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- 진 학
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1 5. 이온화검출기 이온화검출기 (ionization detector) 는전자장비를이용한첫번째검출기이다. 입사된방사선이기체를전리시켜생성한전자와이온의수집을이용하는이온화검출기로는초기의가이거-뮐러계수기 (Geiger-Müller counter), 비례계수기 (proportional counter), 이온화검출기 (ionization chamber) 를비롯하여다중선비례검출기 (multi-wire proportional chamber), 표류검출기 (drift chamber), 시간투영검출기 (time projection chamber) 등이있다. 5.1 기체이온화검출기 그림 5.1은기체이온화검출기의간단한모형을보여준다. 예를들어, 도체원통벽과그중심에놓여있는매우얇은도선, 그리고기체를가두어두기위한원통벽양끝의비전도성마개를생각해보자. 이검출기내부는아르곤과같은불활성기체로채워져있다. 만약원통중심의양극선에 의고전압 (HV) 을걸어주면양극선주변에는반지름바깥방향으로 ln (5.1) 의전기장이형성된다. 여기서 은원통축으로부터시작되는반지름변수이고, 는원통의내부반지름, 는양극선의반지름이다. 이제입자가검출기를통과한다면여러개의전자- 이온쌍이만들어질것이다 ( 전자-이온쌍의개수는입사입자가검출기내에서잃어버리는에너지에의존함 ). 이때전기장의영향으로전자들은양극선을향해가속되고양이온들은원통벽을향해가속된다. 그리고양극선으로부터측정되는전류신호는전기장의세기, 즉 값에의존한다. 비전도성마개 양극선 음극원통 신호 +HV 그림 5.1 이온화검출기의간단한모형
2 가 0이면전자-이온쌍은스스로의전하에의해다시합쳐지고아무런전류신호도주지못한다. 이제 를서서히증가시키면전자와이온은전기장의도움을받아재결합하지않고각각양극선과음극원통으로이동한다. 이때수집되는전자및이온의수는처음에 값에따라증가하다가이온화된모든전자와이온이양극선과음극원통에도달하는점 ( 이온화영역 ) 에이르게된다. 이전압영역에서작동하는검출기를이온화검출기라고부른다. 이온화검출기의신호는입사입자에의해직접만들어진전자-이온쌍을이용하므로매우작다. 이온화영역을지나 를계속증가시키면전기장이충분히강해져자유전자가다른기체원자를이온화하며 ( 이렇게만들어진자유전자를이차전자 (secondary electron) 라고부름 ) 이차전자는다시다른기체원자를이온화한다. 이러한과정이계속반복되어이온화사태 (ionization avalanche 또는 cascade) 가일어난다. 그리고식 (5.1) 에의하면전기장의크기는 에반비례하므로이온화사태는양극선근처에서매우빠르게일어남을알수있다. 결국전류신호의증폭요소는 에비례하며약 10 6 까지도가능하므로이온화영역보다훨씬큰전류신호를얻게된다. 이전압영역을비례영역이라부르고이영역에서작동하는검출기를비례검출기라부른다. 비례영역을지나 를계속증가시키면증폭을통하여만들어진이온화수가충분히커져서공간전하 (space charge) 가양극선근처의전기장을왜곡시키고결국비례성이상실된다. 그리고이보다높은 에서는기체방전 (gas discharge) 이일어난다. 기체방전이란비례검출기와같이양극선위의어떤한점에서하나의국소적인이온화사태가발생하는것이아니라연쇄반응에의해양극선을따라많은이온화사태가동시에일어나는것이다. 이와같은기체방전은떠돌아다니는기체원자 ( 또는분자들이 ) 낮은에너지상태로전이하며방출하는광자에의해일어난다. 따라서전류신호는완전히포화되어입사입자의에너지에관계없이모든출력신호가똑같은진폭을준다. 이전압영역에서작동하는검출기를가이거-뮐러계수기 (Geiger-Müller counter) 라부른다. 