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1 큐알티주식회사 Quality Reliability Technology 신뢰성시험및불량분석전문회사

CEO Message Business Part 존경하는 고객 여러분! 안녕하십니까? 큐알티 (주 ) 대표이사 김영부 입니다.

이러한 눈부신 성장 발전에도 불구하고, 반도체를 비롯한 각종 소자 부품들의 품질 확보에 필요한 신뢰성 평가 및 불량분석 기술 서비스 분야는 매우 열악하여 많은 기업이 신제품 신 뢰성 평가와 양산

큐알티 (주 ) 대표이사 김 영 부 Operating Life & Environmental Reliability Test 신뢰성 시험은 제품 개발을 완료하고 사용자 환경에서의 동작 수명을

L / L T S L )등의 다양한 수명 /환경 평가 시험 서비스를 제공하고 있습니다.

서비스를 제공해 왔으며, 이러한 노력으로 고객만족 실현과 아울러 저희 회사도 함께 성장을 할 수 있는 기회를 갖게 되어 고객 여러분께 진심으로 감사 드리며, 이러한 결과는 모 두 고객 여러분의

Failure Analysis 앞으로도 고객 여러분의 영원한 파트너로서, 저희 큐알티 (주 )는 세계 최고 품질과 경쟁력 있는 서비스로 고객의 발전과 비즈니스 성공을 통해 상호 발전을 이루도록

우리의 열정으로 고객과 함께 즐겁 게 일하는 공동체를 만든다는 경영이념을 바탕으로 우리가 만들어갈 보다 나은 미래는 고객 여러분과 항상 함께 할 것입니다.

물리시험 / 진동 충격 인장전단 파괴 환경 시험은 온도,습도와 같은 사용자 환경을 가속하는 시험인 반면, 물리시험은 제품을 구부리거나 바닥에 낙하 하는 등 물리적인 스트 레스를 적용하는

제품이 갖는 물리적인 특성 (인장력, 전단력 ) 등을 평가하거나 제조공정 및 사용자 환경, 특히 휴대용 기기 나 자동차 환경에서 발생하는 물리적인 스트레스를 모사하는 충격시험 및 진동 시험 등의

이에 저희 큐알티 (주 )는 국내 대표적 기업인 S K하이닉스 반도체에서 3 0년 이상 핵심전문 분 야로 발전 시켜온 품질 평가 기술과 전문 기술 인력을 바탕으로 국내ㆍ외 모바일, 디스플레 이,

미래에도 지속적으로 더 큰 만족을 드리는 가치 있는 기업으로 도약하기 위해 다각적인 성장 기반을 구축하고 있으며, 또한 새로운 기술 개발과 장비투자, 효율적 조직운영, 뛰어난 인재확보와 육성

