내기초 ( 연 ) 첨단기기이료할인혜택부여 : 이료 10 40% 할인 2. 신청안내신청방법 : 홈페이지 (http://use.kbsi.re.kr) 에가입및연구실적물제출 3.

29 분석지원시스템 분석지원시스템 분석지원서비스이절차 USE 장비이서비스클릭 지역별센터장비 [ 대구센터 ] 클릭 분서기기목록에서해당장비찾은후, 신청클릭 기기이신청접수 1. 기기담당자와사전연락으로스케쥴조정 2. 홈페이지 ( 에서회원가입후해당기기사신청 3. 한국기초과학지원연구원대구센터로샘플송부 ( 방문또는택배 ) 분석료납부 1. 현금 ( 계좌이체 ) : 전자세금계산서 ( 한국기초과학지원연구원하나은행가상계좌 ) 2. 신카드결제 : 방문또는전화결제 3. 온라인결제 : 홈페이지 ( 에로그인후마이페이지에서대상건조회및결제 4. 문의 : (053) 첨단기기공동활우수회원제 1. 지원내기초 ( 연 ) 첨단기기이료할인혜택부여 : 이료 10 40% 할인 2. 신청안내신청방법 : 홈페이지 ( 에가입및연구실적물제출 3. 신청자격 - 한국기초과학지원연구원의기기를이하여최근 2년간발표한연구실적물에당연구원명칭을게재한연구실적물이있는연구자 - 연구실적물기준 : 학위논문, 학술지게재논문또는이에준하는연구물 - 연구실적물기록방법및예시 Experimental Acknowledge...X-Ray Diffractometer (XRD) at the Korea Basic Science Institute(Daegu)...the Korea Basic Science Institute(Daegu) is acknowledged for the XRD data... Authors acknowledge Dr.... at the KBSI(Daegu) for useful discussion and taking the XRD data.

KOREA BASIC SCIENCE INSTITUTE DAEGU CENTER KBSI 대구센터중소기업지원프로그램 연구장비분석지원

개발을기반으로기술혁신연량을강화하고 중소 중견기업과의상생혁력을통해 국가경제성장및산업발전에기여하고있습니다.

전국지역밀착형연구장비공동활네트워크 서울센터 메타볼로믹스, 나노환경분야환경대사체 서울서부센터 나노 바이오 약학융복합 대덕본원 BT, NT,

30 KOREA BASIC SCIENCE INSTITUTE DAEGU CENTER KBSI 대구센터중소기업지원프로그램 연구장비분석지원 첨단연구장비교육 중소기업지원프로그램 개방형실험실운영 중소기업분석료할인 한국기초과학지원연구원은 국가연구장비중심기관으로서첨단연구장비의설치 운영 개발을기반으로기술혁신연량을강화하고 중소 중견기업과의상생혁력을통해 국가경제성장및산업발전에기여하고있습니다. Korea Basic Science Institute 본원및지역센터 지역네트워크구축 대덕본원, 오창센터및 7 개의지역센터구축 전국지역밀착형연구장비공동활네트워크 서울센터 메타볼로믹스, 나노환경분야환경대사체 서울서부센터 나노 바이오 약학융복합 대덕본원 BT, NT, ET 분야융합연구및공동연구 전주센터 나노구조분석분야 춘천센터 생체영상분야 오창센터 대형연구시설장비설치 운영 대구센터첨단기능성소재분야 부산센터표면물성하이테크부품소재분야 광주센터 퇴행성질환재생분야 30 31

31 한국기초과학지원연구원대구센터 연구장비분석지원 중소기업분석료할인 수요맞춤형연구장비교육 긴급분석지원대응랩 1. 첨단연구장비설치운영및분석지원 결정구조분석장비 : XRD, MP-XRD, MF-XRD, HR-2D XRD 나노이미징장비 : HR-TEM, FIB, UHR-SEM, (FE-SEM, Bio-TEM) 바이오분석 : 아미노산분석기, Bio-LC, Peptide-LC, ( 실시간 O 2 / H 2 S 분석기 ) 질량분석장비 : HR-MASS 3 종, ICP-MS 원소분석장비 : WD-XRF 분광북석장비 : FLIM, UV-Vis-NIR, FT-IR 2. 첨단분석장비분석료할인 대기업및일반장비사자의 80% 수가적우수장비사자에한하여추가최대 40% 할인연구장비공동활지원사업지원 ( 바우처제도-중소기업청신청 ) 3. 현장중심첨단연구장비활수요맞춤형교육 생산제품및공정개발에대한실무중심특성평가기술교육당 1-3명, 교육내선택및일정협의 4. 중소중견기업기술개발시급성대응첨단연구장비활야간긴급분석지원시스템구축운영 X-Ray Metrology 분야 - XRD, MP-XRD, HR-XRD, MF-XRD, HR-2D XRD 시험운영 ( 화 / 목야간 ) 연구장비분석기술단기연수 개방형실험실 기술지도분석상담 KBSI 패밀리기업 5. 연구장비실무운영인력을위한분석기술단기연수스쿨 X-Ray Diffractometer(XRD) 운영자를위한도제식 (1~2명) 응분석기술연수중급과정 (2~3일) 및심화과정 (3~5일) 6. 연구장비이자직접사개방형실험실 (Open Lab.) 대상장비 : XRD, MP-XRD, UV-Vis-NIR, XRF, UHR-SEM, Bio-TEM 장비사교육과정 ( 수시또는정기 ) 7. 중소기업지원센터운영 KBSI가보유하고있는 R&D 관련지식, 노하우및인프라를활하여중소기업의기술애로해결지원 8. KBSI 와협력발전을위한중소기업선정지원 첨단장비활지원, 기술사업화지원, R&D기반기술지원, 교육지원, 기술상담 / 자문, 정보제공 ( 주 ) 켄스코, ( 주 )Act 찾아오는길 경북대학교북문 한국기초과학지원연구원대구센터 KOREA BASIC SCIENCE INSTITUTE DAEGU CENTER 한국기초과학지원연구원대구센터 ( 경북대학교공동실험실습관 ) 경북대학교정문 대구광역시북구대학로 80 한국기초과학지원연구원 ( 경북대학교내, 건물번호 218) Tel. 053)

32 OPEN KBSI! WITH KBSI! GREAT KBSI! KBSI 한국기초과학지원연구원대구센터 KOREA BASIC SCIENCE INSTITUTE DAEGU CENTER 대구광역시북구대학로80 한국기초과학지원연구원 ( 경북대학교내, 건물번호 218) Tel : 053) Fax : 053)

(Microsoft PowerPoint - src.ppt [\300\320\261\342 \300\374\277\353] [\310\243\310\257 \270\360\265\345])

$(Microsoft PowerPoint - src.ppt [\300\320\261\342 \300\374\277\353] [\310\243\310\257 \270\360\265\345])$ LC/MS, LC/MS/MS 기초개론 LC LC/MS(Liquid Chromatography/Mass Spectrometry) 액상의분석물질을기화및이온화하여고진공관에서원하는질량 (m/z) 이나질량범위만검출하여정량 정성분석하는시스템 High vacuum PC/Software Ion source Mass Analyzer Detector ESI APCI APPI