가이거-뮐러영역에서종종기체방전을막기위하여광자를흡수하는억제기체 (quenching gas) 를혼합해주는데, 이억제기체에의해출력진폭이일정한전압영역 (plateau) 의크기가정해진다. 5.2 전자및이온의수송현상 전기장이없다면이온화과정에의해자유로워진전자와이온은균일하게바깥쪽으로퍼져나가며기체원자 ( 또는분자 ) 와충돌하여에너지를잃어버리고기체와열적인평형상태에이른다. 이때맥스웰 (Maxwell) 분포를따르는하전입자의평균속도는 (5.2) 이다. 이때 는볼츠만 (Boltzmann) 상수, 는온도, 은입자의질량이다. 전자의질량은이온의질량보다훨씬작으므로속도가더크다는것을알수있다. 상온에서전자의속도
3 는약 10 6 cm/s이고양이온은약 10 4 cm/s 정도이다. 또한운동이론 (kinetic theory) 으로부터시간 가지난후하전입자의위치분포는 exp (5.3) 와같이가우스분포를이루게된다. 이때 는총하전입자의수이고 는이온화위치로부터의거리, 는확산계수 (diffusion coefficient) 이다. 그리고확산도 (diffusion constant) 라불리는 의제곱평균제곱근은 (5.4) 이고이식을삼차원으로확대하면 (5.5) 가된다. 그리고운동이론으로부터확산계수 는온도가, 압력이 일때 (5.6) 이며이때 는전자 ( 또는이온 ) 와기체분자 ( 또는원자 ) 충돌에대한총산란단면적이다. 이제전기장이가해진다면전자와이온은전기장선을따라가속되며이동중에기체분자와충돌하게된다. 이와같은충돌까지고려한전자와이온의이동속도를유동속도 (drift velocity) 라고부른다. 운동이론에서유동속도 는이동도 (mobility) 와전기장의곱으로쓸수있다. (5.7) 또한양이온의유동속도는상당히높은전기장까지환산전기장 (reduced electric field) 에선형적으로의존하는것으로알려져있다. 이는압력이일정할때이동도가상수임을말해준다. 이동하는하전입자가계속열적인평형상태에남아있는이상기체에대하여확산계수와이동도는다음식으로관련되어져있다 ( 아인쉬타인관계 ). (5.8) 이때만약하전입자의평균에너지가열에너지보다크다면 ( 주로전자의경우에해당 ) 식
4 (5.8) 의 를평균에너지로대체해주어야하고이는더욱큰확산계수, 그리고식 (5.5) 에의해더욱큰퍼짐으로나타날것이다. 이는표류검출기의위치측정에중요한역할을하게됨을의미한다. 5.3 이온화사태에의한증폭 전자와이온의이동성차이때문에이온화사태에의한전하분포모양은물방울형태가되며이때전자는물방울의머리근처에몰려있고이온은꼬리근처에몰려있게된다. 만약 가두번째이온화충돌을위한전자의평균자유행로라고두면 는단위길이당이온화확률이될것이다. 이때 를 1차타운센드계수 (Townsend coefficient) 라고부른다. 이전자들이경로 를이동해가며만드는이차전자의수는 이고, 이를적분하면위치 에서총자유전자의수는 exp (5.9) 이된다. 이때 는입사입자에의해처음생성된자유전자의수이다. 그러면증폭요소 (multiplication factor) 또는기체이득인자 (gas gain) 는 exp (5.10) 이고식 (5.1) 과같이균일하지않은전기장내에서는 exp (5.11) 와같이일반화시킬수있다. 식 (5.11) 의증폭요소는원리적으로무한대까지가능하나실제로는 10 8 이하, 즉 영역에서만이온화사태가가능하고그이상에서는방전이일어난다. 이조건을래더한계 (Raether limit) 라고부른다. 증폭요소는비례검출기제작에매우중요하다. 따라서다양한기체에대한 α를계산하기위하여여러가지모델이제안되었으며그중하나가바로 Rose와 Korff에의해제안된다음의식이다 [1,2]. exp (5.12) 이때 와 는기체의종류에따르는상수이다