2 CEO Message Business Part 존경하는 고객 여러분! 안녕하십니까? 큐알티 (주 ) 대표이사 김영부 입니다. 지난 수십 년간 세계 전자 산업은 매우 급격히 성장하고 있으며, 특히 모든 신제품에 보다 광 범위하게 응용되는 반도체 분야의 기술은 더욱 그렇습니다. 이러한 눈부신 성장 발전에도 불구하고, 반도체를 비롯한 각종 소자 부품들의 품질 확보에 필요한 신뢰성 평가 및 불량분석 기술 서비스 분야는 매우 열악하여 많은 기업이 신제품 신 뢰성 평가와 양산 품질 확보, 대 고객 클레임 대응 등 여러 단계의 업무에서 많은 애로 사항 을 겪고 있는게 현실입니다. 큐알티 (주 ) 대표이사 김 영 부 Operating Life & Environmental Reliability Test 신뢰성 시험은 제품 개발을 완료하고 사용자 환경에서의 동작 수명을 평가하는 고온동작수명시험 ( H T O L )을 포함한 고온다습한 환경 에서의 내구성을 평가하는 고온고습시험 ( T H B )과 열충격시험 ( T / C ), 고온 /저온저장시험 ( H T S L / L T S L )등의 다양한 수명 /환경 평가 시험 서비스를 제공하고 있습니다. Physical & Mechanical Test Electrical Stress Test 그간 큐알티 (주 )는 최첨단 기술과 장비, 신속한 서비스로 수많은 고객들에게 신뢰성 평가와 불 량분석 서비스를 제공해 왔으며, 이러한 노력으로 고객만족 실현과 아울러 저희 회사도 함께 성장을 할 수 있는 기회를 갖게 되어 고객 여러분께 진심으로 감사 드리며, 이러한 결과는 모 두 고객 여러분의 변함없는 관심과 성원이 있었기에 가능한 일이었습니다. Failure Analysis 앞으로도 고객 여러분의 영원한 파트너로서, 저희 큐알티 (주 )는 세계 최고 품질과 경쟁력 있는 서비스로 고객의 발전과 비즈니스 성공을 통해 상호 발전을 이루도록 항상 최선을 다할 것입니다. 큐알티 (주 ) 중심에는 고객 여러분이 있습니다. 우리의 열정으로 고객과 함께 즐겁 게 일하는 공동체를 만든다는 경영이념을 바탕으로 우리가 만들어갈 보다 나은 미래는 고객 여러분과 항상 함께 할 것입니다. 늘 새로운 모습으로 도약하기 위해 노력하는 큐알티 (주 )를 격려와 성원으로 지켜봐 주시기 바랍니다. 감사합니다. 물리시험 / 진동 충격 인장전단 파괴 환경 시험은 온도,습도와 같은 사용자 환경을 가속하는 시험인 반면, 물리시험은 제품을 구부리거나 바닥에 낙하 하는 등 물리적인 스트 레스를 적용하는 영역입니다. 제품이 갖는 물리적인 특성 (인장력, 전단력 ) 등을 평가하거나 제조공정 및 사용자 환경, 특히 휴대용 기기 나 자동차 환경에서 발생하는 물리적인 스트레스를 모사하는 충격시험 및 진동 시험 등의 평가 서비스를 제공합니다. 이에 저희 큐알티 (주 )는 국내 대표적 기업인 S K하이닉스 반도체에서 3 0년 이상 핵심전문 분 야로 발전 시켜온 품질 평가 기술과 전문 기술 인력을 바탕으로 국내ㆍ외 모바일, 디스플레 이, 자동차 전장부품 그리고 친환경 시장에 이르기까지 전자부품이 속해 있는 모든 산업의 신 뢰성 향상과 품질 발전에 기여하고 있습니다. 미래에도 지속적으로 더 큰 만족을 드리는 가치 있는 기업으로 도약하기 위해 다각적인 성장 기반을 구축하고 있으며, 또한 새로운 기술 개발과 장비투자, 효율적 조직운영, 뛰어난 인재확보와 육성 등의 활동을 강화함으로써 고객에게 보다 큰 감동을 선사 할 수 있는 동반자 가 되고자 합니다. 신뢰성시험 / 수명 환경시험 전기적스트레스시험 / E S D E M I E O S 반도체부품, 모듈 및 세트레벨에서의 정전기 및 과전압과 같은 전기적 스트레스에 대한 내성을 평가하며, 자동차용 반도체에 대한 E M C 적합성 평가서비스를 제공합니다. 불량분석 - 파괴 /비파괴 물성분석시료 전처리 연구 개발, 생산 공정 및 사용자 환경에서 발생한 불량품에 대하여 축적된 분석 기술과 최신 분석 툴을 이용하여 불량의 근본 원인 을 찾는 불량 분석서비스를 제공합니다 FIB(Focused Ion Beam)Solution F I B서비스 회로수정 정밀분석 축적된 기술노하우와 최신장비를 이용한 미세 회로 수정을 제공하여 연구 개발 및 특성 검증에 소요되는 비용 및 기간 단축이 가능 합니다. Material Analysis 재료분석 - 미세구조분석 표면분석 유 /무기분석 반도체, 고분자 및 전자부품 등 모든 제품에 사용되는 소재를 다양한 분석 장비와 최신 분석 툴을 이용하여 구조 및 화학분석 S o l u t i o n을 제공합니다. Training & Consulting 교육 & 컨설팅 오랜 경험과 많은 노하우를 보유한 전문가들이 귀사의 생산 혁신과 제품의 품질 및 신뢰성 향상을 지원합니다. VISION 기술과 정성으로 고객에게 성공을 도전과 혁신으로 우리의 미래를 창출한다. 3