5 5.4 원통형비례검출기 앞으로다루게될더욱복잡한입자검출기의이해를돕기위하여가장간단한비례검출기인그림 5.1을자세히공부할필요가있다. 중요한점은이온화검출기의출력신호가하전입자의직접수집에의한것이아니라양극및음극으로이동해가는전자또는이온에의한유도 (induction) 라는것이다. 그림 5.1의원통형비례검출기내에형성되는전기장의크기와전기퍼텐셜은각각 (5.13) ln (5.14) 와같다. 이때 은기체의유전상수이고원통축전기에대한단위길이당축전용량 (capacitance) 은 ln (5.15) 로주어진다. 이제전하 인하전입자가원통중심의양극선으로부터거리 만큼떨어진곳에놓여있다고가정해보자. 이입자의퍼텐셜에너지는 이다. 이입자가거리 을이동해가면퍼텐셜에너지의변화는 (5.16) 이다. 한편원통의길이를 이라가정하면이원통축전기에저장된정전에너지 (electrostatic energy) 는 이므로 가성립한다 ( 이때전하의이동이매우빨라서외부전압공급기에의한 는언제나일정하다고가정하였다 ). 만약이계가고립되어져있고에너지가보존된다면전압변화는결국 (5.17) 과같다. 결국식 (5.17) 의전압변화는전극에전하를유도하게된다. 이제그림 5.1의비례검출기에서이온화가양극선으로부터 떨어진지점 ( 원통의중심으로부터는 ) 에서일어났다고가정하면전자에의한유도전압은 ln (5.18)
6 이고이온에의한유도전압은 ln (5.19) 임을알수있다. 결국총유도전압은 ln (5.20) 이다. 여기서 값이음이되기위해서는양극선에유도되는전하가음이고출력신호도음의극성을가지고있음을말해준다. 또한 와 의비는 ln ln (5.21) 이된다. 그림 5.2는양극선의반지름을 10 μm, 원통의반지름을 1 mm로가정하였을때 를 의함수로나타낸것이다. 물론 이커지면 가 1 보다커지나, 대부분의증폭이양극선근처 (이 의몇배이하인영역 ) 에서일어남을고려하면전자가유도하는전압보다는이온이유도하는전압이훨씬크다는사실을이해할수있을것이다. 그림 5.2 양극선의반지름을 10 μm, 원통의반지름을 1 mm로가정하였을때 의함수로나타낸. 파선은양극선의반지름을나타낸다
7 지금까지의간단한이론을이용하여계속해서펄스의시간의존성을살펴보자. 식 (5.7) 의유동속도에대한정의와식 (5.13) 을이용하면 (5.22) (5.23) 을얻는다. 이온화사태때문에대부분의전자및이온이양극선근처에서만들어지므로 라가정하고식 (5.23) 의양변을적분하면 (5.24) 이된다. 한편식 (5.18) 과 (5.19) 로부터 ln ln ln (5.25) 가성립하므로식 (5.24) 를이식에대입하면 라할때 ln ln (5.26) 을얻을수있는데이식은시간이흐름에따라출력신호의크기가무한정증가함을말해주고있다. 따라서실제실험에서는 RC회로를이용하여 의변형신호 (differentiated signal) 를주로이용하고있다. 그림 5.3은 RC회로의여러가지시간상수 에대한펄스의모양을보여주고있다. 실험에서는이러한방법으로출력펄스중크기가가파르게증가하는처음부분을주로이용함을알수있다. 이제비례검출기에사용하는기체에대하여간단하게알아보기로하자. 기체선택의조건은낮은작동전압, 높은이득율 ( 또는증폭요소 ), 좋은비례성, 높은입사입자율하에서의작동가능성등매우다양하다. 일반적으로이러한조건들은여러종류의기체를섞은혼합기체를이용함으로써만족시킬수있다. 우선낮은작동전압에서이온화사태를일으키기위하여아르곤과같은불활성기체를사용한다. 그러나높은들뜸에너지때문에순수한아르곤기체만으로는계속적인기체방전없이 10 3 ~ 10 4 이상의증폭요소를얻을수없다. 이문제를해결하기위하여메탄 (CH 4 ) 이나이소부탄 (ic 4 H 10 ) 과같은다원자분자또는 CO 2, BF 3 와같은기체를섞어준다. 이기체분자들은아르곤으로부터방출되는광자를흡수하여방전억제제 (quencher) 로서의역할을하며더욱높은전압에서이온화사태가발생하고결국더높
8 은증폭요소 (~10 6 까지 ) 를얻을수있도록도와준다. 일반적으로많이사용하는 90% 아르곤과 10% 메탄의혼합기체는 P10 기체로널리알려져있다. 계속해서비례검출기의증폭요소를더욱증가시키기위해음전성 (electronegative) 기체인프레온 (C 2 H 2 F 4 ) 을추가하기도한다. 이들은광자뿐만아니라음극판에서방출된전자도흡수하여증폭요소를 10 7 까지증가시킨다. 혼합기체결정시중요한고려사항중하나는유기분자로구성된방전억제제를사용할경우많은입자가검출기에입사한후에분리되었던유기분자가재결합할때고체또는액체고분자를형성하여음극판이나양극선에달라붙게된다는것이다. 이고분자들은기체방전을일으켜결국검출기의작동을멈추게한다. 그러므로주로무기분자방전억제제가선호되나이들의증폭요소는유기분자보다훨씬작은단점이있다. 이문제를해결하기위하여유기분자기체에메틸알 (CH 3 OCH 2 OCH 3 ) 등의기체를소량추가해주는방법이있다. 이들은이온교환과정을통하여음극판근처의분자가고분자물질형성에이용되는것을방지한다. 마지막으로전자와이온이기체검출기내에축적되어작동특성이변질되는것을방지하기위하여대부분의높은입사입자율실험에서는기체를가두어두지않고계속흘려보내게된다. 그림 5.3 여러가지 RC 시간상수에대한 의변형신호. 5.5 다중선비례검출기 핵및입자물리학실험에서가장중요한요구조건중의하나는입자의궤적을정확하게
9 추적하는것이다. 1960년대후반까지대부분의궤도추적장치는사진검판기 (photographic emulsion), 구름상자 (cloud chamber), 거품상자 (bubble chamber), 방전상자 (spark counter) 등과같이광학적인원리를이용하는것이었다. 이방법은많은충돌사건을취급해야하는경우에사용불가능하였고궤도의정확한추적에도많은문제가있었으므로전자식검출기가절실하게요구되었다. 여기서전자식검출기란직접눈으로입자궤적을확인하는것이아니라검출기신호를전자장비로인식하는것이다. 가장간단한전자식검출기로는여러개의비례검출기를붙여놓는것이었으나현실적으로많은문제가있었다. 1968년드디어죠르쥬샤르팍 (Georges Charpak) 이다중선비례검출기 (MWPC) 를개발하였다. 샤르팍은같은검출기내에서촘촘히배열된여러개의선들이각각독립된비례검출기로작동할수있음을최초로보여주었다. 그림 5.4 죠르쥬샤르팍 ( 프랑스, 1924-, 폴란드출생, 1992년다중선비례검출기개발의공로를인정받아노벨물리학상수상 ). MWPC의기본적인구조는두개의음극판사이에등간격으로배열된양극선들로이루어져있다. 전형적인 MWPC에서양극선사이의간격은 2 mm, 양극선과음극판사이의거리는 7 ~ 8 mm 정도이다. 만약음극판에양극선보다상대적으로낮은전기퍼텐셜이가해지면검출기내부에그림 5.5와같은전기장이형성된다. 이때양극선근처만제외하면거의평행한전기장선이형성됨을알수있다. 만약반지름을무시할수있는양극선이무한개배열되어있다면검출기내의전기퍼텐셜은다음과같이표현할수있다. lnsin sinh (5.27) 여기서 는가해진전압, 는양극선사이의거리이며양극선 - 음극판사이의축전용량은 ln (5.28) 으로주어진다. 이때 은양극선과음극판사이의거리, 는양극선의지름이다. 이를통하여결국양극선근처에서는전기장의크기가 의존성을가지고하나의원통형비례검출기와똑같이작동함을알수있다. 이제입사입자에의해전자-이온쌍이전기장이상수인
10 영역에서생성되었다면전자들은전기장선을따라양극선근처까지표류한후재빨리가속되어이온화사태를일으키게된다. 그리고음극판까지표류하는이온들은 ( 원통형비례검출기와같이 ) 양극선에음의전하를유도하게된다. 이들은계속해서이웃하는양극선들과음극판에작은양의전하를유도한다. 그림 5.5 양극선사이의간격이 2 mm일때 GARFIELD 프로그램으로계산한 MWPC 내의전기장선 [3]. MWPC 출력신호를처리하는방법은매우다양하나가장보편적인방법은각각의선을독립적인검출기로간주하여독립적인전자장치를연결하는것이다. 이들출력신호는대부분증폭기 (amplifier), 판별기 (discriminator), 모양기 (shaper) 등을거쳐표준논리 (logic) 신호로전환된다. 