Service Items 각 시험분석항목은등의규격시험및고객맞춤시험이가능합니다자세한내용은홈페이지를참조하시기바랍니다코드스캔 구분 세부항목 구분 세부항목 수명 초기수명불량률시험 고온저온동작수명시험 고온동작게이트역방향전압시험 비파괴분석 엑스레이분석 초음파분석 전기적특성분석 반도체박리및 현상검사 신뢰성시험 환경

3 Service Items 각 시험분석항목은등의규격시험및고객맞춤시험이가능합니다자세한내용은홈페이지를참조하시기바랍니다코드스캔 구분 세부항목 구분 세부항목 수명 초기수명불량률시험 고온저온동작수명시험 고온동작게이트역방향전압시험 비파괴분석 엑스레이분석 초음파분석 전기적특성분석 반도체박리및 현상검사 신뢰성시험 환경 비휘발성메모리신뢰성시험수분민감성등급분류환경시험전처리고온저온저장시험고온고습전원인가환경시험온도사이클열충격시험전원인가온도사이클시험액상열충격시험초가속스트레스시험고온고습고압시험 사용자환경을고려한동작및환경가속시험을통해수명예측및내구성검증 적용규격등의국제표준등의제품표준등의자동차요구사항 종합분석 파괴분석시료전처리 불량분석 주사전자현미경에너지분산분광기 외관분석모조품식별분석 반도체내부및 단면가공등전처리 진동복합환경 진동시험복합환경내구시험초가속수명시험 진동복합환경온도습도및진동및충격낙하에대한내구성검증 적용규격 분석 반도체미세회로수정 시편제작 물리시험 전기적스트레스시험 충격낙하 보드레벨 인장전단솔더및기타 충격시험패키지박스낙하시험보드레벨낙하구부림열충격진동인장전단비틀림구부림솔더젖음성내열성평가반도체시험랫치업시스템레벨시험전기적과도스트레스시험반도체전자기적합성시험전장부품전기적특성검증시험 등의국제표준등의제품표준등의자동차요구사항소자와기판의솔더접합부위특성및신뢰성검증 적용규격최신시스템을활용한인장전단압축응력스트레스재현 적용대상등등등반도체부터시스템완제품까지다양한전기적스트레스에대한적합성검증 적용규격등의국제표준등의제품표준등의자동차요구사항 재료분석 교육 컨설팅 미세구조분석표면분석유기분석무기분석 주사전자현미경집속이온빔투과전자현미경에너지분산분광기전자에너지손실분광기 원자간력현미경이차이온질량분석기오제이전자현미경엑스선광전자분광기엑스선회절분석기 가스크로마토그래프가스크로마토그래프질량분석기적외선분광기자외선가시광선분광광도계 교육 컨설팅 공장감사 유도결합플라즈마분광분석기유도결합플라즈마질량분석기엑스선형광분석기이온크로마토그래프 생산및공정관리품질보증및신뢰성확립품질경영시스템인증및진단내부감사리더십코칭 4 Quality Reliability Technology 5

Automotive Electronics Qualification 자동차용 전자부품 품질인증

ES 규격 AEC-Q100 AEC-Q101 AEC-Q200 Integrated Circuits

전장부품평가 OEM 전장부품 평가규격 ES95400 / ES95910 / ES90000

Integrated Circuits AEC-Q101 Discrete Semiconductors

system radiator Power Control Unit 6 Driver

Immobilizer Car alarm Chassis Body electricals Power

Quality Reliability Technology Powertrain Fuel cell

radiator Engine control system Transmission Fuel

detection Pedestrian protection Night vision Tire air

4 Automotive Electronics Qualification 자동차용 전자부품 품질인증 자동차 전자부품의 높은 품질과 신뢰성의 자격 요건 자동차 전장부품에 필요한 인증, AEC & ES 규격 AEC-Q100 AEC-Q101 AEC-Q200 Integrated Circuits Discrete Semiconductors Passive Components 무연솔더적용 전장부품평가 OEM 전장부품 평가규격 ES95400 / ES95910 / ES90000 Series AEC-Q200 Passive Components AEC-Q100 Integrated Circuits AEC-Q101 Discrete Semiconductors 자동차의 주요 전장부품 구성 JEDEC, AEC-Q , OEM in-house spec. 자동차의 주요 전장부품 Electric motor Fuel cell stack Fuel cell system radiator Power Control Unit 6 Driver information Security Dashboard display Car navigation Immobilizer Car alarm Chassis Body electricals Power steering Braking VDM IBCM CAN gateway Light controls Quality Reliability Technology Powertrain Fuel cell system box Hydtogen tanks Ultracapacitors Powertrain radiator Engine control system Transmission Fuel injection Fuel pump Safety Airbags Seat occupation detection Pedestrian protection Night vision Tire air pressure detection Component Level Qualification Sub. System Level Qualification Automotive Level Mechanical Durability 7

Automotive Electronics Qualification AEC Q100 AEC-Q100 은집적회로 (IC) 의신뢰성평가규격으로서, 사용가능한온도범위별로 4 가지등급을 규정하고있습니다. 설계, 제조정보뿐만아니라주요불량메커니즘을 Target 으로하는신뢰성 시험으로구성되어고신뢰성을요구하는자동차용반도체평가에적합한규격입니다.

5 Automotive Electronics Qualification AEC Q100 AEC-Q100 은집적회로 (IC) 의신뢰성평가규격으로서, 사용가능한온도범위별로 4 가지등급을 규정하고있습니다. 설계, 제조정보뿐만아니라주요불량메커니즘을 Target 으로하는신뢰성 시험으로구성되어고신뢰성을요구하는자동차용반도체평가에적합한규격입니다. AEC Q101 AEC-Q101 은 FET, Diode, IGBT, Transistor 와같이한개의소자로구성되어있는단위소자 (Discrete Components) 평가용규격입니다. 발열이심한전력반도체나광반도체의특성과물리 적인내구성을평가할수있는시험들로구성되어있습니다. Grade Level Ambient Operating Temp. Range Minimum Temp. Range Discrete Semiconductor Type Grade 0-40 to to +125 discrete semiconductors except for LEDs Grade 1-40 to to +85 all LEDs Grade 2-40 to +105 Grade 3-40 to +85 Qualification Test Flow for Integrated Circuits 설계 제조 Qualification Test Definitions for Discrete Semiconductors Transistor Stress Abrv Data type Note QUALIFICATION TEST DEFINITIONS Sample Size per lot # of lots Accept on # failed Reference (current revision) 1 Pre- and Post-Stress Electrical Test TEST 1 NG parts tested per the requirements of the appropriate part 0 User supplier s standard Test is performed as specified in the applicable stress reference at room temperature. 2 Pre- PC 1 GS parts before Test # 7, 8, 9, & JESD22 A-113 Performed on surface mount parts (SMDs) prior to Test # Any replacement of parts must be reported. LED 3 4 External Visual Parametric EV 1 NG parts 0 PV 1 N 25 3 Note A 0 JESD22 B-101 marking and workmanship. Individual AEC over the part temperature range to insure 1000 hours at the maximum DC Reverse Voltage rated 5 High Temperature Reverse Bias HTRB 1 CDGK UVPX 77 3 Note B 0 MIL-STD M1038 Method A The ambient temperature TA is to be adjusted HTRB as a minimum. (See note X HTRB.) To be implemented on, or before, April 1, Dielectric Integrity Short Circuit Reliability Characteriza- DI 3 DM SCR 3 DP 10 3 Note B AEC-Q Pre- & Post-process change comparison to evaluate process change robustness. All parts must exceed gate breakdown voltage minimum (Power MOS & IGBT only). 0 AEC-Q For smart power parts only. 29 Lead Free LF AEC-Q005 For all related solderability, solder heat resistance and whisker requirements. To be implemented on, or before, April 1, 신뢰성시험 8 Quality Reliability Technology 9

Automotive Electronics Qualification AEC Q200 0-50 to +150 Flat chip

3-40 to +85 AEC-Q200은 Capacitor, Inductor, Resistor와같은수동소자평가를위한규격입니다.