또한받아들일만한신호인지원하지않는신호인지를구분해주는게이트 (gate) 가트리거를통하여만들어진후적절한지연을통하여가해진다. 게이트를통과하는신호는저장장치에기록되고게이트를통과하지못하는신호는버려진다. 하나의 MWPC는물론하나의좌표 ( 그림 5.5의 x 좌표 ) 만제공해준다. 만약이차원좌표 가필요하다면두번째 MWPC를첫번째 MWPC와수직으로배열하면될것이다. 그리고입자의궤도추적에사용하기위해서는이러한이차원 MWPC를여러겹배열하면될것이다. MWPC의위치분해능은양극선사이의간격에의존한다 ( ). MWPC의위치정보를보완하기위하여음극판에유도된신호를이용한무게중심법 (center-of-gravity) 이많이이용되고있다. 만약음극판이여러개의띠 (strip) 로이루어져있다면이온화사태가일어난지점으로부터가장가까운띠에가장큰전하가유도되고거리가멀어질수록유도전하의크기는줄어들것이다. 예를들어음극띠가양극선에대해수직하게배열되어있으며좌표가 인 번째띠에서 의전하가유도되었다고가정하면무게
11 중심법에의한이온화사태발생지점은다음과같다. (5.29) 이때 는잡신호의분산효과 (dispersive effect) 때문에생기는작은수정인자이다 [4]. 이러한방법으로하나의 MWPC를이용하여이차원정보를얻는것도가능하다. 한편양극선의양끝에서신호를읽으면전하분할법 (charge division) 도적용할수있다. 전하분할법은유한한저항을가진도선의양끝에서수집된전하의크기는전하가투입된위치로부터의길이에따라줄어든다는사실을이용한다. 즉그림 5.6과같이길이가 인도선의양끝에서각각, 의전하가유도되었다면이온화사태가일어난위치 는다음과같이구할수있다. (5.30) 이온화사태발생지점 Q a Q b z L 그림 5.6 MWPC 양극선에대한전하분할법. 지금까지하나의입자에대해하나의양극선만전하를유도한다고가정하였다 ( 식 (5.28) 아래에서설명한이차양전하유도제외 ). 그러나특히입자가양극선으로이루어진면과일정한각도를갖고입사한다면여러개의양극선에동시에음전하를유도할수있다. 심지어는입자가양극선면에수직하게입사한다고하더라도높은에너지의델타선 (2.2절참조 ) 때문에하나의양극선만전하를유도하는경우는드물다. 이와같이신호가감지되는여러양극선의조합을무리 (cluster) 라부른다. 대부분위치분해능을향상시키기위하여이러한무리의크기를줄일필요가있는데주로게이트의폭을조절하여늦게도착하는신호를잘라버리든지혼합기체의조성을바꾸는방법등을쓰고있다. 5.6 표류검출기 MWPC 개발초기에전자의표류시간을이용한다면 MWPC보다더욱정확한위치정보를얻을수있다는것을알게되었다. 입자의도착시간과전자의유동속도를알고있다면양극선과전자의출발점을다음식으로구할수있을것이다
12 (5.31) 여기서 는입자의도착시간이고 은양극선에서신호가측정된시간이다. 따라서유동영역에서전기장크기가일정하도록하여유동속도가상수가되도록검출기를설계하는것이매우중요하다. 그림 5.7은 MWPC를이용한간단한표류검출기의구조를보여주고있다. 표류검출기에서는일정한유동속도를갖는충분한유도영역을확보하는것이중요한데그림 5.5가보여주듯이 MWPC의양극선사이에는전기장이균일하지못한영역이발생한다. 이를교정하기위하여표류검출기에서는양극선사이에추가로마당선 (field wire) 을배치하고그외의영역에도여러음극선 (cathode wire) 을배열한다. 이때양극선에가장가까운음극선부터마당선에가장가까운음극선까지크기가서서히감소하는전기퍼텐셜을각각적용하여크기가일정한전기장이형성되도록해야만한다. 또한표류검출기의양쪽에섬광검출기를설치하여입자가통과할때 를측정하고타이머를가동시킨다 ( 주의 : 반드시두개의섬광검출기가동시에신호를줄경우에만표류검출기신호를취득하여잡신호를제거한다 ). 이순간부터전자의표류가시작되며전자가양극선에도착하면 을측정하고타이머를멈추게된다. 이제식 (5.31) 을이용하면입자가통과한위치를비교적정확하게알아낼수있을것이다. 