Integrity와같은수동소자특성을고려한시험들로구성되어있습니다. Grade Temp.

Inductors, Transformers, Thermistors, Resonators, Crystals and

capacitors, Ferrites, R/R-C Networks and Trimmer capacitors 큐알티 ( 주

규격에따른인증시험요구도증가하고있습니다. 그러나각규격에서규정한 시험전체를제공하는시험소는국내뿐만아니라해외에서도찾기가어려웠습니다.

Standard를만족하는신뢰성평가를위해환경시험, 수명시험, 전기적특성및기계적특성평가시스템을구비하고있습니다.

AEC Qualification Test에대해서는고객의불편함을최소화하고, 업무절차를효율화하기위해담당자가 1:1 관리하는

Qualification Test Definitions for Passive Components Inductor

Note Pre-and Post-Stress Electrical Test High Temperature Exposure

DG Temperature Cycling 4 DG Analysis QUALIFICATION SAMPLE SIZE

6 Automotive Electronics Qualification AEC Q to +150 Flat chip ceramic Resistors, X8R ceramic capacitors 1-40 to to to +85 AEC-Q200은 Capacitor, Inductor, Resistor와같은수동소자평가를위한규격입니다. 각제품에따라요구되는최소온도범위를아래표와같이규정하고있으며, Flammability, Lead Integrity와같은수동소자특성을고려한시험들로구성되어있습니다. Grade Temp. Range Passive Component Type Capacitor Networks, Resistors, Inductors, Transformers, Thermistors, Resonators, Crystals and Varistors, all other ceramic and tantalum capacitors Film capacitors, Ferrites, R/R-C Networks and Trimmer capacitors 큐알티 ( 주 ) AEC Standard Full Coverage Service 고신뢰성반도체에대한요구가높아지면서 AEC 규격에따른인증시험요구도증가하고있습니다. 그러나각규격에서규정한 시험전체를제공하는시험소는국내뿐만아니라해외에서도찾기가어려웠습니다. 큐알티 ( 주 ) 는 AEC 규격에서요구하는사항들을구축하기위해많은노력을기울여왔고, 고객만족을위한 Full Coverage Qualification Service를제공하게되었습니다. 큐알티 ( 주 ) 는자동차전자부품에서요구되는각등급별조건에따라시험진행이가능하며, AEC-Q Standard를만족하는신뢰성평가를위해환경시험, 수명시험, 전기적특성및기계적특성평가시스템을구비하고있습니다. 또한, 발생한불량을즉시분석할수있는불량분석 Lab, 을함께운영하고있어신속한피드백이가능합니다. AEC Qualification Test에대해서는고객의불편함을최소화하고, 업무절차를효율화하기위해담당자가 1:1 관리하는 One Stop Service를제공하고있습니다. Qualification Test Definitions for Passive Components Inductor Stress NO. Note Pre-and Post-Stress Electrical Test High Temperature Exposure Sample Size Per Lot Number of lots Accept on Number failed 1 G 0 3 DG Temperature Cycling 4 DG Analysis QUALIFICATION SAMPLE SIZE REQUIREMENTS 5 DG 77 Note B 77 Note B 77 Note B Resistor Capacitor Shear Strength 31 DG Short Circuit Fault Current Durability 32 DG Fault Current Durability 33 DG End-of-Life Mode 34 DG Jump Start Endurance 35 DG Load Dump Endurance 36 DG Quality Reliability Technology 11