섬광검출기 양극선마당선음극선 등퍼텐셜면 하전입자 그림 5.7 MWPC 를이용한기본적인표류검출기의구조. 표류검출기의공간분해능은유동속도의균일성과전자가유동하면서발생하는퍼짐에의해결정된다. 만약유동속도가일정하다면식 (5.4) 와 (5.7) 에의하여확산도는간단하게 (5.32) 가된다. 결국유동전자의퍼짐은전자무리가흘러간거리의제곱근에비례하므로가능한한유동거리를짧게할필요가있다. 예를들어유동거리를수 cm 정도로하면 100 μm 내외의공간분해능을얻을수있다. 표류검출기의장점은 MWPC 보다적은수의선과전자장비로넓은영역을뒤덮을수있
13 는것이다. 그러나좋은공간분해능을얻기위해서는혼합기체의조성과균일한전기장이형성될수있도록더욱많은주의를기울여야만한다. 5.7 시간투영검출기 그림 5.8 미국브룩해븐국립연구소 (BNL) 의 STAR TPC. 다중선비례검출기와표류검출기가더욱발전한삼차원궤도추적검출장치가바로시간투영검출기 (TPC) 이다. 그림 5.8은전형적인 TPC의구조를보여주고있다. TPC의양쪽끝에는비례검출용양극선들이배열되고이양극선면외부에는아주작은크기의패드 (pad) 로이루어진음극판이설치된다. 양극선면과음극판은필요에따라그림 5.8과같이여러개의구역 (sector) 으로나뉘어제작, 운영될수있다. 그리고 TPC의중앙 ( ) 에얇은고전압막 (high voltage membrane) 이설치된다. 이막에음의고전압이걸리면양쪽마개 (endcap) 로부터 축을따라막으로향하는전기장이형성된다. 이제하전입자가 TPC를통과하면궤도를따라전자-이온쌍이생성되고이전자들은전기장을거슬러전기퍼텐셜이높은양쪽마개를향해흘러가 MWPC에서와같이양극선에서검출된다. 그리고양극선에대해수직한좌표는패드로이루어진음극판을이용하여검출한다 ( 식 (5.29) 참조 ). 그리고이온화지점의 좌표는표류검출기에서와같이전자의유동시간을이용한다. 결국각양극선및패드, 유동거리는입자궤적에대한 정보를제공해주며, 이들을모으면궤도의삼차원복원이가능해지는것이다. 한가지문제점은 TPC 내전자의유동거리가너무길어져전자의확산도가커지는것이다. 이를막기위하여 축에평행한자기장을걸어준다. 자기장내에서전자들은유동방향주위로나선운동을하며이동하게되고확산도를약 10 배까지줄일수있는것으로알려져있다. 이때전자가자기장에의해유동궤도를벗어
14 나는것을방지하기위하여전기장과완벽하게평행하고균일하여야만한다. TPC 운영중발생가능한또다른문제점은중앙고전압막으로흘러간이온이축적되어전기장을왜곡시키는것이다. 이를방지하기위하여접지된망 (grid) 을양극선면바로안에설치하여주로양극선근처에서생긴양이온이중앙고전압막까지이동하기전에포획해버리는방법을사용한다. 또이망은유동영역과사태영역을구분하여서로독립적으로운영이가능하게해준다. 한편양쪽마개에서측정한유도전하의크기가 TPC 내에서상실한입자의에너지 () 에비례한다는사실을이용하면입자구분도가능해진다 ( 그림 2.2). 그림 5.9는자기장내입자궤도의곡률반지름을이용하여구한운동량과 를서로관련시킨예로서전자, 뮤온, 파이온등의입자구분이가능함을보여주고있다. 그림 5.9 TPC에서측정한 와운동량과의상관관계. PEP4/9-TPC에서얻은결과 [3]. 5.8 참고문헌 [1] M. E. Rose and S. A. Korff, Phys. Rev. 59, 850 (1941). [2] T. Z. Kowalski, Nucl. Instrum. Methods A 234, 521 (1985). [3] Particle Data Group, Phys. Lett. B 692, 1 (2004). [4] G. Charpak, G. Melchart, G. Petersen, F. Sauli, Nucl. Instrum. Methods 167, 455 (1979)
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