Semiconductor & Electronic Component 자동차용 모듈 환경내구 품질평가 주력 ICT분야 신뢰성 시험 서비스

전자부품 종류별 부위별 요구되는 차량용 환경시험 /검사규격 스마트가전 ES90000-01 Inspection of Solder

IOT (사물인터넷) 항공우주/국방 스마트폰 ES90000-02 Delamination Inspection for Mounted

Life Test ES95400-10 Environmental Tests for Electronic Equipment

연계 ( S e q u e n c i a l T e s t )진행하고 특수 /대행 장비를 사용하기 때문에 시험소의 수용능력과 장비를

7 Semiconductor & Electronic Component 자동차용 모듈 환경내구 품질평가 주력 ICT분야 신뢰성 시험 서비스 현대자동차 ES규격시험 제공 차량용 전자시스템은 운전이나 운전자의 상태를 수동적으로 보조하는 장치에서, 완전 자동운전시스템을 목표로 상황을 예측하고 시스템을 제어하는 스마트 전자기기화되고 있습니다. 이러한 트렌드에 맞춰 I S 의 규정은 전자기기의 불량 으로 인한 인체피해 최소화를 목적으로 절차적, 시스템적 안전요구사항을 규정하고 있습니다. 기능안정성은 부품 신뢰성을 기 반으로 구축될 수 있기 때문에 부품 인증, 평가를 위한 O E M 규격이 더욱 강화되고 있습니다. 전자부품 종류별 부위별 요구되는 차량용 환경시험 /검사규격 스마트가전 ES Inspection of Solder Joint ES Reliability Tests for Pb-free Soldering Wearable Device IOT (사물인터넷) 항공우주/국방 스마트폰 ES Delamination Inspection for Mounted Part ES Reliability Test for bare PCB ES Highly Accelerated Life Test ES Environmental Tests for Electronic Equipment ES Environmental Tests for Air Bag System E S규격에서 요구하는 시험은 다양한 시험을 연계 ( S e q u e n c i a l T e s t )진행하고 특수 /대행 장비를 사용하기 때문에 시험소의 수용능력과 장비를 한번에 제공할 수 있는지 여부가 중요합니다. 또한 2 4시간 3 6 5일 운영시스템 기반으로 시험 시작, 시험 중, 스마트 의료시스템 시험 완료까지 고객이 원하는 시점에 F u n c t i o n a l T e s t 제공 및 맞춤시퀀스 운영이 가능합니다. 12 Quality Reliability Technology 13

8 Failure Analysis Service One-Stop 종합분석 서비스 재료분석(Material Analysis) 서비스 재료의 미세구조 분석 및 미세영역 가공 재료 표면 성분 분석, 분포도 및 깊이별 성분 분포 측정 무기화합물의 정성 및 정량 분석 S M T / P C B분석 유기화합물의 정성 및 정량 분석 정 로수 회 F I B 공정 조립 FAILURE ANALYSIS SERVICE t e s y T i l i t r a b l d e S o 제조공정 FE-SEM Analysis Dual FIB Analysis TEM Analysis EDS Analysis EELS Analysis Organic Analysis 연구 개발 종합분석 서비스 설계 부품 P C B모듈 Surface Analysis AFM Analysis TOF-SIMS Analysis AES Analysis XPS Analysis XRD Analysis Inorganic Analysis GC Analysis GC-MS Analysis FT-IR Analysis UV/VIS Analysis ICP-OES Analysis ICP-MS Analysis XRF Analysis IC Analysis R e v e r s e E n g i n e e r i n g 전자 소 자 / 부 품 분석 Micro Structure Analysis M a t e r i a l A n a l y s i s LED Quantum Well Stucture_TEM 14 Quality Reliability Technology Nano Cellulose_FE-SEM Bump Grain Orientation_Dual FIB 15

Training and Consulting National Support Project 교육, 컨설팅및공장감사 연구장비공동활용지원사업 사업목적

연구기관등의기관이보유한연구장비및소프트웨어의중소기업연구개발에공동활용지원하여기관장비의활용도제고및중소기업기술경쟁력향상기반마련종합관리시스템

지원범위연구개발을목적으로대학연구기관등의주관기관이보유한연구장비를활용하는중소기업에게온라인바우처쿠폰방식으로장비이용료지원년정부지원금한도상향

교육 일반기업 ( 업력 7 년초과 ) 60% 이내 ( 최대 7,000 만원 ) 40% 이상 ( 현금 ) 100%

정부지원 ) + 400 만원 (40%/ 기업부담 ) 종합적이고필수적인핵심프로그램을제공교육과정협의가능

납품용인증용 공장감사 신기술신제품환경신기술건설신기술등신기술개발관련인증에한해허용 공급자의생산능력품질관리시스템관리및운영절차에대해명확한이해지원

품질보증및신뢰성평가체계 품질경영시스템인증및진단 사업계획및기획관리 내부감사리더십코칭 장비관리체계예방보전시스템 특수평가또는목적을위한시스템장비개발

9 Training and Consulting National Support Project 교육, 컨설팅및공장감사 연구장비공동활용지원사업 사업목적 Money Time 비용절감, 생산성향상, 품질및신뢰성확보 Quality 대학 연구기관등의기관이보유한연구장비및소프트웨어의중소기업연구개발에공동활용지원하여기관장비의활용도제고및중소기업기술경쟁력향상기반마련종합관리시스템 사업공고참조 지원대상연구개발을수행하고자하는중소기업참여기업중소기업현황정보시스템 중소기업소상공인확인내중소기업범위확인안내 지원범위연구개발을목적으로대학연구기관등의주관기관이보유한연구장비를활용하는중소기업에게온라인바우처쿠폰방식으로장비이용료지원년정부지원금한도상향 구분정부지원금기업부담금바우처총계 창업기업 ( 업력 7 년이하 ) 70% 이내 ( 최대 7,000 만원 ) 30% 이상 ( 현금 ) 100% 교육 일반기업 ( 업력 7 년초과 ) 60% 이내 ( 최대 7,000 만원 ) 40% 이상 ( 현금 ) 100% 제품의신뢰성및품질을향상시키기위한기본이론뿐만아니라사례실무중심의현장 교육까지 예시일반기업이바우처 1,000 만원구매시 600 만원 (60%/ 정부지원 ) 만원 (40%/ 기업부담 ) 종합적이고필수적인핵심프로그램을제공교육과정협의가능 컨설팅제품생산프로세스혁신및품질향상을위한가이드라인제시 시험성적서발급기준 허용 연구개발결과확인용품질관리용불량요인분석용인증용신기술인증용에한함 불가 납품용인증용 공장감사 신기술신제품환경신기술건설신기술등신기술개발관련인증에한해허용 공급자의생산능력품질관리시스템관리및운영절차에대해명확한이해지원 주요항목 신청기간사업시행시해당년도 신청방법 월말단예산소진시마감 생산및공정관리 공장정전기관리및정 생산성향상및원가관리 공장수율관리분석 품질관리체계 품질보증및신뢰성평가체계 품질경영시스템인증및진단 사업계획및기획관리 내부감사리더십코칭 장비관리체계예방보전시스템 특수평가또는목적을위한시스템장비개발 사업기간내온라인종합관리시스템을통한상시신청및접수에서사업신청서와장비활용계획서를장성하여사업신청한번승인받은참여기업은별도의제재가없는한사업종료일해당년도월말까지사업에계속참여가능연구장비공동활용지원사업에대한자세한사항은하기담당자에게연락바랍니다 담당자이성훈선임연구원안민규연구원 16 Quality Reliability Technology 17

Service Procedure / Accreditation Location & Contact Point 신뢰성시험서비스

of the electronics industry from IC to end Products.

보드제작조건협의 Test Vector Operation Timing Operating Voltage Bias Configuration

시험보드제작검토 THB 보드제작진행 시험보드입고검수 신뢰성시험진행 ESD 발주서 접수 보드제작기간주소요 CHINA-WUXI

의뢰항목확인 의뢰서및시료접수 분석정보검토 전국서비스네트워크구축 국내주요거점시험소구축을통한전국서비스인프라확보 의뢰서작성및시료송부 분석진행

이진수 주요인증현황및지원사업 자동차전장부품시험분석 강정훈 이현배 진동시험정석환 큐알티

에서시험을통과한제품은상호인정을통해국내외판매시별도의추가시험을진행할필요가없으므로시험비용절감및개발기간단축이가능합니다큐알티

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슬라이드 1 큐알티반도체안도석수석연구원 연락처 : 010-2982-9094 E-mail : doseok.ahn@qrtkr,com 1 신뢰성시험의역사 1920~1940 년대 1940~1950 년대 1950~1960 년대 1960s 년 ~ 1876 년벨, 전화기발명 제 2 차세계대전발발 한국전쟁 (6.25 전쟁 ) 발발 NASA 유인우주프로그램활동 1920 년전자진공관수요증가